JP2002170236A - 光ディスク装置及び光ディスクの記録方法 - Google Patents
光ディスク装置及び光ディスクの記録方法Info
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- JP2002170236A JP2002170236A JP2000362367A JP2000362367A JP2002170236A JP 2002170236 A JP2002170236 A JP 2002170236A JP 2000362367 A JP2000362367 A JP 2000362367A JP 2000362367 A JP2000362367 A JP 2000362367A JP 2002170236 A JP2002170236 A JP 2002170236A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 検出用パルスを最適な加熱パワーで出力す
る。 【解決手段】 まず、光ディスクの試し書き領域に加熱
パワーを段階的に変えて複数回試し書きを行う（ステッ
プＳ１）。これは、マルチパルス列、検出用パルス各々
のために行う。そして、その記録の際の反射信号ＲＦを
サンプリング回路でサンプルホールドする（ステップＳ
２）。次に、このサンプルホールドした各値を用いて、
第１、第２のパワー演算回路でマルチパルス列、検出用
パルスそれぞれの変調度ｍ1，ｍ2を求め、この変調度ｍ
1，ｍ2によりマルチパルス列、検出用パルスそれぞれの
最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oを算出する（ステップＳ
３）。
る。 【解決手段】 まず、光ディスクの試し書き領域に加熱
パワーを段階的に変えて複数回試し書きを行う（ステッ
プＳ１）。これは、マルチパルス列、検出用パルス各々
のために行う。そして、その記録の際の反射信号ＲＦを
サンプリング回路でサンプルホールドする（ステップＳ
２）。次に、このサンプルホールドした各値を用いて、
第１、第２のパワー演算回路でマルチパルス列、検出用
パルスそれぞれの変調度ｍ1，ｍ2を求め、この変調度ｍ
1，ｍ2によりマルチパルス列、検出用パルスそれぞれの
最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oを算出する（ステップＳ
３）。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、記録可能な光デ
ィスクに対するマークの形成をマルチパルス列で行い、
そのマルチパルス列の一部を検出用パルスに置換する光
ディスク装置及び光ディスクの記録方法に関する。
ィスクに対するマークの形成をマルチパルス列で行い、
そのマルチパルス列の一部を検出用パルスに置換する光
ディスク装置及び光ディスクの記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ−Ｒの一般的な記録波形として、図
８（ｃ）に示す光ディスクに照射されるレーザの光源で
あるＬＤ（Laser Diode）の発光波形のような単一パル
ス記録が用いられる。この記録方式は、記録パワーレベ
ルを２値化し、あるいは、最短データ長の加熱パルスの
後エッジを補正するなどして、マークエッジ（ＰＷＭ）
記録を実現している。このようなＰＷＭ記録では記録マ
ークの両エッジに情報を持たせている。
８（ｃ）に示す光ディスクに照射されるレーザの光源で
あるＬＤ（Laser Diode）の発光波形のような単一パル
ス記録が用いられる。この記録方式は、記録パワーレベ
ルを２値化し、あるいは、最短データ長の加熱パルスの
後エッジを補正するなどして、マークエッジ（ＰＷＭ）
記録を実現している。このようなＰＷＭ記録では記録マ
ークの両エッジに情報を持たせている。
【０００３】しかし、図８（ｃ）のような単一パルス記
録をＤＶＤ−Ｒなどの大容量記録での記録波形として用
いると、図８（ｄ）のマーク形状のように、蓄熱のため
記録マークが涙状に歪を生じ、あるいは、データ長に応
じたエッジシフトが顕著となるため、単パルス記録はジ
ッタ特性を良好にすることが困難となる。
録をＤＶＤ−Ｒなどの大容量記録での記録波形として用
いると、図８（ｄ）のマーク形状のように、蓄熱のため
記録マークが涙状に歪を生じ、あるいは、データ長に応
じたエッジシフトが顕著となるため、単パルス記録はジ
ッタ特性を良好にすることが困難となる。
【０００４】このため、通常は、図９（ｃ）に示す光デ
ィスクに照射されるレーザの光源であるＬＤの発光波形
のようなマルチパルス記録が用いられる。これにより加
熱パルスのデューティ（Duty）を調整して、図９（ｄ）
のマーク形状のように、適正な記録パワーを用いること
ができ、畜熱の影響を簡易に防止できて、記録マークの
両エッジシフトが低減できる。
ィスクに照射されるレーザの光源であるＬＤの発光波形
のようなマルチパルス記録が用いられる。これにより加
熱パルスのデューティ（Duty）を調整して、図９（ｄ）
のマーク形状のように、適正な記録パワーを用いること
ができ、畜熱の影響を簡易に防止できて、記録マークの
両エッジシフトが低減できる。
【０００５】このようなデータ記録を行うとき、単パル
ス記録では、図８（ｅ）に示す受光信号波形のように、
記録中の単パルス区間における光ディスクからの反射光
量を検出することで、記録中にマークの形成状態を知る
ことができる。よって、記録パワーが変動しながら記録
されても、反射光量の変化を示す信号を得ることがで
き、この変化の状態により記録中でのＬＤパワー変動や
チルトやメディア感度分布などによる記録パワーのずれ
を補正するように制御しながら、データ記録を行うこと
ができる。このような制御方式を、一般にＲ−ＯＰＣ
（Running-OptimumPower Control）と呼んでいる。
ス記録では、図８（ｅ）に示す受光信号波形のように、
記録中の単パルス区間における光ディスクからの反射光
量を検出することで、記録中にマークの形成状態を知る
ことができる。よって、記録パワーが変動しながら記録
されても、反射光量の変化を示す信号を得ることがで
き、この変化の状態により記録中でのＬＤパワー変動や
チルトやメディア感度分布などによる記録パワーのずれ
を補正するように制御しながら、データ記録を行うこと
ができる。このような制御方式を、一般にＲ−ＯＰＣ
（Running-OptimumPower Control）と呼んでいる。
【０００６】また、特公昭57-60696号公報には、光ディ
スクにデータの記録を行うとき、記録中の反射率の変化
を検出し、その検出信号に基づいて光源の出力を制御す
る技術が開示されている。具体的には、試し書きにおけ
る反射光量変化を示す検出信号を書き込んだ記録パワー
と対応づけて保持しておき、試し書き後、再生信号の対
称性などから最適パワーを算出すると同時に、それと対
応づけられた反射光量変化を示す検出信号を制御目標値
として逐次ＬＤ記録パワーを制御する。
スクにデータの記録を行うとき、記録中の反射率の変化
を検出し、その検出信号に基づいて光源の出力を制御す
る技術が開示されている。具体的には、試し書きにおけ
る反射光量変化を示す検出信号を書き込んだ記録パワー
と対応づけて保持しておき、試し書き後、再生信号の対
称性などから最適パワーを算出すると同時に、それと対
応づけられた反射光量変化を示す検出信号を制御目標値
として逐次ＬＤ記録パワーを制御する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、大容量
記録に適したマルチパルス記録では、図９（ｅ）の受光
信号波形のように、記録パワーによる反射光量の変化を
検出する前に、遮断パルスにより反射光量が急減し、再
び加熱パルスで反射光量が急増するような変化を示すよ
うになり、ＬＤの発光状態が短時間に切り替わるため、
マークの形成状態を認識するために必要な一定パワーで
の光量変化を検出することができず、Ｒ−ＯＰＣにより
適正なパワーに制御しながら記録することが困難であっ
た。
記録に適したマルチパルス記録では、図９（ｅ）の受光
信号波形のように、記録パワーによる反射光量の変化を
検出する前に、遮断パルスにより反射光量が急減し、再
び加熱パルスで反射光量が急増するような変化を示すよ
うになり、ＬＤの発光状態が短時間に切り替わるため、
マークの形成状態を認識するために必要な一定パワーで
の光量変化を検出することができず、Ｒ−ＯＰＣにより
適正なパワーに制御しながら記録することが困難であっ
た。
【０００８】そこで、図９（ｆ）のＬＤの発光波形のよ
うに、通常のマルチパルス列を単一パルスからなる検出
用パルスに置換して配置するようにすると、記録中の光
ディスクからの反射光としては図９（ｈ）の受光信号波
形のような反射光量信号（反射信号ＲＦ）が得られる。
この検出用パルスは前記したようなＣＤ−Ｒで用いられ
るＲ−ＯＰＣと同様に、マーク形成に伴う光量変化が現
れる。
うに、通常のマルチパルス列を単一パルスからなる検出
用パルスに置換して配置するようにすると、記録中の光
ディスクからの反射光としては図９（ｈ）の受光信号波
形のような反射光量信号（反射信号ＲＦ）が得られる。
この検出用パルスは前記したようなＣＤ−Ｒで用いられ
るＲ−ＯＰＣと同様に、マーク形成に伴う光量変化が現
れる。
【０００９】しかし、ＤＶＤ−Ｒに用いられるマルチパ
ルス列による記録中に、マルチパルス列の場合と同一の
加熱パワーの単一パルスに置換すると、マーク形成状態
は過剰なパワーとなり、デフォーカスやチルトや加熱パ
ワー変動などのドライブ装置の経時変化に対して感度が
無くなってしまうという不具合がある。
ルス列による記録中に、マルチパルス列の場合と同一の
加熱パワーの単一パルスに置換すると、マーク形成状態
は過剰なパワーとなり、デフォーカスやチルトや加熱パ
ワー変動などのドライブ装置の経時変化に対して感度が
無くなってしまうという不具合がある。
【００１０】すなわち、一般的な色素系光ディスクは、
マルチパルス列を用いても単一パルス列を用いてもマー
クの形成は可能であるが、それぞれに適正な記録パワー
は異なっているため、マルチパルス列によるＲ−ＯＰＣ
の感度を良好に設定することは困難であった。
マルチパルス列を用いても単一パルス列を用いてもマー
クの形成は可能であるが、それぞれに適正な記録パワー
は異なっているため、マルチパルス列によるＲ−ＯＰＣ
の感度を良好に設定することは困難であった。
【００１１】この発明の目的は、検出用パルスを最適な
加熱パワーで出力することができるようにすることであ
る。
加熱パワーで出力することができるようにすることであ
る。
【００１２】この発明の目的は、検出用パルスの最適な
加熱パワーを簡易に算出できるようにすることである。
加熱パワーを簡易に算出できるようにすることである。
【００１３】この発明の目的は、光ディスクの面ぶれ等
の影響による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最
適な加熱パワーを正確に求めることができるようにする
ことである。
の影響による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最
適な加熱パワーを正確に求めることができるようにする
ことである。
【００１４】この発明の目的は、マルチパルス列につい
ても最適な加熱パワーで出力することができるようにす
ることである。
ても最適な加熱パワーで出力することができるようにす
ることである。
【００１５】この発明の目的は、マルチパルス列の最適
な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最
適値を求めることができるようにすることである。
な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最
適値を求めることができるようにすることである。
【００１６】この発明の目的は、マルチパルス列の最適
な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最
適値を高精度に求めることができるようにすることであ
る。
な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最
適値を高精度に求めることができるようにすることであ
る。
【００１７】この発明の目的は、マルチパルス列、検出
用パルスの各加熱パワーを光ディスクへの記録中であっ
ても常に最適な値にすることを可能とすることである。
用パルスの各加熱パワーを光ディスクへの記録中であっ
ても常に最適な値にすることを可能とすることである。
【００１８】この発明の目的は、マルチパルス列、検出
用パルスの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディス
クへの記録中であっても常に最適な値にすることを可能
とすることである。
用パルスの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディス
クへの記録中であっても常に最適な値にすることを可能
とすることである。
【００１９】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、記録可能な光ディスクに光を照射する光源と、前記
照射光をマルチパルス列にして前記光ディスクにマーク
を形成するマルチパルス列生成手段と、前記マルチパル
ス列の一部を検出用パルスに置換して当該検出用パルス
で前記マークを形成する検出用パルス生成手段とを備え
ている光ディスク装置において、前記光ディスクの試し
書き領域に予め加熱パワーを段階的に複数回変えて試し
書きをする試書手段と、この試し書きの際の反射光を受
光する受光素子と、この受光素子の出力信号に基づいて
前記検出用パルスに関する変調度を求める第１の変調度
算出手段と、この求めた変調度に基づいて前記検出用パ
ルスの加熱パワーの最適値を求める第１の加熱パワー決
定手段と、前記検出用パルスの加熱パワーを前記第１の
加熱パワー決定手段で求めた加熱パワーに基づいて制御
する第１の制御手段と、を備えていることを特徴とする
光ディスク装置である。
は、記録可能な光ディスクに光を照射する光源と、前記
照射光をマルチパルス列にして前記光ディスクにマーク
を形成するマルチパルス列生成手段と、前記マルチパル
ス列の一部を検出用パルスに置換して当該検出用パルス
で前記マークを形成する検出用パルス生成手段とを備え
ている光ディスク装置において、前記光ディスクの試し
書き領域に予め加熱パワーを段階的に複数回変えて試し
書きをする試書手段と、この試し書きの際の反射光を受
光する受光素子と、この受光素子の出力信号に基づいて
前記検出用パルスに関する変調度を求める第１の変調度
算出手段と、この求めた変調度に基づいて前記検出用パ
ルスの加熱パワーの最適値を求める第１の加熱パワー決
定手段と、前記検出用パルスの加熱パワーを前記第１の
加熱パワー決定手段で求めた加熱パワーに基づいて制御
する第１の制御手段と、を備えていることを特徴とする
光ディスク装置である。
【００２０】したがって、試し書きを行うことにより、
検出用パルスを最適な加熱パワーで出力することができ
る。
検出用パルスを最適な加熱パワーで出力することができ
る。
【００２１】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記試し書きを行ったときの複数段階の加熱パ
ワーの中から前記第１の変調度算出手段で求めた変調度
が０．５〜０．８となるものを前記最適値とするもので
あることを特徴とする。
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記試し書きを行ったときの複数段階の加熱パ
ワーの中から前記第１の変調度算出手段で求めた変調度
が０．５〜０．８となるものを前記最適値とするもので
あることを特徴とする。
【００２２】したがって、変調度が０．５〜０．８の範
囲内となるものを検出用パルスの最適な加熱パワーとす
ることで、検出用パルスの最適な加熱パワーを簡易に算
出することができる。
囲内となるものを検出用パルスの最適な加熱パワーとす
ることで、検出用パルスの最適な加熱パワーを簡易に算
出することができる。
【００２３】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記第１の変調度算出手段で求めた変調度の加
熱パワーに対する変化を求め、この変化から前記検出用
パルスの加熱パワーの最適値を求めるものであることを
特徴とする。
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記第１の変調度算出手段で求めた変調度の加
熱パワーに対する変化を求め、この変化から前記検出用
パルスの加熱パワーの最適値を求めるものであることを
特徴とする。
【００２４】したがって、光ディスクの面ぶれ等の影響
による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最適な加
熱パワーを正確に求めることができる。
による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最適な加
熱パワーを正確に求めることができる。
【００２５】請求項４に記載の発明は、請求項３に記載
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記変化が１．０〜２．０となるものを前記最
適値とするものであることを特徴とする。
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記変化が１．０〜２．０となるものを前記最
適値とするものであることを特徴とする。
【００２６】したがって、変調度の加熱パワーに対する
変化が１．０〜２．０の範囲内となるものを検出用パル
スの最適な加熱パワーとすることで、検出用パルスの最
適な加熱パワーを簡易に算出することができる。
変化が１．０〜２．０の範囲内となるものを検出用パル
スの最適な加熱パワーとすることで、検出用パルスの最
適な加熱パワーを簡易に算出することができる。
【００２７】請求項５に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、前記受光素子の出力信号に
基づいて前記マルチパルス列に関する変調度を求める第
２の変調度算出手段と、この求めた変調度に基づいて前
記マルチパルス列の加熱パワーの最適値を求める第２の
加熱パワー決定手段と、前記マルチパルス列の加熱パワ
ーを前記第２の加熱パワー算出手段で求めた加熱パワー
に基づいて制御する第２の制御手段と、を備えているこ
とを特徴とする。
の光ディスク装置において、前記受光素子の出力信号に
基づいて前記マルチパルス列に関する変調度を求める第
２の変調度算出手段と、この求めた変調度に基づいて前
記マルチパルス列の加熱パワーの最適値を求める第２の
加熱パワー決定手段と、前記マルチパルス列の加熱パワ
ーを前記第２の加熱パワー算出手段で求めた加熱パワー
に基づいて制御する第２の制御手段と、を備えているこ
とを特徴とする。
【００２８】したがって、試し書きを行うことにより、
マルチパルス列についても最適な加熱パワーで出力する
ことができる。
マルチパルス列についても最適な加熱パワーで出力する
ことができる。
【００２９】請求項６に記載の発明は、請求項５に記載
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記第１の変調度算出手段で求めた前記検出用
パルスに関する変調度が前記第２の変調度算出手段で求
めた前記マルチパルス列に関する変調度と略等しい値と
なるときの前記検出用パルスの加熱パワーをその最適値
とするものであることを特徴とする。
の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー決定
手段は、前記第１の変調度算出手段で求めた前記検出用
パルスに関する変調度が前記第２の変調度算出手段で求
めた前記マルチパルス列に関する変調度と略等しい値と
なるときの前記検出用パルスの加熱パワーをその最適値
とするものであることを特徴とする。
【００３０】したがって、マルチパルス列の最適な記録
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
求めることができる。
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
求めることができる。
【００３１】請求項７に記載の発明は、請求項５に記載
の光ディスク装置において、前記第２の加熱パワー決定
手段は、前記第２の変調度算出手段で求めた変調度の加
熱パワーに対する変化を求め、この変化から前記マルチ
パルス列の加熱パワーの最適値を求めるものであり、前
記第１の加熱パワー決定手段は、前記第１の変調度算出
手段で求めた変調度の加熱パワーに対する変化を求め、
この変化が前記第２の加熱パワー決定手段で求めた前記
マルチパルス列の加熱パワーに対する変化と略等しい値
となるときの前記検出用パルスの加熱パワーをその最適
値とするものであることを特徴とする。
の光ディスク装置において、前記第２の加熱パワー決定
手段は、前記第２の変調度算出手段で求めた変調度の加
熱パワーに対する変化を求め、この変化から前記マルチ
パルス列の加熱パワーの最適値を求めるものであり、前
記第１の加熱パワー決定手段は、前記第１の変調度算出
手段で求めた変調度の加熱パワーに対する変化を求め、
この変化が前記第２の加熱パワー決定手段で求めた前記
マルチパルス列の加熱パワーに対する変化と略等しい値
となるときの前記検出用パルスの加熱パワーをその最適
値とするものであることを特徴とする。
【００３２】したがって、マルチパルス列の最適な記録
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
高精度に求めることができる。
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
高精度に求めることができる。
【００３３】請求項８に記載の発明は、請求項５〜７の
いずれかの一に記載の光ディスク装置において、前記第
２の制御手段は、前記第１の制御手段で制御される前記
検出用パルスの加熱パワーとの比が予め設定されている
一定値となるように前記マルチパルス列の加熱パワーを
制御するものであることを特徴とする。
いずれかの一に記載の光ディスク装置において、前記第
２の制御手段は、前記第１の制御手段で制御される前記
検出用パルスの加熱パワーとの比が予め設定されている
一定値となるように前記マルチパルス列の加熱パワーを
制御するものであることを特徴とする。
【００３４】したがって、マルチパルス列、検出用パル
スの各加熱パワーを光ディスクへの記録中であっても常
に最適な値にすることが可能となる。
スの各加熱パワーを光ディスクへの記録中であっても常
に最適な値にすることが可能となる。
【００３５】請求項９に記載の発明は、請求項８に記載
の光ディスク装置において、前記第２の制御手段は、前
記第１の加熱パワー決定手段で求めた前記検出用パルス
の加熱パワーの最適値と前記第２の加熱パワー決定手段
で求めた前記マルチパルス列の加熱パワーの最適値との
比を前記一定値としているものであることを特徴とす
る。
の光ディスク装置において、前記第２の制御手段は、前
記第１の加熱パワー決定手段で求めた前記検出用パルス
の加熱パワーの最適値と前記第２の加熱パワー決定手段
で求めた前記マルチパルス列の加熱パワーの最適値との
比を前記一定値としているものであることを特徴とす
る。
【００３６】したがって、マルチパルス列、検出用パル
スの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディスクへの
記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
スの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディスクへの
記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
【００３７】請求項１０に記載の発明は、記録可能な光
ディスクに照射する照射光をマルチパルス列にして前記
光ディスクにマークを形成し、この際に前記マルチパル
ス列の一部については検出用パルスに置換して当該検出
用パルスで前記マークを形成する光ディスクの記録方法
において、前記光ディスクの試し書き領域に予め加熱パ
ワーを段階的に複数回変えて試し書きをする試書工程
と、この試し書きの際の反射光を受光素子で受光する受
光工程と、この受光素子の出力信号に基づいて前記検出
用パルスに関する変調度を求める第１の変調度算出工程
と、この求めた変調度に基づいて前記検出用パルスの加
熱パワーの最適値を求める第１の加熱パワー決定工程
と、前記検出用パルスの加熱パワーを前記第１の加熱パ
ワー算出手段で求めた加熱パワーに基づいて制御する第
１の制御工程と、を含んでなることを特徴とする光ディ
スクの記録方法である。
ディスクに照射する照射光をマルチパルス列にして前記
光ディスクにマークを形成し、この際に前記マルチパル
ス列の一部については検出用パルスに置換して当該検出
用パルスで前記マークを形成する光ディスクの記録方法
において、前記光ディスクの試し書き領域に予め加熱パ
ワーを段階的に複数回変えて試し書きをする試書工程
と、この試し書きの際の反射光を受光素子で受光する受
光工程と、この受光素子の出力信号に基づいて前記検出
用パルスに関する変調度を求める第１の変調度算出工程
と、この求めた変調度に基づいて前記検出用パルスの加
熱パワーの最適値を求める第１の加熱パワー決定工程
と、前記検出用パルスの加熱パワーを前記第１の加熱パ
ワー算出手段で求めた加熱パワーに基づいて制御する第
１の制御工程と、を含んでなることを特徴とする光ディ
スクの記録方法である。
【００３８】したがって、試し書きを行うことにより、
検出用パルスを最適な加熱パワーで出力することができ
る。
検出用パルスを最適な加熱パワーで出力することができ
る。
【００３９】請求項１１に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記試し書きを行ったときの複数段
階の加熱パワーの中から前記第１の変調度算出手段で求
めた変調度が０．５〜０．８となるものを前記最適値と
するものであることを特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記試し書きを行ったときの複数段
階の加熱パワーの中から前記第１の変調度算出手段で求
めた変調度が０．５〜０．８となるものを前記最適値と
するものであることを特徴とする。
【００４０】したがって、変調度が０．５〜０．８の範
囲内となるものを検出用パルスの最適な加熱パワーとす
ることで、検出用パルスの最適な加熱パワーを簡易に算
出することができる。
囲内となるものを検出用パルスの最適な加熱パワーとす
ることで、検出用パルスの最適な加熱パワーを簡易に算
出することができる。
【００４１】請求項１２に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記第１の変調度算出手段で求めた
変調度の加熱パワーに対する変化を求め、この変化から
前記検出用パルスの加熱パワーの最適値を求めるもので
あることを特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記第１の変調度算出手段で求めた
変調度の加熱パワーに対する変化を求め、この変化から
前記検出用パルスの加熱パワーの最適値を求めるもので
あることを特徴とする。
【００４２】したがって、光ディスクの面ぶれ等の影響
による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最適な加
熱パワーを正確に求めることができる。
による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最適な加
熱パワーを正確に求めることができる。
【００４３】請求項１３に記載の発明は、請求項１２に
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記変化が１．０〜２．０となるも
のを前記最適値とするものであることを特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記変化が１．０〜２．０となるも
のを前記最適値とするものであることを特徴とする。
【００４４】したがって、変調度の加熱パワーに対する
変化が１．０〜２．０の範囲内となるものを検出用パル
スの最適な加熱パワーとすることで、検出用パルスの最
適な加熱パワーを簡易に算出することができる。
変化が１．０〜２．０の範囲内となるものを検出用パル
スの最適な加熱パワーとすることで、検出用パルスの最
適な加熱パワーを簡易に算出することができる。
【００４５】請求項１４に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ディスクの記録方法において、前記受光素子の
出力信号に基づいて前記マルチパルス列に関する変調度
を求める第２の変調度算出工程と、この求めた変調度に
基づいて前記マルチパルス列の加熱パワーの最適値を求
める第２の加熱パワー決定工程と、前記マルチパルス列
の加熱パワーを前記第２の加熱パワー算出工程で求めた
加熱パワーに基づいて制御する第２の制御工程と、を含
んでなることを特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記受光素子の
出力信号に基づいて前記マルチパルス列に関する変調度
を求める第２の変調度算出工程と、この求めた変調度に
基づいて前記マルチパルス列の加熱パワーの最適値を求
める第２の加熱パワー決定工程と、前記マルチパルス列
の加熱パワーを前記第２の加熱パワー算出工程で求めた
加熱パワーに基づいて制御する第２の制御工程と、を含
んでなることを特徴とする。
【００４６】したがって、試し書きを行うことにより、
マルチパルス列についても最適な加熱パワーで出力する
ことができる。
マルチパルス列についても最適な加熱パワーで出力する
ことができる。
【００４７】請求項１５に記載の発明は、請求項１４に
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記第１の変調度算出工程で求めた
前記検出用パルスに関する変調度が前記第２の変調度算
出工程で求めた前記マルチパルス列に関する変調度と略
等しい値となるときの前記検出用パルスの加熱パワーを
その最適値とするものであることを特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記第１の加熱
パワー決定工程は、前記第１の変調度算出工程で求めた
前記検出用パルスに関する変調度が前記第２の変調度算
出工程で求めた前記マルチパルス列に関する変調度と略
等しい値となるときの前記検出用パルスの加熱パワーを
その最適値とするものであることを特徴とする。
【００４８】したがって、マルチパルス列の最適な記録
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
求めることができる。
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
求めることができる。
【００４９】請求項１６に記載の発明は、請求項１４に
記載の光ディスクの記録方法において、前記第２の加熱
パワー決定工程は、前記第２の変調度算出工程で求めた
変調度の加熱パワーに対する変化を求め、この変化から
前記マルチパルス列の加熱パワーの最適値を求めるもの
であり、前記第１の加熱パワー決定工程は、前記第１の
変調度算出工程で求めた変調度の加熱パワーに対する変
化を求め、この変化が前記第２の加熱パワー決定手段で
求めた前記マルチパルス列の加熱パワーに対する変化と
略等しい値となるときの前記検出用パルスの加熱パワー
をその最適値とするものであることを特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記第２の加熱
パワー決定工程は、前記第２の変調度算出工程で求めた
変調度の加熱パワーに対する変化を求め、この変化から
前記マルチパルス列の加熱パワーの最適値を求めるもの
であり、前記第１の加熱パワー決定工程は、前記第１の
変調度算出工程で求めた変調度の加熱パワーに対する変
化を求め、この変化が前記第２の加熱パワー決定手段で
求めた前記マルチパルス列の加熱パワーに対する変化と
略等しい値となるときの前記検出用パルスの加熱パワー
をその最適値とするものであることを特徴とする。
【００５０】したがって、マルチパルス列の最適な記録
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
高精度に求めることができる。
パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値を
高精度に求めることができる。
【００５１】請求項１７に記載の発明は、請求項１４〜
１６のいずれかの一に記載の光ディスクの記録方法にお
いて、前記第２の制御工程は、前記第１の制御工程で制
御される前記検出用パルスの加熱パワーとの比が予め設
定されている一定値となるように前記マルチパルス列の
加熱パワーを制御するものであることを特徴とする。
１６のいずれかの一に記載の光ディスクの記録方法にお
いて、前記第２の制御工程は、前記第１の制御工程で制
御される前記検出用パルスの加熱パワーとの比が予め設
定されている一定値となるように前記マルチパルス列の
加熱パワーを制御するものであることを特徴とする。
【００５２】したがって、マルチパルス列、検出用パル
スの各加熱パワーを光ディスクへの記録中であっても常
に最適な値にすることが可能となる。
スの各加熱パワーを光ディスクへの記録中であっても常
に最適な値にすることが可能となる。
【００５３】請求項１８に記載の発明は、請求項１７に
記載の光ディスクの記録方法において、前記第２の制御
工程は、前記第１の加熱パワー決定工程で求めた前記検
出用パルスの加熱パワーの最適値と前記第２の加熱パワ
ー決定工程で求めた前記マルチパルス列の加熱パワーの
最適値との比を前記一定値としているものであることを
特徴とする。
記載の光ディスクの記録方法において、前記第２の制御
工程は、前記第１の加熱パワー決定工程で求めた前記検
出用パルスの加熱パワーの最適値と前記第２の加熱パワ
ー決定工程で求めた前記マルチパルス列の加熱パワーの
最適値との比を前記一定値としているものであることを
特徴とする。
【００５４】したがって、マルチパルス列、検出用パル
スの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディスクへの
記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
スの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディスクへの
記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
【００５５】
【発明の実施の形態】この発明の一実施の形態について
説明する。
説明する。
【００５６】まず、発明の一実施の形態である光ディス
ク装置で行う情報記録方式について説明する。
ク装置で行う情報記録方式について説明する。
【００５７】この情報記録方式では、例えばＤＶＤ−Ｒ
ＯＭフォーマットのコードデータを、記録層に色素材料
を用いたＤＶＤ−Ｒに対して記録する。データ変調方式
として、図１（ｂ）の記録データのようなＥＦＭ Plus
（Eight to Fourteen Modulation Plus）変調コードを
用いて、マークエッジ（ＰＷＭ：Pulse Width Modulati
on）記録を行っており、形成されるマークとスペースの
データ長は３〜１４Ｔとなる。この実施の形態ではこの
ようなメディアと記録データを用いて、光源である半導
体レーザ（ＬＤ：Laser Diode）をマルチパルス発光さ
せて記録マークを形成することによりＤＶＤ−Ｒに情報
の記録を行う。
ＯＭフォーマットのコードデータを、記録層に色素材料
を用いたＤＶＤ−Ｒに対して記録する。データ変調方式
として、図１（ｂ）の記録データのようなＥＦＭ Plus
（Eight to Fourteen Modulation Plus）変調コードを
用いて、マークエッジ（ＰＷＭ：Pulse Width Modulati
on）記録を行っており、形成されるマークとスペースの
データ長は３〜１４Ｔとなる。この実施の形態ではこの
ようなメディアと記録データを用いて、光源である半導
体レーザ（ＬＤ：Laser Diode）をマルチパルス発光さ
せて記録マークを形成することによりＤＶＤ−Ｒに情報
の記録を行う。
【００５８】色素系の光メディアに記録を行う場合の基
本的な記録動作は、従来の技術で前記したとおりであ
る。このときのマルチパルス列の最適な加熱パワーは、
ＣＤ−Ｒで用いられる単一パルス列による記録波形の最
適な加熱パワーよりも約２０〜３０％高いパワーが必要
となる（図１（ｆ）参照）。また、図１（ａ）に示すよ
うに、記録チャネルクロック周期Ｔは約３８nsec、記録
線速度は３．５ｍ／ｓである。
本的な記録動作は、従来の技術で前記したとおりであ
る。このときのマルチパルス列の最適な加熱パワーは、
ＣＤ−Ｒで用いられる単一パルス列による記録波形の最
適な加熱パワーよりも約２０〜３０％高いパワーが必要
となる（図１（ｆ）参照）。また、図１（ａ）に示すよ
うに、記録チャネルクロック周期Ｔは約３８nsec、記録
線速度は３．５ｍ／ｓである。
【００５９】より具体的には、代表的なＤＶＤ−Ｒにマ
ルチパルス列を用いて、その最適加熱パワーで記録する
と、加熱パワーＰw1（マルチパルス列の加熱パワー）の
最適値は１２ｍＷ程度であり、このパワーでの１４Ｔ変
調度は６５％程度となっており、最も良好なジッタ特性
が得られる。このような記録を行うときに所望の間隔で
マルチパルス列の一部を単一の検出用パルスに置換して
記録をすると、前記のように良好な記録状態の検出およ
び加熱パワーの補正が可能となる。
ルチパルス列を用いて、その最適加熱パワーで記録する
と、加熱パワーＰw1（マルチパルス列の加熱パワー）の
最適値は１２ｍＷ程度であり、このパワーでの１４Ｔ変
調度は６５％程度となっており、最も良好なジッタ特性
が得られる。このような記録を行うときに所望の間隔で
マルチパルス列の一部を単一の検出用パルスに置換して
記録をすると、前記のように良好な記録状態の検出およ
び加熱パワーの補正が可能となる。
【００６０】次に、Ｒ−ＯＰＣ動作で用いる光ディスク
の記録状態の情報は、前記の検出パルスの期間における
先端から３Ｔ後以降の領域で反射信号ＲＦの受光量が安
定しているので、このレベルをサンプルホールド回路で
サンプリングし、Ａ／ＤコンバータによりＲＦsmp値
（反射信号ＲＦのサンプル値）を取得するようにする。
この値は光ディスクからの反射光であるため、図２に示
すように、出射光量である加熱パワーＰw2（検出用パル
スの加熱パワー）で正規化して、光ディスクの記録状態
を示す記録状態情報“ＲＦopc＝ＲＦsmp／Ｐw2”を求め
ている。この記録状態情報ＲＦopcは、検出用パルスで
の最適な加熱パワーＰw2o（optimum）の近傍で大きな負
の傾きを示しており、各種のドライブ変動に対して高感
度な変化を示すようになる。
の記録状態の情報は、前記の検出パルスの期間における
先端から３Ｔ後以降の領域で反射信号ＲＦの受光量が安
定しているので、このレベルをサンプルホールド回路で
サンプリングし、Ａ／ＤコンバータによりＲＦsmp値
（反射信号ＲＦのサンプル値）を取得するようにする。
この値は光ディスクからの反射光であるため、図２に示
すように、出射光量である加熱パワーＰw2（検出用パル
スの加熱パワー）で正規化して、光ディスクの記録状態
を示す記録状態情報“ＲＦopc＝ＲＦsmp／Ｐw2”を求め
ている。この記録状態情報ＲＦopcは、検出用パルスで
の最適な加熱パワーＰw2o（optimum）の近傍で大きな負
の傾きを示しており、各種のドライブ変動に対して高感
度な変化を示すようになる。
【００６１】すなわち、図１（ｈ）の受光信号波形や図
２に示すように、記録パワーが適正から過大となるよう
に変動すると、検出用加熱パルス部分のように反射光量
の検出信号がより大きな勾配で変化をするため、マーク
の形成が進みすぎていると判断できる。逆に、記録パワ
ーが適正から過小となるように変動すると、検出信号の
変化は小さくなり、マークの形成が不十分であると判断
できる。そこで、マルチパルス列による通常の記録での
加熱パワーＰw1と、単一パルスによる検出パルスによる
加熱パワーＰw2の最適値を用いることで、光ディスク全
面に渡って良好な記録を行うことを可能となる。
２に示すように、記録パワーが適正から過大となるよう
に変動すると、検出用加熱パルス部分のように反射光量
の検出信号がより大きな勾配で変化をするため、マーク
の形成が進みすぎていると判断できる。逆に、記録パワ
ーが適正から過小となるように変動すると、検出信号の
変化は小さくなり、マークの形成が不十分であると判断
できる。そこで、マルチパルス列による通常の記録での
加熱パワーＰw1と、単一パルスによる検出パルスによる
加熱パワーＰw2の最適値を用いることで、光ディスク全
面に渡って良好な記録を行うことを可能となる。
【００６２】詳細には、通常の記録を開始する直前、す
なわちＲ−ＯＰＣ動作の前に、記録開始の準備として試
し書き（ＯＰＣ）を行う。図３（ａ）に示すように、光
ディスクには略最内周部にＰＣＡ（Power Calibration
Area）領域が設けられており、多くの回数の試し書きを
実施することができる。図３（ｂ）に示すように、例え
ば、記録データの単位である１ＥＣＣ＝１６セクタに、
１回分の試し書きを割り当てるようにする。したがっ
て、１ステップを最小単位の領域として１セクタ領域に
割り当てると、加熱パワーを段階的に変化させて最大で
１６ステップの試し書きを行うことが可能である。
なわちＲ−ＯＰＣ動作の前に、記録開始の準備として試
し書き（ＯＰＣ）を行う。図３（ａ）に示すように、光
ディスクには略最内周部にＰＣＡ（Power Calibration
Area）領域が設けられており、多くの回数の試し書きを
実施することができる。図３（ｂ）に示すように、例え
ば、記録データの単位である１ＥＣＣ＝１６セクタに、
１回分の試し書きを割り当てるようにする。したがっ
て、１ステップを最小単位の領域として１セクタ領域に
割り当てると、加熱パワーを段階的に変化させて最大で
１６ステップの試し書きを行うことが可能である。
【００６３】そこで、加熱パワーＰw1を例えば８段階に
変化させながら各セクタに小サイズの記録を行う（この
試し書きを行った領域を試し書き領域という）。そし
て、試し書き領域の再生動作によって、図３（ｃ）に示
すように、試し書き領域の再生信号から、最大値Ipk
と、最小値Ibtmと、平均値Idcを検出し、図４（ｅ）に
示すように、最大振幅Ｉmaxの変調度“ｍ1＝（Ipk−Ibt
m）／Ipk”を算出して保持し、かつ、図３（ｄ）のよう
に、最大振幅Ｉmaxと平均値Idcの非対称性（Asymmetr
y）“β＝[（Ipk−Idc）−（Idc−Ibtm）]／（Ipk−Ibt
m）”を算出して保持しておく。さらに、図３（ｄ）に
示すように、これらのプロット点から近似式を算出し、
β＝０となるマルチパルス列の最適な加熱パワーＰw1o
（optimum）を求める。さらに、この時の変調度ｍ1も求
めておく。
変化させながら各セクタに小サイズの記録を行う（この
試し書きを行った領域を試し書き領域という）。そし
て、試し書き領域の再生動作によって、図３（ｃ）に示
すように、試し書き領域の再生信号から、最大値Ipk
と、最小値Ibtmと、平均値Idcを検出し、図４（ｅ）に
示すように、最大振幅Ｉmaxの変調度“ｍ1＝（Ipk−Ibt
m）／Ipk”を算出して保持し、かつ、図３（ｄ）のよう
に、最大振幅Ｉmaxと平均値Idcの非対称性（Asymmetr
y）“β＝[（Ipk−Idc）−（Idc−Ibtm）]／（Ipk−Ibt
m）”を算出して保持しておく。さらに、図３（ｄ）に
示すように、これらのプロット点から近似式を算出し、
β＝０となるマルチパルス列の最適な加熱パワーＰw1o
（optimum）を求める。さらに、この時の変調度ｍ1も求
めておく。
【００６４】また、Ｒ−ＯＰＣ動作で用いる検出用パル
スの加熱パワーＰw2についても、同様に、例えば８ステ
ップで変化させながら小サイズの記録を行い、図４
（ｅ）に示すように、記録後の各加熱パワーＰw2による
試し書きの部分の再生信号から、最大振幅Ｉmaxの変調
度ｍ2を算出して保持しておく。
スの加熱パワーＰw2についても、同様に、例えば８ステ
ップで変化させながら小サイズの記録を行い、図４
（ｅ）に示すように、記録後の各加熱パワーＰw2による
試し書きの部分の再生信号から、最大振幅Ｉmaxの変調
度ｍ2を算出して保持しておく。
【００６５】次に、前記のようにして求めた変調度ｍ
1，ｍ2から、最適な検出用パルスの加熱パワーＰw2o（o
ptimum）を求める手段について説明する。
1，ｍ2から、最適な検出用パルスの加熱パワーＰw2o（o
ptimum）を求める手段について説明する。
【００６６】まず、加熱パワーＰw2oを求める第１の手
段として、ＤＶＤ−Ｒのような規格で定めた光ディスク
については、変調度が０．６〜０．８５の範囲になるよ
うにマルチパルス列の加熱パワーＰw1の最適値Ｐw1oを
設定する。このような光ディスクは信号の諸特性をバラ
ンスよく設計するため、通常の変調度ｍ1は０．６５程
度に分布している。これに対し、前述の検出用パルスの
記録から得られる変調度ｍ2は、マルチパルス列から得
られる変調度ｍ1より０．１程度大きい値か同等値とす
ることで、高感度で誤差の小さい記録状態の検出レベル
を得ることができる。したがって、検出用パルスでの複
数の変調度ｍ2のうち、０．５〜０．８の範囲から所望
の変調度となる加熱パワーＰw2を最適値Ｐw2oとするこ
とで、高感度で検出誤差の少ないＲ−ＯＰＣが実現でき
る。この所望の変調度は光ディスクの種類ごとや、光デ
ィスク装置ごとに、予め定められた最適値を用いること
も可能である。
段として、ＤＶＤ−Ｒのような規格で定めた光ディスク
については、変調度が０．６〜０．８５の範囲になるよ
うにマルチパルス列の加熱パワーＰw1の最適値Ｐw1oを
設定する。このような光ディスクは信号の諸特性をバラ
ンスよく設計するため、通常の変調度ｍ1は０．６５程
度に分布している。これに対し、前述の検出用パルスの
記録から得られる変調度ｍ2は、マルチパルス列から得
られる変調度ｍ1より０．１程度大きい値か同等値とす
ることで、高感度で誤差の小さい記録状態の検出レベル
を得ることができる。したがって、検出用パルスでの複
数の変調度ｍ2のうち、０．５〜０．８の範囲から所望
の変調度となる加熱パワーＰw2を最適値Ｐw2oとするこ
とで、高感度で検出誤差の少ないＲ−ＯＰＣが実現でき
る。この所望の変調度は光ディスクの種類ごとや、光デ
ィスク装置ごとに、予め定められた最適値を用いること
も可能である。
【００６７】第２の手段として、前記の試し書きによっ
て得られる再生信号の、最大値Ipk、最小値Ibtm、平均
値（ＤＣ値）Idcから変調度ｍ1および非対称性（Asymme
try）βを算出して保持しておき、β＝０となるマルチ
パルス列の最適な加熱パワーＰw1oを算出するととも
に、その最適な加熱パワーでの変調度ｍ1も算出してお
く。また、検出用パルスについても同様の試し書きによ
って再生信号の変調度ｍ2を算出して保持しておく。こ
れらについては前記のとおりである。そして、前記のマ
ルチパルス列の最適な加熱パワーＰw1oにおける変調度
ｍ1とほぼ一致する変調度ｍ2における、検出用パルスの
最適な加熱パワーＰw2oを算出する。この手段によれ
ば、あらゆる色素系光ディスクに対して、通常のマルチ
パルス列の記録とＲ−ＯＰＣの検出用パルスの記録に対
して、それぞれ最適な加熱パワーを得ることが可能であ
る。
て得られる再生信号の、最大値Ipk、最小値Ibtm、平均
値（ＤＣ値）Idcから変調度ｍ1および非対称性（Asymme
try）βを算出して保持しておき、β＝０となるマルチ
パルス列の最適な加熱パワーＰw1oを算出するととも
に、その最適な加熱パワーでの変調度ｍ1も算出してお
く。また、検出用パルスについても同様の試し書きによ
って再生信号の変調度ｍ2を算出して保持しておく。こ
れらについては前記のとおりである。そして、前記のマ
ルチパルス列の最適な加熱パワーＰw1oにおける変調度
ｍ1とほぼ一致する変調度ｍ2における、検出用パルスの
最適な加熱パワーＰw2oを算出する。この手段によれ
ば、あらゆる色素系光ディスクに対して、通常のマルチ
パルス列の記録とＲ−ＯＰＣの検出用パルスの記録に対
して、それぞれ最適な加熱パワーを得ることが可能であ
る。
【００６８】第３の手段として、図４（ｆ）に示すよう
に、光ディスクの面ぶれ等の影響による変調度ｍ1，ｍ2
の変動を抑制するため、変調度そのものではなく、試し
書きによって得られた変調度と加熱パワーの特性から導
かれる、変調度の加熱パワーに対する変化“γ＝（dｍ
／dＰw）×（Ｐw／ｍ）”を用いることで、精度が向上
する。すなわち、検出用パルスの試し書きから得られる
変調度の変化γ2が適正範囲であれば検出感度がよく、
目安としてはγ2＜１．０では検出感度が小さくなり、
逆にγ2＞２．０では低い加熱パワーのためマークの形
成が安定せず検出誤差が大きくなる。したがって、変調
度の加熱パワーに対する変化γ2は１．０〜２．０の範
囲から所望の値となる加熱パワーＰw2を最適な加熱パワ
ーＰw2oとすることができる。この所望のγ2の値は光デ
ィスクの種類ごとや、光ディスク装置ごとに、予め定め
られた最適値を用いることも可能である。
に、光ディスクの面ぶれ等の影響による変調度ｍ1，ｍ2
の変動を抑制するため、変調度そのものではなく、試し
書きによって得られた変調度と加熱パワーの特性から導
かれる、変調度の加熱パワーに対する変化“γ＝（dｍ
／dＰw）×（Ｐw／ｍ）”を用いることで、精度が向上
する。すなわち、検出用パルスの試し書きから得られる
変調度の変化γ2が適正範囲であれば検出感度がよく、
目安としてはγ2＜１．０では検出感度が小さくなり、
逆にγ2＞２．０では低い加熱パワーのためマークの形
成が安定せず検出誤差が大きくなる。したがって、変調
度の加熱パワーに対する変化γ2は１．０〜２．０の範
囲から所望の値となる加熱パワーＰw2を最適な加熱パワ
ーＰw2oとすることができる。この所望のγ2の値は光デ
ィスクの種類ごとや、光ディスク装置ごとに、予め定め
られた最適値を用いることも可能である。
【００６９】第４の手段について説明する。最初に通常
のマルチパルス列で記録を行うための、前記の試し書き
によって得られる変調度ｍ1及び非対称性βから、β＝
０となるマルチパルス列の最適加熱パワーＰw1oを算出
し、さらに、それぞれの加熱パワーでの変調度ｍ1か
ら、変調度と加熱パワーの近似式を導き、変調度の加熱
パワーに対する変化γ1の、最適な加熱パワーＰw1oにお
ける変化γ1o（optimum）を算出しておく。また、検出
用パルスについても同様の試し書きによって再生信号の
変調度ｍ2を算出して保持しておき、変調度と加熱パワ
ーの近似式から求まる変調度の加熱パワーに対する変化
γ2が、前記のマルチパルス列での変調度の加熱パワー
に対する変化γ1oとほぼ一致する変調度の変化γ2とし
て検出用パルスの最適な加熱パワーＰw2oを算出する。
この手段によれば、あらゆる色素系光ディスクに対し
て、記録時変動による検出誤差の小さい通常のマルチパ
ルス列の記録とＲ−ＯＰＣの検出用パルスのそれぞれ最
適な加熱パワーを得ることが可能である。
のマルチパルス列で記録を行うための、前記の試し書き
によって得られる変調度ｍ1及び非対称性βから、β＝
０となるマルチパルス列の最適加熱パワーＰw1oを算出
し、さらに、それぞれの加熱パワーでの変調度ｍ1か
ら、変調度と加熱パワーの近似式を導き、変調度の加熱
パワーに対する変化γ1の、最適な加熱パワーＰw1oにお
ける変化γ1o（optimum）を算出しておく。また、検出
用パルスについても同様の試し書きによって再生信号の
変調度ｍ2を算出して保持しておき、変調度と加熱パワ
ーの近似式から求まる変調度の加熱パワーに対する変化
γ2が、前記のマルチパルス列での変調度の加熱パワー
に対する変化γ1oとほぼ一致する変調度の変化γ2とし
て検出用パルスの最適な加熱パワーＰw2oを算出する。
この手段によれば、あらゆる色素系光ディスクに対し
て、記録時変動による検出誤差の小さい通常のマルチパ
ルス列の記録とＲ−ＯＰＣの検出用パルスのそれぞれ最
適な加熱パワーを得ることが可能である。
【００７０】次に、第３と第４の手段における、具体的
な変調度ｍ（ｍ1，ｍ2）の変化γ（γ1，γ2）及び目的
の加熱パワーＰw（Ｐw1，Ｐw2）の算出の手段を説明す
る。まず、試し書きによって得られた変調度と加熱パワ
ーの複数の特性データから、 ｍ＝ａ×Ｐw^２＋ｂ×Ｐw＋ｃ （ａ，ｂ，ｃは定数） なる２次近似式を算出する。近似方法は多項式近似など
の一般的な近似手法を用いており、２次以上の近似式が
測定値と良く一致する。
な変調度ｍ（ｍ1，ｍ2）の変化γ（γ1，γ2）及び目的
の加熱パワーＰw（Ｐw1，Ｐw2）の算出の手段を説明す
る。まず、試し書きによって得られた変調度と加熱パワ
ーの複数の特性データから、 ｍ＝ａ×Ｐw^２＋ｂ×Ｐw＋ｃ （ａ，ｂ，ｃは定数） なる２次近似式を算出する。近似方法は多項式近似など
の一般的な近似手法を用いており、２次以上の近似式が
測定値と良く一致する。
【００７１】そして、前記の“γ＝dｍ／dＰw×ｍ／Ｐ
w”より、“dｍ／dＰw＝２×ａ×Ｐw＋ｂ”であるか
ら、 Ｐw＝{−ｂ×（γ−1）±SQRT[ｂ^２×（γ−１）^２−
４×ａ×（γ−２）×ｃ×γ]}／[２×ａ×（γ−２）] が得られる。
w”より、“dｍ／dＰw＝２×ａ×Ｐw＋ｂ”であるか
ら、 Ｐw＝{−ｂ×（γ−1）±SQRT[ｂ^２×（γ−１）^２−
４×ａ×（γ−２）×ｃ×γ]}／[２×ａ×（γ−２）] が得られる。
【００７２】これらの演算を行い、正の解Ｐw（＋）を
算出することで、目的のＰwを求めることができる。
算出することで、目的のＰwを求めることができる。
【００７３】なお、近似式については、それぞれのγ値
を算出してγとＰwの２次近似式を算出してもよいが、
測定値とずれが生じ易いため、変調度ｍを近似すること
が望ましい。
を算出してγとＰwの２次近似式を算出してもよいが、
測定値とずれが生じ易いため、変調度ｍを近似すること
が望ましい。
【００７４】次に、通常の記録を行うためのマルチパル
ス列及び検出用パルスのそれぞれにおける加熱パワーの
設定の手段について説明する。前記のように、試し書き
によって得られたそれぞれの最適な加熱パワーＰw1oと
Ｐw2oは、試し書きの時点での最適値である。ところ
が、通常の記録でＲ−ＯＰＣ動作を行うと、記録状態の
変化を検出用パルスで検出して検出用パルスの加熱パワ
ーＰw2を補正しながら、情報の記録のためのマルチパル
ス列の加熱パワーＰw1を補正しなければならない。した
がって、試し書き時点での両方の最適値から、加熱パワ
ー比“α＝Ｐw2o／Ｐw1o”を算出して設定しておくこと
で、それぞれの加熱パワーＰw1，Ｐw2を記録中であって
も常に最適な値にすることが可能となる。
ス列及び検出用パルスのそれぞれにおける加熱パワーの
設定の手段について説明する。前記のように、試し書き
によって得られたそれぞれの最適な加熱パワーＰw1oと
Ｐw2oは、試し書きの時点での最適値である。ところ
が、通常の記録でＲ−ＯＰＣ動作を行うと、記録状態の
変化を検出用パルスで検出して検出用パルスの加熱パワ
ーＰw2を補正しながら、情報の記録のためのマルチパル
ス列の加熱パワーＰw1を補正しなければならない。した
がって、試し書き時点での両方の最適値から、加熱パワ
ー比“α＝Ｐw2o／Ｐw1o”を算出して設定しておくこと
で、それぞれの加熱パワーＰw1，Ｐw2を記録中であって
も常に最適な値にすることが可能となる。
【００７５】また、通常の記録中においては、検出用パ
ルスによって記録状態の過不足を検出し、その結果から
検出用パルスの加熱パワーをＰw2'に補正すると共に、
マルチパルス列の加熱パワーをＰw1'に補正している。
この修正手段として前記のように“Ｐw1'＝Ｐw2'／α”
によって検出用パルスの加熱パワーＰw2を補正する度に
加熱パワーＰw1を算出し直すようにする。これらの加熱
パワーＰw1，Ｐw2を常に補正しながら光ディスクに記録
することで、記録中に各種変動があった場合でも常に最
適な記録パワーＰw1，Ｐw2に保つことができ、光ディス
ク全面に渡って均一で低ジッタな記録が可能となる。
ルスによって記録状態の過不足を検出し、その結果から
検出用パルスの加熱パワーをＰw2'に補正すると共に、
マルチパルス列の加熱パワーをＰw1'に補正している。
この修正手段として前記のように“Ｐw1'＝Ｐw2'／α”
によって検出用パルスの加熱パワーＰw2を補正する度に
加熱パワーＰw1を算出し直すようにする。これらの加熱
パワーＰw1，Ｐw2を常に補正しながら光ディスクに記録
することで、記録中に各種変動があった場合でも常に最
適な記録パワーＰw1，Ｐw2に保つことができ、光ディス
ク全面に渡って均一で低ジッタな記録が可能となる。
【００７６】以上のような情報記録方式を実現する光デ
ィスク装置について説明する。
ィスク装置について説明する。
【００７７】図５，図６は、この発明の一実施の形態で
ある光ディスク装置の回路構成を示すブロック図であ
る。この光ディスク装置１は、光ディスク２への記録用
の光源であるＬＤ（図示せず）を備えたピックアップ３
と、記録データを生成するＥＦＭ plusエンコーダ４
と、記録データに基づきＬＤの出射光を変調するための
記録パルス列制御部５と、その記録パルス列制御部５が
出力する記録パルス列制御信号に基づいてＬＤを所望の
発光波形に発光させるＬＤ制御回路６とを備えている。
ある光ディスク装置の回路構成を示すブロック図であ
る。この光ディスク装置１は、光ディスク２への記録用
の光源であるＬＤ（図示せず）を備えたピックアップ３
と、記録データを生成するＥＦＭ plusエンコーダ４
と、記録データに基づきＬＤの出射光を変調するための
記録パルス列制御部５と、その記録パルス列制御部５が
出力する記録パルス列制御信号に基づいてＬＤを所望の
発光波形に発光させるＬＤ制御回路６とを備えている。
【００７８】記録パルス列制御部５はＥＦＭ plusエン
コーダ４が出力する記録データからＬＤを駆動するため
のＬＤ制御信号を生成する。この記録パルス列制御部５
は記録パルス列生成部７を備えており、記録パルス列生
成部７はマルチパルス列を生成する。記録パルス列制御
部５には、Ｒ−ＯＰＣ動作のための単一パルスからなる
検出用パルスを生成する検出用パルス生成部８も設けら
れ、記録パルス列に含める検出用パルスを生成する。こ
のようにして検出用パルスを含んだマルチパルス列とし
てＬＤ制御信号が生成され、そのＬＤ制御信号はＬＤ制
御回路６に入力される。
コーダ４が出力する記録データからＬＤを駆動するため
のＬＤ制御信号を生成する。この記録パルス列制御部５
は記録パルス列生成部７を備えており、記録パルス列生
成部７はマルチパルス列を生成する。記録パルス列制御
部５には、Ｒ−ＯＰＣ動作のための単一パルスからなる
検出用パルスを生成する検出用パルス生成部８も設けら
れ、記録パルス列に含める検出用パルスを生成する。こ
のようにして検出用パルスを含んだマルチパルス列とし
てＬＤ制御信号が生成され、そのＬＤ制御信号はＬＤ制
御回路６に入力される。
【００７９】次に、ＬＤ制御回路６は、ＬＤを駆動する
電流源となるＬＤ駆動電流源９，１０，１１を備えてい
る。ＬＤ駆動電流源９はマルチパルス列のパルスがＯＮ
のときの加熱パワーを出力し、ＬＤ駆動電流源１０はＲ
−ＯＰＣ動作のための検出用パルスの加熱パワーを出力
し、ＬＤ駆動電流源１１はパルスがＯＦＦのときのボト
ムパワーを設定するボトムパワーを出力する。ＬＤ制御
回路６はＬＤ制御信号に基づいてＬＤ駆動電流源９又は
１０とＬＤ駆動電流源１１との出力をスイッチングする
か又は加算してＬＤに出力し、検出用パルスを含むマル
チパルス列のＬＤ発光波形（図１（ｆ））にしている。
記録パルス列生成部７及びＬＤ駆動電流源９によりマル
チパルス列生成手段を、検出用パルス生成部８及びＬＤ
駆動電流源１０により検出用パルス生成手段を実現して
いる。
電流源となるＬＤ駆動電流源９，１０，１１を備えてい
る。ＬＤ駆動電流源９はマルチパルス列のパルスがＯＮ
のときの加熱パワーを出力し、ＬＤ駆動電流源１０はＲ
−ＯＰＣ動作のための検出用パルスの加熱パワーを出力
し、ＬＤ駆動電流源１１はパルスがＯＦＦのときのボト
ムパワーを設定するボトムパワーを出力する。ＬＤ制御
回路６はＬＤ制御信号に基づいてＬＤ駆動電流源９又は
１０とＬＤ駆動電流源１１との出力をスイッチングする
か又は加算してＬＤに出力し、検出用パルスを含むマル
チパルス列のＬＤ発光波形（図１（ｆ））にしている。
記録パルス列生成部７及びＬＤ駆動電流源９によりマル
チパルス列生成手段を、検出用パルス生成部８及びＬＤ
駆動電流源１０により検出用パルス生成手段を実現して
いる。
【００８０】試し書きの動作は次のように行う。すなわ
ち、光ディスク２のプリフォーマット情報として予め設
定され、あるいは、マイコンなどで構成され光ディスク
装置１の全体を制御するシステムコントローラ１２のＲ
ＯＭなどに予め記憶された試し書きのための加熱パワー
値等の必要なデータを読み出し、記録パルス列生成部
７、検出用パルス生成部８でＬＤ制御信号を生成する。
このＬＤ制御信号によりＬＤから出射されたビームは光
ディスク２に照射されて前記のように試し書きが行われ
る。この試し書きの際の光ディスク２での反射光はピッ
クアップ３の受光素子（図示せず）で受光されて反射信
号ＲＦに変換され、サンプリング回路１３に出力され
る。サンプリング回路１３により第１、第２の制御手段
を実現している。
ち、光ディスク２のプリフォーマット情報として予め設
定され、あるいは、マイコンなどで構成され光ディスク
装置１の全体を制御するシステムコントローラ１２のＲ
ＯＭなどに予め記憶された試し書きのための加熱パワー
値等の必要なデータを読み出し、記録パルス列生成部
７、検出用パルス生成部８でＬＤ制御信号を生成する。
このＬＤ制御信号によりＬＤから出射されたビームは光
ディスク２に照射されて前記のように試し書きが行われ
る。この試し書きの際の光ディスク２での反射光はピッ
クアップ３の受光素子（図示せず）で受光されて反射信
号ＲＦに変換され、サンプリング回路１３に出力され
る。サンプリング回路１３により第１、第２の制御手段
を実現している。
【００８１】マルチパルス列又は検出用パルスによって
記録された試し書き領域での反射信号ＲＦは再生信号と
して、サンプリング回路１３のピークホールド回路１４
によって最大レベルIpkがホールドされ、ボトムホール
ド回路１５によって最小レベルIbtmがホールドされ、ロ
ーパスフィルタ１６によって高域をカットした平均レベ
ルIdcが検出される。これらの信号は、第１のサンプル
ホールド回路１７においてサンプリング信号の検出位置
にてそれぞれの信号をサンプルホールドし、得られたサ
ンプルレベルを図示しないＡ／ＤコンバータでＡ／Ｄ変
換する。
記録された試し書き領域での反射信号ＲＦは再生信号と
して、サンプリング回路１３のピークホールド回路１４
によって最大レベルIpkがホールドされ、ボトムホール
ド回路１５によって最小レベルIbtmがホールドされ、ロ
ーパスフィルタ１６によって高域をカットした平均レベ
ルIdcが検出される。これらの信号は、第１のサンプル
ホールド回路１７においてサンプリング信号の検出位置
にてそれぞれの信号をサンプルホールドし、得られたサ
ンプルレベルを図示しないＡ／ＤコンバータでＡ／Ｄ変
換する。
【００８２】加熱パワー演算・補正回路１９の第１のパ
ワー演算回路２０、第２のパワー演算回路２１は、前記
したような算出手段を用いて、それぞれマルチパルス
列、検出用パルスの最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oを算
出する。
ワー演算回路２０、第２のパワー演算回路２１は、前記
したような算出手段を用いて、それぞれマルチパルス
列、検出用パルスの最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oを算
出する。
【００８３】この検出信号レベルはその時点でのＬＤの
出射光量によって異なるため、このときの信号ＲＦsmp
は、記録状態情報演算回路２３の除算回路２５で、ＬＤ
の出射光量レベルＰw2で除算して正規化することによ
り、マークの形成状態が反映された記録状態情報値ＲＦ
opcが算出される。この試し書きの際に得られた記録状
態情報値ＲＦopcは目標値ＲＦopcoとして、例えばシス
テムコントローラ１２のＲＡＭなどに記憶される。
出射光量によって異なるため、このときの信号ＲＦsmp
は、記録状態情報演算回路２３の除算回路２５で、ＬＤ
の出射光量レベルＰw2で除算して正規化することによ
り、マークの形成状態が反映された記録状態情報値ＲＦ
opcが算出される。この試し書きの際に得られた記録状
態情報値ＲＦopcは目標値ＲＦopcoとして、例えばシス
テムコントローラ１２のＲＡＭなどに記憶される。
【００８４】記録状態情報演算回路２３の比較器２４
は、この目標値ＲＦopcoと所望の間隔で得られる記録状
態情報値ＲＦopcとの大小を比較する。第２のパワー演
算回路２１は、この比較の結果に応じて検出用パルスの
最適な加熱パワーＰw2oを算出する。記録状態情報演算
回路２３により第１の制御手段を実現している。
は、この目標値ＲＦopcoと所望の間隔で得られる記録状
態情報値ＲＦopcとの大小を比較する。第２のパワー演
算回路２１は、この比較の結果に応じて検出用パルスの
最適な加熱パワーＰw2oを算出する。記録状態情報演算
回路２３により第１の制御手段を実現している。
【００８５】加熱パワー演算・補正回路１９の加熱パワ
ー補正回路２２は、第１のパワー演算回路２０、第２の
パワー演算回路２１で求めた最適な加熱パワーＰw1o，
Ｐw2oをＬＤ駆動電流源９，１０に出力して、ＬＤ駆動
電流源９，１０が最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oとなる
ように制御する。加熱パワー演算・補正回路１９により
第１、第２の制御手段を実現している。
ー補正回路２２は、第１のパワー演算回路２０、第２の
パワー演算回路２１で求めた最適な加熱パワーＰw1o，
Ｐw2oをＬＤ駆動電流源９，１０に出力して、ＬＤ駆動
電流源９，１０が最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oとなる
ように制御する。加熱パワー演算・補正回路１９により
第１、第２の制御手段を実現している。
【００８６】ドライブコントローラ２６は、回転／サー
ボ機構２７を駆動して、スピンドルモータ２８及びピッ
クアップ３を制御する。
ボ機構２７を駆動して、スピンドルモータ２８及びピッ
クアップ３を制御する。
【００８７】なお、サンプリング回路１３、記録状態情
報演算回路２３及び加熱パワー演算・補正回路１９の全
部又は一部の機能をシステムコントローラ１２などのマ
イコンが行う処理で実施してもよい。
報演算回路２３及び加熱パワー演算・補正回路１９の全
部又は一部の機能をシステムコントローラ１２などのマ
イコンが行う処理で実施してもよい。
【００８８】次に、図７のフローチャートを参照して、
試し書き及びその後の通常の記録動作について整理して
説明する。図７に示すように、まず、光ディスク２の試
し書き領域に前記のとおり試し書きを行う（ステップＳ
１）。この試し書きは、いずれもパワーを８段階に変え
て、加熱パワーＰw1に対応して８セクタ分、加熱パワー
Ｐw2に対応して８セクタ分、それぞれ行う。ステップＳ
１により試書手段、試書工程を実現している。
試し書き及びその後の通常の記録動作について整理して
説明する。図７に示すように、まず、光ディスク２の試
し書き領域に前記のとおり試し書きを行う（ステップＳ
１）。この試し書きは、いずれもパワーを８段階に変え
て、加熱パワーＰw1に対応して８セクタ分、加熱パワー
Ｐw2に対応して８セクタ分、それぞれ行う。ステップＳ
１により試書手段、試書工程を実現している。
【００８９】そして、その記録の際の反射信号ＲＦをサ
ンプリング回路１３で前記のようにサンプルホールドす
る（ステップＳ２）。次に、このサンプルホールドした
各値を用いて、第１、第２のパワー演算回路２０，２１
で最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oを算出する（ステップ
Ｓ３）。そして、前記のように、この記録の際の記録状
態情報値ＲＦopcを目標値ＲＦopcoとして設定し（ステ
ップＳ４）、一連の試し書きを終了する。ステップＳ２
〜Ｓ４により第１、第２の変調度算出手段、第１、第２
の変調度算出工程並びに第１、第２の加熱パワー決定手
段、第１、第２の加熱パワー決定工程を実現している。
ンプリング回路１３で前記のようにサンプルホールドす
る（ステップＳ２）。次に、このサンプルホールドした
各値を用いて、第１、第２のパワー演算回路２０，２１
で最適な加熱パワーＰw1o，Ｐw2oを算出する（ステップ
Ｓ３）。そして、前記のように、この記録の際の記録状
態情報値ＲＦopcを目標値ＲＦopcoとして設定し（ステ
ップＳ４）、一連の試し書きを終了する。ステップＳ２
〜Ｓ４により第１、第２の変調度算出手段、第１、第２
の変調度算出工程並びに第１、第２の加熱パワー決定手
段、第１、第２の加熱パワー決定工程を実現している。
【００９０】試し書き終了後に、光ディスク２に対する
通常の記録を開始した直後からＲ−ＯＰＣ動作をスター
トさせ、所望の間隔で前記と同様に記録状態情報値ＲＦ
opcを算出する（ステップＳ５）。そして、比較器２４
で、目標値ＲＦopcoと現在の録状態情報値ＲＦopcとを
比較する（ステップＳ６）。
通常の記録を開始した直後からＲ−ＯＰＣ動作をスター
トさせ、所望の間隔で前記と同様に記録状態情報値ＲＦ
opcを算出する（ステップＳ５）。そして、比較器２４
で、目標値ＲＦopcoと現在の録状態情報値ＲＦopcとを
比較する（ステップＳ６）。
【００９１】ステップＳ６の判断で、現在の記録状態情
報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoより大きい場合は（ＲＦo
pc＞ＲＦopco）、記録マークが理想的な大きさより小さ
くなっているため、検出用パルスの加熱パワーを拡大す
るように補正する（ステップＳ７）。逆に、現在の記録
状態情報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoより小さい場合は
（ＲＦopc＜ＲＦopco）、記録マークが理想的な大きさ
より大きくなっているため、検出用パルスの加熱パワー
を小さくなるように補正する（ステップＳ８）。現在の
記録状態情報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoと等しい場合
は（ＲＦopc＝ＲＦopco）、検出用パルスの加熱パワー
を現在のものに維持する（ステップＳ９）。
報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoより大きい場合は（ＲＦo
pc＞ＲＦopco）、記録マークが理想的な大きさより小さ
くなっているため、検出用パルスの加熱パワーを拡大す
るように補正する（ステップＳ７）。逆に、現在の記録
状態情報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoより小さい場合は
（ＲＦopc＜ＲＦopco）、記録マークが理想的な大きさ
より大きくなっているため、検出用パルスの加熱パワー
を小さくなるように補正する（ステップＳ８）。現在の
記録状態情報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoと等しい場合
は（ＲＦopc＝ＲＦopco）、検出用パルスの加熱パワー
を現在のものに維持する（ステップＳ９）。
【００９２】これだけでは、検出用パルスだけがマーク
形成の状態に応じて適正に制御されてしまうので、第１
のパワー演算回路２０では、補正された検出用パルスの
加熱パワーＰw2'を予め設定された加熱パワー比αで除
する演算を行うことで、通常のマルチパルス列の加熱パ
ワーを補正する。すなわち、通常の記録中においては、
検出用パルスによって記録状態の過不足を検出し、その
結果から検出用パルスの加熱パワーをＰw2'に補正する
と共に、マルチパルス列の加熱パワーをＰw1'に補正し
ている（ステップＳ１０）。この修正手段として前記の
ように“Ｐw1'＝Ｐw2'／α”によって検出用パルスの加
熱パワーを補正する度に、マルチパルス列の加熱パワー
を算出し直すようにしている。ステップＳ４〜Ｓ１０に
より第１、第２の制御手段並びに第１、第２の制御工程
を実現している。
形成の状態に応じて適正に制御されてしまうので、第１
のパワー演算回路２０では、補正された検出用パルスの
加熱パワーＰw2'を予め設定された加熱パワー比αで除
する演算を行うことで、通常のマルチパルス列の加熱パ
ワーを補正する。すなわち、通常の記録中においては、
検出用パルスによって記録状態の過不足を検出し、その
結果から検出用パルスの加熱パワーをＰw2'に補正する
と共に、マルチパルス列の加熱パワーをＰw1'に補正し
ている（ステップＳ１０）。この修正手段として前記の
ように“Ｐw1'＝Ｐw2'／α”によって検出用パルスの加
熱パワーを補正する度に、マルチパルス列の加熱パワー
を算出し直すようにしている。ステップＳ４〜Ｓ１０に
より第１、第２の制御手段並びに第１、第２の制御工程
を実現している。
【００９３】以上のステップＳ６以下の処理は、記録デ
ータの終了アドレスに達するまで行う（ステップＳ１
１）。
ータの終了アドレスに達するまで行う（ステップＳ１
１）。
【００９４】このように、Ｒ−ＯＰＣ動作によって、マ
ルチパルス列と検出パルスのそれぞれの加熱パワーを常
に補正しながら光ディスク２に記録することで、記録中
に各種変動があった場合でも常に最適な記録パワーに保
つことができ、光ディスク２の全面に渡って均一で低ジ
ッタな記録が可能となる。
ルチパルス列と検出パルスのそれぞれの加熱パワーを常
に補正しながら光ディスク２に記録することで、記録中
に各種変動があった場合でも常に最適な記録パワーに保
つことができ、光ディスク２の全面に渡って均一で低ジ
ッタな記録が可能となる。
【００９５】
【発明の効果】請求項１に記載の発明は、試し書きを行
うことにより、検出用パルスを最適な加熱パワーで出力
することができる。
うことにより、検出用パルスを最適な加熱パワーで出力
することができる。
【００９６】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、変調度が０．５〜０．８の
範囲内となるものを検出用パルスの最適な加熱パワーと
することで、検出用パルスの最適な加熱パワーを簡易に
算出することができる。
の光ディスク装置において、変調度が０．５〜０．８の
範囲内となるものを検出用パルスの最適な加熱パワーと
することで、検出用パルスの最適な加熱パワーを簡易に
算出することができる。
【００９７】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、光ディスクの面ぶれ等の影
響による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最適な
加熱パワーを正確に求めることができる。
の光ディスク装置において、光ディスクの面ぶれ等の影
響による変調度の変動を抑制し、検出用パルスの最適な
加熱パワーを正確に求めることができる。
【００９８】請求項４に記載の発明は、請求項３に記載
の光ディスク装置において、変調度の加熱パワーに対す
る変化が１．０〜２．０の範囲内となるものを検出用パ
ルスの最適な加熱パワーとすることで、検出用パルスの
最適な加熱パワーを簡易に算出することができる。
の光ディスク装置において、変調度の加熱パワーに対す
る変化が１．０〜２．０の範囲内となるものを検出用パ
ルスの最適な加熱パワーとすることで、検出用パルスの
最適な加熱パワーを簡易に算出することができる。
【００９９】請求項５に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、試し書きを行うことによ
り、マルチパルス列についても最適な加熱パワーで出力
することができる。
の光ディスク装置において、試し書きを行うことによ
り、マルチパルス列についても最適な加熱パワーで出力
することができる。
【０１００】請求項６に記載の発明は、請求項５に記載
の光ディスク装置において、マルチパルス列の最適な記
録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値
を求めることができる。
の光ディスク装置において、マルチパルス列の最適な記
録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値
を求めることができる。
【０１０１】請求項７に記載の発明は、請求項５に記載
の光ディスク装置において、マルチパルス列の最適な記
録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値
を高精度に求めることができる。
の光ディスク装置において、マルチパルス列の最適な記
録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワーの最適値
を高精度に求めることができる。
【０１０２】請求項８に記載の発明は、請求項５〜７の
いずれかの一に記載の光ディスク装置において、マルチ
パルス列、検出用パルスの各加熱パワーを光ディスクへ
の記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
いずれかの一に記載の光ディスク装置において、マルチ
パルス列、検出用パルスの各加熱パワーを光ディスクへ
の記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
【０１０３】請求項９に記載の発明は、請求項８に記載
の光ディスク装置において、マルチパルス列、検出用パ
ルスの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディスクへ
の記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
の光ディスク装置において、マルチパルス列、検出用パ
ルスの各加熱パワーを一定比に維持して、光ディスクへ
の記録中であっても常に最適な値にすることが可能とな
る。
【０１０４】請求項１０に記載の発明は、試し書きを行
うことにより、検出用パルスを最適な加熱パワーで出力
することができる。
うことにより、検出用パルスを最適な加熱パワーで出力
することができる。
【０１０５】請求項１１に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ディスクの記録方法において、変調度が０．５
〜０．８の範囲内となるものを検出用パルスの最適な加
熱パワーとすることで、検出用パルスの最適な加熱パワ
ーを簡易に算出することができる。
記載の光ディスクの記録方法において、変調度が０．５
〜０．８の範囲内となるものを検出用パルスの最適な加
熱パワーとすることで、検出用パルスの最適な加熱パワ
ーを簡易に算出することができる。
【０１０６】請求項１２に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ディスクの記録方法において、光ディスクの面
ぶれ等の影響による変調度の変動を抑制し、検出用パル
スの最適な加熱パワーを正確に求めることができる。
記載の光ディスクの記録方法において、光ディスクの面
ぶれ等の影響による変調度の変動を抑制し、検出用パル
スの最適な加熱パワーを正確に求めることができる。
【０１０７】請求項１３に記載の発明は、請求項１２に
記載の光ディスクの記録方法において、変調度の加熱パ
ワーに対する変化が１．０〜２．０の範囲内となるもの
を検出用パルスの最適な加熱パワーとすることで、検出
用パルスの最適な加熱パワーを簡易に算出することがで
きる。
記載の光ディスクの記録方法において、変調度の加熱パ
ワーに対する変化が１．０〜２．０の範囲内となるもの
を検出用パルスの最適な加熱パワーとすることで、検出
用パルスの最適な加熱パワーを簡易に算出することがで
きる。
【０１０８】請求項１４に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ディスクの記録方法において、試し書きを行う
ことにより、マルチパルス列についても最適な加熱パワ
ーで出力することができる。
記載の光ディスクの記録方法において、試し書きを行う
ことにより、マルチパルス列についても最適な加熱パワ
ーで出力することができる。
【０１０９】請求項１５に記載の発明は、請求項１４に
記載の光ディスクの記録方法において、マルチパルス列
の最適な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワ
ーの最適値を求めることができる。
記載の光ディスクの記録方法において、マルチパルス列
の最適な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワ
ーの最適値を求めることができる。
【０１１０】請求項１６に記載の発明は、請求項１４に
記載の光ディスクの記録方法において、マルチパルス列
の最適な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワ
ーの最適値を高精度に求めることができる。
記載の光ディスクの記録方法において、マルチパルス列
の最適な記録パワーに対応する検出用パルスの加熱パワ
ーの最適値を高精度に求めることができる。
【０１１１】請求項１７に記載の発明は、請求項１４〜
１６のいずれかの一に記載の光ディスクの記録方法にお
いて、マルチパルス列、検出用パルスの各加熱パワーを
光ディスクへの記録中であっても常に最適な値にするこ
とが可能となる。
１６のいずれかの一に記載の光ディスクの記録方法にお
いて、マルチパルス列、検出用パルスの各加熱パワーを
光ディスクへの記録中であっても常に最適な値にするこ
とが可能となる。
【０１１２】請求項１８に記載の発明は、請求項１７に
記載の光ディスクの記録方法において、マルチパルス
列、検出用パルスの各加熱パワーを一定比に維持して、
光ディスクへの記録中であっても常に最適な値にするこ
とが可能となる。
記載の光ディスクの記録方法において、マルチパルス
列、検出用パルスの各加熱パワーを一定比に維持して、
光ディスクへの記録中であっても常に最適な値にするこ
とが可能となる。
【図１】この発明の一実施の形態である光ディスク装置
に関する各信号などのタイミングチャートである。
に関する各信号などのタイミングチャートである。
【図２】記録状態情報値と加熱パワーとの関係などを説
明するグラフである。
明するグラフである。
【図３】光ディスクのＰＣＡ領域について説明する説明
図である。
図である。
【図４】同説明図である。
【図５】前記光ディスク装置の回路構成を説明するブロ
ック図である。
ック図である。
【図６】同ブロック図である。
【図７】前記光ディスク装置の動作を説明するフローチ
ャートである。
ャートである。
【図８】従来の単一パルス列による記録マークの形成を
説明するタイミングチャートである。
説明するタイミングチャートである。
【図９】従来のマルチパルス列と検出用パルスとを併用
した記録マークの形成を説明するタイミングチャートで
ある。
した記録マークの形成を説明するタイミングチャートで
ある。
１ 光ディスク装置 ２ 光ディスク ７ マルチパルス列生成手段 ８ 検出用パルス生成手段 ９ マルチパルス列生成手段 １０ 検出用パルス生成手段 １３ 第１、第２の制御手段 １９ 第１、第２の制御手段 ２３ 第１の制御手段
Claims (18)
- 【請求項１】 記録可能な光ディスクに光を照射する光
源と、 前記照射光をマルチパルス列にして前記光ディスクにマ
ークを形成するマルチパルス列生成手段と、 前記マルチパルス列の一部を検出用パルスに置換して当
該検出用パルスで前記マークを形成する検出用パルス生
成手段とを備えている光ディスク装置において、 前記光ディスクの試し書き領域に予め加熱パワーを段階
的に複数回変えて試し書きをする試書手段と、 この試し書きの際の反射光を受光する受光素子と、 この受光素子の出力信号に基づいて前記検出用パルスに
関する変調度を求める第１の変調度算出手段と、 この求めた変調度に基づいて前記検出用パルスの加熱パ
ワーの最適値を求める第１の加熱パワー決定手段と、 前記検出用パルスの加熱パワーを前記第１の加熱パワー
決定手段で求めた加熱パワーに基づいて制御する第１の
制御手段と、を備えていることを特徴とする光ディスク
装置。 - 【請求項２】 前記第１の加熱パワー決定手段は、前記
試し書きを行ったときの複数段階の加熱パワーの中から
前記第１の変調度算出手段で求めた変調度が０．５〜
０．８となるものを前記最適値とするものであることを
特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記第１の加熱パワー決定手段は、前記
第１の変調度算出手段で求めた変調度の加熱パワーに対
する変化を求め、この変化から前記検出用パルスの加熱
パワーの最適値を求めるものであることを特徴とする請
求項１に記載の光ディスク装置。 - 【請求項４】 前記第１の加熱パワー決定手段は、前記
変化が１．０〜２．０となるものを前記最適値とするも
のであることを特徴とする請求項３に記載の光ディスク
装置。 - 【請求項５】 前記受光素子の出力信号に基づいて前記
マルチパルス列に関する変調度を求める第２の変調度算
出手段と、 この求めた変調度に基づいて前記マルチパルス列の加熱
パワーの最適値を求める第２の加熱パワー決定手段と、 前記マルチパルス列の加熱パワーを前記第２の加熱パワ
ー算出手段で求めた加熱パワーに基づいて制御する第２
の制御手段と、を備えていることを特徴とする請求項１
に記載の光ディスク装置。 - 【請求項６】 前記第１の加熱パワー決定手段は、前記
第１の変調度算出手段で求めた前記検出用パルスに関す
る変調度が前記第２の変調度算出手段で求めた前記マル
チパルス列に関する変調度と略等しい値となるときの前
記検出用パルスの加熱パワーをその最適値とするもので
あることを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装
置。 - 【請求項７】 前記第２の加熱パワー決定手段は、前記
第２の変調度算出手段で求めた変調度の加熱パワーに対
する変化を求め、この変化から前記マルチパルス列の加
熱パワーの最適値を求めるものであり、 前記第１の加熱パワー決定手段は、前記第１の変調度算
出手段で求めた変調度の加熱パワーに対する変化を求
め、この変化が前記第２の加熱パワー決定手段で求めた
前記マルチパルス列の加熱パワーに対する変化と略等し
い値となるときの前記検出用パルスの加熱パワーをその
最適値とするものであることを特徴とする請求項５に記
載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 前記第２の制御手段は、前記第１の制御
手段で制御される前記検出用パルスの加熱パワーとの比
が予め設定されている一定値となるように前記マルチパ
ルス列の加熱パワーを制御するものであることを特徴と
する請求項５〜７のいずれかの一に記載の光ディスク装
置。 - 【請求項９】 前記第２の制御手段は、前記第１の加熱
パワー決定手段で求めた前記検出用パルスの加熱パワー
の最適値と前記第２の加熱パワー決定手段で求めた前記
マルチパルス列の加熱パワーの最適値との比を前記一定
値としているものであることを特徴とする請求項８に記
載の光ディスク装置。 - 【請求項１０】 記録可能な光ディスクに照射する照射
光をマルチパルス列にして前記光ディスクにマークを形
成し、この際に前記マルチパルス列の一部については検
出用パルスに置換して当該検出用パルスで前記マークを
形成する光ディスクの記録方法において、 前記光ディスクの試し書き領域に予め加熱パワーを段階
的に複数回変えて試し書きをする試書工程と、 この試し書きの際の反射光を受光素子で受光する受光工
程と、 この受光素子の出力信号に基づいて前記検出用パルスに
関する変調度を求める第１の変調度算出工程と、 この求めた変調度に基づいて前記検出用パルスの加熱パ
ワーの最適値を求める第１の加熱パワー決定工程と、 前記検出用パルスの加熱パワーを前記第１の加熱パワー
算出手段で求めた加熱パワーに基づいて制御する第１の
制御工程と、を含んでなることを特徴とする光ディスク
の記録方法。 - 【請求項１１】 前記第１の加熱パワー決定工程は、前
記試し書きを行ったときの複数段階の加熱パワーの中か
ら前記第１の変調度算出手段で求めた変調度が０．５〜
０．８となるものを前記最適値とするものであることを
特徴とする請求項１０に記載の光ディスクの記録方法。 - 【請求項１２】 前記第１の加熱パワー決定工程は、前
記第１の変調度算出手段で求めた変調度の加熱パワーに
対する変化を求め、この変化から前記検出用パルスの加
熱パワーの最適値を求めるものであることを特徴とする
請求項１０に記載の光ディスクの記録方法。 - 【請求項１３】 前記第１の加熱パワー決定工程は、前
記変化が１．０〜２．０となるものを前記最適値とする
ものであることを特徴とする請求項１２に記載の光ディ
スクの記録方法。 - 【請求項１４】 前記受光素子の出力信号に基づいて前
記マルチパルス列に関する変調度を求める第２の変調度
算出工程と、 この求めた変調度に基づいて前記マルチパルス列の加熱
パワーの最適値を求める第２の加熱パワー決定工程と、 前記マルチパルス列の加熱パワーを前記第２の加熱パワ
ー算出工程で求めた加熱パワーに基づいて制御する第２
の制御工程と、を含んでなることを特徴とする請求項１
０に記載の光ディスクの記録方法。 - 【請求項１５】 前記第１の加熱パワー決定工程は、前
記第１の変調度算出工程で求めた前記検出用パルスに関
する変調度が前記第２の変調度算出工程で求めた前記マ
ルチパルス列に関する変調度と略等しい値となるときの
前記検出用パルスの加熱パワーをその最適値とするもの
であることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスク
の記録方法。 - 【請求項１６】 前記第２の加熱パワー決定工程は、前
記第２の変調度算出工程で求めた変調度の加熱パワーに
対する変化を求め、この変化から前記マルチパルス列の
加熱パワーの最適値を求めるものであり、 前記第１の加熱パワー決定工程は、前記第１の変調度算
出工程で求めた変調度の加熱パワーに対する変化を求
め、この変化が前記第２の加熱パワー決定手段で求めた
前記マルチパルス列の加熱パワーに対する変化と略等し
い値となるときの前記検出用パルスの加熱パワーをその
最適値とするものであることを特徴とする請求項１４に
記載の光ディスクの記録方法。 - 【請求項１７】 前記第２の制御工程は、前記第１の制
御工程で制御される前記検出用パルスの加熱パワーとの
比が予め設定されている一定値となるように前記マルチ
パルス列の加熱パワーを制御するものであることを特徴
とする請求項１４〜１６のいずれかの一に記載の光ディ
スクの記録方法。 - 【請求項１８】 前記第２の制御工程は、前記第１の加
熱パワー決定工程で求めた前記検出用パルスの加熱パワ
ーの最適値と前記第２の加熱パワー決定工程で求めた前
記マルチパルス列の加熱パワーの最適値との比を前記一
定値としているものであることを特徴とする請求項１７
に記載の光ディスクの記録方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000362367A JP2002170236A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | 光ディスク装置及び光ディスクの記録方法 |
| US09/987,125 US6664526B2 (en) | 2000-11-15 | 2001-11-13 | Optical information recording employing improved recording power control scheme |
| DE60137877T DE60137877D1 (de) | 2000-11-15 | 2001-11-14 | Optisches Informationsaufzeichnungsverfahren mit einem verbesserten Schema zur Aufzeichnungsleistungssteuerung |
| EP07017459A EP1860654B1 (en) | 2000-11-15 | 2001-11-14 | Optical information recording employing improved recording power control scheme |
| EP01309608A EP1207525B1 (en) | 2000-11-15 | 2001-11-14 | Optical information recording employing improved recording power control scheme |
| US10/465,639 US6781105B2 (en) | 2000-11-15 | 2003-06-20 | Optical information recording employing improved recording power control scheme |
| US10/641,285 US7019273B2 (en) | 2000-11-15 | 2003-08-15 | Optical information recording employing improved recording power control scheme |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000362367A JP2002170236A (ja) | 2000-11-29 | 2000-11-29 | 光ディスク装置及び光ディスクの記録方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002170236A true JP2002170236A (ja) | 2002-06-14 |
Family
ID=18833659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000362367A Pending JP2002170236A (ja) | 2000-11-15 | 2000-11-29 | 光ディスク装置及び光ディスクの記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002170236A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1437718A2 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-14 | Pioneer Corporation | Optical recording apparatus, method of controlling emission of light beam, and recording medium containing control program |
-
2000
- 2000-11-29 JP JP2000362367A patent/JP2002170236A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1437718A2 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-14 | Pioneer Corporation | Optical recording apparatus, method of controlling emission of light beam, and recording medium containing control program |
| EP1437718A3 (en) * | 2003-01-10 | 2006-03-15 | Pioneer Corporation | Optical recording apparatus, method of controlling emission of light beam, and recording medium containing control program |
| US7512049B2 (en) | 2003-01-10 | 2009-03-31 | Pioneer Corporation | Optical pickup apparatus including emission device, light beam emission control method, and computer-readable recorded medium in which light beam emission control program is recorded |
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