JP2017536465A - 電子部品を封入する方法 - Google Patents

電子部品を封入する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017536465A
JP2017536465A JP2017529729A JP2017529729A JP2017536465A JP 2017536465 A JP2017536465 A JP 2017536465A JP 2017529729 A JP2017529729 A JP 2017529729A JP 2017529729 A JP2017529729 A JP 2017529729A JP 2017536465 A JP2017536465 A JP 2017536465A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
diamine
diimide
maleimide
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017529729A
Other languages
English (en)
Inventor
アルノー、ソワッソン
フィリップ、バネ
リンダ、シク
オディル、フィシュ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Valeo Equipements Electriques Moteur SAS
Original Assignee
Valeo Equipements Electriques Moteur SAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Valeo Equipements Electriques Moteur SAS filed Critical Valeo Equipements Electriques Moteur SAS
Publication of JP2017536465A publication Critical patent/JP2017536465A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • H01L23/296Organo-silicon compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • H01L23/295Organic, e.g. plastic containing a filler
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49109Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)

Abstract

電子部品の封入を行うために、本発明は、ジイミド成分及びジアミン成分を含みジイミド成分はジアミン成分に予め溶解されている組成物に対応する熱−重合可能材料により電子部品(7)を覆うこと、及び前記ジアミン成分と前記ジアミン成分との間における付加重合反応によって前記材料の硬化を行うのに適した条件下で得られたアッセンブリを加熱することを提案する。本発明は、特に電力モジュールの分野における応用を見出す。

Description

本発明の領域は、電子部品を封入するために知られているポリマー材料などの条件下で使用されることが意図されたポリマー材料である。
この言い回しは、一般に、個々の電子部品、またはよりやむを得ない理由で電子モジュールに組み入れられた複数の部品のセットに関し、それらの使用条件の下で長期的に満足できる性能を発揮するために、電子部品を適切な材料によって覆うこと、包み込むこと或いはコーティングすることによって、電子部品を守ることを含む技術に関連する。
この意図により、ポリマー材料を用いることはそれらの実施の都合上のために義務的であり、それは保護されるべき製品を覆う予め塗布されたモノマー組成物の成分を重合させることによってその場で硬化されることを必要とする。
米国特許第4,526,838号
得られた材料の品質が電子部品を封入するのに適しているようにするために、それらは温度および耐久性の点で極端な動作条件に耐える必要がある。航空宇宙分野と同様に、耐えられるべき動作温度は、極低温度領域または200℃よりも高い高温領域にあり、400℃まで到達することもできる。
これらの製品のその他の定性的要件は、化学物質に対する耐性、水または水分に対する耐性、および熱的または電気的絶縁能力に関する。
これらの要件を満たすために、ポリイミド分類におけるポリマーの使用が考えられうる。これらのポリマーは、本発明の目的である封入とは非常に異なる用途においてそれらの機械的および物理化学的性質が知られている。ここでは、米国特許第4,526,838号およびこれに引用されている先行技術を参照することが好都合である。そこに記載されている技術は、複合材料を製造するために繊維状充填剤とともに結合剤として使用されるポリマーに関する。
一般に、ポリイミドの合成は溶液中で行われる。塩基水溶液の存在は、電子部品の導電性要素の存在下で禁止されており、本発明との関連において、有機溶媒中でポリイミドを硬化させることを実行することが提案されている。この主題に関して、既存の技術文献は、酸触媒またはアルカリ触媒としうる触媒の存在下で行われる重合反応のための溶解媒体としての極性非プロトン性溶媒の使用を記載している。
反応媒体としての溶媒は、非水性溶媒でさえも、特に電子部品を封入するための用途の状況を考慮して、既に不利益を示す。実際、同じモジュールおよび封入されたアッセンブリに組み込まれた様々な電子部品は、それらの全てに関して完全に無害である有機溶媒を選択することを困難にする。
ポリイミドを合成する伝統的な方法は、酸二無水物とジアミンを用いた重縮合反応に基づくものであり、そのような反応は水を放出することが付け加えられる。その反応は、室温で少なくとも1日の第1段階および通常数時間続く100〜300℃の高温で行われる第2の高温段階を有する温度曲線の2段階増加に沿って非常に緩やかに実現される。しかし、この反応が封入化の適用に関して電子部品の存在下で行われる場合、放出される水蒸気は非常に有害である。全体的に、そのような条件は、自動車機器の世界で特に知られているような大規模に製造される電子モジュールの大量生産の必要性と両立しない。
こういうわけで、本発明は、水蒸気の放出または二次生成物の他の放出を避けるために、縮合反応によってではなく出発構成物質間の付加反応によってポリイミドを合成する方法を提案する。さらに、電子部品封入化の適用に適するように、反応化合物のための外因性溶媒を用いないことを提案する。この理由から、重付加反応の2つの反応物質は、分子内に2つのイミド官能基と他の2つのアミン官能基を有し、それらのうちの少なくとも1つが液体であり、ジイミド(diimide)化合物がジアミン化合物にそれらの間の重合反応の前に溶けることができるように、選択される。
本発明に従って選択されるジイミドは、有利にはジマレイミド(dimaleimide)であり、すなわち末端に少なくとも2個のマレイミド基を含む化合物である。それらを連結する鎖は、芳香族または他の環式タイプとすることができ、または脂肪族の直鎖状または分枝状のタイプとすることができる。しかしながら、マレイミド基の窒素原子に沿って5個よりも多くの炭素原子が数えられない、ベンゼンおよびそれに相当するものを含むベンゼン核から成る鎖であって場合によっては隣接核を有する鎖または低分子量の脂肪族鎖などの、短鎖およびヒンダード鎖(hindered chain)が好ましい。
これらの種々の化合物の各々の典型的な例において、本発明の実施に特に有利なように、芳香族ジマレイミド(aromatic dimaleimides)の中では、化合物1.3−または1.4−ジ−(マレイミド)ベンゼン(1.3−or1.4−di−(maleimido)benzene)、或いはナフタレン−1,5−ジマレイミド(naphthalene1.5−dimaleimide)、或いはさらにビスマレイミドを挙げるのが好都合であり、脂肪族鎖ジマレイミドの中でも、特に1.4ジ−(マレイミド)ブタン(1.4di−(maleimido)butane)及びトリス−(2−マレイミドエチル)アミン(tris−(2−maleimidoethyl)amine)が挙げられうる。ここで挙げられた全ての化合物は、産業用途のために商業的に入手可能な商品に基づいて容易に入手できるという利点を有する。
マレイミド基のエチレン二重結合に対する付加重合反応に必要な他の化合物は、ジアミンの融点よりも高い温度であるがマレイミドとの付加反応の開始をもたらす温度よりは低い温度での溶解条件下で、ジアミンにおけるマレイミドの可溶化速度に応じて選択されたジアミンタイプの反応性溶媒である。実際には、この反応温度は80℃〜200℃の範囲であり、好ましくはこの温度は約200℃を超えず、典型的には1時間未満の、比較的短時間を必要とするのみであることが分かる。
2つの成分間の比率は、実施される重付加反応の化学量論に応じた、それ自体伝統的な方法で選ばれる。
添付の図1は、自動車オルタネータ−スタータに見られるような、整流器ブリッジまたはインバータを形成するために、例えばMOSFETタイプの、トランジスタと組み合わされるような電子部品を有する電力モジュールの生成に関連し、本発明に基づく封入化の過程の実施を示す。 添付の図2は、自動車オルタネータ−スタータに見られるような、整流器ブリッジまたはインバータを形成するために、例えばMOSFETタイプの、トランジスタと組み合わされるような電子部品を有する電力モジュールの生成に関連し、本発明に基づく封入化の過程の実施を示す。 添付の図3は、自動車オルタネータ−スタータに見られるような、整流器ブリッジまたはインバータを形成するために、例えばMOSFETタイプの、トランジスタと組み合わされるような電子部品を有する電力モジュールの生成に関連し、本発明に基づく封入化の過程の実施を示す。
図1は、封入プラントから出て同じオルタネータ−スタータユニットの他の要素とのその接続において組み立てられる準備が整った際に、ハウジングにおいて囲まれたモジュールを示し、図2は、とりわけ、これらに関連する導電回路と共に、図3の開いたハウジングにおける可視電子部品を封入するために実施されるような、封入それ自体の方法を示すのに役立つ。
構成要素間のプリント接続回路を支持するプレート1上に予め組み立てられた構成要素は、上部で開放されたレシーバハウジング2内に配置される。支持プレートはベース3上に置かれている。接続ワイヤ6は、トランジスタ7およびプリント回路と組み合わされた構成要素間の接続を与えるように、また他の機器が接続されるであろうハウジングの側壁によって支持される接続部4のセットを与えるように、溶接されている。図面はまた、電力端子8と、通常、オルタネータ−スタータのパワーエレクトロニクスのヒートシンクにハウジングを取り付けるボルトを受け入れるウイング9とを示す。
ジイミドをジアミンに溶解することによって多かれ少なかれ粘性を有する液体状態に予め用意された混合物は、その後、そこに全ての構成要素が浸漬されるように十分な量でハウジングに注入される。場合によっては、接続部4のセットを妨害することなくアッセンブリを封止して保護するカバープレート5が、その後、構成要素で完全に満たされたハウジング上に固定される。そして、材料の硬化が、以下の実施例で詳述される条件下で、出発混合物の成分の熱重合および架橋によって行われる。
実施例1:
好ましくは25℃未満の温度で、3グラムの2−メチル−1,5−ジアミノペンタン(2−methyl1.5−diamino pentane)および7グラムの1.4−ジ(マレイミド)ベンゼン(1.4−di(maleimido)benzene)が、均質な混合物が得られるまで、穏やかに混合される。
基材上に堆積されたペーストは、175℃のオーブン中に少なくとも15分間置かれる。
最終的に得られた材料は、約90%の凍結部分(freezing fraction)、5%の温度および圧力の標準状態下での浸入質量水分、ほぼ300℃の5%質量損失での分解温度、20℃での2.7GPaの貯蔵率、及び約130℃の機械的緩和温度を有する。
硬化した表面上に載せられた水滴は約98度の角度を形成し、それはその疎水性を証明する。
実施例2:
透明な黄色溶液が得られるまで1.84グラムの4−アミノフェニルスルホン酸(4−aminophenyl sulfonic acid)を2.16グラムの2−メチル−1,5−ジアミノペンタン(2−methyl−1.5−diaminopentane)と熱混合(hot−mixing)することにより溶媒を調製することによって開始する。次いで、その溶液を冷却してもよい。
3.5グラムの上記混合物および6グラムの1.4−ジ(マレイミド)ベンゼン(1.4−di(maleimido)benzene)は、好ましくは20℃未満の温度で、均質なペーストが得られるまで穏やかに混合される。
このペーストは、図に示されるようにハウジングに注入するために使用されるのではなく、支持プレート上の構成要素のセットに対して固体ゲルとして塗布され、それらが完全に覆われることが必須である。
基材上に堆積されたペーストは、175℃のオーブン中に少なくとも15分間置かれる。
最終的に得られた材料は、約75%の凍結部分、5%の温度および圧力の標準状態下での質量水分浸入、310℃の5%質量損失での分解温度、20℃で2.3GPaの貯蔵率、及び約180℃の機械的緩和温度を有する。
硬化した表面上に堆積された水滴は約105度の角度を形成し、それはその疎水性を証明する。
芳香族ジアミンを導入することにより、熱分解温度を上昇させることができる。機械的緩和温度もまた上昇し、それはより広い温度範囲にわたって安定したヤング率に達することを可能にする。
実施例3:
8.30グラムのα、ω−アミノプロピルポリジメチルシロキサン(α,ω−aminopropyl poly−dimethylsiloxane)および3.75グラムの1.4−ジ(マレイミド)ベンゼン(1.4−di(maleimido)benzene)が積極的に混合され、均一な混合物が得られるまで、高真空下で働かせる。
その混合物は、図に示されるようにハウジングに注入するために使用されることができ、実施例1のように基板上に堆積され、その後125℃のオーブン中に少なくとも15分間置かれる。
得られた材料は、約60%の凍結部分、温度および圧力の標準状態下でゼロ水分浸入、340℃の5%質量ロスでの分解温度、20℃での0.025GPaの貯蔵率、および約−105℃及び50℃の検出された機械的緩和温度を有する。
表面に堆積した水滴は約100度の角度を形成し、それはその疎水性を証明する。
この実施例におけるシリコーン含有ジアミンの使用は、熱分解温度を上昇させることができ、水分浸入を減少させること(より疎水性の材料)を可能にする。また、得られた材料は100倍低い貯蔵率を有し、それは電子部品に対する応力を減少させる。さらに、機械的緩和温度も低下する。
上記の実施例から、本発明による電子部品を封入するために使用されるポリマー組成物は、特にジアミンに溶解されたジイミド(diimide)混合物の粘度に応じて変わる、各々の適用ケースに関していくつかの異なる方法で、実施されることが明らかである。この粘度は、実際には、型として作用するハウジング内に注入することによって適用される液体の粘度であってもよく、または型を必要とせずにペーストとして適用されるゲルの粘度であってもよい。配線を含む電子部品は、それらが出発組成物の熱硬化後に得られる固体塊に覆われるように、流体材料中に完全に浸漬され、それによりその成分は架橋結合によって重合される。
同実施例から、全ての場合において、初期組成物の硬化後に最終的に得られる材料の機械的および物理化学的特性は、電源モジュールの動作および使用の条件に応じて通常必要とされる仕様に対応することも明らかである。その材料は均質であり、自由表面は平滑で疎水性であり、自動車用途で遭遇する環境攻撃に反応しにくい。
さらに、2−メチル1.5−ジアミノペンタン(2−methyl1.5−diamino pentane)などの単純な脂肪族ジアミンをジイミドに関して適切な反応性溶媒として完全に使用することができれば、これによりも、実施例3のシリコーンジアミン以外の官能基に加えて実施例2におけるような芳香族ジアミン化合物によってまたはジアミン化合物担体(diamine compound carrier)によって補われる脂肪族ジアミンを含むジアミン成分を選ぶ方が、より有利かもしれないということが、これらの実施例から分かる。各々の場合において、ジイミドは常温でジアミンに溶解され、80℃〜200℃の範囲で使用される硬化温度がそのままである。この温度で約15〜30分の反応時間で十分であるように思われ、それは概して1時間未満の実行可能性を裏付ける。
ジイミド成分がジマレイミド(dimaleimide)である場合の詳細を記載するが、本発明は、マレイミド、ナジイミド(nadimide)およびアリル−ナジイミド(allyl−nadimide)などの他の構造への一般化も含むことにも留意されたい。

Claims (8)

  1. 電子部品を封止する方法であって、
    ジイミド成分及びジアミン成分を含む組成物に対応する熱−重合可能な材料中に前記電子部品を封入する工程であって、前記ジイミド成分は前記ジアミン成分中に予め溶解されており、前記ジアミンにおけるジイミドの上記の溶解は常温で行われ、前記部品は関連する接続回路とともに液体状態の前記材料によって充填されるハウジング内に予め配置される工程と、
    前記ジイミド成分と前記ジアミン成分との間の付加重合反応によって前記材料の硬化を行うのに適した条件下で得られたアッセンブリを加熱する工程と、を含む方法。
  2. 前記材料の硬化は80℃〜200℃の範囲における温度で行われる、請求項1に記載の方法。
  3. 硬化時間が1時間未満である、請求項2に記載の方法。
  4. 前記ジイミド成分は、ジマレイミド、マレイミド、ナジイミドまたはアリル−ナジイミドである、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
  5. 前記ジイミドは、芳香族鎖の末端において少なくとも2つのマレイミド基、特に1.3または1.4ジ(マレイミド)ベンゼンなどのベンゼン鎖、またはナフタレン1.5−ジマレイミド、または(ビス)−マレイミド((bis)−maleimide)を含む組成物である、請求項4に記載の方法。
  6. 前記ジイミドは、低分子量の脂肪族鎖の末端において少なくとも2つのマレイミド基、特に1.4ジ(マレイミド)ブタンまたはトリス(2−マレイミド−エチル)アミンなど、を含む組成物である、請求項4に記載の方法。
  7. ジアミン成分は脂肪族ジアミンをベースとし、有利には芳香族ジアミンまたはシリコーンジアミンによって補われている、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
  8. 電力モジュールハウジング内に電子部品を封入するために適用される、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
JP2017529729A 2014-12-04 2015-12-01 電子部品を封入する方法 Pending JP2017536465A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1461893A FR3029684A1 (fr) 2014-12-04 2014-12-04 Procede d'encapsulation de composants electroniques
FR1461893 2014-12-04
PCT/FR2015/053279 WO2016087767A1 (fr) 2014-12-04 2015-12-01 Procede d'encapsulation de composants electroniques

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017536465A true JP2017536465A (ja) 2017-12-07

Family

ID=53008588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017529729A Pending JP2017536465A (ja) 2014-12-04 2015-12-01 電子部品を封入する方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10109546B2 (ja)
EP (1) EP3227908A1 (ja)
JP (1) JP2017536465A (ja)
CN (1) CN107112295A (ja)
FR (1) FR3029684A1 (ja)
WO (1) WO2016087767A1 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01234423A (ja) * 1988-03-16 1989-09-19 Fujitsu Ltd 耐熱性樹脂組成物
JPH03290433A (ja) * 1990-04-09 1991-12-20 Mitsubishi Petrochem Co Ltd 液状硬化性樹脂組成物
JPH07316291A (ja) * 1994-03-29 1995-12-05 Toshiba Corp ポリイミド前駆体、含フッ素芳香族ジアミン化合物、ビスマレイミド系硬化樹脂前駆体および電子部品
JPH11193328A (ja) * 1997-10-10 1999-07-21 Occidental Chem Corp 分配可能な樹脂ペースト
JP2003221443A (ja) * 2002-01-30 2003-08-05 Dainippon Ink & Chem Inc 熱硬化性樹脂組成物
JP2014177584A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Denso Corp 硬化性樹脂組成物、封止材、及びこれを用いた電子デバイス製品

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5945322A (ja) 1982-09-08 1984-03-14 Hitachi Chem Co Ltd ポリアミノビスイミド樹脂の製造方法
US5578697A (en) * 1994-03-29 1996-11-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Polyimide precursor, bismaleimide-based cured resin precursor and electronic parts having insulating members made from these precursors
KR101022906B1 (ko) * 2009-07-20 2011-03-16 삼성전기주식회사 전력반도체 모듈 및 그 제조방법
CN105392841B (zh) * 2013-06-03 2018-04-10 普立万公司 阻燃高温尼龙

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01234423A (ja) * 1988-03-16 1989-09-19 Fujitsu Ltd 耐熱性樹脂組成物
JPH03290433A (ja) * 1990-04-09 1991-12-20 Mitsubishi Petrochem Co Ltd 液状硬化性樹脂組成物
JPH07316291A (ja) * 1994-03-29 1995-12-05 Toshiba Corp ポリイミド前駆体、含フッ素芳香族ジアミン化合物、ビスマレイミド系硬化樹脂前駆体および電子部品
JPH11193328A (ja) * 1997-10-10 1999-07-21 Occidental Chem Corp 分配可能な樹脂ペースト
JP2003221443A (ja) * 2002-01-30 2003-08-05 Dainippon Ink & Chem Inc 熱硬化性樹脂組成物
JP2014177584A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Denso Corp 硬化性樹脂組成物、封止材、及びこれを用いた電子デバイス製品

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016087767A1 (fr) 2016-06-09
US20170358509A1 (en) 2017-12-14
US10109546B2 (en) 2018-10-23
FR3029684A1 (fr) 2016-06-10
CN107112295A (zh) 2017-08-29
EP3227908A1 (fr) 2017-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3331959B1 (en) Anionic curable compositions
Agag et al. Primary amine-functional benzoxazine monomers and their use for amide-containing monomeric benzoxazines
JP2018531317A6 (ja) 陰イオン性硬化可能な組成物
WO2015048575A1 (en) Low dielectric constant, low dielectric dissipation factor coatings, films and adhesives
KR101625687B1 (ko) 열전도성 접착제
TWI424006B (zh) 熱硬化性聚醯亞胺矽樹脂組成物及其硬化皮膜
US20220169791A1 (en) Polyamic Acid Resin, Polyimide Resin, and Resin Composition Including These
Li et al. Melt processable novolac cyanate ester/biphenyl epoxy copolymer series with ultrahigh glass-transition temperature
CN111918889B (zh) 含烯基化合物、固化性树脂组合物及其固化物
JP2013241553A (ja) カルド型ジアミンを組成とする熱硬化性ポリイミド
JP2017536465A (ja) 電子部品を封入する方法
JP6168005B2 (ja) 電装部品
KR20100113985A (ko) 열전도성 접착제
TW202100615A (zh) 極高溫穩定黏著劑及塗料
KR20160100702A (ko) 인쇄회로기판용 수지 조성물, 절연필름 및 이를 이용한 인쇄회로기판
JP6767236B2 (ja) マレイミド硬化剤、その製造方法、熱硬化性成形材料および半導体封止材
KR20210036262A (ko) 에폭시 수지 조성물의 경화 방법
JP2005272483A (ja) 硬化性化合物、その硬化物および電子部品装置
JP2021102566A (ja) 化合物、それを含む硬化性組成物、及び硬化性組成物用の架橋剤
KR20160033009A (ko) 단량체의 염을 사용한 폴리이미드 성형품 제조방법
TWI841750B (zh) 芳香族雙馬來醯亞胺化合物及其製造方法、以及含有該化合物的熱硬化性環狀醯亞胺樹脂組合物
WO2023149394A1 (ja) 重合体、組成物、硬化物、積層体および電子部品
KR102542110B1 (ko) 전도성 페이스트용 기판접착소재 및 이의 제조방법
CN106243350B (zh) 用于电机的可固化组合物及相关方法
RU2437899C1 (ru) Жидкий олигомер на основе модифицированного дицианового эфира дифенилолпропана

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190920

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20191209

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200220

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200319

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200626