JP2003303416A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】記録可能な光ディスク装置において、記録パワ
ーを最適化する。 【解決手段】光ピックアップ部１２で光ディスク１００
のエンボス部を再生する。その再生ＲＦ信号から変調度
算出部１４ｃでエンボス部の変調度ｍｅを算出する。ま
た、テストエリア内において記録パワーを種々変化させ
てテストデータを記録し、順次再生したときの再生ＲＦ
信号から変調度ｍを検出する。制御部１４は、エンボス
部の変調度であるｍｅに基づいて目標変調度を設定し、
この目標変調度が得られる記録パワーを最適記録パワー
として選択する。そして、この最適記録パワーで光ディ
スク１００にデータを記録する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明が属する技術分野】本発明は光ディスク装置、特
に記録可能な光ディスクにデータを記録する装置の記録
パワーの最適化に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、記録可能な光ディスク装置が
知られており、メディア規格名のＤＶＤ−ＲＷ等として
製品化されている。

【０００３】ＤＶＤ−ＲＷ等の記録可能な光ディスク装
置においては、実際のデータ記録に先立ってＯＰＣ（Op
timum Power Control）と称される記録パワーの最適化
処理を行う。ＯＰＣは、記録パワーを複数セクタにおい
て複数段、例えば１６セクタにおいて１６段階にセクタ
毎に変化させて光ディスクの所定の位置に設けられたテ
ストエリアにテストデータを記録し、各セクタ毎の各テ
ストデータを再生してその信号品質を評価する。再生信
号の品質としては、通常変調度が用いられる。変調度を
ｍとすると、変調度ｍとは、ＤＣ成分を含む再生ＲＦ信
号のエンベロープのピーク電圧（Ａ）とボトム電圧
（Ｂ）から、ｍ＝（Ａ−Ｂ）／Ａにより算出されるパラ
メータであり、この値が所定範囲（例えば０．６〜０．
７）の場合に最適とされる。そして、所望の変調度ｍ
（基準変調度）が得られる記録パワーを最適記録パワー
として選択し、以後はこの最適記録パワーＰｗｏでデー
タを記録する。

【０００４】なお、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデー
タを記録する光ディスク装置は、消去パワーも使用す
る。最適消去パワーＰｅｏについては、予め光ディスク
装置内蔵のマイクロコンピューター等に記憶されてい
る、あるいは光ディスクにＡＴＩＰ情報として記録され
ている係数εｏ（消去／記録パワー比）を用いて、Ｐｅ
ｏ＝εｏ・Ｐｗｏにより算出し設定する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、記録に
用いられる光ディスクは種々存在し、光ディスク毎で記
録特性、品質にばらつきがあるため、基準となる変調度
ｍも種々存在し得る。予め用意されたデフォルトの変調
度ｍ（例えばｍ＝０．６）を用いて最適記録パワーを選
択することも可能であるが、光ディスク毎で基準となる
変調度ｍが異なれば、必ずしも最適な記録品質が得られ
るとは限らない。このため、場合によっては本来の最適
変調度よりも高めの変調度ｍを基準として記録パワーを
設定してしまうこともある。その結果、本来の最適記録
パワーよりも過大な記録パワーで記録してしまうため、
再生ＲＦ信号が熱波形歪みを生じて再生不能となった
り、光ディスクの記録膜が劣化して、光ディスクの書き
換え耐久性が悪化するおそれもある。

【０００６】なお、予め光ディスク装置内蔵のマイクロ
コンピューターにテーブルを設けて、ここにディスク媒
体メーカー毎に基準変調度を算出し記憶させておくこと
も可能であるが、装置製造時の処理が煩雑となる。ま
た、基準変調度を記憶していない光ディスクが挿入され
た場合には対応できない。

【０００７】また、同じメーカーの光ディスク装置（ド
ライブ）においても光ピックアップのＬＤ（レーザーダ
イオード）波長のばらつき等光学的特性の違いや変調度
算出回路を構成する部品の精度誤差により、同じ光ディ
スクの変調度ｍを算出してもドライブ毎に異なった値と
なってしまう。その結果、基準変調度（例えばｍ＝０．
６）で最適記録パワーが得られるドライブと光ディスク
の組み合わせがあったとしても、他のドライブではその
基準変調度を用いて最適記録パワーを選択しても最適な
記録品質が得られるとは限らない。

【０００８】なお、装置製造時において予め光ディスク
装置毎に変調度算出誤差分を算出し、ディスク媒体メー
カー毎の基準変調度を補正することも可能であるが、処
理がさらに煩雑となる。また、経時変化やピックアップ
の特性に変化が生じると、補正精度が低くなってしま
う。

【０００９】本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑
みなされたものであり、その目的は、光ディスク毎及び
光ディスク装置毎に最適な記録パワーを設定して、デー
タを高品質で記録できる装置を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、予めエンボス部が形成された再生専用領
域を有する光ディスクにデータを記録する光ディスク装
置において、前記光ディスクのエンボス部を再生しその
変調度を目標変調度として算出して記憶する手段と、前
記光ディスクの所定のテストエリアにおいて記録パワー
を変化させて記録する手段と、前記記録パワーを変化さ
せたときの各記録パワーと変調度との関係を記憶する手
段と、前記各記録パワーと変調度との関係に基づき、前
記目標変調度が得られる記録パワーを選択する手段とを
有し、選択された記録パワーで前記光ディスクにデータ
を記録することを特徴とする。

【００１１】また、本発明は、予めエンボス部が形成さ
れた再生専用領域を有する光ディスクにデータを記録す
る光ディスク装置において、前記光ディスクのエンボス
部を再生しその変調度を算出して記憶する手段と、前記
光ディスクの所定のテストエリアにおいて記録パワーを
変化させて記録する手段と、前記記録パワーを変化させ
たときの各記録パワーと変調度との関係を記憶する手段
と、前記エンボス部の変調度に応じて目標変調度を算出
する手段と、前記各記録パワーと変調度との関係に基づ
き、前記目標変調度が得られる記録パワーを選択する手
段とを有し、選択された記録パワーで前記光ディスクに
データを記録することを特徴とする。

【００１２】本発明の光ディスク装置において、前記目
標変調度は、前記エンボス部の変調度に対して所定の係
数を乗じて、あるいは加算または減算して算出すること
が好適である。

【００１３】また、前記目標変調度は、ランド記録時と
グルーブ記録時それぞれに応じて算出することが好適で
ある。

【００１４】このように、本発明の光ディスク装置で
は、予めエンボス部が形成された再生専用領域を有する
光ディスクにデータを記録する際、光ディスクのエンボ
ス部を再生して得られる変調度に基づいて記録パワーを
最適化する。エンボス部を再生して得られる変調度は、
光ディスク毎あるいは光ディスク装置毎に異なる。ま
た、光ディスク製造時に予め形成されたエンボス部であ
るためその変調度は最も良い条件の値である。この変調
度に基づいて目標変調度を設定することで、光ディスク
と光ディスク装置の組み合わせにおける妥当な目標変調
度を設定でき、記録パワーの最適化を図ることができ
る。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
形態について説明する。

【００１６】

【実施例】図１は、本実施形態に係る光ディスク装置の
要部構成を示すブロック図である。光ディスク装置は、
光ピックアップ部１２、制御部１４及び信号処理部１６
にて構成される。

【００１７】光ピックアップ部１２は、スピンドルモー
タ１０で回転駆動される光ディスク１００にレーザ光を
照射して記録及び再生を行う。記録用の駆動信号は制御
部１４から供給され、光ディスク１００に３Ｔ〜１４Ｔ
（但し、Ｔはトラック方向長さの基準周期）の長さのピ
ットを形成することでデータを記録する。また、再生パ
ワーのレーザ光を照射してその反射光から得られる再生
ＲＦ信号を信号処理部１６に出力する。

【００１８】信号処理部１６は、入力された再生ＲＦ信
号を復調し再生データとして出力する。復調は、いずれ
も図示しないが、フィルタ（例えばＬＰＦ）によりノイ
ズを除去した後、イコライザで波形整形し、ＰＬＬ回路
で同期クロックを生成して再生データを抽出して行われ
る。また、信号処理部１６は、光ピックアップ部１２か
らトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を抽
出し、光ピックアップ部１２にサーボ信号を出力する。
さらに、信号処理部１６は再生ＲＦ信号を制御部１４に
供給する。

【００１９】制御部１４は、上位装置から供給される記
録信号に基づいて、光ピックアップ部１２内のＬＤ（レ
ーザダイオード）を駆動するための駆動信号を生成す
る。また、制御部１４は、実際のデータ記録に先立って
記録パワーの最適化（ＯＰＣ）を実行する。ＯＰＣは、
上述したように記録パワーを例えば１６セクタにおいて
１６段階にセクタ毎に変化させて、光ディスクの所定の
位置に設けられたテストエリアにテストデータを記録
し、各セクタ毎の各テストデータを再生してその変調度
ｍを検出して行われる。各記録パワー毎の変調度ｍを算
出した後、制御部１４は、記録パワーの関数（変調度対
パワー関数）として変調度ｍを順次記憶し、目標変調度
が得られる記録パワーを最適記録パワーとして選択す
る。具体的には、光ディスク１００の予め形成されたエ
ンボス部を再生して得られた変調度ｍｅを目標変調度と
し、この目標変調度が得られる記録パワーを選択する。
従来においては、制御部１４は基準変調度（目標変調
度）としてデフォルト値（例えば０．６）を用いている
が、本実施形態では基準変調度（目標変調度）を光ディ
スク１００及び光ディスク装置に応じて動的に設定す
る。

【００２０】なお、最適記録パワーを選択してデータを
記録する際には、制御部１４はさらにＲＯＰＣ（Runnin
g Optimum Power Control）により記録パワーを制御す
ることもできる。ここで、ＲＯＰＣとは、ＯＰＣ時とデ
ータ記録時とのピットの反射光強度を比較し、反射光強
度を一定に維持するように最適記録パワーを随時補正し
ていくものである。

【００２１】図２は、制御部１４の構成を示すブロック
図である。制御部１４は、具体的にはＤＳＰ等で構成さ
れ、機能ブロックとして記録信号生成部１４ａ、ＬＤ
（レーザダイオード）駆動信号生成部１４ｂ、変調度算
出部１４ｃ、記憶部１４ｄ及び演算部１４ｅを有する。

【００２２】記録信号生成部１４ａは、記録信号を８／
１６変調し光ディスク１００の記録速度に応じた転送レ
ートで記録信号を出力する。なお、記録信号は、所望の
大きさ、形状のピットを形成するため光ディスク１００
の種類やメーカー毎に設定される最適なストラテジ（記
録パルス発光波形規則）に応じて補正した上で出力する
ことが好適である。

【００２３】そして、ＯＰＣ時には、記憶部１４ｄに予
めテーブル形式で記憶されている１６段階の記録パワー
のパルスを演算部１４ｅから記録信号生成部１４ａに出
力し、ＬＤ駆動信号生成部１４ｂを介して光ピックアッ
プ部１２のＬＤを駆動する。

【００２４】変調度算出部１４ｃは、ＯＰＣ時において
１６段階の記録パワーでそれぞれ記録されたテストデー
タのＤＣ成分を含む再生ＲＦ信号エンベロープから、ｍ
＝（Ａ−Ｂ）／Ａにより変調度ｍを記録パワー毎に算出
する。但し、Ａはピーク電圧、Ｂはボトム電圧である。
算出された変調度ｍは順次記憶部１４ｄに供給される。
変調度算出部１４ｃで算出する変調度には２種類あり、
第１は光ディスク１００の予め形成されているエンボス
部を再生して得られる再生ＲＦ信号の変調度ｍｅであ
り、第２は光ディスク１００のテストエリアに種々の記
録パワーで記録されたピットを再生して得られる再生Ｒ
Ｆ信号の変調度ｍである。エンボス部の変調度ｍｅも記
憶部１４ｄに供給される。

【００２５】記憶部１４ｄは、変調度算出部１４ｃで算
出された光ディスク１００のエンボス部を再生して得ら
れる変調度ｍｅの他、光ディスク１００の所定のテスト
エリアに記録パワーを変化させて記録されたピットを再
生して得られる変調度ｍが記憶される。テストエリアに
記録されたピットを再生して得られる変調度ｍは、記録
パワーと関連付けて記憶される。例えば、２次元データ
として、（パワーＰｗ１、変調度ｍ１）、（パワーＰｗ
２、変調度ｍ２）の如くである。記録パワーと変調度ｍ
との関係は、関数（変調度対パワー関数）で近似し、こ
の関数のパラメータとして記憶することもできる。

【００２６】演算部１４ｅは、記憶部１４ｄに記憶され
ているエンボス部の変調度ｍｅを目標変調度とし、この
目標変調度に対応する記録パワーを、記憶部１４ｄに記
憶されている記録パワーと変調度ｍとの関係から求め
る。そして、この目標変調度が得られる記録パワーを最
適記録パワーとして選択し、記録信号生成部１４ａに供
給する。

【００２７】なお、本実施形態において、エンボス部と
は、図３に示すように、光ディスク１００の内周部分の
再生専用領域であるコントロールデータゾーン１０２内
に予め形成された情報ピット（プリレコード）を意味し
ており、エンボス部の変調度ｍｅを算出する場合には、
コントロールデータゾーン１０２の情報ピットを再生す
ればよい。このコントロールデータゾーン１０２の情報
ピットの形成は、規格によって定められている。

【００２８】以下、本実施形態における制御部１４の動
作を詳細に説明する。

【００２９】図４は、ＯＰＣにおける制御部１４の処理
フローチャートである。まず、制御部１４は、上位装置
から記録指令を受けると、光ピックアップ部１２を駆動
して、予め形成されたエンボス部の情報ピットを所定の
再生パワーで再生する（Ｓ１０１）。そして、このとき
に得られるＤＣ成分を含む再生ＲＦ信号エンベロープか
ら変調度を検出し、その変調度であるｍｅを記憶部１４
ｄに記憶する（Ｓ１０２）。なお、このｍｅは、光ディ
スク１００毎及び光ディスク装置毎に異なり、光ディス
ク装置で光ディスク１００にデータを記録した後、再生
して得られる変調度よりも一般に最も信頼できる最適な
値となる。光ディスク製造時に予め形成されたエンボス
部の情報ピットであるため、最も良い条件でデータが記
録されているからである。

【００３０】次に、制御部１４は光ピックアップ部１２
を駆動し、光ディスク１００の所定の領域に形成されて
いるテストエリア内において記録パワーを種々変化させ
てピットを形成し、このピットを再生して変調度ｍを算
出し、記憶部１４ｄに記憶する（Ｓ１０３）。具体的に
は、１６段階の順次増大していく記録パワーで光ディス
ク１００の所定のテストエリア（ＰＣＡ）にテストデー
タを記録する。このときのパワーをＰｗ１、Ｐｗ２、・
・・、Ｐｗ１６とする。そして、各記録パワーで記録さ
れたテストデータを順次再生し、その変調度ｍを算出す
る。各記録パワーに対する変調度ｍをそれぞれｍ１、ｍ
２、・・・、ｍ１６とする。

【００３１】図５は、テストエリア内に記録パワーをＰ
ｗ１〜Ｐｗ１６と順次変化させてピットを記録し、それ
ぞれのピットを所定の再生パワーで再生して得られるｍ
１〜ｍ１６を示す図である。横軸は記録パワー（ｍ
Ｗ）、縦軸は変調度である。一般に、記録パワーが小さ
い時は、ＲＦ信号の振幅が小さいので変調度は小さくな
る。記録パワーが大きくなるにつれて、再生ＲＦ信号の
振幅が大きくなるので変調度は大きくなる。しかし、記
録パワーがある程度大きくなると、記録パワー変化に対
する変調度の傾き、すなわち変調度の変化率は小さくな
り、変調度は飽和する。この飽和状態の部分は、再生Ｒ
Ｆ信号が熱波形歪みを生じてしまうおそれがあり、光デ
ィスクの記録膜が劣化して、光ディスクの書き換え耐久
性が悪化するおそれがある記録パワーの範囲と言える。

【００３２】制御部１４は、記録パワーと変調度ｍとの
関係を記憶した後、エンボス部の情報ピットを再生して
得られたｍｅを目標変調度として設定する（Ｓ１０
４）。制御部１４は記憶部１４ｄに記憶されている記録
パワーと変調度ｍとの関係に基づき、目標変調度が得ら
れる記録パワー（最適記録パワー）を選択する。そし
て、光ピックアップ部１２のＬＤのパワーを制御し、最
適記録パワーＰｗｏでデータを記録する（Ｓ１０５）。
なお、記憶部１４ｄに記録パワーと変調度ｍとの対応関
係が離散的（Ｐｗｉ、ｍｉ）（ｉ＝１，２，・・・）に
記憶されている場合には、目標変調度に対応する記録パ
ワーは補間処理により算出すればよい。

【００３３】図６は、以上述べたｍｅ（目標変調度）と
最適記録パワーＰｗｏの関係を示す図である。エンボス
部（情報ピット）の変調度であるｍｅは、この光ディス
ク１００及び光ディスク装置の組み合わせで定まる基準
変調度であり、光ディスク１００及び光ディスク装置の
再生信号品質を示している。この再生信号品質ｍｅをデ
ータ記録時の目標変調度に設定する。この目標変調度が
得られる記録パワーＰｗｏを最適記録パワーとする。記
録パワーＰｗｏは、固定的な変調度に基づいて決定され
る記録パワーではなく、エンボス部における変調度ｍｅ
に応じて動的に変化する点に注意されたい。

【００３４】このように、本実施形態では光ディスク１
００の予め形成されたエンボス部を再生して得られる変
調度ｍｅを目標変調度として記録パワーを最適化してい
るため、別の光ディスク１００にデータを記録する場合
及び別の光ディスク装置でデータを記録する場合にも対
応することができる。

【００３５】図７は、本発明による光ディスク装置で光
ディスクＡと光ディスクＢにデータを記録する場合の特
性を示す図である。図において、実線が光ディスクＡの
特性、一点鎖線が光ディスクＢの特性である。光ディス
クＡとＢではエンボス部を再生して得られる変調度が、
それぞれｍｅａ、ｍｅｂと異なり、これに起因して目標
変調度もそれぞれ異なる。その結果、最適記録パワーも
それぞれＰｗｏａ、Ｐｗｏｂとなる。もし、目標変調度
（基準変調度）を固定値とした場合、光ディスクＡで
は、本来の最適変調度ｍｅａよりも低めの変調度を基準
として記録パワーを設定してしまう。そのため、記録パ
ワーは小さくなって十分な記録品質が得られず、再生信
号品質も悪化するおそれがある。また、光ディスクＢで
は、本来の最適変調度ｍｅｂよりも高めの変調度を基準
として記録パワーを設定してしまう。そのため、記録パ
ワーは大きくなって過剰となり、ＲＦ信号が熱波形歪み
を生じて再生不能となったり、光ディスクの記録膜が劣
化して、光ディスクの書き換え耐久性が悪化するおそれ
があることが図からわかる。

【００３６】図８は、本発明による光ディスク装置Ａと
光ディスク装置Ｂで同じ光ディスクにデータを記録する
場合の特性を示す図である。図において、実線が光ディ
スク装置Ａの特性、一点鎖線が光ディスク装置Ｂの特性
である。光ディスク装置が異なれば、同じ構成、同じ製
造工程であっても部品のばらつき等により変調度測定に
誤差が生じることを示している。光ディスク装置ＡとＢ
では、同じ光ディスクのエンボス部を再生して得られる
変調度が、それぞれｍｅａ、ｍｅｂと異なり、これに起
因して目標変調度もそれぞれ異なる。その結果、最適記
録パワーはそれぞれＰｗｏａ、Ｐｗｏｂとなる。もし、
目標変調度（基準変調度）を光ディスク装置が異なるに
もかかわらず固定値とした場合、光ディスク装置Ａで
は、本来の最適変調度ｍｅａよりも低めの変調度を基準
として記録パワーを設定してしまうため、記録パワーは
小さくなる。また、光ディスク装置Ｂでは、本来の最適
変調度ｍｅｂよりも高めの変調度を基準として記録パワ
ーを設定してしまうため、記録パワーは大きくなる。つ
まり、同じ光ディスクに記録するにもかかわらず、光デ
ィスク装置によって記録パワーが大きく異なって、最適
な記録品質が得られないおそれがあることが図からわか
る。しかし、本発明による光ディスク装置では、光ディ
スクの予め形成されたエンボス部を再生して得られる変
調度を目標変調度として設定するため、装置のばらつき
を吸収でき、光ディスク側から見れば最適な記録パワー
で記録されることになる。

【００３７】なお、エンボス部を再生して得られた変調
度ｍｅを用いて目標変調度ｍｄを算出するようにしても
よい。具体的には、係数Ｄｗを用いて、

【数１】ｍｄ＝ｍｅ・Ｄｗ ・・・・（１） により目標変調度ｍｄを算出する。ここで、Ｄｗは例え
ば、０．８＜Ｄｗ＜１．５を満たす値となる。（１）式
の意味は以下の通りである。光ディスクの耐久性の向上
に重点を置く場合は、Ｄｗ＜１とし、光ディスクの記録
品質及びドライブの記録性能の向上に重点を置く場合
は、Ｄｗ＞１として目標変調度ｍｄを算出する。この目
標変調度ｍｄを実際のデータ記録時における目標変調度
（基準変調度値）とすれば、光ディスク装置（ドライ
ブ）の特性や光ディスク媒体の特性を考慮して記録パワ
ーを設定できる。

【００３８】なお、係数Ｄｗは、光ディスク装置（ドラ
イブ）毎やディスク媒体メーカー毎に設定することがで
き（例えばＤｗ＝０．９）、予めドライブの記憶部に記
憶させておけばよい。

【００３９】また、光ディスク１００のランド部及びグ
ルーブ部のいずれにもデータを記録する場合、ランド部
とグルーブ部とで記録特性が異なるため、上記の処理を
ランド部及びグルーブ部でそれぞれ行い、ランド記録時
の最適記録パワー及びグルーブ記録時の最適記録パワー
を設定することも好適である。この場合、どちらか一方
の基準変調度であるｍｅに基づく目標変調度に所定の係
数を乗算して、もう一方の目標変調度を算出してもよ
い。また基準変調度であるｍｅに基づいて目標変調度ｍ
ｄを算出する際の係数をランド部とグルーブ部で異なる
値を用いることもできる。

【００４０】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更
が可能である。例えば、本実施形態では（１）式に基づ
いて目標変調度を算出する場合を説明しているが、例え
ばＭを所定値（−０．２＜Ｍ＜０．２）として、

【数２】ｍｄ＝ｍｅ＋Ｍ ・・・・（３） により目標変調度を算出することも可能であり、基準変
調度であるｍｅを用いた任意の演算式、ｍｄ＝ｆ（ｍ
ｅ）により目標変調度を算出することができる。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ディスク毎及び光ディスク装置毎に最適な記録パワー
を設定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施形態における光ディスク装置の要部構成ブ
ロック図である。

【図２】図１における制御部の構成ブロック図である。

【図３】光ディスクの構成図である。

【図４】実施形態の制御部の処理フローチャートであ
る。

【図５】記録パワーと変調度との関係を示すグラフ図で
ある。

【図６】目標変調度と最適パワーとの関係を示す説明図
である。

【図７】光ディスクＡと光ディスクＢの特性を示す説明
図である。

【図８】光ディスク装置Ａと光ディスク装置Ｂの特性を
示す説明図である。

【符号の説明】

１０ スピンドルモータ １２ 光ピックアップ部 １４ 制御部 １６ 信号処理部 １００ 光ディスク

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 予めエンボス部が形成された再生専用領
   域を有する光ディスクにデータを記録する光ディスク装
   置において、 前記光ディスクのエンボス部を再生しその変調度を目標
   変調度として算出して記憶する手段と、 前記光ディスクの所定のテストエリアにおいて記録パワ
   ーを変化させて記録する手段と、 前記記録パワーを変化させたときの各記録パワーと変調
   度との関係を記憶する手段と、 前記各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記目標
   変調度が得られる記録パワーを選択する手段と、 を有し、選択された記録パワーで前記光ディスクにデー
   タを記録することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 予めエンボス部が形成された再生専用領
   域を有する光ディスクにデータを記録する光ディスク装
   置において、 前記光ディスクのエンボス部を再生しその変調度を算出
   して記憶する手段と、 前記光ディスクの所定のテストエリアにおいて記録パワ
   ーを変化させて記録する手段と、 前記記録パワーを変化させたときの各記録パワーと変調
   度との関係を記憶する手段と、 前記エンボス部の変調度に応じて目標変調度を算出する
   手段と、 前記各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記目標
   変調度が得られる記録パワーを選択する手段と、 を有し、選択された記録パワーで前記光ディスクにデー
   タを記録することを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の装置において、 前記目標変調度は、前記エンボス部の変調度に対して所
   定の係数を乗じて算出されることを特徴とする光ディス
   ク装置。
4. 【請求項４】 請求項２に記載の装置において、 前記目標変調度は、前記エンボス部の変調度に対して所
   定の係数を加算または減算して算出されることを特徴と
   する光ディスク装置。
5. 【請求項５】 請求項１〜４のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記目標変調度は、ランド記録時とグルーブ記録時それ
   ぞれに応じて算出されることを特徴とする光ディスク装
   置。