JP5052604B2 - 光ディスク再生光量設定方法及び光ディスク装置 - Google Patents
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Description
従来の光ディスク装置では同一トラックを繰り返し再生するスチル再生を行った際に、そのトラックが熱的なダメージを多く受け、その部分の記録情報である記録マークが劣化し、再生信号品質が劣化していた。この改善策として、スチル再生時に再生信号振幅を検出し、再生信号振幅の変化を補正する形で再生光量を制御していた(例えば、特許文献1参照)。
光ディスクを再生するために照射する光量を設定する方法において、
光ディスク上の情報が記録された領域をテスト用再生光量を用いてテスト再生し、
そのテスト再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数を求め、
それらの値を用いて所定の再生時間又は再生回数を保証する最大の再生光量を求め、求められた最大の光量を本再生用の再生光量として設定し、
上記テスト用再生光量を1個用いて再生し、該テスト用再生光量の逆数と、上記再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値の関係を表す直線の傾きを一定として、該関係を表す関係式を用いて上記再生光量の設定を行う
ことを特徴とする。
図1はこの発明の実施の形態1の光ディスク装置の主要部分を示す概略図、図2は図1の装置を用いて行われる再生光量設定のための動作シーケンスを示すフローチャート、図3は適正な再生光量を用いて長時間の再生を行った場合の再生時間に対するジッター値の変化を示す図、図4は適正な再生光量よりもかなり大きな再生光量を用いて長時間の再生を行った場合の再生時間に対するジッター値の変化を示す図、図5は図3と図4を含めて再生光量をパラメータとした場合の再生時間に対するジッター値の変化を示す図、図6は図5における再生光量の逆数(1/L)とジッター値が設定許容値Jsに達するまでの再生時間(再生回数)の逆数(1/N)の自然対数値の関係を示すアレニウスプロット図である。
検出されたジッター値は制御演算部12に送られ、更に映像処理部14に送られ映像や音声等の処理が行われる。
光ディスクに対する再生指示を映像処理部14から受けた場合(S10)、制御演算部12は光源制御部13に対して第1の所定の光量で発光する指示を出す(S12)。即ち、第1のテスト用再生光量を設定して、その光量で発光させるための指示を出す。
なお、Mの値を一定とせず、ステップS14を繰り返す毎に異なる値としても良い。例えば、ジッタ値が大きくなり、所定の値に近付くに伴い、Mの値を小さくすることとしても良い。
なお、Mの値を一定とせず、ステップS24を繰り返す毎に異なる値としても良い。例えば、ジッタ値が大きくなり、所定の値に近付くに伴い、Mの値を小さくすることとしても良い。
そして、決定された再生光量で本再生を行う(S34)。
k=A*exp(−E/RT) …(1)
両辺の自然対数を取ると、式(2)の形で表される。
ln(k)=(−E/R)*(1/T)+ln(A) …(2)
一方、縦軸はジッター値が設定許容値に達するまでの再生時間(再生回数)N、例えば、図5の各再生光量におけるジッター値がそれぞれ設定許容値Jsに達するまでの再生時間Nの逆数(1/N)の自然対数値ln(1/N)であり、アレニウスプロットにおける速度係数kの自然対数ln(k)に相当する。
また、図6における縦軸上の切片は式(2)における度数因子を適当な値に取り、ln(A)に相当するものとして表現できる。よって、図6の曲線の傾きは(−E/R)に相当するものとして決定される。
ln(1/N)=Ka*(1/L)+Kb …(3)
ln(1/Ne)=Ka*(1/Le)+Kb …(4)
ln(1/Nd)=Ka*(1/Ld)+Kb …(5)
Ka={ln(1/Ne)−ln(1/Nd)}/{(1/Le)−(1/Ld)}
…(6)
Kb={ln(1/Ne)・(1/Ld)−ln(1/Nd)・(1/Le)}/{(1/Ld)−(1/Le)} …(7)
同様に、ステップS28でNOの場合に、再生回数が所定値Nhに達したか否かの判定を行い(S38)、達していなければ、ステップS24に戻り、達していれば、所定の再生光量を設定し(S40)、本再生を開始する(34)。これはそのように、再生回数が所定値Nhに達してもジッタ値が所定値に達しない(再生品質値が所定値に達しない)のは光ディスクが再生光量に対して十分な耐性を有していると判断されるためである。
際に設定すれば良い。
以下、本発明の実施の形態2について説明する。実施の形態2の光ディスク装置の構成を示す概略図は、図1と同じである。図9は実施の形態2で用いられる光ディスク上のテスト記録領域を示す概略図である。
以下、本発明の実施の形態3について説明する。実施の形態3の光ディスク装置の構成を示す概略図は、図1と同じである。図10は実施の形態3で用いられる光源2に高周波を印加した駆動電流波形と、光源2から出射される光束3が高周波成分を含む(直流成分に高周波成分が重畳されたものである)場合の発光量の関係を示した電流−発光量関係図である。図10で、駆動電流の中心値Cが直流成分を表す。図11は図10における光源2の発光量の時間的変化を示す概略図であり、「ピークパワー」、「ボトムパワー」、「平均パワー」が示されている。図12(a)及び(b)は、図10と同様の電流−発光量関係図であるが、駆動電流の中心値Cを、異なる値C1、C2(C2>C1)に変化させたときの発光量の変化を示す。図13(a)及び(b)は、図12(a)と同様の電流−発光量関係図であり、駆動電流の振幅値Mの変化に対する発光量の変化を示す。図13(a)は、図12(a)と同じく振幅値MがM1である場合を示す。図13(b)は、振幅値MがM1よりも大きいM2である場合を示す。
Claims (24)
- 光ディスクを再生するために照射する光量を設定する方法において、
光ディスク上の情報が記録された領域をテスト用再生光量を用いてテスト再生し、
そのテスト再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数を求め、
それらの値を用いて所定の再生時間又は再生回数を保証する最大の再生光量を求め、求められた最大の再生光量を本再生用の再生光量として設定し、
上記テスト用再生光量を1個用いて再生し、該テスト用再生光量の逆数と、上記再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値の関係を表す直線の傾きを一定として、該関係を表す関係式を用いて上記再生光量の設定を行う
ことを特徴とする光ディスク再生光量設定方法。 - 上記テスト用再生光量をL、上記再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数をNとするとき、上記関係式が、
ln(1/N)=Ka*(1/L)+Kb
(但し、Ka、Kbは定数)
で表され、
上記定数Kaが一定値とされることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク再生光量設定方法。 - 上記傾きを表す定数Kaが、
Ka=−E/R
(但し、Eは活性化エネルギー、
Rはガス定数)
で与えられるものであり、
上記ガス定数Rが固定され、上記活性化エネルギーEに適切な代表値が選定される
ことを特徴とする請求項2に記載の光ディスク再生光量設定方法。 - 上記テスト用再生光量を本再生で用いられる再生光量よりも大きな値としたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト再生信号の品質値としてジッター値を用いたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト用再生光量の逆数を横軸に、上記テスト再生信号の品質値が上記所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値を縦軸としたアレニウスプロットを用いて、上記最大の再生光量を求めることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト用再生光量の逆数を横軸に、上記テスト再生信号の品質値が上記所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値を縦軸とし、傾きを固定したアレニウスプロットを用いて、上記最大の再生光量を求めることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト用再生を行う領域をユーザが利用する領域以外の領域としたことを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト用再生を行う領域を記録可能型光ディスクに対して記録光量を決定するための領域としたことを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記再生信号の品質値が所定の再生時間又は所定の再生回数内に上記所定の値に達しない場合は、予め定めた再生光量を設定することを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト用再生光は直流成分に高周波成分が重畳されたものであり、その高周波成分の中心値または振幅値を変化させることにより再生光量を設定することを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 上記テスト用再生光は直流成分に高周波成分が重畳されたものであり、光ディスクの製造メーカ情報に基づいて、その高周波成分の中心値または振幅値を選択的に変化させることにより再生光量を設定することを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載の光ディスク再生光量設定方法。
- 光ディスクを再生するために照射する光量を設定する装置において、
光ディスク上の情報が記録された領域をテスト用再生光量を用いてテスト再生する再生手段と、
そのテスト再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数を求める品質劣化検出手段と、
それらの値を用いて所定の再生時間又は再生回数を保証する最大の再生光量を求め、求められた最大の光量を本再生用の再生光量として設定し、
上記再生手段は、上記テスト用再生光量を1個用いて再生し、
上記光量設定手段は、上記テスト用再生光量の逆数と、上記再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値の関係式を用いて上記再生光量の設定を行う
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 上記テスト用再生光量をL、上記再生信号の品質値が所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数をNとするとき、上記関係式が、
ln(1/N)=Ka*(1/L)+Kb
(但し、Ka、Kbは定数)
で表され、
上記定数Kaが一定値とされることを特徴とする請求項13に記載の光ディスク装置。 - 上記傾きを表す定数Kaが、
Ka=−E/R
(但し、Eは活性化エネルギー、
Rはガス定数)
で与えられるものであり、
上記ガス定数Rが固定され、上記活性化エネルギーEに適切な代表値が選定される
ことを特徴とする請求項14に記載の光ディスク装置。 - 上記再生手段は、上記テスト用再生光量として、本再生で用いられる再生光量よりも大きな値を用いることを特徴とする請求項13乃至15のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記品質劣化検出手段は、上記テスト再生信号の品質値としてジッター値を用いることを特徴とする請求項13乃至16のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記光量設定手段は、上記テスト用再生光量の逆数を横軸に、上記テスト再生信号の品質値が上記所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値を縦軸としたアレニウスプロットを用いて、上記最大の再生光量を求めることを特徴とする請求項13乃至17のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記光量設定手段は、上記テスト用再生光量の逆数を横軸に、上記テスト再生信号の品質値が上記所定の値に達するまでの再生時間又は再生回数の逆数の自然対数値を縦軸とし、傾きを固定したアレニウスプロットを用いて、上記最大の再生光量を求めることを特徴とする請求項13乃至18のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記再生手段は、ユーザが利用する領域以外の領域を用いて上記テスト用再生を行うことを特徴とする請求項13乃至19のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記再生手段は、記録可能型光ディスクに対して記録光量を決定するための領域を用いて上記テスト用再生を行うことを特徴とする請求項13乃至20のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記劣化検出手段により、上記再生信号の品質値が所定の再生時間又は所定の再生回数内に上記所定の値に達しないと判定されたときは、
上記光量設定手段は、予め定めた再生光量を設定する
ことを特徴とする請求項13乃至21のいずれかに記載の光ディスク装置。 - 上記テスト用再生光は直流成分に高周波成分が重畳されたものであり、その高周波成分の中心値または振幅値を変化させることにより再生光量を設定することを特徴とする請求項13乃至22のいずれかに記載の光ディスク装置。
- 上記テスト用再生光は直流成分に高周波成分が重畳されたものであり、光ディスクの製造メーカ情報に基づいて、その高周波成分の中心値または振幅値を選択的に変化させることにより再生光量を設定することを特徴とする請求項13乃至22のいずれかに記載の光ディスク装置。
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