JP3763145B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクに対してデータの記録及び再生が可能な光ディスク装置に関し、特に、半導体レーザの劣化を予測し、半導体レーザの寿命が突然尽きることによるデータの記録失敗を防止することが可能な光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、半導体レーザは、時間の経過に伴い劣化し、同じパワーの光を出力するために、電流量を徐々に増加させなければならないことが知られている。また、半導体レーザの寿命は、使用時の温度と密接な関係があり、温度が高くなると、劣化速度（単位時間当たりの駆動電流の上昇）が指数関数的に上昇することも知られている。従って、半導体レーザを連続して長時間使用しないことが好ましい。
【０００３】
一方、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量のデータの記録が可能な光ディスクの登場に伴い、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭにＴＶ番組などを録画するＤＶＤビデオレコーダなども実用化されている。このようにＴＶ番組などを録画する場合、半導体レーザを長時間連続して使用しなければならず、特に、光ディスクにデータを記録するときは、光ディスクのデータ記録面の状態を変化させる必要があるため、データを再生するときに比べてはるかにパワーの強いレーザビームを出力するので、半導体レーザの温度上昇速度が速く、かつ高温になる。従って、ＤＶＤビデオレコーダなどのデータの記録及び再生が可能な光ディスク装置では、半導体レーザの寿命が問題となる。
【０００４】
半導体レーザの寿命を予測するために、例えば特許文献１では、半導体レーザに所定のパワーの光を出力させ、その時の温度と電流値を測定し、測定した電流値を温度係数で補正し、補正した電流が所定の劣化閾値を超えたときに、半導体レーザの寿命が尽きたものと判断している。また、特許文献２も同様に、一定のパワーの光を出力するときの温度と電流値を測定し、測定した電流値をその温度における正常な電流値と比較して、半導体レーザの劣化を検出している。
【０００５】
【特許文献１】
特開平８−２７９６４２号公報
【特許文献２】
特開昭６３−１４２８７７号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献１又は２に記載された従来の方法によれば、半導体レーザの実際の温度及び電流値を測定しているので、個々の半導体レーザの個体差にかかわらず、その寿命が尽きるまで使用することができる。一方、半導体レーザの劣化が急激に進み、突然その寿命が尽きる可能性もあるため、データの記録が中断する虞がある。特に、ＤＶＤビデオレコーダでは、ユーザが長期間にわたって複数のＴＶ番組の録画予約を行うこともあるため、上記従来の方法をＤＶＤビデオレコーダに適用すると、予約期間中に半導体レーザの寿命が尽きると、それ以後の番組が録画されず、データの記録失敗となる。
【０００７】
本発明は、上記従来例の問題点を解決するためになされたものであり、ＤＶＤビデオレコーダのように長時間にわたって連続的にデータの記録が行われる可能性のある光ディスク装置において、半導体レーザの劣化を予測し、データの記録中に半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部と、前記表示部に表示されたメッセージに対する応答を入力するための入力部を備えた光ディスク装置において、前記制御部は、前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力し、前記表示部に前記メッセージを表示させた後、前記入力部を介して入力された結果が肯定的である場合に、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行い、前記入力部を介して入力された結果が否定的である場合に、データの記録又は再生を行う。
【０００９】
このような構成によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間は、比較的精度良く半導体レーザの寿命を反映している。従って、累積動作時間をデータの記録のための半導体レーザの寿命に相当する閾値と比較し、累積動作時間が閾値を超えているときに、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示して、ユーザに再生専用を選択させることにより、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。また、ユーザがデータの記録又は再生を続行することを選択したときでも、突然半導体レーザの寿命が尽きる虞があるものの、半導体レーザの個体差によっては長時間データの記録及び再生ができる可能性があり、光ディスク装置をその寿命が尽きるまで有効に使用することができる。なお、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、データの再生用としては十分なパワーを出力することができる。
【００１０】
また、請求項２の発明は、レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部を備えた光ディスク装置において、前記制御部は、前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録不能のメッセージを表示させるための信号を出力し、前記表示部に前記メッセージを表示させた後、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行う。
【００１１】
このような構成によれば、上記請求項１の場合と異なり、累積動作時間が閾値を超えているときに、自動的にデータの記録を禁止して再生専用とするので、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。
【００１２】
また、請求項３の発明は、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ディスク装置において、データの記録の際に、前記レーザビームを照射する半導体レーザの温度及び動作時間を測定し、動作時間をその時の温度に対応する温度補正係数で補正し、補正後の動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を所定の閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断する。
【００１３】
このような構成によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により、比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。
【００１４】
また、請求項４の発明は、請求項３の光ディスク装置において、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断した後、データの記録を禁止し、データの再生のみを行うことを特徴とする。
【００１５】
このような構成によれば、データ記録のための半導体レーザの寿命が尽きたときでも、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、この光ディスク装置をデータの再生用として使用し続けることができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置について、図面を参照しつつ説明する。本実施の形態に係る光ディスク装置１の構成を図１に示す。光ディスク装置１は、例えば、光ディスク２に向かって所定波長のレーザビームを照射し、光ディスクに記録されているデータを再生すると共に、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどのデータの記録が可能な光ディスクに対してデータ再生時よりも強度（パワー）の大きいレーザビームを照射してデータを記録するものである。
【００１７】
図１に示すように、光ディスク装置１は、光ディスク２を保持するテーブル３と、テーブル３及びその上に保持された光ディスク２を回転駆動するスピンドルモータ４と、光ディスク２に対して光ビームを照射してデータの記録及び／又は再生を行う光ピックアップ５と、光ピックアップ５を光ディスク２の半径方向に移動させるトラッキングサーボ機構６と、スピンドルモータ４、光ピックアップ５及びトラッキングサーボ機構６などを制御する制御部７と、光ピックアップ５から出力されるＲＦ信号を処理するためのＲＦ信号処理部８と、処理されたＲＦ信号をパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力するためのインタフェース（Ｉ／Ｆ）９と、光ディスク装置１の動作状況やユーザへのメッセージなどを表示するためのＬＣＤなどの表示部１０と、光ディスク装置１の動作選択などを行うためのプッシュボタンスイッチ又はリモコン装置などの入力部１１で構成されている。
【００１８】
次に、３ビーム方式の光ピックアップ５の構成を図２に示す。光ピックアップ５は、所定の波長のレーザビームを光ディスク２に向けて出力する半導体レーザ２１と、半導体レーザ２１から出力されたレーザビームを３本のビームに分光する回折格子（ＧＲ）２２と、回折格子２２により分光されたビームを透過させると共に、光ディスク２からの反射光を反射させる偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）２３と、ビームの偏光状態を変換する１／４波長板（λ／４）２４と、ビームの光路を光ディスク２側に９０度曲げるためのミラー２５と、ミラー２５により光路を曲げられたビームを平行光束にするコリメータレンズ２６と、平行光束化されたビームを光ディスク２上に集光するための対物レンズ２７と、光ディスク２からの反射光を受光し、光の強度に応じた電気信号に変換し出力する受光素子（ＰＤＩＣ）２８と、偏光ビームスプリッタ２３により反射された光を受光素子２８上に集光する集光レンズ２９と、半導体レーザ２１の近傍に設けられた温度センサ３０などで構成されている。
【００１９】
半導体レーザ２１から出力されたレーザビームは回折格子２２により回折され、０次回折光、±１次回折光、±２次回折光・・・に分光される。これらの回折光のうち、０次回折光は最も強度が高く、光ディスク２に対するデータの記録及び再生に用いられる。また、次に強度の高い１次回折光は、光ディスク２上でのトラッキング制御に用いられる。受光素子２８は、０次回折光及び±１次回折光に対応した３つの受光部を有し、それぞれ独立して信号を出力する。
【００２０】
ＲＦ信号処理部８は、光ピックアップ５の受光素子２８から出力されるアナログの信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換して、所定のトラッキングエラー信号、フォーカシングエラー信号及び光ディスク２から読み出したデータに相当するＲＦ信号として出力する。トラッキングエラー信号及びフォーカシングエラー信号は制御部７に出力され、トラッキングサーボ制御及びフォーカシングサーボ制御に利用される。また、データ再生動作では、ＲＦ信号はインタフェース（Ｉ／Ｆ）９に出力され、光ディスク２のデータとしてパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力される。
【００２１】
制御部７は、所定の制御プログラムを記憶したＲＯＭ、制御プログラムを実行するＣＰＵ及びデータを一時的に記憶するＲＡＭなどで構成され、スピンドルモータ４の回転のオン／オフ、光ピックアップ５の半導体レーザ２１の発光のオン／オフ、データの記録時及び再生時における半導体レーザ２１の強度の切り換え、トラッキングサーボ機構６による光ピックアップ５のトラッキング、図示しないフォーカシングサーボ機構による光ピックアップ５の対物レンズ２７のフォーカシングなどを制御する。
【００２２】
光ディスク装置１では、半導体レーザ２１を連続して使用すると、半導体レーザ２１が発熱し、その熱が光ピックアップ５の全体に伝わり、温度が上昇する。光ピックアップ５は、微小なベース部材上に上記構成要素が搭載されているため、半導体レーザ２１の発熱により各部品が膨張し、レーザビームのフォーカシングエラーやトラッキングエラーが生ずる。また、半導体レーザ２１は温度が高くなると劣化が激しくなり、寿命が短くなる。光ディスク装置１では、光ピックアップ５の温度が０℃〜６０℃の範囲で動作を保証するため、半導体レーザ２１の近傍に温度センサ２０が設けられている。制御部７は、例えば光ピックアップ５の温度が７０℃以上になると、半導体レーザ２１の発振を停止するように制御する。さらに、制御部７は、半導体レーザ２１の寿命を予測するために、半導体レーザ２１の動作時間を測定すると共に、温度センサ３０を用いて、そのときの半導体レーザ３０の温度を測定する。
【００２３】
半導体レーザ２１は、その動作温度が高ければ高いほど指数関数的に劣化速度が速くなるため、半導体レーザ２１の寿命を予測するに当たって、動作時間だけでなく、動作時の温度も考慮する必要がある。本実施の形態では、上記半導体レーザの動作保証温度範囲０℃〜６０℃を複数の温度範囲に分割し、各温度範囲ごとに動作時間を補正するための温度補正係数を設定している。一例として、０℃〜２０℃の範囲では、温度補正係数を「１」に設定、すなわち補正を行わない。２０℃〜４０℃の範囲では、温度補正係数を「２」に設定する。４０℃〜６０℃の範囲では、温度補正係数を「４」に設定する。この温度範囲の区分及び温度補正係数は例示であって、実際に光ディスク装置に使用する半導体レーザを用いて劣化試験を行い、半導体レーザの劣化特性に応じて設定する。
【００２４】
制御部７は、前述のようにＲＯＭ、ＣＰＵ、ＲＡＭ等で構成され、様々な機能を行う。図４に制御部７の機能ブロックを示す。制御部７は、上記温度範囲と温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部７１と、累積動作時間を記憶する累積動作時間記憶部７２と、累積動作時間と比較される閾値を記憶した閾値記憶７３を有する。これらの各記憶部７１、７２及び７３は、ＲＯＭ又はＲＡＭにより構成されている。
【００２５】
また、制御部７は、データの記録又は再生が行われたときに、半導体レーザ２１の動作時間を測定する動作時間測定部７４と、半導体レーザ２１の動作中に、温度センサ３０を用いて半導体レーザ２１の温度を測定する温度測定部７５を有する。これら各測定部７４及び７５の機能は、ＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより達成される。
【００２６】
さらに、制御部７は、温度測定部７５により測定した半導体レーザ２１の動作時の温度に基づいて、補正係数記憶部７１から温度補正係数を読み出す補正係数読み出し部７６と、読み出した温度補正係数を用いて半導体レーザ２１の動作時間を補正する動作時間補正部７７と、光ディスク装置１が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントする累積動作時間カウント部７８と、カウントした累積動作時間を閾値記憶部７３に記憶されている閾値と比較する累積動作時間比較部７９とを有する。閾値は、例えば１０，０００時間など、各半導体レーザの種類に応じた固有の時間であり、量産される半導体レーザの個体差を考慮した値を設定する。これら各部７５〜７９の機能は、所定のプログラムに従い、ＣＰＵの演算機能及び比較機能により実行される。
【００２７】
さらに、制御部７は、累積動作時間が閾値を超えたときに、表示部１０に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示するためのメッセージ表示部８０と、表示部１０にメッセージを表示した後、入力部１１を介してユーザにより入力された結果が肯定的であるか否定的であるか、すなわち再生専用が選択されたか否かを判別する入力判別部８１と、入力結果が肯定的である場合に、以後光ディスクからのデータの再生のみを行うために、データの記録を禁止する動作制限部８２と、インタフェース（Ｉ／Ｆ）９を介して受信した他の装置からの動作命令及び動作制限部８２からの動作制限命令に従って、光ディスク２に対するデータの記録及び／又は再生を制御するデータ記録／再生部８３を備える。これら各部の機能も、ＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより達成される。なお、入力結果が否定的である場合は、動作制限部８２によるデータ記録禁止は行わず、そのまま動作命令に従ってデータの記録又は再生を行う。
【００２８】
次に、上記光ディスク装置１における半導体レーザ２１の寿命予測及び予測された寿命時間に達したときの動作について、図４に示すフローチャートを参照しつつ説明する。なお、以下の説明においては、制御部７を図３に示す各部の名称で呼ぶものとする。
【００２９】
まず、インタフェース（Ｉ／Ｆ）９を介して動作命令が入力されると、データ記録再生部８３はその動作命令に従って光ピックアップ５を制御し、光ディスク２に対してデータの記録又は再生を行う（Ｓ１）。データの記録又は再生動作と並行して、動作時間測定部７４及び温度測定部７５は、それぞれ半導体レーザ２１の動作時間及び動作時の温度を測定する（Ｓ２）。データの記録又は再生が完了すると、補正係数読み出し部７６は、測定した半導体レーザ２１の動作温度（測定温度）と所定の設定温度（例えば２０℃）とを比較する（Ｓ３）。なお、半導体レーザ２１の動作中に測定温度が変化したときは、例えば変化した温度の平均値又は最高値を測定温度とする。
【００３０】
測定温度が設定温度を超えているときは（Ｓ３でＹＥＳ）、補正係数読み出し部７６は、測定温度に基づいて補正係数記憶部７１に記憶されているテーブルの中からその測定温度に対応する温度補正係数を読み出し、動作時間補正部７７は、測定した動作時間を補正する（Ｓ４）。また、測定温度が設定温度以下であるときは（Ｓ３でＮＯ）、測定温度の補正は行わない。そして、累積動作時間カウント部７８は、その時点までの累積動作時間を累積時間記憶部７２から読み出し、読み出した累積動作時間に新たに測定した動作時間又は補正した動作時間を加算して新たな累積動作時間とする（Ｓ５）。なお、累積動作時間記憶部７２に記憶されている累積動作時間は、新たな累積動作時間に更新される。
【００３１】
次に、累積動作時間比較部７９は、閾値記憶部７３から閾値を読み出し、新たな累積動作時間と閾値とを比較する（Ｓ６）。閾値は、一般ユーザの使用に対しては非常に大きな値であるので、通常の使用では短期間に累積動作時間が閾値を超えることはなく（Ｓ６でＮＯ）、ステップＳ１に戻って次の使用に備える。一方、光ディスク装置１が長期間使用された結果、累積動作時間が閾値を超えているときは（Ｓ６でＹＥＳ）、メッセージ表示部８０は、表示部１０に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力する（Ｓ７）。表示部１０は、メッセージ表示部８０からの信号に応じて、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示する。その後、ユーザが入力部１１を操作して何らかの選択を入力すると、入力判別部８１は入力された結果が肯定的であるか否定的であるかを判別する（Ｓ８）。入力結果が肯定的である場合は（Ｓ８でＹＥＳ）、動作制限部８２は、光ディスク２からのデータの再生のみを行うために、以後データの記録を禁止する。また、入力結果が否定的である場合は（Ｓ８でＮＯ）、データ記録を禁止することなくステップＳ１に戻り、次のデータの記録又は再生に備える。
【００３２】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、様々な変形が可能である。例えば、半導体レーザ２１の累積動作時間が閾値を超え、データ記録のための寿命が尽きていると考えられる場合であっても、半導体レーザの個体差により、若干の使用が可能な場合もありうる。そのような場合に、ステップＳ８においてユーザによりデータの再生専用が選択された場合であっても、ステップＳ１でデータの記録命令が入力されると、ステップＳ９でのデータ記録禁止を解除して、データの記録を行うようにしてもよい。あるいは、ステップＳ７にジャンプして、表示部１０に再生専用とするか否かのメッセージを再表示させるようにしてもよい。
【００３３】
また、上記実施の形態では、ステップＳ８において、ユーザに再生専用とするか否かの選択をさせたが、ステップＳ８を省略して強制的に再生専用とするように構成してもよい。さらに、ステップＳ８〜Ｓ１０を省略して、単に表示部１０に半導体レーザの寿命が近いことを表示するだけであってもよい。
【００３４】
なお、上記実施の形態において、光ディスク２の具体例として、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭを例示したが、本発明はこれらの光ディスクに限定されず、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷなど従来から用いられている光ディスク及びより高密度な記録が可能な次世代光ディスクにも適用されうることは言うまでもない。
【００３５】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１の発明によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。また、累積動作時間をデータの記録のための半導体レーザの寿命に相当する閾値と比較し、累積動作時間が閾値を超えているときに、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示して、ユーザに再生専用を選択させることにより、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。また、ユーザがデータの記録又は再生を続行することを選択したときでも、突然半導体レーザの寿命が尽きる虞があるものの、半導体レーザの個体差によっては長時間データの記録及び再生ができる可能性があり、光ディスク装置をその寿命が尽きるまで有効に使用することができる。
【００３６】
また、請求項２によれば、上記請求項１の場合と異なり、累積動作時間が閾値を超えているときに、自動的にデータの記録を禁止して再生専用とするので、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。
【００３７】
また、請求項３によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により、比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。
【００３８】
また、請求項４によれば、データ記録のための半導体レーザの寿命が尽きたときでも、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、光ディスク装置をデータの再生用として使用し続けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】 ３ビーム方式の光ピックアップの構成を示す図である。
【図３】 上記光ディスク装置における制御部の機能を示すブロック図である。
【図４】 上記実施形態に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１ 光ディスク装置
２ 光ディスク
５ 光ピックアップ
７ 制御部
１０ 表示部
１１ 入力部
２１ 半導体レーザ
３０ 温度センサ
７１ 補正係数記憶部
７２ 累積動作時間記憶部
７３ 閾値記憶部
７４ 動作時間測定部
７５ 温度測定部
７６ 補正係数読み出し部
７７ 動作時間補正部
７８ 累積動作時間カウント部
７９ 累積動作時間比較部
８０ メッセージ表示部
８１ 入力判別部
８２ 動作制限部
８３ データ記録／再生部
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクに対してデータの記録及び再生が可能な光ディスク装置に関し、特に、半導体レーザの劣化を予測し、半導体レーザの寿命が突然尽きることによるデータの記録失敗を防止することが可能な光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、半導体レーザは、時間の経過に伴い劣化し、同じパワーの光を出力するために、電流量を徐々に増加させなければならないことが知られている。また、半導体レーザの寿命は、使用時の温度と密接な関係があり、温度が高くなると、劣化速度（単位時間当たりの駆動電流の上昇）が指数関数的に上昇することも知られている。従って、半導体レーザを連続して長時間使用しないことが好ましい。
【０００３】
一方、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量のデータの記録が可能な光ディスクの登場に伴い、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭにＴＶ番組などを録画するＤＶＤビデオレコーダなども実用化されている。このようにＴＶ番組などを録画する場合、半導体レーザを長時間連続して使用しなければならず、特に、光ディスクにデータを記録するときは、光ディスクのデータ記録面の状態を変化させる必要があるため、データを再生するときに比べてはるかにパワーの強いレーザビームを出力するので、半導体レーザの温度上昇速度が速く、かつ高温になる。従って、ＤＶＤビデオレコーダなどのデータの記録及び再生が可能な光ディスク装置では、半導体レーザの寿命が問題となる。
【０００４】
半導体レーザの寿命を予測するために、例えば特許文献１では、半導体レーザに所定のパワーの光を出力させ、その時の温度と電流値を測定し、測定した電流値を温度係数で補正し、補正した電流が所定の劣化閾値を超えたときに、半導体レーザの寿命が尽きたものと判断している。また、特許文献２も同様に、一定のパワーの光を出力するときの温度と電流値を測定し、測定した電流値をその温度における正常な電流値と比較して、半導体レーザの劣化を検出している。
【０００５】
【特許文献１】
特開平８−２７９６４２号公報
【特許文献２】
特開昭６３−１４２８７７号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献１又は２に記載された従来の方法によれば、半導体レーザの実際の温度及び電流値を測定しているので、個々の半導体レーザの個体差にかかわらず、その寿命が尽きるまで使用することができる。一方、半導体レーザの劣化が急激に進み、突然その寿命が尽きる可能性もあるため、データの記録が中断する虞がある。特に、ＤＶＤビデオレコーダでは、ユーザが長期間にわたって複数のＴＶ番組の録画予約を行うこともあるため、上記従来の方法をＤＶＤビデオレコーダに適用すると、予約期間中に半導体レーザの寿命が尽きると、それ以後の番組が録画されず、データの記録失敗となる。
【０００７】
本発明は、上記従来例の問題点を解決するためになされたものであり、ＤＶＤビデオレコーダのように長時間にわたって連続的にデータの記録が行われる可能性のある光ディスク装置において、半導体レーザの劣化を予測し、データの記録中に半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部と、前記表示部に表示されたメッセージに対する応答を入力するための入力部を備えた光ディスク装置において、前記制御部は、前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力し、前記表示部に前記メッセージを表示させた後、前記入力部を介して入力された結果が肯定的である場合に、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行い、前記入力部を介して入力された結果が否定的である場合に、データの記録又は再生を行う。
【０００９】
このような構成によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間は、比較的精度良く半導体レーザの寿命を反映している。従って、累積動作時間をデータの記録のための半導体レーザの寿命に相当する閾値と比較し、累積動作時間が閾値を超えているときに、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示して、ユーザに再生専用を選択させることにより、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。また、ユーザがデータの記録又は再生を続行することを選択したときでも、突然半導体レーザの寿命が尽きる虞があるものの、半導体レーザの個体差によっては長時間データの記録及び再生ができる可能性があり、光ディスク装置をその寿命が尽きるまで有効に使用することができる。なお、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、データの再生用としては十分なパワーを出力することができる。
【００１０】
また、請求項２の発明は、レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部を備えた光ディスク装置において、前記制御部は、前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録不能のメッセージを表示させるための信号を出力し、前記表示部に前記メッセージを表示させた後、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行う。
【００１１】
このような構成によれば、上記請求項１の場合と異なり、累積動作時間が閾値を超えているときに、自動的にデータの記録を禁止して再生専用とするので、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。
【００１２】
また、請求項３の発明は、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ディスク装置において、データの記録の際に、前記レーザビームを照射する半導体レーザの温度及び動作時間を測定し、動作時間をその時の温度に対応する温度補正係数で補正し、補正後の動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を所定の閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断する。
【００１３】
このような構成によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により、比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。
【００１４】
また、請求項４の発明は、請求項３の光ディスク装置において、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断した後、データの記録を禁止し、データの再生のみを行うことを特徴とする。
【００１５】
このような構成によれば、データ記録のための半導体レーザの寿命が尽きたときでも、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、この光ディスク装置をデータの再生用として使用し続けることができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置について、図面を参照しつつ説明する。本実施の形態に係る光ディスク装置１の構成を図１に示す。光ディスク装置１は、例えば、光ディスク２に向かって所定波長のレーザビームを照射し、光ディスクに記録されているデータを再生すると共に、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどのデータの記録が可能な光ディスクに対してデータ再生時よりも強度（パワー）の大きいレーザビームを照射してデータを記録するものである。
【００１７】
図１に示すように、光ディスク装置１は、光ディスク２を保持するテーブル３と、テーブル３及びその上に保持された光ディスク２を回転駆動するスピンドルモータ４と、光ディスク２に対して光ビームを照射してデータの記録及び／又は再生を行う光ピックアップ５と、光ピックアップ５を光ディスク２の半径方向に移動させるトラッキングサーボ機構６と、スピンドルモータ４、光ピックアップ５及びトラッキングサーボ機構６などを制御する制御部７と、光ピックアップ５から出力されるＲＦ信号を処理するためのＲＦ信号処理部８と、処理されたＲＦ信号をパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力するためのインタフェース（Ｉ／Ｆ）９と、光ディスク装置１の動作状況やユーザへのメッセージなどを表示するためのＬＣＤなどの表示部１０と、光ディスク装置１の動作選択などを行うためのプッシュボタンスイッチ又はリモコン装置などの入力部１１で構成されている。
【００１８】
次に、３ビーム方式の光ピックアップ５の構成を図２に示す。光ピックアップ５は、所定の波長のレーザビームを光ディスク２に向けて出力する半導体レーザ２１と、半導体レーザ２１から出力されたレーザビームを３本のビームに分光する回折格子（ＧＲ）２２と、回折格子２２により分光されたビームを透過させると共に、光ディスク２からの反射光を反射させる偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）２３と、ビームの偏光状態を変換する１／４波長板（λ／４）２４と、ビームの光路を光ディスク２側に９０度曲げるためのミラー２５と、ミラー２５により光路を曲げられたビームを平行光束にするコリメータレンズ２６と、平行光束化されたビームを光ディスク２上に集光するための対物レンズ２７と、光ディスク２からの反射光を受光し、光の強度に応じた電気信号に変換し出力する受光素子（ＰＤＩＣ）２８と、偏光ビームスプリッタ２３により反射された光を受光素子２８上に集光する集光レンズ２９と、半導体レーザ２１の近傍に設けられた温度センサ３０などで構成されている。
【００１９】
半導体レーザ２１から出力されたレーザビームは回折格子２２により回折され、０次回折光、±１次回折光、±２次回折光・・・に分光される。これらの回折光のうち、０次回折光は最も強度が高く、光ディスク２に対するデータの記録及び再生に用いられる。また、次に強度の高い１次回折光は、光ディスク２上でのトラッキング制御に用いられる。受光素子２８は、０次回折光及び±１次回折光に対応した３つの受光部を有し、それぞれ独立して信号を出力する。
【００２０】
ＲＦ信号処理部８は、光ピックアップ５の受光素子２８から出力されるアナログの信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換して、所定のトラッキングエラー信号、フォーカシングエラー信号及び光ディスク２から読み出したデータに相当するＲＦ信号として出力する。トラッキングエラー信号及びフォーカシングエラー信号は制御部７に出力され、トラッキングサーボ制御及びフォーカシングサーボ制御に利用される。また、データ再生動作では、ＲＦ信号はインタフェース（Ｉ／Ｆ）９に出力され、光ディスク２のデータとしてパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力される。
【００２１】
制御部７は、所定の制御プログラムを記憶したＲＯＭ、制御プログラムを実行するＣＰＵ及びデータを一時的に記憶するＲＡＭなどで構成され、スピンドルモータ４の回転のオン／オフ、光ピックアップ５の半導体レーザ２１の発光のオン／オフ、データの記録時及び再生時における半導体レーザ２１の強度の切り換え、トラッキングサーボ機構６による光ピックアップ５のトラッキング、図示しないフォーカシングサーボ機構による光ピックアップ５の対物レンズ２７のフォーカシングなどを制御する。
【００２２】
光ディスク装置１では、半導体レーザ２１を連続して使用すると、半導体レーザ２１が発熱し、その熱が光ピックアップ５の全体に伝わり、温度が上昇する。光ピックアップ５は、微小なベース部材上に上記構成要素が搭載されているため、半導体レーザ２１の発熱により各部品が膨張し、レーザビームのフォーカシングエラーやトラッキングエラーが生ずる。また、半導体レーザ２１は温度が高くなると劣化が激しくなり、寿命が短くなる。光ディスク装置１では、光ピックアップ５の温度が０℃〜６０℃の範囲で動作を保証するため、半導体レーザ２１の近傍に温度センサ２０が設けられている。制御部７は、例えば光ピックアップ５の温度が７０℃以上になると、半導体レーザ２１の発振を停止するように制御する。さらに、制御部７は、半導体レーザ２１の寿命を予測するために、半導体レーザ２１の動作時間を測定すると共に、温度センサ３０を用いて、そのときの半導体レーザ３０の温度を測定する。
【００２３】
半導体レーザ２１は、その動作温度が高ければ高いほど指数関数的に劣化速度が速くなるため、半導体レーザ２１の寿命を予測するに当たって、動作時間だけでなく、動作時の温度も考慮する必要がある。本実施の形態では、上記半導体レーザの動作保証温度範囲０℃〜６０℃を複数の温度範囲に分割し、各温度範囲ごとに動作時間を補正するための温度補正係数を設定している。一例として、０℃〜２０℃の範囲では、温度補正係数を「１」に設定、すなわち補正を行わない。２０℃〜４０℃の範囲では、温度補正係数を「２」に設定する。４０℃〜６０℃の範囲では、温度補正係数を「４」に設定する。この温度範囲の区分及び温度補正係数は例示であって、実際に光ディスク装置に使用する半導体レーザを用いて劣化試験を行い、半導体レーザの劣化特性に応じて設定する。
【００２４】
制御部７は、前述のようにＲＯＭ、ＣＰＵ、ＲＡＭ等で構成され、様々な機能を行う。図４に制御部７の機能ブロックを示す。制御部７は、上記温度範囲と温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部７１と、累積動作時間を記憶する累積動作時間記憶部７２と、累積動作時間と比較される閾値を記憶した閾値記憶７３を有する。これらの各記憶部７１、７２及び７３は、ＲＯＭ又はＲＡＭにより構成されている。
【００２５】
また、制御部７は、データの記録又は再生が行われたときに、半導体レーザ２１の動作時間を測定する動作時間測定部７４と、半導体レーザ２１の動作中に、温度センサ３０を用いて半導体レーザ２１の温度を測定する温度測定部７５を有する。これら各測定部７４及び７５の機能は、ＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより達成される。
【００２６】
さらに、制御部７は、温度測定部７５により測定した半導体レーザ２１の動作時の温度に基づいて、補正係数記憶部７１から温度補正係数を読み出す補正係数読み出し部７６と、読み出した温度補正係数を用いて半導体レーザ２１の動作時間を補正する動作時間補正部７７と、光ディスク装置１が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントする累積動作時間カウント部７８と、カウントした累積動作時間を閾値記憶部７３に記憶されている閾値と比較する累積動作時間比較部７９とを有する。閾値は、例えば１０，０００時間など、各半導体レーザの種類に応じた固有の時間であり、量産される半導体レーザの個体差を考慮した値を設定する。これら各部７５〜７９の機能は、所定のプログラムに従い、ＣＰＵの演算機能及び比較機能により実行される。
【００２７】
さらに、制御部７は、累積動作時間が閾値を超えたときに、表示部１０に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示するためのメッセージ表示部８０と、表示部１０にメッセージを表示した後、入力部１１を介してユーザにより入力された結果が肯定的であるか否定的であるか、すなわち再生専用が選択されたか否かを判別する入力判別部８１と、入力結果が肯定的である場合に、以後光ディスクからのデータの再生のみを行うために、データの記録を禁止する動作制限部８２と、インタフェース（Ｉ／Ｆ）９を介して受信した他の装置からの動作命令及び動作制限部８２からの動作制限命令に従って、光ディスク２に対するデータの記録及び／又は再生を制御するデータ記録／再生部８３を備える。これら各部の機能も、ＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより達成される。なお、入力結果が否定的である場合は、動作制限部８２によるデータ記録禁止は行わず、そのまま動作命令に従ってデータの記録又は再生を行う。
【００２８】
次に、上記光ディスク装置１における半導体レーザ２１の寿命予測及び予測された寿命時間に達したときの動作について、図４に示すフローチャートを参照しつつ説明する。なお、以下の説明においては、制御部７を図３に示す各部の名称で呼ぶものとする。
【００２９】
まず、インタフェース（Ｉ／Ｆ）９を介して動作命令が入力されると、データ記録再生部８３はその動作命令に従って光ピックアップ５を制御し、光ディスク２に対してデータの記録又は再生を行う（Ｓ１）。データの記録又は再生動作と並行して、動作時間測定部７４及び温度測定部７５は、それぞれ半導体レーザ２１の動作時間及び動作時の温度を測定する（Ｓ２）。データの記録又は再生が完了すると、補正係数読み出し部７６は、測定した半導体レーザ２１の動作温度（測定温度）と所定の設定温度（例えば２０℃）とを比較する（Ｓ３）。なお、半導体レーザ２１の動作中に測定温度が変化したときは、例えば変化した温度の平均値又は最高値を測定温度とする。
【００３０】
測定温度が設定温度を超えているときは（Ｓ３でＹＥＳ）、補正係数読み出し部７６は、測定温度に基づいて補正係数記憶部７１に記憶されているテーブルの中からその測定温度に対応する温度補正係数を読み出し、動作時間補正部７７は、測定した動作時間を補正する（Ｓ４）。また、測定温度が設定温度以下であるときは（Ｓ３でＮＯ）、測定温度の補正は行わない。そして、累積動作時間カウント部７８は、その時点までの累積動作時間を累積時間記憶部７２から読み出し、読み出した累積動作時間に新たに測定した動作時間又は補正した動作時間を加算して新たな累積動作時間とする（Ｓ５）。なお、累積動作時間記憶部７２に記憶されている累積動作時間は、新たな累積動作時間に更新される。
【００３１】
次に、累積動作時間比較部７９は、閾値記憶部７３から閾値を読み出し、新たな累積動作時間と閾値とを比較する（Ｓ６）。閾値は、一般ユーザの使用に対しては非常に大きな値であるので、通常の使用では短期間に累積動作時間が閾値を超えることはなく（Ｓ６でＮＯ）、ステップＳ１に戻って次の使用に備える。一方、光ディスク装置１が長期間使用された結果、累積動作時間が閾値を超えているときは（Ｓ６でＹＥＳ）、メッセージ表示部８０は、表示部１０に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力する（Ｓ７）。表示部１０は、メッセージ表示部８０からの信号に応じて、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示する。その後、ユーザが入力部１１を操作して何らかの選択を入力すると、入力判別部８１は入力された結果が肯定的であるか否定的であるかを判別する（Ｓ８）。入力結果が肯定的である場合は（Ｓ８でＹＥＳ）、動作制限部８２は、光ディスク２からのデータの再生のみを行うために、以後データの記録を禁止する。また、入力結果が否定的である場合は（Ｓ８でＮＯ）、データ記録を禁止することなくステップＳ１に戻り、次のデータの記録又は再生に備える。
【００３２】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、様々な変形が可能である。例えば、半導体レーザ２１の累積動作時間が閾値を超え、データ記録のための寿命が尽きていると考えられる場合であっても、半導体レーザの個体差により、若干の使用が可能な場合もありうる。そのような場合に、ステップＳ８においてユーザによりデータの再生専用が選択された場合であっても、ステップＳ１でデータの記録命令が入力されると、ステップＳ９でのデータ記録禁止を解除して、データの記録を行うようにしてもよい。あるいは、ステップＳ７にジャンプして、表示部１０に再生専用とするか否かのメッセージを再表示させるようにしてもよい。
【００３３】
また、上記実施の形態では、ステップＳ８において、ユーザに再生専用とするか否かの選択をさせたが、ステップＳ８を省略して強制的に再生専用とするように構成してもよい。さらに、ステップＳ８〜Ｓ１０を省略して、単に表示部１０に半導体レーザの寿命が近いことを表示するだけであってもよい。
【００３４】
なお、上記実施の形態において、光ディスク２の具体例として、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭを例示したが、本発明はこれらの光ディスクに限定されず、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷなど従来から用いられている光ディスク及びより高密度な記録が可能な次世代光ディスクにも適用されうることは言うまでもない。
【００３５】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１の発明によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。また、累積動作時間をデータの記録のための半導体レーザの寿命に相当する閾値と比較し、累積動作時間が閾値を超えているときに、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示して、ユーザに再生専用を選択させることにより、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。また、ユーザがデータの記録又は再生を続行することを選択したときでも、突然半導体レーザの寿命が尽きる虞があるものの、半導体レーザの個体差によっては長時間データの記録及び再生ができる可能性があり、光ディスク装置をその寿命が尽きるまで有効に使用することができる。
【００３６】
また、請求項２によれば、上記請求項１の場合と異なり、累積動作時間が閾値を超えているときに、自動的にデータの記録を禁止して再生専用とするので、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。
【００３７】
また、請求項３によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により、比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。
【００３８】
また、請求項４によれば、データ記録のための半導体レーザの寿命が尽きたときでも、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、光ディスク装置をデータの再生用として使用し続けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】 ３ビーム方式の光ピックアップの構成を示す図である。
【図３】 上記光ディスク装置における制御部の機能を示すブロック図である。
【図４】 上記実施形態に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１ 光ディスク装置
２ 光ディスク
５ 光ピックアップ
７ 制御部
１０ 表示部
１１ 入力部
２１ 半導体レーザ
３０ 温度センサ
７１ 補正係数記憶部
７２ 累積動作時間記憶部
７３ 閾値記憶部
７４ 動作時間測定部
７５ 温度測定部
７６ 補正係数読み出し部
７７ 動作時間補正部
７８ 累積動作時間カウント部
７９ 累積動作時間比較部
８０ メッセージ表示部
８１ 入力判別部
８２ 動作制限部
８３ データ記録／再生部
Claims (4)
- レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部と、前記表示部に表示されたメッセージに対する応答を入力するための入力部を備えた光ディスク装置において、
前記制御部は、
前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、
前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、
前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、
測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、
光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、
カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、
前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力し、
前記表示部に前記メッセージを表示させた後、前記入力部を介して入力された結果が肯定的である場合に、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行い、前記入力部を介して入力された結果が否定的である場合に、データの記録又は再生を行うことを特徴とする光ディスク装置。 - レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部を備えた光ディスク装置において、
前記制御部は、
前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、
前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、
前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、
測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、
光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、
カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、
前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録不能のメッセージを表示させるための信号を出力し、
前記表示部に前記メッセージを表示させた後、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行うことを特徴とする光ディスク装置。 - 回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ディスク装置において、
データの記録又は再生の際に、前記レーザビームを照射する半導体レーザの温度及び動作時間を測定し、動作時間をそのときの温度に対応する温度補正係数で補正し、補正後の動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を所定の閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断することを特徴とする光ディスク装置。 - データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断した後、データの記録を禁止し、データの再生のみを行うことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
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