JP2007157298A

JP2007157298A - 光ビーム出力回路の劣化判定方法、光ビーム出力回路及び光記録媒体アクセス装置

Info

Publication number: JP2007157298A
Application number: JP2005354786A
Authority: JP
Inventors: Takashi Arimoto; 孝有本
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 2005-12-08
Filing date: 2005-12-08
Publication date: 2007-06-21

Abstract

【課題】高精度に劣化状況を判定するレーザ光等の光ビームを出力する光ビーム出力回路の劣化判定方法、光ビーム出力回路、及び光記録媒体アクセス装置の提供。
【解決手段】データ記録時のレーザ光の出力時間を累計した第１時間を計測し（Ｓ１０１）、またデータ読取時のレーザ光の出力時間を累計した第２時間を計測し（Ｓ１０２）、閾値テーブルから第１係数及び第２係数を抽出し（Ｓ１０３）、第１係数及び第１時間の積並びに第２係数及び第２時間の積の和を劣化判定指数として計算し（Ｓ１０４）、閾値テーブルから閾値を抽出し（Ｓ１０５）、劣化判定指数が閾値未満であるか否かを判定し（Ｓ１０６）、劣化判定指数が閾値未満と判定した場合（Ｓ１０６：ＹＥＳ）、正常であると判定し（Ｓ１０７）、劣化判定指数が閾値以上と判定した場合（Ｓ１０６：ＮＯ）、劣化していると判定する（Ｓ１１０）。
【選択図】図３

Description

光ビーム出力部を備える光ビーム出力回路の劣化判定方法、該劣化判定方法を適用した光ビーム出力回路、及び該光ビーム出力回路を用いた光記録媒体アクセス装置に関し、特に光ビーム出力回路の劣化状況を高精度に判定することが可能な光ビーム出力回路の劣化判定方法、光ビーム出力回路及び光記録媒体アクセス装置に関する。

ＣＤ(Compact Disc)、ＤＶＤ(Digital Versatile Disc)等の光記録媒体に対するデータの記録及び読取を行うＤＶＤレコーダ等の光記録媒体アクセス装置が広く普及している。この様な光記録媒体アクセス装置では、駆動電流を入力することによりレーザ光等の光ビームを出力するレーザダイオード等の半導体を用いたレーザ出力回路が用いられている。レーザ出力回路は、長時間の使用により経時的に劣化し、レーザ光の出力が低下するため、レーザ出力のモニタ電流を検出して入力する駆動電流を制御し、出力を一定に制御するＡＰＣ(Automatic Power Control) 回路が用いられている。ＡＰＣ回路によりレーザ光の出力が一定となる様に制御した場合、レーザダイオードの劣化に伴い駆動電流が増大して急速に破壊に至る虞がある。そこでＡＰＣ回路が検出したモニタ電流に基づいてレーザダイオードの劣化状況を検知する装置が例えば特許文献１に開示されている。
特開昭６４−５７７７１号公報

しかしながら特許文献１に示す様にＡＰＣ回路のモニタ電流に基づいてレーザダイオードの劣化状況を検知する場合、ＡＰＣ回路によるレーザの出力の制御が困難な状況になるまで劣化状況を検知することができないという精度に関する問題がある。

本発明は斯かる事情に鑑みて成されたものであり、データ記録時及びデータ読取時の出力時間に基づいて劣化状況を判定することにより、高精度に劣化状況を判定することが可能な光ビーム出力回路の劣化判定方法、該劣化判定方法を適用した光ビーム出力回路、及び該光ビーム出力回路を用いた光記録媒体アクセス装置の提供を目的とする。

また本発明は、光ビーム出力部に入力される電流及び光ビーム出力部から出力されるレーザ光等の光ビームの強度に基づいて劣化状況を判定することにより、高精度に劣化状況を判定することが可能な光ビーム出力回路の劣化判定方法、該劣化判定方法を適用した光ビーム出力回路、及び該光ビーム出力回路を用いた光記録媒体アクセス装置の提供を他の目的とする。

第１発明に係る光ビーム出力回路の劣化判定方法は、光記録媒体に対するデータの記録又は読取を行うべく光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路の劣化判定方法において、データ記録時の光ビームの出力時間を累計した第１時間を計測し、データ読取時の光ビームの出力時間を累計した第２時間を計測し、計測した第１時間及び第２時間に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定することを特徴とする。

本発明では、データ記録時及びデータ読取時の出力時間に基づいて劣化状況を判定することにより、光ビームの出力時に経時的に劣化するという特性に基づき劣化状況を判定するので、高精度に劣化状況を判定することが可能である。

第２発明に係る光ビーム出力回路の劣化判定方法は、電流の入力により光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路の劣化判定方法において、光ビーム出力部に入力される電流を測定し、光ビーム出力部から出力される光ビームの強度を測定し、測定した電流値及び強度の関係に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定することを特徴とする。

本発明では、光ビーム出力部に入力される電流及び光ビーム出力部から出力される光ビームの強度に基づいて劣化状況を判定することにより、劣化に従い出力効率が低下するという特性に基づき劣化状況を判定するので、高精度に劣化状況を判定することが可能である。

第３発明に係る光ビーム出力回路は、光記録媒体に対するデータの記録又は読取を行うべく光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路において、データ記録時の光ビームの累計出力時間を累計した第１時間を計測する手段と、データ読取時の光ビームの累計出力時間を累計した第２時間を計測する手段と、計測した第１時間及び第２時間に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定する判定手段とを備えることを特徴とする。

第４発明に係る光ビーム出力回路は、第３発明において、前記判定手段は、予め設定されている第１係数及び第１時間の積並びに予め設定されている第２係数及び第２時間の積の和を予め設定されている閾値と比較することで判定する様に構成してあることを特徴とする。

本発明では、データの記録時及び読取時で劣化速度が異なるという特性に基づいて劣化状況を判定するので、高精度に劣化状況を判定することが可能である。

第５発明に係る光ビーム出力回路は、電流の入力により光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路において、光ビーム出力部に入力される電流を測定する電流測定手段と、光ビーム出力部から出力される光ビームの強度を測定する強度測定手段と、電流測定手段が測定した電流値及び強度測定手段が測定した強度の関係に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定する判定手段とを備えることを特徴とする。

第６発明に係る光ビーム出力回路は、第５発明において、複数回の測定に基づき電流値の変化に対する強度の変化の傾きを算出する手段を更に備え、前記判定手段は、算出した傾きを予め設定されている閾値と比較することで判定する様に構成してあることを特徴とする。

本発明では、電流値の変化に対する強度の変化の傾きにより、出力効率の低下を判定するので、高精度に劣化状況を判定することが可能である。

第７発明に係る光記録媒体アクセス装置は、第３発明乃至第６発明のいずれかひとつに記載の光ビーム出力回路と、該光ビーム出力回路が有する光ビーム出力部から光記録媒体に光ビームを出力して、光記録媒体に対するデータの記録又は読取を行う手段とを備えることを特徴とする。

本発明では、ＤＶＤレコーダ等の装置に適用され、光ビーム出力回路の劣化を高精度に判定することが可能である。

第８発明に係る光記録媒体アクセス装置は、第７発明において、前記判定手段が判定した結果を出力する手段を更に備えることを特徴とする。

本発明では、判定した結果を出力することにより、ユーザに対して劣化状況を通知することが可能である。

第９発明に係る光記録媒体アクセス装置は、第７発明又は第８発明において、前記判定手段が判定した結果を記録する手段を更に備えることを特徴とする。

本発明では、判定した結果を記録することにより、例えば修理時に劣化状況を容易に確認することが可能である。

本発明の光ビーム出力回路の劣化判定方法、光ビーム出力回路及び光記録媒体アクセス装置は、光記録媒体に対するデータを記録する際の光ビームの出力時間を累計した第１時間を計測し、光記録媒体からデータを読み取る際の光ビームの出力時間を累計した第２時間を計測し、予め設定されている第１係数及び第１時間の積並びに予め設定されている第２係数及び第２時間の積の和を予め設定されている閾値と比較することで劣化状況を判定する。

この構成により、本発明では、光ビームの出力時に経時的に劣化し、しかもデータの記録時及び読取時で劣化速度が異なるという光ビーム出力回路の特性に基づき劣化状況を判定するので、劣化状況を早期に、かつ高精度に判定することが可能である等、優れた効果を奏する。

また本発明の光ビーム出力回路の劣化判定方法、光ビーム出力回路及び光記録媒体アクセス装置は、光ビーム出力部に入力される電流を測定し、光ビーム出力部から出力される光ビームの強度を測定し、測定した電流値及び強度の関係、特に電流値の変化に対する強度の変化の傾きを、予め設定されている閾値と比較することで劣化状況を判定する。

この構成により、本発明では、電流値の変化に対する強度の変化の傾きに基づく出力効率が、劣化により低下するという特性に基づき劣化状況を判定するので、劣化状況を早期に、かつ高精度に判定することが可能である。

さらに本発明では、判定した結果を出力することにより、ユーザに対して劣化状況を通知することが可能であり、判定した結果を記録することにより、例えば修理時に劣化状況を容易に確認することが可能である等、優れた効果を奏する。

以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。

実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１における光記録媒体アクセス装置の構成例を示すブロック図である。図１中１は、ＤＶＤレコーダ等の光記録媒体アクセス装置であり、光記録媒体アクセス装置１は、装置全体を制御するＣＰＵ等の制御機構１０と、制御機構１０の制御により実行されるプログラム及びデータ等の各種情報を記録するＲＯＭ等の記録機構１１と、制御機構１０の制御によるプログラムの実行時に発生するデータを一時的に記憶するＲＡＭ等の記憶機構１２とを備えている。また光記録媒体アクセス装置１は、ＤＶＤ等の光記録媒体２にアクセスして、データの記録及び読取を行う記録／読取機構１３を備えている。

また記録媒体アクセス装置１は、外部のアンテナ（図示せず）により受信した放送波から所望の番組情報を取得するチューナ、外部の装置（図示せず）から各種データの入力を受け付ける入力インタフェース等の入力機構１４と、モニタ等の表示装置３、その他外部の装置（図示せず）へデータを出力する出力機構１５と、ユーザの操作を受け付ける押釦等の操作機構１６と、必要に応じて各種情報を表示するＬＥＤパネル等の表示機構１７とを備えている。

図２は、本発明の実施の形態１における光記録媒体アクセス装置１が備える記録／読取機構１３の構成例を示すブロック図である。記録／読取機構１３は、光記録媒体２に対してレーザ光等の光ビームを射出（出力）してデータの記録及び読取を行うピックアップ回路１３１と、レーザ光の出力を制御するレーザ（光ビーム）出力制御回路１３２と、レーザ光に関する劣化判定を行うマイコン等の劣化判定回路１３３とを備えている。

ピックアップ回路１３１は、レーザ出力制御回路１３２から入力される駆動電流によりレーザ光を出力するレーザダイオード等のレーザ（光ビーム）出力部１３１１と、レーザ出力部１３１１から出力されるレーザ光の強度をモニタ電流として測定するピンフォトダイオード等の出力測定部１３１２と、出力測定部１３１２が測定したモニタ電流をフィードバック電圧に変換してレーザ出力制御回路１３２へ出力するＡＰＣアンプ部１３１３と、光記録媒体２に対して射出したレーザ光の反射光を受光する受光部１３１４とを備えている。

そしてピックアップ回路１３１では、レーザ出力部１３１１からレーザ光を光記録媒体２に射出することにより、光記録媒体２に対するデータの記録を行い、また記録時より低出力のレーザ光を光記録媒体２に射出して、その反射光を受光部１３１４にて受光することにより光記録媒体２からのデータの読取を行う。

レーザ出力制御回路１３２は、光記録媒体２へのデータの記録時及び読取時のレーザ射出電力（レーザパワー）の設定値を出力する設定部１３２１と、設定部１３２１から出力された設定値に対し、ピックアップ回路１３１から出力されたフィードバック電圧に基づく数値を減算することで、設定値を修正する減算部１３２２と、減算部１３２２にて修正された設定値に基づく駆動電流を生成してピックアップ回路１３１へ出力するＬＤドライバ部１３２３と、ＬＤドライバ部１３２３からの駆動電流の出力時間を計測する計測部１３２４とを備えている。

ＬＤドライバ部１３２３は、設定部１３２１から出力される設定値に基づきデータの記録時及び読取時の駆動電流の制御を行う。例えばデータの記録時、ＬＤドライバ部１３２３では、パルス幅及びタイミングを制御してレーザ出力部１３１１から射出するレーザ光をパルス発光させることにより、光記録媒体２のディスク記録面の温度を調整し、データを正確に記録することを可能とする。また例えばデータの読取時、ＬＤドライバ部１３２３では、レーザ出力部１３１１から射出させるレーザ光に、振幅及び周波数を制御した矩形波を重畳することにより、レーザ光のノイズを逓減することを可能とする。

また本発明の光記録媒体アクセス装置１が備える記録／読取機構１３では、出力測定部１３１２、ＡＰＣアンプ部１３１３、設定部１３２１、減算部１３２２及びＬＤドライバ部１３２３が協働してフィードバック制御を行うことにより、レーザ出力部１３１１から射出するレーザ光の出力を安定化させることが可能である。

劣化判定回路１３３は、計測部１３２４が計測した駆動電流の出力時間を示す値の入力を受け付ける入力部１３３１と、レーザ出力部１３１１の劣化状況の判定に要する各種係数及び閾値を記録した閾値テーブル１３３２ａを含むメモリである記録部１３３２と、劣化状況の判定に関する演算を行う演算部１３３３と、演算部１３３３による演算の結果を出力する出力部１３３４とを備えている。

閾値テーブル１３３２ａには、データ記録時の駆動電流の出力時間に乗じる第１係数、データ読取時の駆動電流の出力時間に乗じる第２係数、劣化状況の判定の基準となる閾値等の様々なデータが記録されている。

次に本発明の実施の形態１に係る光記録媒体アクセス装置１の処理を説明する。図３は、本発明の実施の形態１に係る光記録媒体アクセス装置１の処理の一例を示すフローチャートである。レーザ出力制御回路１３２では、計測部１３２４にてＬＤドライバ部１３２３からの駆動電流の出力時間を、レーザ光の出力時間として計測する。計測部１３２４による出力時間の計測は、データ記録時及びデータ読取時で夫々異なる累計カウンタを用いることにより夫々の累計時間の計測として行われる。即ち光記録媒体アクセス装置１のレーザ出力制御回路１３２は、データ記録時のレーザ光の出力時間を累計した第１時間を計測し（Ｓ１０１）、またデータ読取時のレーザ光の出力時間を累計した第２時間を計測し（Ｓ１０２）、計測により得られた第１時間及び第２時間を示すカウンタ値は劣化判定回路１３３へ出力される。

光記録媒体アクセス装置１が備える劣化判定回路１３３では、入力部１３３１により、計測部１３２４が計測した第１時間及び第２時間の入力を受け付け、閾値テーブル１３３２ａから第１係数及び第２係数を抽出し（Ｓ１０３）、第１係数及び第１時間の積並びに第２係数及び第２時間の積の和を劣化判定指数として計算する（Ｓ１０４）。劣化判定指数は、レーザ出力部１３１１の使用による経時的な劣化を判定するための便宜上の数値である。なおデータ記録時のレーザ光の出力は、データ読取時の出力より大きく、そのためレーザ出力部１３１１の劣化も速いので、第１時間に乗じる第１係数は、第２時間に乗じる第２係数より大きな値となる。

さらに劣化判定回路１３３では、閾値テーブル１３３２ａから閾値を抽出し（Ｓ１０５）、劣化判定指数が閾値未満であるか否かを判定し（Ｓ１０６）、劣化判定指数が閾値未満であると判定した場合（Ｓ１０６：ＹＥＳ）、レーザ出力部１３１１は正常であると判定し（Ｓ１０７）、判定した結果を記録部１３３２に記録し（Ｓ１０８）、また判定した結果を出力部１３３４から出力する（Ｓ１０９）。ステップＳ１０８にて記録された内容は、例えば修理を行う場合に、判定結果の履歴として参照することが可能である。ステップＳ１０９にて出力部１３３４から出力された判定結果は、例えば表示機構１７へ送られ表示機構１７にて表示（出力）され、また出力機構１５へ出力され表示装置３にて表示される。

ステップＳ１０６において、劣化判定指数が閾値以上であると判定した場合（Ｓ１０６：ＮＯ）、劣化判定回路１３３では、レーザ出力部１３１１は劣化していると判定し（Ｓ１１０）、ステップＳ１０８へ進み、以降の処理を実行する。

前記実施の形態１では、第１係数及び第１時間の積及び第２係数及び第２時間の積の和を用いて劣化を判定する形態を示したが、本発明はこれに限らず、レーザ光の出力又は駆動電流の値と第１時間との積、並びにレーザ光の出力又は駆動電流の値と第２時間との積の和を用いて劣化を判定する様にしても良く、更にはレーザ光の出力又は駆動電流の時間積分値を算出して劣化を判定する様にしても良い等、様々な形態に展開することが可能である。

実施の形態２．
実施の形態２は、実施の形態１と異なるパラメータを用いてレーザ出力部の劣化状況を判定する形態である。なお以降の説明において実施の形態１と同様の構成要件については、実施の形態１と同様の符号を付して説明する。本発明の実施の形態２における光記録媒体アクセス装置１の構成例は、実施の形態１と同様であるので、実施の形態１を参照するものとし、その説明を省略する。

図４は、本発明の実施の形態２における光記録媒体アクセス装置１が備える記録／読取機構１３の構成例を示すブロック図である。記録／読取機構１３は、ピックアップ回路１３１、レーザ出力制御回路１３２及び劣化判定回路１３３を備えている。

ピックアップ回路１３１は、レーザ出力部１３１１、出力測定部１３１２、ＡＰＣアンプ部１３１３及び受光部１３１４を備えている。なおＡＰＣアンプ部１３１３では、出力測定部１３１２が測定したモニタ電流をフィードバック電圧に変換して出力する際に要した電力値を、レーザ光の強度を示すレーザ射出電力（レーザパワー）値として、劣化判定回路１３３へ出力する。

レーザ出力制御回路１３２は、設定部１３２１、減算部１３２２、ＬＤドライバ部１３２３、及びＬＤドライバ部１３２３にて生成されピックアップ回路１３１へ出力される駆動電流を測定する電流測定部１３２５とを備えている。

劣化判定回路１３３は、ＡＰＣアンプ部１３１３から出力されるレーザ射出電力及び電流測定部１３２５が測定した駆動電流の値の入力を受け付ける入力部１３３１と、レーザ出力部１３１１の劣化状況の判定に要する閾値を記録した閾値テーブル１３３２ａを含むメモリである記録部１３３２と、演算部１３３３と、出力部１３３４とを備えている。

次にレーザ出力部１３１１の駆動電流及びレーザ射出電力の関係について説明する。図５は、本発明の実施の形態２における光記録媒体アクセス装置１にて用いられるレーザ出力部１３１１に関する駆動電流及びレーザ射出電力の関係を例示したグラフである。図５に例示したグラフは、横軸にレーザ出力部１３１１の駆動電流をとり、縦軸にレーザ射出電力をとって、その関係を示したものである。レーザ出力部１３１１の駆動電流は、電流測定部１３２５が測定した値である。レーザ射出電力は、レーザ出力部１３１１から出力されるレーザ光の強度をＡＰＣアンプ部１３１４の出力に要した電力値を用いて示した値である。

図５中、Ｒ１は、レーザ出力部１３１１が正常に機能している場合の駆動電流とレーザ射出電力との関係を示しており、Ｒ２は、レーザ出力部１３１１が劣化した場合の駆動電流とレーザ射出電力との関係を示している。またＰ１が光記録媒体２からデータを読み取る場合のレーザ射出電力であり、Ｐ２が光記録媒体２にデータを記録する場合のレーザ射出電力である。

図５に示す様に、データの読取時よりデータの記録時の方が要求されるレーザ光の強度が大きい。またレーザ出力部１３１１の劣化に従って出力効率が低下するため、正常時と同程度の強度のレーザ光を出力するためには、駆動電流を大きくすることが必要となる。しかもレーザ出力部１３１１が劣化した場合、グラフの傾きが小さくなる。

本発明の記録媒体アクセス装置１では、ＡＰＣアンプ部１３１４等の各部が協働してフィードバック制御を行うことにより、レーザ出力部１３１１から射出するレーザ光の出力をＰ１又はＰ２を目標値として一定に制御することができる。従ってレーザ射出電力をＰ１及びＰ２とした夫々の場合の駆動電流を測定し、レーザ射出電力の変化量を駆動電流の変化量で除した傾きを、初期検査時のキャリブレーションにより予め導出している閾値と比較することにより、レーザ出力部１３１１の劣化状況を判定することができる。

次に本発明の実施の形態２に係る光記録媒体アクセス装置１の処理を説明する。図６は、本発明の実施の形態２に係る光記録媒体アクセス装置１の処理の一例を示すフローチャートである。本発明の光記録媒体アクセス装置１では、例えば起動時にレーザ光の出力テストを実施する。光記録媒体アクセス装置１が備えるレーザ出力制御回路１３２では、レーザ光出力時の駆動電流を電流測定部１３２５にて測定し（Ｓ２０１）、測定値を劣化判定回路１３３へ出力する。また光記録媒体アクセス装置１が備えるピックアップ回路１３１では、レーザ出力部１３１１から出力されるレーザ光の強度を、出力測定部１３１２にて測定し（Ｓ２０２）、測定したレーザ光の強度を、ＡＰＣアンプ部１３１３からレーザ射出電力値として劣化判定回路１３３へ出力する。

光記録媒体アクセス装置１が備える劣化判定回路１３３では、入力部１３３１により、駆動電流の測定値及びレーザ光の出力の強度を示すレーザ射出電力値の入力を受け付け、駆動電流の測定値の変化に対するレーザ射出電力値の変化の傾きを算出する（Ｓ２０３）。駆動電流の測定値の変化とは、光記録媒体２からデータを読み取る場合の駆動電流の測定値と、データを記録する場合の駆動電流の測定値との差である。またレーザ射出電力値の変化とは、データ読取時のレーザ射出電力値と、データ記録時のレーザ射出電力値との差である。そしてステップＳ２０３にて算出される傾きとは駆動電流の測定値の変化量をレーザ射出電力値の変化量で除した値である。

そして劣化判定回路１３３は、閾値テーブル１３３２ａから閾値を抽出し（Ｓ２０４）、ステップＳ２０３にて算出した傾きが閾値以上であるか否かを判定し（Ｓ２０５）、傾きが閾値以上であると判定した場合（Ｓ２０５：ＹＥＳ）、レーザ出力部１３１１は正常であると判定し（Ｓ２０６）、判定した結果を記録部１３３２に記録し（Ｓ２０７）、また判定した結果を出力部１３３４から出力する（Ｓ２０８）。

ステップＳ２０５において、傾きが閾値未満であると判定した場合（Ｓ２０５：ＮＯ）、劣化判定回路１３３では、レーザ出力部１３１１は劣化していると判定し（Ｓ２０９）、ステップＳ２０７へ進み、以降の処理を実行する。

前記実施の形態２では、データ記録時及びデータ読取時の２点での測定に基づき傾きを算出する形態を示したが、本発明はこれに限らず、適切に設定された２点、更には３点以上の測定に基づき傾きを算出する様にしても良い等、様々な形態に展開することが可能である。

前記実施の形態１及び２では、レーザ光を用いた装置に適用する形態を示したが、本発明はこれに限らず、レーザ光以外の光ビームを用いた装置に適用する等、様々な形態に展開することが可能である

また前記実施の形態１及び２では、ＤＶＤレコーダに適用する形態を示したが、本発明はこれに限らず、光記録媒体にアクセスする様々な装置に適用することが可能であり、例えばＣＤプレイヤ等の再生専用装置に適用することも可能である。

本発明の実施の形態１における光記録媒体アクセス装置の構成例を示すブロック図である。本発明の実施の形態１における光記録媒体アクセス装置が備える記録／読取機構の構成例を示すブロック図である。本発明の実施の形態１に係る光記録媒体アクセス装置の処理の一例を示すフローチャートである。本発明の実施の形態２における光記録媒体アクセス装置が備える記録／読取機構の構成例を示すブロック図である。本発明の実施の形態２における光記録媒体アクセス装置にて用いられるレーザ出力部に関する駆動電流及びレーザ射出電力の関係を例示したグラフである。本発明の実施の形態２に係る光記録媒体アクセス装置の処理の一例を示すフローチャートである。

符号の説明

１光記録媒体アクセス装置
１３記録／読取機構
１３１ピックアップ回路
１３１１レーザ出力部
１３１２出力測定部
１３１３ＡＰＣアンプ部
１３２レーザ出力制御回路
１３２３ＬＤドライバ部
１３２４計測部
１３２５電流測定回路
１３３劣化判定回路
１３３２記録部
１３３２ａ閾値テーブル
２光記録媒体

Claims

光記録媒体に対するデータの記録又は読取を行うべく光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路の劣化判定方法において、
データ記録時の光ビームの出力時間を累計した第１時間を計測し、
データ読取時の光ビームの出力時間を累計した第２時間を計測し、
計測した第１時間及び第２時間に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定する
ことを特徴とする光ビーム出力回路の劣化判定方法。
電流の入力により光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路の劣化判定方法において、
光ビーム出力部に入力される電流を測定し、
光ビーム出力部から出力される光ビームの強度を測定し、
測定した電流値及び強度の関係に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定する
ことを特徴とする光ビーム出力回路の劣化判定方法。
光記録媒体に対するデータの記録又は読取を行うべく光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路において、
データ記録時の光ビームの累計出力時間を累計した第１時間を計測する手段と、
データ読取時の光ビームの累計出力時間を累計した第２時間を計測する手段と、
計測した第１時間及び第２時間に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする光ビーム出力回路。
前記判定手段は、予め設定されている第１係数及び第１時間の積並びに予め設定されている第２係数及び第２時間の積の和を予め設定されている閾値と比較することで判定する様に構成してあることを特徴とする請求項３に記載の光ビーム出力回路。
電流の入力により光ビームを出力する光ビーム出力部を有する光ビーム出力回路において、
光ビーム出力部に入力される電流を測定する電流測定手段と、
光ビーム出力部から出力される光ビームの強度を測定する強度測定手段と、
電流測定手段が測定した電流値及び強度測定手段が測定した強度の関係に基づいて光ビーム出力回路の劣化状況を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする光ビーム出力回路。
複数回の測定に基づき電流値の変化に対する強度の変化の傾きを算出する手段を更に備え、
前記判定手段は、算出した傾きを予め設定されている閾値と比較することで判定する様に構成してある
ことを特徴とする請求項５に記載の光ビーム出力回路。
請求項３乃至請求項６のいずれかひとつに記載の光ビーム出力回路と、
該光ビーム出力回路が有する光ビーム出力部から光記録媒体に光ビームを出力して、光記録媒体に対するデータの記録又は読取を行う手段と
を備えることを特徴とする光記録媒体アクセス装置。
前記判定手段が判定した結果を出力する手段を更に備えることを特徴とする請求項７に記載の光記録媒体アクセス装置。
前記判定手段が判定した結果を記録する手段を更に備えることを特徴とする請求項７又は請求項８に記載の光記録媒体アクセス装置。