JP4076947B2 - 情報記録方法及び情報記録装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法及び情報記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、マルチメディアの普及に伴い、追記型光ディスクのＣＤ−Ｒや書き換え可能なＣＤ−ＲＷが急速に普及し、さらに大容量の追記型光ディスクのＤＶＤ−Ｒや、書き換え可能な光ディスクのＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭも実用化され普及しはじめている。いずれの光ディスクも情報を記録するために半導体レーザを光源とする光ピックアップ光学系を含む情報記録再生装置が用いられている。これらの情報記録再生装置では記録もしくは再生性能を高め、安定化するために様々な技術開発が行われてきた。その技術の一つに半導体レーザのパワー制御技術があり、たくさんの方式が提案されている。とりわけ、追記型光ディスクでは、データの書き換えができないため、いかに安定した記録状態が持続できるかが重要になってくる。レーザパワー制御方式には、レーザの出射光量の一部を検出し、出射パワーが一定に保たれるようにレーザパワーの制御を行うＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる方式や、記録中に記録媒体からの反射光量を検出し、記録媒体の記録マーク領域の反射光量が所定の光量となるようにレーザパワーの制御を行うＲ−ＯＰＣ（Ｒｕｎｎｉｎｇ − Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる方式などがある。
【０００３】
例えば、特願平２０００−２９５７３４号公報に示されるように、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列の記録波形を用い、ＡＰＣとＲ−ＯＰＣを組み合わせてレーザパワー制御を行う方式が提案されている。
【０００４】
図７に、ＡＰＣとＲ−ＯＰＣを組み合わせてレーザパワー制御を行う従来の情報記録装置のブロック図を、図８に、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列の記録波形を用いる従来の情報記録装置のＡＰＣ用検出信号波形とＲ−ＯＰＣ用検出信号波形を示す。
【０００５】
１０１は、情報の記録再生可能な光ディスクである。１０２は光ディスク１０１を回転させるスピンドルモータである。
【０００６】
１０３は、光ディスク１０１への記録時には、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列で発光可能なレーザダイオードである。１０４は、レーザダイオード１０３の出射光と光ディスク１０１からの戻り光を分けるビームスプリッターである。１０５は、光ディスク１０１の記録もしくは再生可能な領域にレーザ光を集光する対物レンズである。
【０００７】
１０６は、レーザダイオード１０３が出射する光の一部を検出する光量モニター用フォトディテクタである。１０７は、光量モニター用フォトディテクタ１０６の電流出力を電圧に変換するＩ／Ｖ変換回路である。
【０００８】
１０８は、Ｉ／Ｖ変換回路１０７の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。１０９は、光量モニター用フォトディテクタ１０６の電流出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。１１０は、ＬＰＦ１０８の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１１１は、ＡＭＰ１０９の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。
【０００９】
１１２は、Ｓ／Ｈ１１０の出力をマルチパルス列の記録発光の平均パワーとして検出するｍｐ検出器である。
【００１０】
１１３は、Ｓ／Ｈ１１１の出力をマルチパルス列の記録発光のバイアスパワーとして検出するｓｐ検出器である。
【００１１】
１１４は、マルチパルス列の記録発光のピークパワーを制御するピークパワー制御回路である。
【００１２】
１１５は、マルチパルス列の記録発光のバイアスパワーを制御するバイアスパワー制御回路である。１１６は、レーザダイオード１０３を、ピークパワー制御回路１１４とバイアスパワー制御回路１１５とで制御されるパワー及びパルス幅の異なるマルチパルス列で発光させるＬＤ駆動回路である。
【００１３】
１１７は、光ディスク１０１からの戻り光を検出する複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタである。１１８は、複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタ１１７の各電流出力を電圧に変換する複数個からなるＩ／Ｖ変換回路である。
【００１４】
１１９は、複数個からＩ／Ｖ変換回路１１８の出力を加算するＲＦ加算器である。１２０は、ＲＦ加算器１１９の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。１２１は、ＬＰＦ１２０の出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。１２２は、ＬＰＦ１２０の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１２３は、ＡＭＰ１２１の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。
【００１５】
１２４は、Ｓ／Ｈ１２２の出力を記録時の光ディスク１０１のマーク領域からの平均戻り光量として検出するＭＰ検出器である。
【００１６】
１２５は、Ｓ／Ｈ１２３の出力を記録時の光ディスク１０１のスペース（非マーク）領域からの戻り光量として検出するＳＰ検出器である。
【００１７】
１２６は、ＭＰ検出器１２４の出力とＳＰ検出器１２５の出力から、Ｒ−ＯＰＣ動作を行うためのパラメータであるＢ／Ａ値を算出するＢ／Ａ算出回路である。１２７は、Ｂ／Ａ算出回路１２６の出力に基づいてピークパワーの補正量を算出して、ピークパワー制御回路１１４に目標ピークパワーの指令を行うＣＰＵである。
【００１８】
以上の構成により、ＡＰＣとＲ−ＯＰＣを組み合わせてレーザパワー制御を行う動作を、図８のＡＰＣ用検出信号波形とＲ−ＯＰＣ用検出信号波形を用いながら説明する。
【００１９】
図８（ａ）の記録データに対して、図８（ｂ）に示すようなパルス幅の異なるマルチパルス列に変換して、所定のピークパワーと所定のバイアスパワーでレーザダイオード１０３の制御を行う場合、まずＡＰＣ動作として、光量モニター用フォトディテクタ１０６には、図８（ｃ）に示す発光波形が検出され、ＬＰＦ１０８によりマルチパルス列部の後端部出力は、図８（ｄ）に示すｍｐのレベルとなり、Ｓ／Ｈ１１０によってｍｐをサンプルホールドした後、マルチパルス列のパルス幅比からなる平均パワーとしてｍｐ検出器１１２によって検出され、マルチパルス列のパルス幅比から換算してピークパワーの検出を行う。
【００２０】
またバイアスパワーは、図８（ｃ）及び図８（ｄ）の示すｓｐのレベルをＡＭＰ１０９で増幅後Ｓ／Ｈ１１１によってサンプルホールドした後、バイアスパワーとしてｓｐ検出器１１３によって検出される。ｍｐとｓｐから得られたピークパワー及びバイアスパワーが所定の値となるようにピークパワー制御回路１１４とバイアスパワー制御回路１１５とでレーザパワーの制御を行う。
【００２１】
次に、Ｒ−ＯＰＣ動作の説明を行う。ＡＰＣ動作によって所定のパワー値で制御されているにも関わらず、光ディスク１０１の記録面上の記録領域の違いによって記録感度のばらつきによって、最適な記録パワー値が記録領域や記録条件によって異なってくる。そのため記録動作を行っている状態で最適記録パワーとなるように、ＡＰＣ動作に加え、別なパワー制御動作を行う必要が生じてくる。
【００２２】
このパワー制御動作がＲ−ＯＰＣであり、記録中の戻り光を検出しながらパワー補正量を算出する。図８（ｅ）は、記録中の戻り光を、戻り光検出用フォトディテクタ１１７とＩ／Ｖ変換回路１１８、ＲＦ加算器１１９から生成された波形である。
【００２３】
図８（ｅ）中のＡは、ピークパワーでの発光時において、光ディスク１０１の記録面のマーク領域上でマークが形成されていない状態での戻り光の最大レベルであり、Ｂは、ピークパワーでの発光時において、マークの形成過程の状態での戻り光の最大レベルである。Ａは光ディスク１０１の未記録領域の反射率とピークパワーに実質的に比例するものであり、Ｂは光ディスク１０１の記録マークの形成状態によって異なる反射率とピークパワーの関係からなるものである。ＢをＡで
除算した値（Ｂ／Ａ）を検出して、所定のＢ／Ａ値になるようピークパワーを制御する。
【００２４】
ただし、マルチパルス列のパルス幅が短くなるにつれ、Ａ値やＢ値を直接検出するのが困難なため、ＡＰＣ動作同様に、図８（ｆ）に示すように、ＬＰＦ１２０によりマルチパルス列部の後端部出力は、ＭＰのレベルとなり、Ｓ／Ｈ１２２によってＭＰをサンプルホールドした後、マルチパルス列のパルス幅比からなる平均戻り光量としてＭＰ検出器１２４によって検出され、マルチパルス列のパルス幅比から換算して図８（ｅ）のＢ値の検出を行う。
【００２５】
また、（ｅ）及び（ｆ）の示すＳＰのレベルをＡＭＰ１２１で増幅後Ｓ／Ｈ１２３によってサンプルホールドした後、バイアスパワーでの戻り光量としてＳＰ検出器１２５によって検出し、ピークパワーとバイアスパワーの比からＡ値の検出を行う。Ｂ／Ａ値を算出後、光ディスク１０１への最適な記録パワーにおける所定のＢ／Ａ値と比較して、前記所定のＢ／Ａ値となるようなピークパワー補正量をＣＰＵ１２７によって求め、ピークパワー制御回路１１４へピークパワーの補正を指令し、適正なパワー制御を行う。図８（ｇ）に、前記ＡＰＣ及びＲ−ＯＰＣ動作によって制御されたレーザパワーで記録後の記録マークの一例を示す。
【００２６】
この結果、光ディスク１０１の記録面上の記録領域の違いによって記録感度がばらついても、常に記録中のマークの形成状態を戻り光及びＢ／Ａ値を用いて判断できるため、最適な記録状態となりうるレーザパワーを制御することができる。
【００２７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、記録中にデフォーカスやオフトラックやチルト等のストレスが変動した場合、最適な記録パワーの変動のみならず、戻り光量の検出に影響を与え、光ディスクへの最適記録パワーに対する、Ｒ−ＯＰＣの制御目標値であるＢ／Ａ値が変動する。
【００２８】
ストレス変動による最適Ｂ／Ａ値の変動の関係を示す一つの例を図９に示す。この関係は発明者が発見した。図９は記録パワーに対するＢ／Ａ値の、ディスク半径方向チルトを示すラジアルチルト依存性を示しており、ラジアルチルトが増大していくと最適記録パワーに
対するＢ／Ａ値が増大することを示している。
【００２９】
Ｒ−ＯＰＣによる記録ピークパワーの制御動作をＲ−ＯＰＣ検出信号のパワー依存性を示す図１４を用いて説明する。図１４において丸囲み数字１は、記録開始直前もしくは直後のパワーとＢ／Ａの関係を示す特性曲線Ａにおける最適記録パワーＰｏと、Ｐｏの時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｉを示す点であり、またＢ／Ａiは記録中のＲ−ＯＰＣの制御目標値である。丸囲み数字２は、ストレス変動はなく、ディスク感度ばらつきのみ発生した場合の特性曲線Ｂにおける前記特性曲線Ａ時の最適記録パワーＰｏとＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ１を示す点である。丸囲み数字２’は特性曲線Ｂにおける真の最適記録パワーＰ１と、Ｐ１の時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｉを示す点であり、特性曲線Ａの丸囲み数字１とは同じＢ／Ａ値である。丸囲み数字３は、ストレスの一つであるチルトが大きく発生した場合の特性曲線Ｃにおける前記特性曲線Ａ時の最適記録パワーＰｏとＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ２を示す点である。丸囲み数字３’は特性曲線Ｃにおける真の最適記録パワーＰ２’と、Ｐ２’の時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｉ’を示す点である。丸囲み数字３”は、特性曲線Ｃにおける丸囲み数字１および丸囲み数字２’のＢ／Ａiに対する記録ピークパワーＰ２を示す点である。ストレス変動がない特性曲線ＢにおけるＲ−ＯＰＣ動作は、記録中のパワーＰｏ時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ１が制御目標値Ｂ／Ａiからずれているため、制御目標値に収束するようにパワー補正量Ｐｃ１をＰｏに加えたパワーＰ１にパワー変動させながら記録し続ける。Ｐ１は最適記録パワー値であるので記録品位は保たれる。
次にストレスの一つであるチルトが大きく発生した場合の特性曲線ＣにおけるＲ−ＯＰＣ動作は、記録中のパワーＰｏ時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ２が制御目標値Ｂ／Ａiからずれているため、制御目標値に収束するようにパワー補正量Ｐｃ２をＰｏに加えたパワーＰ２にパワー変動させながら記録し続ける。Ｐ２は最適記録パワー値Ｐ２’より大きなパワーとなるため記録品位は保たれない。
【００３０】
すなわち、Ｒ−ＯＰＣ制御目標値であるＢ／Ａ値を一定値でパワー制御を行うと、最適記録パワーに対して過大なパワーで制御が行われることになる。
【００３１】
したがって、安定した記録が困難になり、記録後のデータの再生にも大きな影響を及ぼしてしまう。
【００３２】
そこで、本発明は、上記問題を考慮し、記録中にデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレス変動が生じた場合においても、最適な記録パワーで光ディスクに記録することができる情報記録方法及び情報記録装置を提供することを目的とするものである。
【００３３】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、第１の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法において、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用基準値を算出し、
データの記録の際は、前記記録媒体からの記録マーク領域の反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用検出値を算出し、前記光強度制御用基準値と前記光強度制御検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記光強度制御用基準値を補正し、その補正した光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値とが実質的に一致するように、前記レーザ光強度を制御し、
前記光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値の算出は、
記録マーク領域における反射光量の平均値出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間経過後に検出し、その検出値から記録マーク領域における反射光量の最大値を求め、記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値における反射光量の最大値を算出し、前記記録マーク領域における反射光量の最大値を、算出された光強度のピーク値における反射光量の最大値で除算することによって得る、情報記録方法である。
【００３４】
また、第２の本発明は、前記補正光強度の算出に用いる光強度制御用基準値は、補正した光強度制御用基準値に更新していく、第１の本発明の情報記録方法である。
【００３５】
また、第３の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して温度変動に伴うレーザ光波長の変動によりマーク形成に適切な光強度が変動する記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法において、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出すると同時にレーザ近傍温度を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用基準値の算出と検出した温度を基準温度として記憶し、
データの記録の際は、前記記録媒体からの記録マーク領域の反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用検出値を算出すると同時にレーザ近傍温度を検出し、前記光強度制御用基準値と前記光強度制御検出値の差分により第１の補正光強度を求め、前記検出温度と前記基準温度との差分により第２の補正光強度を求め、前記第１の補正光強度から前記第２の補正光強度を差し引いた光強度を温度補正光強度として求め、前記温度補正光強度に応じて前記光強度制御用基準値を補正し、その補正した光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値とが実質的に一致するように、前記レーザ光強度を制御し、
前記光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値の算出は、
記録マーク領域における反射光量の平均値出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間経過後に検出し、その検出値から記録マーク領域における反射光量の最大値を求め、記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値における反射光量の最大値を算出し、前記記録マーク領域における反射光量の最大値を、算出された光強度のピーク値における反射光量の最大値で除算することによって得る、情報記録方法である。
【００３６】
また、第４の本発明は、前記温度補正光強度の算出に用いる光強度制御用基準値は、補正した光強度制御用基準値に更新していく、第３の本発明の情報記録方法である。
【００３８】
また、第５の本発明は、前記補正光強度に応じた光強度制御用基準値の補正は、予め記録媒体の種類毎に補正光強度に対する基準値補正量の関係を示す補正光強度補正表を記憶しておき、記録媒体の種類判別後に前記補正光強度補正表に基づき行う、第１または第３の本発明の情報記録方法である。
【００３９】
また、第６の本発明は、第２の補正光強度は、予め記録媒体の種類毎に温度に対するマーク形成に適切な光強度変動量の関係を示す光強度温度補正表を記憶しておき、記録媒体の種類判別後に、前記検出温度と前記基準温度との差分と前記光強度温度補正表に基づいて求められる、第３の本発明の情報記録方法である。
【００４２】
また、第７の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録装置において、
レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段と、
前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段と、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段と、
データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段と、
前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段と、
前記基準値と光強度制御用検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段と、
前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段とを備え、
前記光強度制御用検出信号生成手段は、
前記反射光量検出手段の出力を平均化する低域通過フィルタと、
前記低域通過フィルタの出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間後で検出するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路により検出された値とマーク形成に寄与する出射パワーのデューティー比で記録マーク領域における反射光量の最大値を求めるマーク部反射光量最大値生成手段と、
記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値におけるピーク反射光量を算出するピークパワー反射光量最大値生成手段と、
前記マーク部反射光量最大値をピークパワー反射光量最大値で除算して、光強度制御用検出信号を生成する除算回路とを有する、情報記録装置である。
【００４３】
また、第８の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して温度変動に伴うレーザ光波長の変動によりマーク形成に適切な光強度が変動する記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録装置において、
レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段と、
前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段と、
レーザ近傍温度を検出する温度検出手段と、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段と、
前記温度検出手段により前記基準値生成時のレーザ近傍温度を検出し、検出結果を記憶する基準温度記憶手段と、
データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段と、
前記温度検出手段により前記光強度制御用検出値生成時のレーザ近傍温度を検出し、検出結果を記憶する検出温度記憶手段と、
前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段と、
前記基準値と光強度制御用検出値の差分により第１の補正光強度を算出する第１の補正光強度生成手段と、
前記検出温度と前記基準温度との差分により第２の補正光強度を算出する第２の補正強度生成手段と、
前記第１の補正光強度から前記第２の補正光強度を差し引いた温度補正光強度を生成する温度補正光強度生成手段と、
前記温度補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段と、
前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段とを備え、
前記光強度制御用検出信号生成手段は、
前記反射光量検出手段の出力を平均化する低域通過フィルタと、
前記低域通過フィルタの出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間後で検出するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路により検出された値とマーク形成に寄与する出射パワーのデューティー比で記録マーク領域における反射光量の最大値を求めるマーク部反射光量最大値生成手段と、
記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値におけるピーク反射光量を算出するピークパワー反射光量最大値生成手段と、
前記マーク部反射光量最大値をピークパワー反射光量最大値で除算して、光強度制御用検出信号を生成する除算回路とを有する、情報記録装置である。
【００４５】
また、第９の本発明は、記録媒体の種類識別手段と、予め記録媒体の種類毎に補正光強度に対する基準値補正量の関係を示す補正光強度補正表を記憶した手段とを備えた第７または第８の本発明の情報記録装置である。
【００４６】
また、第１０の本発明は、記録媒体の種類識別手段と、予め記録媒体の種類毎に温度に対するマーク形成に適切な光強度変動量の関係を示す光強度温度補正表を記憶した手段とを備えた第７または第８の本発明の情報記録装置である。
【００４９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００５０】
なお、実施の形態間において同一の部分には、同一符号を用いるものとする。
【００５１】
（第１の実施の形態）
まず、第１の実施の形態について説明する。
【００５２】
図１は本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図である。図１０に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【００５３】
図１と図１０を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。
【００５４】
１は、情報の記録再生可能な光ディスクである。２は光ディスク１を回転させるスピンドルモータである。３は、光ディスク１への記録時には、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列で発光可能なレーザダイオードである。４は、レーザダイオード３の出射光と光ディスク１からの戻り光を分けるビームスプリッターである。５は、光ディスク１の記録もしくは再生可能な領域にレーザ光を集光する対物レンズである。
【００５５】
６は、レーザダイオード３が出射する光の一部を検出する光量モニター用フォトディテクタである。７は、光量モニター用フォトディテクタ６の電流出力を電圧に変換するＩ／Ｖ変換回路である。
【００５６】
８は、Ｉ／Ｖ変換回路７の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。９は、光量モニター用フォトディテクタ６の電流出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。１０は、ＬＰＦ１０８の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１１は、ＡＭＰ９の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１２は、Ｓ／Ｈ１０の出力をマルチパルス列の記録発光の平均パワーとして検出するｍｐ検出器である。
【００５７】
１３は、Ｓ／Ｈ１１の出力をマルチパルス列の記録発光のバイアスパワーとして検出するｓｐ検出器である。１４は、マルチパルス列の記録発光のピークパワーを制御するピークパワー制御回路である。１５は、マルチパルス列の記録発光のバイアスパワーを制御するバイアスパワー制御回路である。１６は、レーザダイオード３を、ピークパワー制御回路１４とバイアスパワー制御回路１５とで制御されるパワー及びパルス幅の異なるマルチパルス列で発光させるＬＤ駆動回路である。
【００５８】
６〜１３は、レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段の例である。
【００５９】
１７は、光ディスク１からの戻り光を検出する複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタである。１８は、複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタ１７の各電流出力を電圧に変換する複数個からなるＩ／Ｖ変換回路である。
【００６０】
１９は、複数個からＩ／Ｖ変換回路１８の出力を加算するＲＦ加算器である。１７〜１９は、記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段の例である。
【００６１】
２０は、ＲＦ加算器１９の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。２１は、ＬＰＦ２０の出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。２２は、ＬＰＦ２０の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。２３は、ＡＭＰ２１の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。
【００６２】
２４は、Ｓ／Ｈ２２の出力を記録時の光ディスク１のマーク領域からの平均戻り光量として検出するＭＰ検出器である。
【００６３】
２５は、Ｓ／Ｈ２３の出力を記録時の光ディスク１のスペース（非マーク）領域からの戻り光量として検出するＳＰ検出器である。
【００６４】
２６は、ＭＰ検出器２４の出力とＳＰ検出器２５の出力から、Ｒ−ＯＰＣ動作のためのパラメータであるＢ／Ａ値を算出するＢ／Ａ算出回路である。
【００６５】
２０〜２６は、前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段である。
【００６６】
２７は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタである学習用ＬＰＦである。
【００６７】
２８は、学習用ＬＰＦ２７の出力のばらつきを平均化する平均化処理回路である。２９は、平均化処理回路２８によって平均化されたＢ／Ａ値をＲ−ＯＰＣ制御目標である基準値として検出し、その値を保持する（Ｂ／Ａ）ｉ検出器である。２７〜２９は、データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段である。
【００６８】
３０は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタである制御用ＬＰＦである。
【００６９】
３１は、制御用ＬＰＦ３０の出力からＲ−ＯＰＣ制御を行うためのＢ／Ａ値を検出する（Ｂ／Ａ）ｎ検出器である。
【００７０】
３０〜３１は、データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段である。
【００７１】
３３は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力を学習用ＬＰＦ２７もしくは制御用ＬＰＦ３０に入力するように切り換えるスイッチである。
【００７２】
３２は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力をＲ−ＯＰＣの制御目標である基準値を生成する際は、スイッチ３３を学習用ＬＰＦ２７へ、データの記録時の制御用検出値を生成する際は、制御用ＬＰＦ３０へ切り換えるように指令するＣＰＵである。３２〜３３は、前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段である。
【００７３】
３４は、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９の出力と、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力を、比較して差分を出力をする比較器である。
【００７４】
３５は、比較器３４の差分出力をもとに、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９で求めた基準値を補正する（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路である。
【００７５】
３４〜３５は、前記基準値と光強度制御用検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段である。
【００７６】
３６は、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５によって補正されたＲ−ＯＰＣの制御目標値である基準値と、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力から補正パワーを算出し、ピークパワー制御回路１４へピークパワー目標値の変更を指令する補正パワー算出回路であり、前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段である。
【００７７】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【００７８】
まず、レーザの出射光量を検出して、パルス幅の異なるマルチパルス列データを所定のピークパワーと所定のバイアスパワーでレーザダイオード３の制御を行うＡＰＣの動作は、従来の技術で記述した内容と同じなので簡易に説明する。
【００７９】
光量モニター用フォトディテクタ６によって検出されたレーザ発光出力は、ＬＰＦ８とＳ／Ｈ１０とｍｐ検出器１２によって、発光波形のマルチパルス列部の後端部出力をｍｐレベルとして検出し、マルチパルス列のパルス幅比からなる平均パワーを検出し、マルチパルス列のパルス幅比から換算してピークパワーの検出を行う。また、ＡＭＰ９とＳ／Ｈ１１とｓｐ検出器１３によってｓｐレベル及びバイアスパワーの検出を行う。ｍｐとｓｐから得られたピークパワー及びバイアスパワーが所定の値となるようにピークパワー制御回路１４とバイアスパワー制御回路１５とでレーザパワーの制御を行う。
【００８０】
次に、Ｒ−ＯＰＣ動作の説明を行う。
【００８１】
まず、光ディスク１のデータ領域に記録を行う前に、データ領域外の例えばパワーキャリブレーション領域を用いて、最適記録パワーの学習と、最適記録パワーにおけるＲ−ＯＰＣの制御目標値となる基準値を生成する動作を説明する。
【００８２】
ディスク１のパワーキャリブレーション領域で、パワー学習によって求められた記録パワーで記録を行う。このときに、記録中の戻り光を、戻り光検出用フォトディテクタ１７とＩ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９により検出し、ＬＰＦ２０とＳ／Ｈ２２とＭＰ検出器２４で、マルチパルス列部の後端部出力をマルチパルス列のパルス幅比からなる平均戻り光量ＭＰレベルとして検出し、ＡＭＰ２１で増幅後Ｓ／Ｈ２３によってバイアスパワーにおける戻り光をサンプルホールドした後、ＳＰ検出器２５でＳＰレベルを検出する。
【００８３】
検出されたＭＰレベルとＳＰレベルは、Ｂ／Ａ算出回路２６によって、ＭＰレベルは、マルチパルス列のパルス幅比から換算してＢ値を算出し、ＳＰレベルは、ピークパワーとバイアスパワーの比からＡ値を算出し、ＢをＡで除算した値Ｂ／Ａ値を検出する。次にＣＰＵ３２とスイッチ３３によって、Ｂ／Ａ値の出力を学習用ＬＰＦ２７へ入力する。前記Ｂ／Ａ値は、所定のタイミング、例えばデータのパルス幅が９Ｔ以上の時に、サンプルホールドされ続けるために、光ディスクの周方向の記録感度および反射率ばらつきやチルト等でサンプルホールドする毎に検出される値が若干ばらつく。そのため検出された前記Ｂ／Ａ値は、基準値生成に必要な記録時間に適した学習用ＬＰＦ２７でばらつきを軽減し、平均化処理回路２８で、サンプルホールドした値の積分値とサンプルホールド回数で除算することによって平均化し、Ｒ−ＯＰＣの制御目標値の初期値である（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９で算出し、基準値として決定する。
【００８４】
次に、データ領域での記録について説明する。
【００８５】
データ記録を行っている間も、Ｂ／Ａ算出回路２６は、上記同様記録中の戻り光よりＢ／Ａ値の検出を行う。ＣＰＵ３２とスイッチ３３は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力を制御用ＬＰＦ３０に入力するように切り換える。制御用ＬＰＦは、Ｒ−ＯＰＣ動作を追従したい時間に最適化した周波数帯域で設定されている。制御用ＬＰＦ３０と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１によってデータ記録中の（Ｂ／Ａ）ｎ値が検出される。初期基準値（Ｂ／Ａ）ｉと検出値（Ｂ／Ａ）ｎとを比較器３４で差分を検出し、差分情報を（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に出力する。
【００８６】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、Ｂ／Ａ値の差分情報をもとにパワー換算を行い、補正光強度Ｐｃを算出し、パワー換算した補正光強度Ｐｃが、所定のパワー値以上、例えば、光ディスク１の記録感度ばらつき以上のパワー値やパワーキャリブレーションエリアでパワー学習によって得られた最適記録パワーに対して±５％以上のパワー値であった場合、パワー補正の要因がディスクの感度ばらつき以外の要因、すなわちデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレスが含まれていると判断し、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【００８７】
Ｂ／Ａｉの補正に関して図面を用いて説明する。図１５は、補正光強度Ｐｃに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示すものである。図においてＰｓ及び−Ｐｓ’は上記所定のパワー値を示すものであり、例えばＢ／Ａ学習時の最適記録パワーＰｏに対して、Ｐｓは＋５％、−Ｐｓ’は−５％とする。補正光強度ＰｃがＰｓ以上もしくは−Ｐｓ’以下の場合に、Ｐｃに対するＢ／Ａの傾きｋを用いて、（Ｐｃ−Ｐｓ）もしくは（Ｐｃ＋Ｐｓ’）に対するＢ／Ａi変動量を求め、基準値Ｂ／Ａｉを求める。
【００８８】
【数１】
傾きｋの算出方法は、予め装置の許容最大チルト発生時の最適パワーＰ２’に対するＢ／Ａｉ’とチルト未発生時の最適記録パワーＰｏに対するＢ／Ａｉと、上記Ｐｓとから算出する。図１６に記録パワーと、Ｂ／Ａ及びＢ／Ａｉ基準値補正係数ｋの関係を示す。
【００８９】
【数２】
ｋ＝（Ｂ／Ａｉ’−Ｂ／Ａｉ）／（Ｐ２’−Ｐｏ−Ｐｓ）
上記補正光強度Ｐｃと基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量との関係および前記所定のパワー値ｋ、Ｐｓ、―Ｐｓ’は、予め情報記録装置内で格納されている。パワー換算した結果が、所定のパワー値以下であれば、基準値（Ｂ／Ａ）ｉは補正せずに補正パワー算出回路３６へ基準値（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ′として出力する。
【００９０】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【００９１】
また、補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ’は、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９のＲ−ＯＰＣの制御目標値となり、補正されるごとに制御目標値である（Ｂ／Ａ）ｉは随時更新される。
【００９２】
このように、本実施の形態によれば、ストレスによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【００９３】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。
【００９４】
図２に、本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図である。図１１に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【００９５】
図２と図１１を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。ただし、第１の実施形態と同様な形態については説明を省略する。
【００９６】
本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置は、光ディスク１、スピンドルモータ２、レーザダイオード３、ビームスプリッター４、対物レンズ５、光量モニター用フォトディテクタ６、Ｉ／Ｖ変換回路７、ＬＰＦ８、ＡＭＰ９、Ｓ／Ｈ１０、Ｓ／Ｈ１１、ｍｐ検出器１２、ｓｐ検出器１３、ピークパワー制御回路１４、バイアスパワー制御回路１５、ＬＤ駆動回路１６、戻り光検出用フォトディテクタ１７、Ｉ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９、ＬＰＦ２０、ＡＭＰ２１、Ｓ／Ｈ２２、Ｓ／Ｈ２３、ＭＰ検出器２４、ＳＰ検出器２５、Ｂ／Ａ算出回路２６、学習用ＬＰＦ２７、平均化処理回路２８、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９、制御用ＬＰＦ３０、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１、スイッチ３３、比較器３４、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５、補正パワー算出回路３６、と温度変動検出する温度変動検出器３７と、ＣＰＵ３８を備える。
【００９７】
次に、このような実施形態の動作を説明する。ただし、ＡＰＣ動作の説明は、第１の実施形態と同様な内容なので説明を省略し、Ｒ−ＯＰＣの動作の説明は、第１の実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
【００９８】
図３は、温度とレーザ波長の関係を示す。図４は、光ディスクの記録感度の波長依存性を示す。
【００９９】
図３において、レーザダイオードの波長は、温度が高くなると実質的に比例して波長が長くなることを示している。
【０１００】
また、図４は、波長依存性がある光ディスク、例えば色素系の記録膜からなる光ディスクにおいて、記録波長が長くなると、記録感度が低下し、最適記録パワーが上昇することを示している。すなわち、温度変動が生じると、波長依存性のある光ディスクにおいては、最適記録パワーが変動する。このような波長依存性がある光ディスクを用いた場合のＲ−ＯＰＣの動作について説明する。
【０１０１】
温度変動検出器３７によって温度変動を検出した場合、ＣＰＵ３８は、前記温度変動量に対する最適記録パワー変動量を求め、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に最適パワー変動値を第２の補正光強度Ｐ２として出力する。
【０１０２】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、はじめに、Ｂ／Ａ値の差分情報をもとにパワー換算し、第１の補正光強度Ｐ１を求め、次に第１の補正光強度Ｐ１から前記第２の補正光強度Ｐ２を減算し、減算した結果を温度補正光強度Ｐｔを算出する。次に、前記温度補正光強度Ｐｔが、所定のパワー値以上、例えば、光ディスク１の記録感度ばらつき以上のパワー値やパワーキャリブレーションエリアでパワー学習によって得られた最適記録パワーに対して±５％以上のパワー値であった場合、パワー補正の要因がディスクの感度ばらつき以外の要因、すなわちデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレスが含まれていると判断し、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【０１０４】
Ｂ／Ａｉの補正に関して図面を用いて説明する。図１７は、温度補正光強度Ｐｔに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示すものである。図において、上記第２の光補正強度Ｐ２は、単位温度、例えば１℃あたりの最適記録パワー変動量Ｐｘに温度変動量Ｔ℃を乗算したものである。Ｐｘは予め装置とディスクの組み合わせ温度変動試験等で求めて、装置内に記憶し、格納するものである。
（Ｐ２＝Ｐｘ×Ｔ）
Ｐｔは第１の補正光強度Ｐ１から前記補正光強度Ｐ２を減算したものである。（Ｐｔ＝Ｐ１−Ｐ２）
Ｐｓ及び−Ｐｓ’は上記所定のパワー値を示すものであり、例えばＢ／Ａ学習時の最適記録パワーＰｏに対して、Ｐｓは＋５％、−Ｐｓ’は−５％とする。
温度補正光強度ＰｔがＰｓ以上もしくは−Ｐｓ’以下の場合に、Ｐ tに対するＢ／Ａの傾きｋを用いて、（Ｐｔ−Ｐｓ）もしくは（Ｐｔ＋Ｐｓ’）に対するＢ／Ａi変動量を求め、基準値Ｂ／Ａｉを求める。
【０１０５】
傾きｋの算出方法は、第１の実施形態で説明した内容と同様である。
【０１０６】
上記温度補正光強度Ｐｔと基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量との関係および前記所定のパワー値は、予め情報記録装置内で格納されている。パワー換算した結果が、所定のパワー値以下であれば、基準値（Ｂ／Ａ）ｉは補正せずに補正パワー算出回路３６へ基準値（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ′として出力する。
【０１０７】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【０１０８】
また、補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ’は、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９のＲ−ＯＰＣの制御目標値となり、補正されるごとに制御目標値である（Ｂ／Ａ）ｉは随時更新される。
【０１０９】
このように、本実施の形態によれば、ストレスによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、記録中に温度変動が生じた場合においても、適切に制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、波長依存性があるような光ディスクに対しても、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【０１１０】
（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態について説明する。
【０１１１】
図５に、本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図を示す。図１２に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【０１１２】
図５と図１２を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。
【０１１３】
ただし、第１及び第２の実施形態と同様な形態については説明を省略する。
【０１１４】
本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置は、光ディスク１、スピンドルモータ２、レーザダイオード３、ビームスプリッター４、対物レンズ５、光量モニター用フォトディテクタ６、Ｉ／Ｖ変換回路７、ＬＰＦ８、ＡＭＰ９、Ｓ／Ｈ１０、Ｓ／Ｈ１１、ｍｐ検出器１２、ｓｐ検出器１３、ピークパワー制御回路１４、バイアスパワー制御回路１５、ＬＤ駆動回路１６、戻り光検出用フォトディテクタ１７、Ｉ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９、ＬＰＦ２０、ＡＭＰ２１、Ｓ／Ｈ２２、Ｓ／Ｈ２３、ＭＰ検出器２４、ＳＰ検出器２５、Ｂ／Ａ算出回路２６、学習用ＬＰＦ２７、平均化処理回路２８、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９、制御用ＬＰＦ３０、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１、スイッチ３３、比較器３４、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５、補正パワー算出回路３６、温度変動検出器３７、とディスク種類を判別するディスク種類判別回路３９、ＣＰＵ４０を備える。
【０１１５】
次に、このような実施形態の動作を説明する。
【０１１６】
ただし、ＡＰＣ動作の説明は、第１の実施形態と同様な内容なので説明を省略し、Ｒ−ＯＰＣの動作の説明は、第１及び第２の実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
【０１１７】
光ディスクの種類、例えば、記録膜材料、ディスク製造メーカの違いによって温度変動による最適記録パワー変動やストレス変動による最適記録パワー変動が異なることが一般に知られている。本実施形態は、光ディスクの記録を行う前に、ディスクの種類を判別して、Ｒ−ＯＰＣの制御目標値の補正をディスクに応じて最適にすることを目的とする。
【０１１８】
以下、動作の説明を簡単に行う。
【０１１９】
情報記録装置の電源投入後、光ディスクが装着され、スピンドルモータが回転し、ディスクの起動処理が行われる際に、ディスク種類判別回路３９は、装着されたディスクの種類及びディスク製造メーカーを予め記録されているディスク管理情報から読みとり、ＣＰＵ４０にディスクの種類及びディスク製造メーカの情報を出力する。
【０１２０】
ＣＰＵ４０は、前記ディスクの種類及びディスク製造メーカーによって、ディスク種類及びディスク製造メーカに対する補正光強度と基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量の関係を示す補正光強度補正表と温度変動による最適記録パワー変動量の関係を示す光強度温度補正表を予め記憶し、格納しており、前記ディスクの種類及びディスク製造メーカーに対する補正光強度と基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量の関係と温度変動に対する最適記録パワー変動量の関係を（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に出力する。
図１８に、上記補正光強度補正表と上記光強度温度補正表の一例を示す。
ＤＩＳＣｔｙｐｅは、ディスクの種類や製造メーカーを示す情報で、装置がサポートするＤＩＳＫ数ある。ｋは補正光強度に対するＢ／Ａｉ補正量を示す係数（傾き）である。
Ｐｓは、補正光強度が正の値の時の、Ｂ／Ａｉ補正開始するまでのパワーを示し、−Ｐｓ’は、補正光強度が負の値の時の、Ｂ／Ａｉ補正開始するまでのパワーを示す。Ｐｘは、単位温度あたりの最適記録パワー変動量を示すものである。
【０１２１】
温度変動検出器３７によって温度変動を検出した場合、ＣＰＵ４０は、前記温度変動量に対する最適記録パワー変動量を求め、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に最適パワー変動値を第２の補正光強度Ｐ２として出力する。
【０１２２】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、はじめに、Ｂ／Ａ値の差分情報をもとにパワー換算し、第１の補正光強度Ｐ１を求め、次に第１の補正光強度Ｐ１から前記補正光強度Ｐ２を減算し、減算した結果を温度補正光強度Ｐｔを算出する。次に、前記温度補正光強度Ｐｔが、所定のパワー値以上、例えば、光ディスク１の記録感度ばらつき以上のパワー値やパワーキャリブレーションエリアでパワー学習によって得られた最適記録パワーに対して±５％以上のパワー値であった場合、パワー補正の要因がディスクの感度ばらつき以外の要因、すなわちデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレスが含まれていると判断し、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【０１２３】
上記温度補正光強度Ｐｔと基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量との関係および前記所定のパワー値は、予め情報記録装置内で格納されている。パワー換算した結果が、所定のパワー値以下であれば、基準値（Ｂ／Ａ）ｉは補正せずに補正パワー算出回路３６へ基準値（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ′として出力する。
【０１２４】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【０１２５】
このように、本実施の形態によれば、ストレスによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、記録中に温度変動が生じた場合においても、ディスクの種類やディスク製造メーカに応じた適切に制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、多種の光ディスクに対しても、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【０１２６】
（第４の実施形態）
次に、第４の実施形態について説明する。
【０１２７】
図６に、本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図を示す。図１３に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【０１２８】
図６と図１３を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。ただし、第１の実施形態と同様な形態については説明を省略する。
【０１２９】
本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置は、光ディスク１、スピンドルモータ２、レーザダイオード３、ビームスプリッター４、対物レンズ５、光量モニター用フォトディテクタ６、Ｉ／Ｖ変換回路７、ＬＰＦ８、ＡＭＰ９、Ｓ／Ｈ１０、Ｓ／Ｈ１１、ｍｐ検出器１２、ｓｐ検出器１３、ピークパワー制御回路１４、バイアスパワー制御回路１５、ＬＤ駆動回路１６、戻り光検出用フォトディテクタ１７、Ｉ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９、ＬＰＦ２０、ＡＭＰ２１、Ｓ／Ｈ２２、Ｓ／Ｈ２３、ＭＰ検出器２４、ＳＰ検出器２５、Ｂ／Ａ算出回路２６、学習用ＬＰＦ２７、平均化処理回路２８、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９、制御用ＬＰＦ３０、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１、スイッチ３３、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５、補正パワー算出回路３６、とストレス変動を検出するストレス検出器４１、ＣＰＵ４２を備える。
【０１３０】
次に、このような実施形態の動作を説明する。ただし、ＡＰＣ動作の説明は、第１の実施形態と同様な内容なので説明を省略し、Ｒ−ＯＰＣの動作の説明は、第１の実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
【０１３１】
ストレス検出器４１は、光ディスク１とレーザダイオード３や対物レンズ５を含む光ピックアップとのチルト角を検出可能なチルトセンサ−であり、検出したチルト情報をＣＰＵ４２へ出力する。ＣＰＵ４２は、予め上記録装置内に格納されているチルト角に応じたＢ／Ａ補正値から、検出されたチルト角に対するＢ／Ａ補正量を、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５へ指令する。
【０１３２】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、ＣＰＵ４２によるＢ／Ａ補正量の指令に従い、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【０１３３】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【０１３４】
このように、本実施の形態によれば、チルトによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のチルト変動によるパワー過補正を防ぐことができ、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【０１３５】
なお、本実施形態では、ストレス検出器により検出されるストレスはチルトとしたが、デフォーカスやオフトラックであってもよい。ただし、各ストレスに応じたＢ／Ａ補正量は予め情報記録装置内に格納されていなければならない。
【０１３６】
さらに、第２の実施形態の温度検出器を備えることで、第２の実施形態と同様な効果が得られる。
【０１３７】
さらに、第３の実施形態のディスク種類判別回路を備えることで、第３の実施形態と同様な効果が得られる。
【０１３８】
【発明の効果】
以上、説明したところから明らかなように、本発明は、光ディスクの記録中の戻り光を用いてレーザパワー制御を行うＲ−ＯＰＣにおいて、記録中に、デフォーカスやオフトラック等のストレス変動が生じた場合においても、また、記録中に温度変動が生じた場合においても、ディスクの種類やディスク製造メーカの違いに対しても、適切にＲ−ＯＰＣ制御目標値を変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、多種の光ディスクに対しても、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図２】 本発明の第２の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図３】 温度とレーザ波長の関係を示す図
【図４】 光ディスクの記録感度の波長依存性を示す図
【図５】 本発明の第３の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図６】 本発明の第４の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図７】 従来の情報記録装置の構成を示すブロック図
【図８】 ＡＰＣ用検出信号波形とＲ−ＯＰＣ用検出信号波形を示す図
【図９】 ストレス変動による最適Ｂ／Ａ値の変動の関係を示す図
【図１０】 本発明の第１の実施例の動作を表すフローチャート
【図１１】 本発明の第２の実施例の動作を表すフローチャート
【図１２】 本発明の第３の実施例の動作を表すフローチャート
【図１３】 本発明の第４の実施例の動作を表すフローチャート
【図１４】 Ｒ−ＯＰＣによる記録ピークパワーの制御動作をＲ−ＯＰＣ検出信号のパワー依存性を示す図
【図１５】 補正光強度Ｐｃに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示す図
【図１６】 記録パワーとＢ／Ａ及びＢ／Ａｉ基準値補正係数ｋの関係を示す図
【図１７】 温度補正光強度Ｐｔに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示す図
【図１８】 補正光強度補正表と光強度温度補正表を示す図
【符号の説明】
１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
３ レーザダイオード
４ ビームスプリッター
５ 対物レンズ
６ 光量モニター用フォトディテクタ
７ Ｉ／Ｖ変換回路
８ ＬＰＦ
９ ＡＭＰ
１０、１１ Ｓ／Ｈ
１２ ｍｐ検出器
１３ ｓｐ検出器
１４ ピークパワー制御回路
１５ バイアスパワー制御回路
１６ ＬＤ駆動回路
１７ 戻り光検出用フォトディテクタ
１８ Ｉ／Ｖ変換回路
１９ ＲＦ加算器
２０ ＬＰＦ
２１ ＡＭＰ
２２、２３ Ｓ／Ｈ
２４ ＭＰ検出器
２５ ＳＰ検出器
２６ Ｂ／Ａ算出回路
２７ 学習用ＬＰＦ
２８ 平均化処理回路
２９ （Ｂ／Ａ）ｉ検出器
３０ 制御用ＬＰＦ
３１ （Ｂ／Ａ）ｎ検出器
３２、３８、４０、４２，１２７ ＣＰＵ
３３ スイッチ
３４ 比較器
３５ （Ｂ／Ａ）ｉ補正回路
３６ 補正パワー算出回路
３７ 温度変動検出器
３９ ディスク種類判別回路
４１ ストレス検出器
１０１ 光ディスク
１０２ スピンドルモータ
１０３ レーザダイオード
１０４ ビームスプリッター
１０５ 対物レンズ
１０６ 光量モニター用フォトディテクタ
１０７ Ｉ／Ｖ変換回路
１０８ ＬＰＦ
１０９ ＡＭＰ
１１０、１１１ Ｓ／Ｈ
１１２ ｍｐ検出器
１１３ ｓｐ検出器
１１４ ピークパワー制御回路
１１５ バイアスパワー制御回路
１１６ ＬＤ駆動回路
１１７ 戻り光検出用フォトディテクタ
１１８ Ｉ／Ｖ変換回路
１１９ ＲＦ加算器
１２０ ＬＰＦ
１２１ ＡＭＰ
１２２、１２３ Ｓ／Ｈ
１２４ ＭＰ検出器
１２５ ＳＰ検出器
１２６ Ｂ／Ａ算出回路
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法及び情報記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、マルチメディアの普及に伴い、追記型光ディスクのＣＤ−Ｒや書き換え可能なＣＤ−ＲＷが急速に普及し、さらに大容量の追記型光ディスクのＤＶＤ−Ｒや、書き換え可能な光ディスクのＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭも実用化され普及しはじめている。いずれの光ディスクも情報を記録するために半導体レーザを光源とする光ピックアップ光学系を含む情報記録再生装置が用いられている。これらの情報記録再生装置では記録もしくは再生性能を高め、安定化するために様々な技術開発が行われてきた。その技術の一つに半導体レーザのパワー制御技術があり、たくさんの方式が提案されている。とりわけ、追記型光ディスクでは、データの書き換えができないため、いかに安定した記録状態が持続できるかが重要になってくる。レーザパワー制御方式には、レーザの出射光量の一部を検出し、出射パワーが一定に保たれるようにレーザパワーの制御を行うＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる方式や、記録中に記録媒体からの反射光量を検出し、記録媒体の記録マーク領域の反射光量が所定の光量となるようにレーザパワーの制御を行うＲ−ＯＰＣ（Ｒｕｎｎｉｎｇ − Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる方式などがある。
【０００３】
例えば、特願平２０００−２９５７３４号公報に示されるように、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列の記録波形を用い、ＡＰＣとＲ−ＯＰＣを組み合わせてレーザパワー制御を行う方式が提案されている。
【０００４】
図７に、ＡＰＣとＲ−ＯＰＣを組み合わせてレーザパワー制御を行う従来の情報記録装置のブロック図を、図８に、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列の記録波形を用いる従来の情報記録装置のＡＰＣ用検出信号波形とＲ−ＯＰＣ用検出信号波形を示す。
【０００５】
１０１は、情報の記録再生可能な光ディスクである。１０２は光ディスク１０１を回転させるスピンドルモータである。
【０００６】
１０３は、光ディスク１０１への記録時には、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列で発光可能なレーザダイオードである。１０４は、レーザダイオード１０３の出射光と光ディスク１０１からの戻り光を分けるビームスプリッターである。１０５は、光ディスク１０１の記録もしくは再生可能な領域にレーザ光を集光する対物レンズである。
【０００７】
１０６は、レーザダイオード１０３が出射する光の一部を検出する光量モニター用フォトディテクタである。１０７は、光量モニター用フォトディテクタ１０６の電流出力を電圧に変換するＩ／Ｖ変換回路である。
【０００８】
１０８は、Ｉ／Ｖ変換回路１０７の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。１０９は、光量モニター用フォトディテクタ１０６の電流出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。１１０は、ＬＰＦ１０８の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１１１は、ＡＭＰ１０９の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。
【０００９】
１１２は、Ｓ／Ｈ１１０の出力をマルチパルス列の記録発光の平均パワーとして検出するｍｐ検出器である。
【００１０】
１１３は、Ｓ／Ｈ１１１の出力をマルチパルス列の記録発光のバイアスパワーとして検出するｓｐ検出器である。
【００１１】
１１４は、マルチパルス列の記録発光のピークパワーを制御するピークパワー制御回路である。
【００１２】
１１５は、マルチパルス列の記録発光のバイアスパワーを制御するバイアスパワー制御回路である。１１６は、レーザダイオード１０３を、ピークパワー制御回路１１４とバイアスパワー制御回路１１５とで制御されるパワー及びパルス幅の異なるマルチパルス列で発光させるＬＤ駆動回路である。
【００１３】
１１７は、光ディスク１０１からの戻り光を検出する複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタである。１１８は、複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタ１１７の各電流出力を電圧に変換する複数個からなるＩ／Ｖ変換回路である。
【００１４】
１１９は、複数個からＩ／Ｖ変換回路１１８の出力を加算するＲＦ加算器である。１２０は、ＲＦ加算器１１９の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。１２１は、ＬＰＦ１２０の出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。１２２は、ＬＰＦ１２０の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１２３は、ＡＭＰ１２１の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。
【００１５】
１２４は、Ｓ／Ｈ１２２の出力を記録時の光ディスク１０１のマーク領域からの平均戻り光量として検出するＭＰ検出器である。
【００１６】
１２５は、Ｓ／Ｈ１２３の出力を記録時の光ディスク１０１のスペース（非マーク）領域からの戻り光量として検出するＳＰ検出器である。
【００１７】
１２６は、ＭＰ検出器１２４の出力とＳＰ検出器１２５の出力から、Ｒ−ＯＰＣ動作を行うためのパラメータであるＢ／Ａ値を算出するＢ／Ａ算出回路である。１２７は、Ｂ／Ａ算出回路１２６の出力に基づいてピークパワーの補正量を算出して、ピークパワー制御回路１１４に目標ピークパワーの指令を行うＣＰＵである。
【００１８】
以上の構成により、ＡＰＣとＲ−ＯＰＣを組み合わせてレーザパワー制御を行う動作を、図８のＡＰＣ用検出信号波形とＲ−ＯＰＣ用検出信号波形を用いながら説明する。
【００１９】
図８（ａ）の記録データに対して、図８（ｂ）に示すようなパルス幅の異なるマルチパルス列に変換して、所定のピークパワーと所定のバイアスパワーでレーザダイオード１０３の制御を行う場合、まずＡＰＣ動作として、光量モニター用フォトディテクタ１０６には、図８（ｃ）に示す発光波形が検出され、ＬＰＦ１０８によりマルチパルス列部の後端部出力は、図８（ｄ）に示すｍｐのレベルとなり、Ｓ／Ｈ１１０によってｍｐをサンプルホールドした後、マルチパルス列のパルス幅比からなる平均パワーとしてｍｐ検出器１１２によって検出され、マルチパルス列のパルス幅比から換算してピークパワーの検出を行う。
【００２０】
またバイアスパワーは、図８（ｃ）及び図８（ｄ）の示すｓｐのレベルをＡＭＰ１０９で増幅後Ｓ／Ｈ１１１によってサンプルホールドした後、バイアスパワーとしてｓｐ検出器１１３によって検出される。ｍｐとｓｐから得られたピークパワー及びバイアスパワーが所定の値となるようにピークパワー制御回路１１４とバイアスパワー制御回路１１５とでレーザパワーの制御を行う。
【００２１】
次に、Ｒ−ＯＰＣ動作の説明を行う。ＡＰＣ動作によって所定のパワー値で制御されているにも関わらず、光ディスク１０１の記録面上の記録領域の違いによって記録感度のばらつきによって、最適な記録パワー値が記録領域や記録条件によって異なってくる。そのため記録動作を行っている状態で最適記録パワーとなるように、ＡＰＣ動作に加え、別なパワー制御動作を行う必要が生じてくる。
【００２２】
このパワー制御動作がＲ−ＯＰＣであり、記録中の戻り光を検出しながらパワー補正量を算出する。図８（ｅ）は、記録中の戻り光を、戻り光検出用フォトディテクタ１１７とＩ／Ｖ変換回路１１８、ＲＦ加算器１１９から生成された波形である。
【００２３】
図８（ｅ）中のＡは、ピークパワーでの発光時において、光ディスク１０１の記録面のマーク領域上でマークが形成されていない状態での戻り光の最大レベルであり、Ｂは、ピークパワーでの発光時において、マークの形成過程の状態での戻り光の最大レベルである。Ａは光ディスク１０１の未記録領域の反射率とピークパワーに実質的に比例するものであり、Ｂは光ディスク１０１の記録マークの形成状態によって異なる反射率とピークパワーの関係からなるものである。ＢをＡで
除算した値（Ｂ／Ａ）を検出して、所定のＢ／Ａ値になるようピークパワーを制御する。
【００２４】
ただし、マルチパルス列のパルス幅が短くなるにつれ、Ａ値やＢ値を直接検出するのが困難なため、ＡＰＣ動作同様に、図８（ｆ）に示すように、ＬＰＦ１２０によりマルチパルス列部の後端部出力は、ＭＰのレベルとなり、Ｓ／Ｈ１２２によってＭＰをサンプルホールドした後、マルチパルス列のパルス幅比からなる平均戻り光量としてＭＰ検出器１２４によって検出され、マルチパルス列のパルス幅比から換算して図８（ｅ）のＢ値の検出を行う。
【００２５】
また、（ｅ）及び（ｆ）の示すＳＰのレベルをＡＭＰ１２１で増幅後Ｓ／Ｈ１２３によってサンプルホールドした後、バイアスパワーでの戻り光量としてＳＰ検出器１２５によって検出し、ピークパワーとバイアスパワーの比からＡ値の検出を行う。Ｂ／Ａ値を算出後、光ディスク１０１への最適な記録パワーにおける所定のＢ／Ａ値と比較して、前記所定のＢ／Ａ値となるようなピークパワー補正量をＣＰＵ１２７によって求め、ピークパワー制御回路１１４へピークパワーの補正を指令し、適正なパワー制御を行う。図８（ｇ）に、前記ＡＰＣ及びＲ−ＯＰＣ動作によって制御されたレーザパワーで記録後の記録マークの一例を示す。
【００２６】
この結果、光ディスク１０１の記録面上の記録領域の違いによって記録感度がばらついても、常に記録中のマークの形成状態を戻り光及びＢ／Ａ値を用いて判断できるため、最適な記録状態となりうるレーザパワーを制御することができる。
【００２７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、記録中にデフォーカスやオフトラックやチルト等のストレスが変動した場合、最適な記録パワーの変動のみならず、戻り光量の検出に影響を与え、光ディスクへの最適記録パワーに対する、Ｒ−ＯＰＣの制御目標値であるＢ／Ａ値が変動する。
【００２８】
ストレス変動による最適Ｂ／Ａ値の変動の関係を示す一つの例を図９に示す。この関係は発明者が発見した。図９は記録パワーに対するＢ／Ａ値の、ディスク半径方向チルトを示すラジアルチルト依存性を示しており、ラジアルチルトが増大していくと最適記録パワーに
対するＢ／Ａ値が増大することを示している。
【００２９】
Ｒ−ＯＰＣによる記録ピークパワーの制御動作をＲ−ＯＰＣ検出信号のパワー依存性を示す図１４を用いて説明する。図１４において丸囲み数字１は、記録開始直前もしくは直後のパワーとＢ／Ａの関係を示す特性曲線Ａにおける最適記録パワーＰｏと、Ｐｏの時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｉを示す点であり、またＢ／Ａiは記録中のＲ−ＯＰＣの制御目標値である。丸囲み数字２は、ストレス変動はなく、ディスク感度ばらつきのみ発生した場合の特性曲線Ｂにおける前記特性曲線Ａ時の最適記録パワーＰｏとＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ１を示す点である。丸囲み数字２’は特性曲線Ｂにおける真の最適記録パワーＰ１と、Ｐ１の時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｉを示す点であり、特性曲線Ａの丸囲み数字１とは同じＢ／Ａ値である。丸囲み数字３は、ストレスの一つであるチルトが大きく発生した場合の特性曲線Ｃにおける前記特性曲線Ａ時の最適記録パワーＰｏとＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ２を示す点である。丸囲み数字３’は特性曲線Ｃにおける真の最適記録パワーＰ２’と、Ｐ２’の時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｉ’を示す点である。丸囲み数字３”は、特性曲線Ｃにおける丸囲み数字１および丸囲み数字２’のＢ／Ａiに対する記録ピークパワーＰ２を示す点である。ストレス変動がない特性曲線ＢにおけるＲ−ＯＰＣ動作は、記録中のパワーＰｏ時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ１が制御目標値Ｂ／Ａiからずれているため、制御目標値に収束するようにパワー補正量Ｐｃ１をＰｏに加えたパワーＰ１にパワー変動させながら記録し続ける。Ｐ１は最適記録パワー値であるので記録品位は保たれる。
次にストレスの一つであるチルトが大きく発生した場合の特性曲線ＣにおけるＲ−ＯＰＣ動作は、記録中のパワーＰｏ時のＲ−ＯＰＣ検出信号Ｂ／Ａｎ２が制御目標値Ｂ／Ａiからずれているため、制御目標値に収束するようにパワー補正量Ｐｃ２をＰｏに加えたパワーＰ２にパワー変動させながら記録し続ける。Ｐ２は最適記録パワー値Ｐ２’より大きなパワーとなるため記録品位は保たれない。
【００３０】
すなわち、Ｒ−ＯＰＣ制御目標値であるＢ／Ａ値を一定値でパワー制御を行うと、最適記録パワーに対して過大なパワーで制御が行われることになる。
【００３１】
したがって、安定した記録が困難になり、記録後のデータの再生にも大きな影響を及ぼしてしまう。
【００３２】
そこで、本発明は、上記問題を考慮し、記録中にデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレス変動が生じた場合においても、最適な記録パワーで光ディスクに記録することができる情報記録方法及び情報記録装置を提供することを目的とするものである。
【００３３】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、第１の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法において、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用基準値を算出し、
データの記録の際は、前記記録媒体からの記録マーク領域の反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用検出値を算出し、前記光強度制御用基準値と前記光強度制御検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記光強度制御用基準値を補正し、その補正した光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値とが実質的に一致するように、前記レーザ光強度を制御し、
前記光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値の算出は、
記録マーク領域における反射光量の平均値出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間経過後に検出し、その検出値から記録マーク領域における反射光量の最大値を求め、記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値における反射光量の最大値を算出し、前記記録マーク領域における反射光量の最大値を、算出された光強度のピーク値における反射光量の最大値で除算することによって得る、情報記録方法である。
【００３４】
また、第２の本発明は、前記補正光強度の算出に用いる光強度制御用基準値は、補正した光強度制御用基準値に更新していく、第１の本発明の情報記録方法である。
【００３５】
また、第３の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して温度変動に伴うレーザ光波長の変動によりマーク形成に適切な光強度が変動する記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法において、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出すると同時にレーザ近傍温度を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用基準値の算出と検出した温度を基準温度として記憶し、
データの記録の際は、前記記録媒体からの記録マーク領域の反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用検出値を算出すると同時にレーザ近傍温度を検出し、前記光強度制御用基準値と前記光強度制御検出値の差分により第１の補正光強度を求め、前記検出温度と前記基準温度との差分により第２の補正光強度を求め、前記第１の補正光強度から前記第２の補正光強度を差し引いた光強度を温度補正光強度として求め、前記温度補正光強度に応じて前記光強度制御用基準値を補正し、その補正した光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値とが実質的に一致するように、前記レーザ光強度を制御し、
前記光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値の算出は、
記録マーク領域における反射光量の平均値出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間経過後に検出し、その検出値から記録マーク領域における反射光量の最大値を求め、記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値における反射光量の最大値を算出し、前記記録マーク領域における反射光量の最大値を、算出された光強度のピーク値における反射光量の最大値で除算することによって得る、情報記録方法である。
【００３６】
また、第４の本発明は、前記温度補正光強度の算出に用いる光強度制御用基準値は、補正した光強度制御用基準値に更新していく、第３の本発明の情報記録方法である。
【００３８】
また、第５の本発明は、前記補正光強度に応じた光強度制御用基準値の補正は、予め記録媒体の種類毎に補正光強度に対する基準値補正量の関係を示す補正光強度補正表を記憶しておき、記録媒体の種類判別後に前記補正光強度補正表に基づき行う、第１または第３の本発明の情報記録方法である。
【００３９】
また、第６の本発明は、第２の補正光強度は、予め記録媒体の種類毎に温度に対するマーク形成に適切な光強度変動量の関係を示す光強度温度補正表を記憶しておき、記録媒体の種類判別後に、前記検出温度と前記基準温度との差分と前記光強度温度補正表に基づいて求められる、第３の本発明の情報記録方法である。
【００４２】
また、第７の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録装置において、
レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段と、
前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段と、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段と、
データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段と、
前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段と、
前記基準値と光強度制御用検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段と、
前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段とを備え、
前記光強度制御用検出信号生成手段は、
前記反射光量検出手段の出力を平均化する低域通過フィルタと、
前記低域通過フィルタの出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間後で検出するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路により検出された値とマーク形成に寄与する出射パワーのデューティー比で記録マーク領域における反射光量の最大値を求めるマーク部反射光量最大値生成手段と、
記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値におけるピーク反射光量を算出するピークパワー反射光量最大値生成手段と、
前記マーク部反射光量最大値をピークパワー反射光量最大値で除算して、光強度制御用検出信号を生成する除算回路とを有する、情報記録装置である。
【００４３】
また、第８の本発明は、レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して温度変動に伴うレーザ光波長の変動によりマーク形成に適切な光強度が変動する記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録装置において、
レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段と、
前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段と、
レーザ近傍温度を検出する温度検出手段と、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段と、
前記温度検出手段により前記基準値生成時のレーザ近傍温度を検出し、検出結果を記憶する基準温度記憶手段と、
データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段と、
前記温度検出手段により前記光強度制御用検出値生成時のレーザ近傍温度を検出し、検出結果を記憶する検出温度記憶手段と、
前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段と、
前記基準値と光強度制御用検出値の差分により第１の補正光強度を算出する第１の補正光強度生成手段と、
前記検出温度と前記基準温度との差分により第２の補正光強度を算出する第２の補正強度生成手段と、
前記第１の補正光強度から前記第２の補正光強度を差し引いた温度補正光強度を生成する温度補正光強度生成手段と、
前記温度補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段と、
前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段とを備え、
前記光強度制御用検出信号生成手段は、
前記反射光量検出手段の出力を平均化する低域通過フィルタと、
前記低域通過フィルタの出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間後で検出するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路により検出された値とマーク形成に寄与する出射パワーのデューティー比で記録マーク領域における反射光量の最大値を求めるマーク部反射光量最大値生成手段と、
記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値におけるピーク反射光量を算出するピークパワー反射光量最大値生成手段と、
前記マーク部反射光量最大値をピークパワー反射光量最大値で除算して、光強度制御用検出信号を生成する除算回路とを有する、情報記録装置である。
【００４５】
また、第９の本発明は、記録媒体の種類識別手段と、予め記録媒体の種類毎に補正光強度に対する基準値補正量の関係を示す補正光強度補正表を記憶した手段とを備えた第７または第８の本発明の情報記録装置である。
【００４６】
また、第１０の本発明は、記録媒体の種類識別手段と、予め記録媒体の種類毎に温度に対するマーク形成に適切な光強度変動量の関係を示す光強度温度補正表を記憶した手段とを備えた第７または第８の本発明の情報記録装置である。
【００４９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００５０】
なお、実施の形態間において同一の部分には、同一符号を用いるものとする。
【００５１】
（第１の実施の形態）
まず、第１の実施の形態について説明する。
【００５２】
図１は本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図である。図１０に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【００５３】
図１と図１０を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。
【００５４】
１は、情報の記録再生可能な光ディスクである。２は光ディスク１を回転させるスピンドルモータである。３は、光ディスク１への記録時には、マーク領域に対してパルス幅の異なるマルチパルス列で発光可能なレーザダイオードである。４は、レーザダイオード３の出射光と光ディスク１からの戻り光を分けるビームスプリッターである。５は、光ディスク１の記録もしくは再生可能な領域にレーザ光を集光する対物レンズである。
【００５５】
６は、レーザダイオード３が出射する光の一部を検出する光量モニター用フォトディテクタである。７は、光量モニター用フォトディテクタ６の電流出力を電圧に変換するＩ／Ｖ変換回路である。
【００５６】
８は、Ｉ／Ｖ変換回路７の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。９は、光量モニター用フォトディテクタ６の電流出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。１０は、ＬＰＦ１０８の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１１は、ＡＭＰ９の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。１２は、Ｓ／Ｈ１０の出力をマルチパルス列の記録発光の平均パワーとして検出するｍｐ検出器である。
【００５７】
１３は、Ｓ／Ｈ１１の出力をマルチパルス列の記録発光のバイアスパワーとして検出するｓｐ検出器である。１４は、マルチパルス列の記録発光のピークパワーを制御するピークパワー制御回路である。１５は、マルチパルス列の記録発光のバイアスパワーを制御するバイアスパワー制御回路である。１６は、レーザダイオード３を、ピークパワー制御回路１４とバイアスパワー制御回路１５とで制御されるパワー及びパルス幅の異なるマルチパルス列で発光させるＬＤ駆動回路である。
【００５８】
６〜１３は、レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段の例である。
【００５９】
１７は、光ディスク１からの戻り光を検出する複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタである。１８は、複数個からなる戻り光検出用フォトディテクタ１７の各電流出力を電圧に変換する複数個からなるＩ／Ｖ変換回路である。
【００６０】
１９は、複数個からＩ／Ｖ変換回路１８の出力を加算するＲＦ加算器である。１７〜１９は、記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段の例である。
【００６１】
２０は、ＲＦ加算器１９の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタ（ＬＰＦ）である。２１は、ＬＰＦ２０の出力を増幅する電圧増幅器（ＡＭＰ）である。２２は、ＬＰＦ２０の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。２３は、ＡＭＰ２１の出力を所定のタイミングでサンプルホールドするサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）である。
【００６２】
２４は、Ｓ／Ｈ２２の出力を記録時の光ディスク１のマーク領域からの平均戻り光量として検出するＭＰ検出器である。
【００６３】
２５は、Ｓ／Ｈ２３の出力を記録時の光ディスク１のスペース（非マーク）領域からの戻り光量として検出するＳＰ検出器である。
【００６４】
２６は、ＭＰ検出器２４の出力とＳＰ検出器２５の出力から、Ｒ−ＯＰＣ動作のためのパラメータであるＢ／Ａ値を算出するＢ／Ａ算出回路である。
【００６５】
２０〜２６は、前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段である。
【００６６】
２７は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタである学習用ＬＰＦである。
【００６７】
２８は、学習用ＬＰＦ２７の出力のばらつきを平均化する平均化処理回路である。２９は、平均化処理回路２８によって平均化されたＢ／Ａ値をＲ−ＯＰＣ制御目標である基準値として検出し、その値を保持する（Ｂ／Ａ）ｉ検出器である。２７〜２９は、データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段である。
【００６８】
３０は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力の周波数の帯域を減衰する低域通過フィルタである制御用ＬＰＦである。
【００６９】
３１は、制御用ＬＰＦ３０の出力からＲ−ＯＰＣ制御を行うためのＢ／Ａ値を検出する（Ｂ／Ａ）ｎ検出器である。
【００７０】
３０〜３１は、データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段である。
【００７１】
３３は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力を学習用ＬＰＦ２７もしくは制御用ＬＰＦ３０に入力するように切り換えるスイッチである。
【００７２】
３２は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力をＲ−ＯＰＣの制御目標である基準値を生成する際は、スイッチ３３を学習用ＬＰＦ２７へ、データの記録時の制御用検出値を生成する際は、制御用ＬＰＦ３０へ切り換えるように指令するＣＰＵである。３２〜３３は、前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段である。
【００７３】
３４は、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９の出力と、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力を、比較して差分を出力をする比較器である。
【００７４】
３５は、比較器３４の差分出力をもとに、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９で求めた基準値を補正する（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路である。
【００７５】
３４〜３５は、前記基準値と光強度制御用検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段である。
【００７６】
３６は、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５によって補正されたＲ−ＯＰＣの制御目標値である基準値と、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力から補正パワーを算出し、ピークパワー制御回路１４へピークパワー目標値の変更を指令する補正パワー算出回路であり、前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段である。
【００７７】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【００７８】
まず、レーザの出射光量を検出して、パルス幅の異なるマルチパルス列データを所定のピークパワーと所定のバイアスパワーでレーザダイオード３の制御を行うＡＰＣの動作は、従来の技術で記述した内容と同じなので簡易に説明する。
【００７９】
光量モニター用フォトディテクタ６によって検出されたレーザ発光出力は、ＬＰＦ８とＳ／Ｈ１０とｍｐ検出器１２によって、発光波形のマルチパルス列部の後端部出力をｍｐレベルとして検出し、マルチパルス列のパルス幅比からなる平均パワーを検出し、マルチパルス列のパルス幅比から換算してピークパワーの検出を行う。また、ＡＭＰ９とＳ／Ｈ１１とｓｐ検出器１３によってｓｐレベル及びバイアスパワーの検出を行う。ｍｐとｓｐから得られたピークパワー及びバイアスパワーが所定の値となるようにピークパワー制御回路１４とバイアスパワー制御回路１５とでレーザパワーの制御を行う。
【００８０】
次に、Ｒ−ＯＰＣ動作の説明を行う。
【００８１】
まず、光ディスク１のデータ領域に記録を行う前に、データ領域外の例えばパワーキャリブレーション領域を用いて、最適記録パワーの学習と、最適記録パワーにおけるＲ−ＯＰＣの制御目標値となる基準値を生成する動作を説明する。
【００８２】
ディスク１のパワーキャリブレーション領域で、パワー学習によって求められた記録パワーで記録を行う。このときに、記録中の戻り光を、戻り光検出用フォトディテクタ１７とＩ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９により検出し、ＬＰＦ２０とＳ／Ｈ２２とＭＰ検出器２４で、マルチパルス列部の後端部出力をマルチパルス列のパルス幅比からなる平均戻り光量ＭＰレベルとして検出し、ＡＭＰ２１で増幅後Ｓ／Ｈ２３によってバイアスパワーにおける戻り光をサンプルホールドした後、ＳＰ検出器２５でＳＰレベルを検出する。
【００８３】
検出されたＭＰレベルとＳＰレベルは、Ｂ／Ａ算出回路２６によって、ＭＰレベルは、マルチパルス列のパルス幅比から換算してＢ値を算出し、ＳＰレベルは、ピークパワーとバイアスパワーの比からＡ値を算出し、ＢをＡで除算した値Ｂ／Ａ値を検出する。次にＣＰＵ３２とスイッチ３３によって、Ｂ／Ａ値の出力を学習用ＬＰＦ２７へ入力する。前記Ｂ／Ａ値は、所定のタイミング、例えばデータのパルス幅が９Ｔ以上の時に、サンプルホールドされ続けるために、光ディスクの周方向の記録感度および反射率ばらつきやチルト等でサンプルホールドする毎に検出される値が若干ばらつく。そのため検出された前記Ｂ／Ａ値は、基準値生成に必要な記録時間に適した学習用ＬＰＦ２７でばらつきを軽減し、平均化処理回路２８で、サンプルホールドした値の積分値とサンプルホールド回数で除算することによって平均化し、Ｒ−ＯＰＣの制御目標値の初期値である（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９で算出し、基準値として決定する。
【００８４】
次に、データ領域での記録について説明する。
【００８５】
データ記録を行っている間も、Ｂ／Ａ算出回路２６は、上記同様記録中の戻り光よりＢ／Ａ値の検出を行う。ＣＰＵ３２とスイッチ３３は、Ｂ／Ａ算出回路２６の出力を制御用ＬＰＦ３０に入力するように切り換える。制御用ＬＰＦは、Ｒ−ＯＰＣ動作を追従したい時間に最適化した周波数帯域で設定されている。制御用ＬＰＦ３０と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１によってデータ記録中の（Ｂ／Ａ）ｎ値が検出される。初期基準値（Ｂ／Ａ）ｉと検出値（Ｂ／Ａ）ｎとを比較器３４で差分を検出し、差分情報を（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に出力する。
【００８６】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、Ｂ／Ａ値の差分情報をもとにパワー換算を行い、補正光強度Ｐｃを算出し、パワー換算した補正光強度Ｐｃが、所定のパワー値以上、例えば、光ディスク１の記録感度ばらつき以上のパワー値やパワーキャリブレーションエリアでパワー学習によって得られた最適記録パワーに対して±５％以上のパワー値であった場合、パワー補正の要因がディスクの感度ばらつき以外の要因、すなわちデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレスが含まれていると判断し、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【００８７】
Ｂ／Ａｉの補正に関して図面を用いて説明する。図１５は、補正光強度Ｐｃに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示すものである。図においてＰｓ及び−Ｐｓ’は上記所定のパワー値を示すものであり、例えばＢ／Ａ学習時の最適記録パワーＰｏに対して、Ｐｓは＋５％、−Ｐｓ’は−５％とする。補正光強度ＰｃがＰｓ以上もしくは−Ｐｓ’以下の場合に、Ｐｃに対するＢ／Ａの傾きｋを用いて、（Ｐｃ−Ｐｓ）もしくは（Ｐｃ＋Ｐｓ’）に対するＢ／Ａi変動量を求め、基準値Ｂ／Ａｉを求める。
【００８８】
【数１】
【００８９】
【数２】
ｋ＝（Ｂ／Ａｉ’−Ｂ／Ａｉ）／（Ｐ２’−Ｐｏ−Ｐｓ）
上記補正光強度Ｐｃと基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量との関係および前記所定のパワー値ｋ、Ｐｓ、―Ｐｓ’は、予め情報記録装置内で格納されている。パワー換算した結果が、所定のパワー値以下であれば、基準値（Ｂ／Ａ）ｉは補正せずに補正パワー算出回路３６へ基準値（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ′として出力する。
【００９０】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【００９１】
また、補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ’は、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９のＲ−ＯＰＣの制御目標値となり、補正されるごとに制御目標値である（Ｂ／Ａ）ｉは随時更新される。
【００９２】
このように、本実施の形態によれば、ストレスによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【００９３】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。
【００９４】
図２に、本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図である。図１１に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【００９５】
図２と図１１を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。ただし、第１の実施形態と同様な形態については説明を省略する。
【００９６】
本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置は、光ディスク１、スピンドルモータ２、レーザダイオード３、ビームスプリッター４、対物レンズ５、光量モニター用フォトディテクタ６、Ｉ／Ｖ変換回路７、ＬＰＦ８、ＡＭＰ９、Ｓ／Ｈ１０、Ｓ／Ｈ１１、ｍｐ検出器１２、ｓｐ検出器１３、ピークパワー制御回路１４、バイアスパワー制御回路１５、ＬＤ駆動回路１６、戻り光検出用フォトディテクタ１７、Ｉ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９、ＬＰＦ２０、ＡＭＰ２１、Ｓ／Ｈ２２、Ｓ／Ｈ２３、ＭＰ検出器２４、ＳＰ検出器２５、Ｂ／Ａ算出回路２６、学習用ＬＰＦ２７、平均化処理回路２８、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９、制御用ＬＰＦ３０、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１、スイッチ３３、比較器３４、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５、補正パワー算出回路３６、と温度変動検出する温度変動検出器３７と、ＣＰＵ３８を備える。
【００９７】
次に、このような実施形態の動作を説明する。ただし、ＡＰＣ動作の説明は、第１の実施形態と同様な内容なので説明を省略し、Ｒ−ＯＰＣの動作の説明は、第１の実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
【００９８】
図３は、温度とレーザ波長の関係を示す。図４は、光ディスクの記録感度の波長依存性を示す。
【００９９】
図３において、レーザダイオードの波長は、温度が高くなると実質的に比例して波長が長くなることを示している。
【０１００】
また、図４は、波長依存性がある光ディスク、例えば色素系の記録膜からなる光ディスクにおいて、記録波長が長くなると、記録感度が低下し、最適記録パワーが上昇することを示している。すなわち、温度変動が生じると、波長依存性のある光ディスクにおいては、最適記録パワーが変動する。このような波長依存性がある光ディスクを用いた場合のＲ−ＯＰＣの動作について説明する。
【０１０１】
温度変動検出器３７によって温度変動を検出した場合、ＣＰＵ３８は、前記温度変動量に対する最適記録パワー変動量を求め、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に最適パワー変動値を第２の補正光強度Ｐ２として出力する。
【０１０２】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、はじめに、Ｂ／Ａ値の差分情報をもとにパワー換算し、第１の補正光強度Ｐ１を求め、次に第１の補正光強度Ｐ１から前記第２の補正光強度Ｐ２を減算し、減算した結果を温度補正光強度Ｐｔを算出する。次に、前記温度補正光強度Ｐｔが、所定のパワー値以上、例えば、光ディスク１の記録感度ばらつき以上のパワー値やパワーキャリブレーションエリアでパワー学習によって得られた最適記録パワーに対して±５％以上のパワー値であった場合、パワー補正の要因がディスクの感度ばらつき以外の要因、すなわちデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレスが含まれていると判断し、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【０１０４】
Ｂ／Ａｉの補正に関して図面を用いて説明する。図１７は、温度補正光強度Ｐｔに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示すものである。図において、上記第２の光補正強度Ｐ２は、単位温度、例えば１℃あたりの最適記録パワー変動量Ｐｘに温度変動量Ｔ℃を乗算したものである。Ｐｘは予め装置とディスクの組み合わせ温度変動試験等で求めて、装置内に記憶し、格納するものである。
（Ｐ２＝Ｐｘ×Ｔ）
Ｐｔは第１の補正光強度Ｐ１から前記補正光強度Ｐ２を減算したものである。（Ｐｔ＝Ｐ１−Ｐ２）
Ｐｓ及び−Ｐｓ’は上記所定のパワー値を示すものであり、例えばＢ／Ａ学習時の最適記録パワーＰｏに対して、Ｐｓは＋５％、−Ｐｓ’は−５％とする。
温度補正光強度ＰｔがＰｓ以上もしくは−Ｐｓ’以下の場合に、Ｐ tに対するＢ／Ａの傾きｋを用いて、（Ｐｔ−Ｐｓ）もしくは（Ｐｔ＋Ｐｓ’）に対するＢ／Ａi変動量を求め、基準値Ｂ／Ａｉを求める。
【０１０５】
【０１０６】
上記温度補正光強度Ｐｔと基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量との関係および前記所定のパワー値は、予め情報記録装置内で格納されている。パワー換算した結果が、所定のパワー値以下であれば、基準値（Ｂ／Ａ）ｉは補正せずに補正パワー算出回路３６へ基準値（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ′として出力する。
【０１０７】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【０１０８】
また、補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ’は、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９のＲ−ＯＰＣの制御目標値となり、補正されるごとに制御目標値である（Ｂ／Ａ）ｉは随時更新される。
【０１０９】
このように、本実施の形態によれば、ストレスによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、記録中に温度変動が生じた場合においても、適切に制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、波長依存性があるような光ディスクに対しても、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【０１１０】
（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態について説明する。
【０１１１】
図５に、本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図を示す。図１２に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【０１１２】
図５と図１２を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。
【０１１３】
ただし、第１及び第２の実施形態と同様な形態については説明を省略する。
【０１１４】
本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置は、光ディスク１、スピンドルモータ２、レーザダイオード３、ビームスプリッター４、対物レンズ５、光量モニター用フォトディテクタ６、Ｉ／Ｖ変換回路７、ＬＰＦ８、ＡＭＰ９、Ｓ／Ｈ１０、Ｓ／Ｈ１１、ｍｐ検出器１２、ｓｐ検出器１３、ピークパワー制御回路１４、バイアスパワー制御回路１５、ＬＤ駆動回路１６、戻り光検出用フォトディテクタ１７、Ｉ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９、ＬＰＦ２０、ＡＭＰ２１、Ｓ／Ｈ２２、Ｓ／Ｈ２３、ＭＰ検出器２４、ＳＰ検出器２５、Ｂ／Ａ算出回路２６、学習用ＬＰＦ２７、平均化処理回路２８、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９、制御用ＬＰＦ３０、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１、スイッチ３３、比較器３４、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５、補正パワー算出回路３６、温度変動検出器３７、とディスク種類を判別するディスク種類判別回路３９、ＣＰＵ４０を備える。
【０１１５】
次に、このような実施形態の動作を説明する。
【０１１６】
ただし、ＡＰＣ動作の説明は、第１の実施形態と同様な内容なので説明を省略し、Ｒ−ＯＰＣの動作の説明は、第１及び第２の実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
【０１１７】
光ディスクの種類、例えば、記録膜材料、ディスク製造メーカの違いによって温度変動による最適記録パワー変動やストレス変動による最適記録パワー変動が異なることが一般に知られている。本実施形態は、光ディスクの記録を行う前に、ディスクの種類を判別して、Ｒ−ＯＰＣの制御目標値の補正をディスクに応じて最適にすることを目的とする。
【０１１８】
以下、動作の説明を簡単に行う。
【０１１９】
情報記録装置の電源投入後、光ディスクが装着され、スピンドルモータが回転し、ディスクの起動処理が行われる際に、ディスク種類判別回路３９は、装着されたディスクの種類及びディスク製造メーカーを予め記録されているディスク管理情報から読みとり、ＣＰＵ４０にディスクの種類及びディスク製造メーカの情報を出力する。
【０１２０】
ＣＰＵ４０は、前記ディスクの種類及びディスク製造メーカーによって、ディスク種類及びディスク製造メーカに対する補正光強度と基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量の関係を示す補正光強度補正表と温度変動による最適記録パワー変動量の関係を示す光強度温度補正表を予め記憶し、格納しており、前記ディスクの種類及びディスク製造メーカーに対する補正光強度と基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量の関係と温度変動に対する最適記録パワー変動量の関係を（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に出力する。
図１８に、上記補正光強度補正表と上記光強度温度補正表の一例を示す。
ＤＩＳＣｔｙｐｅは、ディスクの種類や製造メーカーを示す情報で、装置がサポートするＤＩＳＫ数ある。ｋは補正光強度に対するＢ／Ａｉ補正量を示す係数（傾き）である。
Ｐｓは、補正光強度が正の値の時の、Ｂ／Ａｉ補正開始するまでのパワーを示し、−Ｐｓ’は、補正光強度が負の値の時の、Ｂ／Ａｉ補正開始するまでのパワーを示す。Ｐｘは、単位温度あたりの最適記録パワー変動量を示すものである。
【０１２１】
温度変動検出器３７によって温度変動を検出した場合、ＣＰＵ４０は、前記温度変動量に対する最適記録パワー変動量を求め、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５に最適パワー変動値を第２の補正光強度Ｐ２として出力する。
【０１２２】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、はじめに、Ｂ／Ａ値の差分情報をもとにパワー換算し、第１の補正光強度Ｐ１を求め、次に第１の補正光強度Ｐ１から前記補正光強度Ｐ２を減算し、減算した結果を温度補正光強度Ｐｔを算出する。次に、前記温度補正光強度Ｐｔが、所定のパワー値以上、例えば、光ディスク１の記録感度ばらつき以上のパワー値やパワーキャリブレーションエリアでパワー学習によって得られた最適記録パワーに対して±５％以上のパワー値であった場合、パワー補正の要因がディスクの感度ばらつき以外の要因、すなわちデフォーカスやオフトラック、チルト等のストレスが含まれていると判断し、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【０１２３】
上記温度補正光強度Ｐｔと基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正量との関係および前記所定のパワー値は、予め情報記録装置内で格納されている。パワー換算した結果が、所定のパワー値以下であれば、基準値（Ｂ／Ａ）ｉは補正せずに補正パワー算出回路３６へ基準値（Ｂ／Ａ）ｉを（Ｂ／Ａ）ｉ′として出力する。
【０１２４】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【０１２５】
このように、本実施の形態によれば、ストレスによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、記録中に温度変動が生じた場合においても、ディスクの種類やディスク製造メーカに応じた適切に制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、多種の光ディスクに対しても、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【０１２６】
（第４の実施形態）
次に、第４の実施形態について説明する。
【０１２７】
図６に、本実施の形態の情報記録装置の構成を示すブロック図を示す。図１３に本実施例の動作を表したフローチャートを示す。
【０１２８】
図６と図１３を用いて本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置について説明する。ただし、第１の実施形態と同様な形態については説明を省略する。
【０１２９】
本実施の形態の情報記録方法及び情報記録装置は、光ディスク１、スピンドルモータ２、レーザダイオード３、ビームスプリッター４、対物レンズ５、光量モニター用フォトディテクタ６、Ｉ／Ｖ変換回路７、ＬＰＦ８、ＡＭＰ９、Ｓ／Ｈ１０、Ｓ／Ｈ１１、ｍｐ検出器１２、ｓｐ検出器１３、ピークパワー制御回路１４、バイアスパワー制御回路１５、ＬＤ駆動回路１６、戻り光検出用フォトディテクタ１７、Ｉ／Ｖ変換回路１８、ＲＦ加算器１９、ＬＰＦ２０、ＡＭＰ２１、Ｓ／Ｈ２２、Ｓ／Ｈ２３、ＭＰ検出器２４、ＳＰ検出器２５、Ｂ／Ａ算出回路２６、学習用ＬＰＦ２７、平均化処理回路２８、（Ｂ／Ａ）ｉ検出器２９、制御用ＬＰＦ３０、（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１、スイッチ３３、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５、補正パワー算出回路３６、とストレス変動を検出するストレス検出器４１、ＣＰＵ４２を備える。
【０１３０】
次に、このような実施形態の動作を説明する。ただし、ＡＰＣ動作の説明は、第１の実施形態と同様な内容なので説明を省略し、Ｒ−ＯＰＣの動作の説明は、第１の実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
【０１３１】
ストレス検出器４１は、光ディスク１とレーザダイオード３や対物レンズ５を含む光ピックアップとのチルト角を検出可能なチルトセンサ−であり、検出したチルト情報をＣＰＵ４２へ出力する。ＣＰＵ４２は、予め上記録装置内に格納されているチルト角に応じたＢ／Ａ補正値から、検出されたチルト角に対するＢ／Ａ補正量を、（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５へ指令する。
【０１３２】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５は、ＣＰＵ４２によるＢ／Ａ補正量の指令に従い、基準値（Ｂ／Ａ）ｉの補正を行って、補正パワー算出回路３６へ補正された基準値（Ｂ／Ａ）ｉ′を出力する。
【０１３３】
（Ｂ／Ａ）ｉ補正回路３５の出力と（Ｂ／Ａ）ｎ検出器３１の出力結果より、補正パワー算出回路３６は、実際に補正するピークパワー値Ｐｒを求めて、ピークパワー制御回路１４へパワー目標値の変更を指令し、記録パワー制御を行う。
【０１３４】
このように、本実施の形態によれば、チルトによってＲ−ＯＰＣの検出信号であるＢ／Ａｎ値が変動しても、制御目標値であるＢ／Ａｉを変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のチルト変動によるパワー過補正を防ぐことができ、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【０１３５】
なお、本実施形態では、ストレス検出器により検出されるストレスはチルトとしたが、デフォーカスやオフトラックであってもよい。ただし、各ストレスに応じたＢ／Ａ補正量は予め情報記録装置内に格納されていなければならない。
【０１３６】
さらに、第２の実施形態の温度検出器を備えることで、第２の実施形態と同様な効果が得られる。
【０１３７】
さらに、第３の実施形態のディスク種類判別回路を備えることで、第３の実施形態と同様な効果が得られる。
【０１３８】
【発明の効果】
以上、説明したところから明らかなように、本発明は、光ディスクの記録中の戻り光を用いてレーザパワー制御を行うＲ−ＯＰＣにおいて、記録中に、デフォーカスやオフトラック等のストレス変動が生じた場合においても、また、記録中に温度変動が生じた場合においても、ディスクの種類やディスク製造メーカの違いに対しても、適切にＲ−ＯＰＣ制御目標値を変化させることによってＲ−ＯＰＣ動作のストレス変動によるパワー過補正を防ぐことができ、多種の光ディスクに対しても、安定かつ高精度なパワー制御を行って記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図２】 本発明の第２の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図３】 温度とレーザ波長の関係を示す図
【図４】 光ディスクの記録感度の波長依存性を示す図
【図５】 本発明の第３の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図６】 本発明の第４の実施形態における情報記録装置の構成を示すブロック図
【図７】 従来の情報記録装置の構成を示すブロック図
【図８】 ＡＰＣ用検出信号波形とＲ−ＯＰＣ用検出信号波形を示す図
【図９】 ストレス変動による最適Ｂ／Ａ値の変動の関係を示す図
【図１０】 本発明の第１の実施例の動作を表すフローチャート
【図１１】 本発明の第２の実施例の動作を表すフローチャート
【図１２】 本発明の第３の実施例の動作を表すフローチャート
【図１３】 本発明の第４の実施例の動作を表すフローチャート
【図１４】 Ｒ−ＯＰＣによる記録ピークパワーの制御動作をＲ−ＯＰＣ検出信号のパワー依存性を示す図
【図１５】 補正光強度Ｐｃに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示す図
【図１６】 記録パワーとＢ／Ａ及びＢ／Ａｉ基準値補正係数ｋの関係を示す図
【図１７】 温度補正光強度Ｐｔに対するＢ／Ａｉ基準値の関係を示す図
【図１８】 補正光強度補正表と光強度温度補正表を示す図
【符号の説明】
１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
３ レーザダイオード
４ ビームスプリッター
５ 対物レンズ
６ 光量モニター用フォトディテクタ
７ Ｉ／Ｖ変換回路
８ ＬＰＦ
９ ＡＭＰ
１０、１１ Ｓ／Ｈ
１２ ｍｐ検出器
１３ ｓｐ検出器
１４ ピークパワー制御回路
１５ バイアスパワー制御回路
１６ ＬＤ駆動回路
１７ 戻り光検出用フォトディテクタ
１８ Ｉ／Ｖ変換回路
１９ ＲＦ加算器
２０ ＬＰＦ
２１ ＡＭＰ
２２、２３ Ｓ／Ｈ
２４ ＭＰ検出器
２５ ＳＰ検出器
２６ Ｂ／Ａ算出回路
２７ 学習用ＬＰＦ
２８ 平均化処理回路
２９ （Ｂ／Ａ）ｉ検出器
３０ 制御用ＬＰＦ
３１ （Ｂ／Ａ）ｎ検出器
３２、３８、４０、４２，１２７ ＣＰＵ
３３ スイッチ
３４ 比較器
３５ （Ｂ／Ａ）ｉ補正回路
３６ 補正パワー算出回路
３７ 温度変動検出器
３９ ディスク種類判別回路
４１ ストレス検出器
１０１ 光ディスク
１０２ スピンドルモータ
１０３ レーザダイオード
１０４ ビームスプリッター
１０５ 対物レンズ
１０６ 光量モニター用フォトディテクタ
１０７ Ｉ／Ｖ変換回路
１０８ ＬＰＦ
１０９ ＡＭＰ
１１０、１１１ Ｓ／Ｈ
１１２ ｍｐ検出器
１１３ ｓｐ検出器
１１４ ピークパワー制御回路
１１５ バイアスパワー制御回路
１１６ ＬＤ駆動回路
１１７ 戻り光検出用フォトディテクタ
１１８ Ｉ／Ｖ変換回路
１１９ ＲＦ加算器
１２０ ＬＰＦ
１２１ ＡＭＰ
１２２、１２３ Ｓ／Ｈ
１２４ ＭＰ検出器
１２５ ＳＰ検出器
１２６ Ｂ／Ａ算出回路
Claims (10)
- レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法において、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用基準値を算出し、
データの記録の際は、前記記録媒体からの記録マーク領域の反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用検出値を算出し、前記光強度制御用基準値と前記光強度制御検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記光強度制御用基準値を補正し、その補正した光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値とが実質的に一致するように、前記レーザ光強度を制御し、
前記光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値の算出は、
記録マーク領域における反射光量の平均値出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間経過後に検出し、その検出値から記録マーク領域における反射光量の最大値を求め、記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値における反射光量の最大値を算出し、前記記録マーク領域における反射光量の最大値を、算出された光強度のピーク値における反射光量の最大値で除算することによって得る、情報記録方法。 - 前記補正光強度の算出に用いる光強度制御用基準値は、補正した光強度制御用基準値に更新していく請求項１記載の情報記録方法。
- レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して温度変動に伴うレーザ光波長の変動によりマーク形成に適切な光強度が変動する記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録方法において、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出すると同時にレーザ近傍温度を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用基準値の算出と検出した温度を基準温度として記憶し、
データの記録の際は、前記記録媒体からの記録マーク領域の反射光を受光して反射光量を検出し、その検出光量に基づいて光強度制御用検出値を算出すると同時にレーザ近傍温度を検出し、前記光強度制御用基準値と前記光強度制御検出値の差分により第１の補正光強度を求め、前記検出温度と前記基準温度との差分により第２の補正光強度を求め、前記第１の補正光強度から前記第２の補正光強度を差し引いた光強度を温度補正光強度として求め、前記温度補正光強度に応じて前記光強度制御用基準値を補正し、その補正した光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値とが実質的に一致するように、前記レーザ光強度を制御し、
前記光強度制御用基準値と前記光強度制御用検出値の算出は、
記録マーク領域における反射光量の平均値出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間経過後に検出し、その検出値から記録マーク領域における反射光量の最大値を求め、記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値における反射光量の最大値を算出し、前記記録マーク領域における反射光量の最大値を、算出された光強度のピーク値における反射光量の最大値で除算することによって得る、情報記録方法。 - 前記温度補正光強度の算出に用いる光強度制御用基準値は、補正した光強度制御用基準値に更新していく請求項３記載の情報記録方法。
- 前記補正光強度に応じた光強度制御用基準値の補正は、
予め記録媒体の種類毎に補正光強度に対する基準値補正量の関係を示す補正光強度補正表を記憶しておき、記録媒体の種類判別後に前記補正光強度補正表に基づき行う請求項１または３記載の情報記録方法。 - 前記第２の補正光強度は、
予め記録媒体の種類毎に温度に対するマーク形成に適切な光強度変動量の関係を示す光強度温度補正表を記憶しておき、記録媒体の種類判別後に、前記検出温度と前記基準温度との差分と前記光強度温度補正表に基づいて求められる請求項３記載の情報記録方法。 - レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録装置において、
レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段と、
前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段と、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段と、
データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段と、
前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段と、
前記基準値と光強度制御用検出値の差分により補正光強度を求め、前記補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段と、
前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段とを備え、
前記光強度制御用検出信号生成手段は、
前記反射光量検出手段の出力を平均化する低域通過フィルタと、
前記低域通過フィルタの出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間後で検出するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路により検出された値とマーク形成に寄与する出射パワーのデューティー比で記録マーク領域における反射光量の最大値を求めるマーク部反射光量最大値生成手段と、
記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値におけるピーク反射光量を算出するピークパワー反射光量最大値生成手段と、
前記マーク部反射光量最大値をピークパワー反射光量最大値で除算して、光強度制御用検出信号を生成する除算回路とを有する、情報記録装置。 - レーザ光を所定の情報に従い変調するとともに光強度を制御して温度変動に伴うレーザ光波長の変動によりマーク形成に適切な光強度が変動する記録媒体に照射し、その照射光の強弱により前記記録媒体の反射率が変化する記録マーク領域を形成することにより情報を記録する情報記録装置において、
レーザの出射光量を検出し、所定のパワー値となるようにレーザの出射光量を制御する出射光量制御手段と、
前記記録媒体の記録マーク領域からの反射光を受光して反射光量を検出する反射光量検出手段と、
前記反射光量検出手段の検出光量に基づいて光強度制御用検出信号を生成する光強度制御用検出信号生成手段と、
レーザ近傍温度を検出する温度検出手段と、
データの記録開始前に予め所定の光強度で記録媒体に照射し、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用基準値を生成する基準値生成手段と、
前記温度検出手段により前記基準値生成時のレーザ近傍温度を検出し、検出結果を記憶する基準温度記憶手段と、
データの記録の際に、前記光強度制御用検出信号から光強度制御用検出値を生成する光強度制御用検出値生成手段と、
前記温度検出手段により前記光強度制御用検出値生成時のレーザ近傍温度を検出し、検出結果を記憶する検出温度記憶手段と、
前記光強度制御用検出信号を前記基準値生成手段と光強度制御用検出値生成手段に切り換えて出力する切り換え手段と、
前記基準値と光強度制御用検出値の差分により第１の補正光強度を算出する第１の補正光強度生成手段と、
前記検出温度と前記基準温度との差分により第２の補正光強度を算出する第２の補正強度生成手段と、
前記第１の補正光強度から前記第２の補正光強度を差し引いた温度補正光強度を生成する温度補正光強度生成手段と、
前記温度補正光強度に応じて前記基準値を補正する基準値補正手段と、
前記基準値補正手段により補正された基準値と前記光強度制御用検出値の差分により補正パワー値を生成し、前記出射光量制御手段に補正パワー値を出力する補正パワー値生成手段とを備え、
前記光強度制御用検出信号生成手段は、
前記反射光量検出手段の出力を平均化する低域通過フィルタと、
前記低域通過フィルタの出力をレーザ光変調信号に基づく所定の時間後で検出するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路により検出された値とマーク形成に寄与する出射パワーのデューティー比で記録マーク領域における反射光量の最大値を求めるマーク部反射光量最大値生成手段と、
記録マーク形成に寄与しない光強度で照射された記録マーク以外の領域における反射光量の検出結果に基づき設定した光強度のピーク値におけるピーク反射光量を算出するピークパワー反射光量最大値生成手段と、
前記マーク部反射光量最大値をピークパワー反射光量最大値で除算して、光強度制御用検出信号を生成する除算回路とを有する、情報記録装置。 - 記録媒体の種類識別手段と、予め記録媒体の種類毎に補正光強度に対する基準値補正量の関係を示す補正光強度補正表を記憶した手段とを備えた請求項７または８記載の情報記録装置。
- 記録媒体の種類識別手段と、予め記録媒体の種類毎に温度に対するマーク形成に適切な光強度変動量の関係を示す光強度温度補正表を記憶した手段とを備えた請求項７または８記載の情報記録装置。
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