JP4573041B2 - 信号処理回路、光ディスク装置 - Google Patents
信号処理回路、光ディスク装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4573041B2 JP4573041B2 JP2005225001A JP2005225001A JP4573041B2 JP 4573041 B2 JP4573041 B2 JP 4573041B2 JP 2005225001 A JP2005225001 A JP 2005225001A JP 2005225001 A JP2005225001 A JP 2005225001A JP 4573041 B2 JP4573041 B2 JP 4573041B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- output value
- drive current
- light output
- laser diode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 131
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
そこで、本発明は、寿命が長く、また、より容量の少ないバッテリーで長時間駆動可能な光ディスク装置、および、この光ディスク装置が備える信号処理回路を提供することを目的とする。
図1に示すように、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置1は、光ディスク2に記録されている信号を読み出す光ピックアップ4と、光ディスク2と光ピックアップ4とを駆動するサーボ装置3と、光ピックアップ4の出力信号を処理する信号処理回路5と、を少なくとも備えている。
この光ディスク装置1においては、光ピックアップ4から発せられたレーザ光が、光ディスク2で反射して、光ピックアップ4で検知される。光ピックアップ4で検知された信号は、信号処理回路5で波形整形などされる。サーボ装置3は、信号処理回路5から出力される信号に基づいて、光ディスク2および光ピックアップ4をフィードバック制御する。
図2に示すように、光ピックアップ4は、レーザダイオード6と、コリメータレンズ7と、偏光ビームスプリッタ8と、λ/4波長板9と、対物レンズ10と、集光レンズ11と、受光素子12と、レーザダイオード駆動IC13と、を備えている。
レーザダイオード6から発せられたレーザ光は、コリメータレンズ7、偏光ビームスプリッタ8を透過して、λ/4波長板9、対物レンズ10に入射し集光され、光ディスク2に照射される。光ディスク2に照射されたレーザ光は、光ディスク2で反射された後、対物レンズ10、λ/4波長板9を透過して、偏光ビームスプリッタ8で反射され、集光レンズ11に入射する。集光レンズ11に入射した光は、受光素子12に受光された後、アナログ信号として、信号処理回路5に送られる。信号処理回路5は、レーザダイオード6の駆動電流値、および、この駆動電流値に重畳する高周波電流の周波数および振幅を決定し、レーザダイオード駆動IC13が有するレジスタ(図示せず)に設定する。レーザダイオード駆動IC13は、設定された駆動電流値がレーザダイオード6に供給されるように、また、設定された周波数および振幅を有する高周波電流が駆動電流に重畳されるように、レーザダイオード6を制御する。
以下、図3を参照しつつ、信号処理回路5における処理を説明する。
まず、信号処理回路5は、光ディスク2のテスト用書き込みエリアにテスト用のデータを書き込むよう、光ピックアップ4を制御する(S1)。なお、このステップS1は、テスト用のデータが光ディスク2のテスト用書き込みエリアに予め書き込まれている場合(たとえば、光ディスク2が、テスト用のデータが書き込まれたROMである場合)には、省略することができる。
つぎに、信号処理回路5は、高周波電流の周波数をレーザダイオード駆動IC13に設定する(S2)。
つぎに、信号処理回路5は、高周波電流の振幅をレーザダイオード駆動IC13に設定する(S3)。
つぎに、信号処理回路5は、レーザダイオード駆動IC13に設定されている光出力値を所定の範囲で変化させつつ(S4)、光ピックアップ4を動作させる。なお、光出力値は、小から大に向けて変化させていくことが好ましい。光出力値を大から小へ向けて変化させると、不要に大きな光出力値でレーザダイオード6が制御される場合があり、無駄な電力を消費してしまうからである。また、光出力値を小から大へ向けて変化させる場合は、光出力値を大から小へ向けて変化させる場合と比較して、読出エラー発生率が極小値をとる光出力値のうちの最小の光出力値を短時間で見つけることが可能となるため、信号処理回路5における処理の高速化を図ることができるとともに、極小値を見つけるためにレーザダイオードに流さなければならない駆動電流を節約することができる。なお、光出力値を変化させる所定の範囲は、下限のみが決められている範囲でもよいし、上限のみが決められている範囲でもよいし、下限および上限が決められている範囲でもよい。また、この範囲は、たとえば、CDやDVDなどの規格に合わせることもできる一方、この規格とは無関係に定めることもできる。
つぎに、信号処理回路5は、光ピックアップ4の出力信号を用いて、各光出力値における読出エラー発生率を算出し、レーザダイオード6の光出力値と読出エラー発生率との関係を、ステップS2で設定した周波数およびステップS3で設定した振幅を有する高周波電流の下で計測し、読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で読出エラー発生率が極小値となる光出力値を算出し、この算出した光出力値をレーザダイオード駆動IC13に設定する(S5)。なお、ここで、極小値とは、数1に示すように、読出エラー発生率の変化率が0になる読出エラー発生率をいい、読出エラー発生率の最小値とは異なる。
つぎに、信号処理回路5は、ステップS5で算出した光出力値における読出エラー発生率が許容値以下であるか否かを判断し(S6)、許容値以下でない場合には、レーザダイオード駆動IC13に設定されている光出力値を設定し直す(S7)。他方、信号処理回路5は、ステップS5で算出した光出力値における読出エラー発生率が許容値以下である場合には、信号の読出しを開始する(S8)。
さらに、信号処理回路5は、光ピックアップ4による信号の読出開始後に、レーザダイオード6の光出力値を読出エラー発生率が極小値となる光出力値に再設定することもできる。この再設定は、本発明において何ら限定されるものではないが、たとえば、次のようにして行うことができる。まず、信号処理回路後5が、信号の読み出し開始後に、光ピックアップ4で読み出された信号を用いて、各光出力値における読出エラー発生率を算出し、光出力値における読出エラー発生率が極小値であるか否かを判断する(S9)。そして、信号処理回路5は、読出エラー発生率が極小値でない場合、読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で、読出エラー発生率が極小値となる光出力値をレーザダイオード駆動IC13に再設定する。この再設定は、たとえば、読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で、レーザダイオード駆動IC13に設定されている光出力値を中心に光出力値を所定の範囲内で増減させて、読出エラー発生率が極小値となる光出力値を算出することにより、行うことができる。より具体的に説明すると、たとえば、読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で、再設定前の読出エラー発生率と、光出力値を所定値だけ小さくした場合の読出エラー発生率と、光出力値を所定値だけ大きくした場合の読出エラー発生率と、を比較して、この中から、読出エラー発生率が極小値となる光出力値(または、読出エラー発生率が極小値になると想定される光出力値。たとえば、読出エラー発生率が最も小さい光出力値)をレーザダイオード駆動IC13に再設定する(S10)。他方、信号処理回路5は、読出エラー発生率が許容値以下である場合には、信号の読出しを続行する。
本実施の形態は、上記のようにして読出エラー発生率が極小値となる光出力値でレーザダイオードを駆動するが、読出エラー発生率は、RIN(Relative Intensity Noise)との間に相関関係を有している。つまり、読出エラー発生率が極小値となる場合にはRINも極小値となり、読出エラー発生率が極大値となる場合にはRINも極大値となる。したがって、読出エラー発生率については、これをRINに置き換えて説明することができる。そこで、以下では、読出エラー発生率をRINに置き換えて、光ディスク装置1の動作を説明する。
RINと光出力値との関係を示す線は、駆動電流に高周波が重畳されていない場合は右下がりの直線または曲線となる(図示せず)。しかし、駆動電流に高周波電流が重畳されている場合は、右下がりの直線または曲線に歪みが生じ、たとえば、図4に示すように山と谷が形成されたりする。
図4からも明らかなように、RINを小さくするためには、レーザダイオード6の光出力値を上げればよい。しかしながら、レーザダイオード6の光出力値を上げると、レーザダイオード6の消費電力が大きくなってしまう。そこで、本実施の形態に係る光ディスク装置1は、縦軸がRINで横軸が光出力値である図4に示すようなグラフにおいて、RINが極小値となる光出力値でレーザダイオード6を駆動することとした。図4に示すように、レーザダイオード6の光出力値は、RINが許容値となる場合に最小値をとる。しかしながら、RINが極小値をとらない光出力値にレーザダイオード6の光出力値を設定すると、何らかの原因で光出力値が僅かに変動しただけで、RINが大きく変動してしまう。そこで、本実施の形態は、レーザダイオード6の駆動電流に高周波電流を重畳した場合にはレーザダイオード6の光出力値に対するRINに極小値が生じることに着目した。そして、本実施の形態は、RINの極小値であればRINが大きく変動することがないとして、RINが極小値となる光出力値でレーザダイオード6を駆動することとした。なお、このような極小値は、RINが許容値以下となる範囲で算出され、許容値を超える範囲では算出されない。つまり、許容値を超える範囲にRINを極小値とする光出力値が存在しても、この光出力値でレーザダイオード6は駆動されない。
このように、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、RINが大きく変動することを避けつつ、レーザダイオード6の光出力値を低く抑えることができる。したがって、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、RINを安定させつつ、消費電力を小さくすることが可能となるため、信号を安定に読み出しつつ、レーザダイオード6の発熱を抑制できる。よって、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、信号を安定に読み出しつつ、レーザダイオード6の長寿命化、ひいては、光ディスク装置1の長寿命化を図ることができる。本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、信号を安定に読み出しつつ、従来よりも容量の少ないバッテリーで長時間駆動可能な光ディスク装置1を提供することが可能となる。さらに、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、信号の読み出しが安定しているため、より短時間で信号を読み出すことができ、時間の点でも、バッテリーの節約が可能となる。
なお、光ディスク2では、読み出し(READ)よりも書き込み(WRITE)の方が強いパワーで行われるところ、このREADとWRITEの比(READ/WRITE)は、一定とされている。したがって、読出しパワーが低くなると、書き込みパワーも低くなる。よって、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、読出時における消費電力のみならず、書込時における消費電力も抑えることができるため、信号を安定に読み出しつつ、光ディスク装置1の長寿命化、および容量の少ないバッテリーでの長時間駆動をより一層図ることができる。
図5に示すように、光ディスク装置1においては、RINと光出力値との関係が、読出開始時と読出開始後とで異なってくる場合がある。したがって、たとえば、読出開始時にテスト用のデータを用いて、RINが極小値となる光出力値をレーザダイオード6の光出力値として設定していても、この設定された光出力値は、読出開始後においてRINを極小値としない場合がある。そこで、本実施の形態に係る光ディスク装置1では、光ピックアップ4による信号の読出開始後に、RINが許容値以下となる範囲で、レーザダイオード6の光出力値をRINが極小値となる光出力値に再設定することができる。したがって、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、読出開始後も、RINが極小値となる光出力値を、レーザダイオード6の光出力値とすることができる。よって、本実施の形態に係る光ディスク装置1によれば、光ディスク装置1の長寿命化、および容量の少ないバッテリーでの長時間駆動を、信号を安定に読み出しつつ、より一層図ることができる。本実施の形態に係る光ディスク装置によれば、読出中に周囲温度変化やレーザダイオード6の経時劣化によってレーザダイオード6の特性が変わっても、RINが極小値となる光出力値を、レーザダイオード6の光出力値とすることができる。なお、上記したとおり、本発明は、上記再設定の方法を何ら限定するものでない。
また、上記の説明では、レーザダイオード6の光出力値を設定する前に、高周波電流の振幅をレーザダイオード駆動IC13に設定することとしたが、本発明においては、たとえば、光ピックアップ4で読み出されたテスト用のデータを用いて高周波電流の振幅とRINとの関係を計測し、RINが許容値以下となる範囲で最小の振幅を算出し、この算出した振幅を高周波電流の振幅に設定することができる。図6に示すように、高周波電流は、その振幅が大きくなると、緩和振動による出力ピーク値が増大するので、読出時に誤って消去がなされてしまうおそれがあるが、上記のようにすれば、高周波電流の振幅が大きくなるのを抑制できるため、読出時に誤って消去がなされる可能性を減少させることができる。
また、上記の説明では、読出開始後に、レーザダイオード駆動IC13に設定されている光出力値をRINが許容値以下となる光出力値に再設定したが、本発明においては、読出開始後に、レーザダイオード駆動IC13に設定されている高周波電流の振幅を、RINが許容値以下となる範囲で最小の振幅に再設定することもできる。このようにすれば、読出開始後においても、RINを許容値以下としつつ、読出時に誤って消去がなされてしまう可能性を減少させることができる。
2 光ディスク
3 サーボ装置
4 光ピックアップ
5 信号処理回路
6 レーザダイオード
7 コリメータレンズ
8 偏光ビームスプリッタ
9 λ/4波長板
10 対物レンズ
11 集光レンズ
12 受光素子
13 レーザダイオード駆動IC
Claims (5)
- 光ピックアップで読み出された信号を用いて、レーザダイオードの光出力値または駆動電流値と読出エラー発生率との関係を所定の高周波電流の下で計測し、前記読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で前記読出エラー発生率の変化率が極大値となる光出力値または駆動電流値を算出する算出手段と、
前記レーザダイオードの光出力値または駆動電流値を前記算出された光出力値または駆動電流値に設定する設定手段と、
を備えたことを特徴とする信号処理回路。 - 光ピックアップで読み出された信号を用いて、レーザダイオードの光出力値または駆動電流値と読出エラー発生率との関係を所定の高周波電流の下で計測し、前記読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で前記読出エラー発生率が極小値となる光出力値または駆動電流値を算出する算出手段と、
前記レーザダイオードの光出力値または駆動電流値を前記算出された光出力値または駆動電流値に設定する設定手段と、を備え、
前記設定手段は、前記算出手段で複数の光出力値または駆動電流値が算出された場合、前記複数の光出力値または駆動電流値のうちの最小の光出力値または駆動電流値を前記レーザダイオードの光出力値または駆動電流値に設定する、
ことを特徴とする信号処理回路。 - 請求項1または請求項2に記載の信号処理回路において、さらに、
前記光ピックアップで読み出された信号を用いて、前記高周波電流の振幅と前記読出エラー発生率との関係を計測し、前記読出エラー発生率が許容値以下となる範囲で最小の振幅を算出する振幅算出手段と、
前記高周波電流の振幅を前記算出された振幅に設定する振幅設定手段と、
を備えたことを特徴とする信号処理回路。 - 請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の信号処理回路において、さらに、前記光ピックアップによる信号の読出開始後に、前記設定手段による前記レーザダイオードの光出力値または駆動電流値の設定を再度行う再設定手段、を備えたことを特徴とする信号処理回路。
- 光ディスクで反射したレーザ光を光ピックアップで読み出す光ディスク装置において、前記光ピックアップで読み出された信号を処理する回路として請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の信号処理回路を備えた、ことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005225001A JP4573041B2 (ja) | 2005-08-03 | 2005-08-03 | 信号処理回路、光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005225001A JP4573041B2 (ja) | 2005-08-03 | 2005-08-03 | 信号処理回路、光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007042208A JP2007042208A (ja) | 2007-02-15 |
JP4573041B2 true JP4573041B2 (ja) | 2010-11-04 |
Family
ID=37800036
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005225001A Expired - Fee Related JP4573041B2 (ja) | 2005-08-03 | 2005-08-03 | 信号処理回路、光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4573041B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003289171A (ja) * | 2002-01-23 | 2003-10-10 | Sony Corp | 半導体レーザ駆動回路及びその方法 |
JP2003308624A (ja) * | 2002-04-12 | 2003-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
JP2004110975A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Ricoh Co Ltd | 記録再生装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0714202A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-17 | Ricoh Co Ltd | 光ディスク装置 |
JP3780650B2 (ja) * | 1997-08-05 | 2006-05-31 | ソニー株式会社 | 半導体レーザの平均光出力の設定方法および半導体レーザの高周波電流の重畳条件の設定方法 |
-
2005
- 2005-08-03 JP JP2005225001A patent/JP4573041B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003289171A (ja) * | 2002-01-23 | 2003-10-10 | Sony Corp | 半導体レーザ駆動回路及びその方法 |
JP2003308624A (ja) * | 2002-04-12 | 2003-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
JP2004110975A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Ricoh Co Ltd | 記録再生装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007042208A (ja) | 2007-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010147105A (ja) | レーザ制御方法及びレーザ制御回路 | |
JP5052604B2 (ja) | 光ディスク再生光量設定方法及び光ディスク装置 | |
JP2004062938A (ja) | 球面収差補正装置及び球面収差補正方法 | |
US8121003B2 (en) | Optical recording/reproducing apparatus | |
JP4573041B2 (ja) | 信号処理回路、光ディスク装置 | |
JP2007172770A (ja) | 光ディスク装置 | |
US20060153042A1 (en) | Method for determining optimum recording condition and optical recording/reproducing apparatus using the same | |
JP2008103029A (ja) | 光ディスク再生装置、球面収差補正方法及び球面収差補正プログラム | |
JP2007207286A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2006351127A (ja) | 光ディスク記録装置および記録パワー調整方法 | |
US8335142B2 (en) | Optical disc drive and method of controlling laser light power in optical disc drive | |
US20090097367A1 (en) | Optical axis shift correcting device and method, and computer program | |
JP2008226371A (ja) | 光ディスク装置及びその制御方法 | |
JP3910961B2 (ja) | 光ディスク装置のフォーカスサーボ制御装置 | |
JP2008004227A (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
JP4086066B2 (ja) | 光ディスク記録装置 | |
JP4553883B2 (ja) | 光ディスク記録装置、光ディスク記録方法及びプログラム | |
KR20020091676A (ko) | 광기록재생기의 기록 방법 | |
US8243568B2 (en) | Optical disc apparatus | |
JP2007149152A (ja) | 光ディスク記録装置における記録パワー設定方法 | |
JP2005353246A (ja) | ピックアップ装置及びそれを備えた光ディスク装置 | |
JP2009518773A (ja) | 光ディスク書き込みストラテジ最適化方法及び装置 | |
JP2009015883A (ja) | 光ディスク装置及びその制御方法 | |
JP2008052783A (ja) | 光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の駆動方法 | |
JP2008047164A (ja) | ディフェクト検出回路及び制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080326 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100312 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100330 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100428 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100721 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100803 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4573041 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130827 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130827 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |