JP2017528713A - プリント回路基板内で被試験装置の直下に存在する埋込みシリアルデータ試験ループバックを実装する構造および実行方法 - Google Patents
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Abstract
特定の需要に応じて、既知の設計のシリアルループバック回路を被試験装置の直下のプリント回路基板に置く(埋め込む)複数の実施態様を備えた方法および構造が提供される。送信コンポーネント(Tx)および受信コンポーネント(Rx)を含むコンポーネントを接続するマイクロビアおよびトレースが、被試験装置(DUT)への接続のためにループバック回路に形成される。この接続は、コンポーネントとDUTとの間の直線に近い可能な限り最短の電気的長さで結合コンデンサによって達成され、その距離が短い直線と2の平方根との積の長さであるため、受信コンポーネントがDUTの下に位置する。
Description
背景技術関連出願
本願は、Thomas P.WarwickおよびJamesV.Russellによって、2014年8月29日に提出された仮出願第62/043,570号の非仮出願である。
本願は、Thomas P.WarwickおよびJamesV.Russellによって、2014年8月29日に提出された仮出願第62/043,570号の非仮出願である。
本発明は、ループバック回路の一般的な業界慣習を用いて、超高速シリアルデータ送信装置(集積回路)を自動的に試験する構造および方法に関する。特に、本発明は、マイクロビアとトレースとを用いて、これらのコンポーネントをループバック回路に結合コンデンサを用いることで可能な限り最短の電気的長さで接続することによって、被試験装置にインタフェースで接続するプリント回路基板の表面の直下に市販のコンポーネントを置くための一連の構造および方法に関連する。
ループバック回路は、様々な形状で利用可能である。3つの最も一般的なループバック回路は、リレーコンデンサ回路、抵抗タップコンデンサ回路、インダクタタップコンデンサ回路を使用する(Thomas P.Warwick、R&D回路ベンダープレゼンテーション、国際テスト会議。カリフォルニア州アナハイム、2012年9月;Thomas P.Warwick、「ギガビットプラス測定におけるDUTインタフェースボードおよび試験システム寄生の影響の軽減」、国際テスト会議、ノースカロライナ州シャーロット、2003年)。図1〜5は、シリアルループバック試験に使用される従来技術の一般的な受動回路の概略的実施態様を示す。それぞれの種類の回路は、自動試験環境において実行することができるタイプの試験に関する一連の利点と欠点を備える。各回路は一連のビアおよびプリント回路基板を実装する場所を必要とする。これらの中で、物理上はリレー回路が最大であり、抵抗タップコンデンサ回路が最小である。
図13は、従来技術の図1〜5の回路図の物理的実施態様を示す半断面図である。送信電気信号(Tx)は被試験装置(DUT)[37]から発信され、ビア/バックドリル構造[43]、接続プリント回路基板トレース、ビア/バックドリル構造[41]を通じてDUT Txからループバック回路に転送される。[42]は図1または図5のいずれかに概略的に示されるような特定のループバック構造である。装置インタフェースボード(DIB)[39]の底部の中央コンポーネントは必須の結合コンデンサ[5]または[6]であり、左側および右側のコンポーネントはタップコンポーネント、つまり、図1の抵抗器[7]/[8]または[9]/[10]、図5のインダクタ[17]/[18]または[19]/[20]である。
3つの最も一般的なループバック回路は、リレーコンデンサ回路、抵抗タップコンデンサ回路、インダクタタップコンデンサ回路を使用する(発明者プレゼンテーション、国際テスト会議、カリフォルニア州アナハイム、2012年9月)。それぞれの種類の回路は、自動試験環境において実行することができるタイプの試験に関する一連の利点と欠点を備える。各回路は一連のビアおよびプリント回路基板を実装する場所を必要とする。これらの中で、物理上はリレー回路が最大であり、抵抗タップコンデンサ回路が最小である。
以下の問題は、従来技術の提案において19GBPS超のループバック回路試験データ転送速度で発生する。
(1)ループバック回路のサイズおよび所要数:19GBS超で動作する大半の装置は、4〜400の超高速フルループバック回路といくつかの低速ループバック回路とを必要とし、それらは同じ量のプリント回路基板の場所を要する。
(2)ループバック回路までの長い送信路の問題:ループバックの最も一般的な試験戦略では、ループバック回路を送信機と受信機にできる限り近づける必要がある。可能な限り小さくしたループバック回路でさえ、多数のループバック回路が必要なときは長が長くなる。長い長の場合、行長を補償するためにFIRタップを使用する必要が生じることがある。このため、試験の種類と、高速で実行することができるマージンの決定が制限される。
(1)ループバック回路のサイズおよび所要数:19GBS超で動作する大半の装置は、4〜400の超高速フルループバック回路といくつかの低速ループバック回路とを必要とし、それらは同じ量のプリント回路基板の場所を要する。
(2)ループバック回路までの長い送信路の問題:ループバックの最も一般的な試験戦略では、ループバック回路を送信機と受信機にできる限り近づける必要がある。可能な限り小さくしたループバック回路でさえ、多数のループバック回路が必要なときは長が長くなる。長い長の場合、行長を補償するためにFIRタップを使用する必要が生じることがある。このため、試験の種類と、高速で実行することができるマージンの決定が制限される。
どのようなループバック構造(図1〜5のように受動構造またはリレーを使用する能動構造)でも、重大な問題はジッターへの関与である。物理的構造およびコンポーネントは、特にデータ転送速度が上昇するにつれ、インピーダンスの不連続性を招き、その結果、試験構成に関連するその他の非理想的構造(たとえば、ソケット)と組み合わされたときに不所望の測定ジッターを引き起こす可能性がある。以下の2つのゲート要因:(1)不連続点の数、(2)不連続点間の距離/電気的長さが不所望のジッターを決定する。簡単に言えば、この間隔のせいで、不連続点からの反射エネルギーが前後に弾むことによって、完全に消散させることなくジッターを引き起こす。不連続点間の電気的長さと関連する時間遅延が主期間の3/8〜1/2を超過すると、不所望のジッターが発生する場合がある。28GBでは、この距離は4.4〜5.9mmである(Dk=3.27)。期間の3/8〜1/2を超過すると、上述の従来技術の方法はすべてジッターと電気的不連続性を招く。
(3)ATE向けプリント回路基板に及ぼす間隔の制約:大半の生産志向ソリューションは、同時に2x〜4x装置の多部位試験を必要とする。ループバック回路の物理的サイズと、ルートに求められる長合致のため、必須領域における利用可能なプリント回路基板の場所が低減される。
(4)バックドリルビアなどの多数のミスマッチ構造の使用:どのようなビア構造も、特に試験中にFIRフィルタタップをアンダーサンプリングすることによって補償できないレベルのインピーダンスミスマッチを引き起こす。FIRフィルタは、送信路損失を補償する一般的な方法を提供する。標準的なループバック回路は、主ループバック路に最低2つの追加ビアを加える。深さ制御バックドリルビアまたは類似の構造は、非常に大きな電気エネルギー反射とそれに伴うジッターを引き起こす過剰な金属スタブを除去することが必要不可欠である。製造再現性と良好な相互接続信頼性はこれらのバックドリルビアの電気的品質を制限するため、14Gbps超で動作するシリアルリンクにとって最優先課題である。各ループバック路は、上記のバックドリルビアを8つ必要とする。
(5)トレース損失を低減するため高価で珍しい材料を使用する必要性:問題点2を補償するためには超高速材料を使用しなければならない。上述した従来技術の提案の問題を回避するループバック回路の構造および方法を提供することが望ましいであろう。
本発明は、ジッターおよび電気的不連続性を低減する構造および方法を提供する。本発明は、いくつかの実施形態と可能な方法を有する。
実施形態:
1.装置インタフェース(プリント回路)ボード(DIB)に組み込まれる埋込みループバック回路。
2.上述のDIBから物理的に分離可能であるインターポーザに組み込まれる埋込みループバック回路。これにより、本発明のループバック回路を既存のDIBに後付けすることができる。
1.装置インタフェース(プリント回路)ボード(DIB)に組み込まれる埋込みループバック回路。
2.上述のDIBから物理的に分離可能であるインターポーザに組み込まれる埋込みループバック回路。これにより、本発明のループバック回路を既存のDIBに後付けすることができる。
方法:
1.大きなピッチ(0.65mm以上)のために埋め込む単層。
2.微細ピッチ(0.5mmおよび0.4mm)のために埋め込む複数層。
3.最微細ピッチ(0.4mm、0.35mmおよび0.3mm)および高性能のために埋め込む多軸(垂直軸および水平軸)。
1.大きなピッチ(0.65mm以上)のために埋め込む単層。
2.微細ピッチ(0.5mmおよび0.4mm)のために埋め込む複数層。
3.最微細ピッチ(0.4mm、0.35mmおよび0.3mm)および高性能のために埋め込む多軸(垂直軸および水平軸)。
本発明は、被試験装置とインタフェースするプリント回路基板の表面の直下に市販のコンポーネントを置く一連の構造および方法を提供する。具体的には、本発明によると、装置インタフェースボード(DIB)(図13の[42])の外面から被試験装置またはDUT(図14を参照)の直下の装置インタフェースボード(DIB)内の埋込位置まで一般的な受動試験回路(概略に関しては図1〜5を参照)を移動させる。別の実施態様では、被試験装置(図15を参照)の直下のインターポーザまたはドーターカードに一般的な回路を埋め込むことで、既存の装置インタフェースボードハードウェアにアプローチを後付けするという利点を提供する。本発明によると、マイクロビアとトレースを使用して、外部結合コンデンサを使用しながら、プリント回路基板構造内の結合コンデンサを用いることで、可能な限り最短の電気的長さでこれらのコンポーネントをループバック回路に接続する。図11および12は、40Gbpsでの本発明による従来技術からの性能向上を示しており、いずれも図1の回路図を使用する。
図6〜9は、埋込みループバック回路の様々な実施態様に関する半断面図である。これらは、図1および5に示すように、より高度なコンポーネント回路図を利用する。図6および7は実施態様を図示する。本発明の第1の方法では、すべてのループバックコンポーネントが同一面に位置する(大ピッチの実施態様)。図8は第2の方法の実施態様を示しており、すべてのループバックコンポーネントが複数面に位置する(精細ピッチの実施態様)。図9は第3の方法の実施態様を示しており、すべてのループバックコンポーネントが垂直および水平の両配向で存在する(最精細ピッチおよび最高性能の実施態様)。
図16はレイアウトの上面図であり、本発明の短距離の利点を理解するうえで重要である。図13に示す従来技術の提案するループバック回路は被試験装置から離れて搭載しなければならず長い送信路をもたらす一方、図16に示す本発明の送信路は、1.41とTxおよびRx装置ピン位置間の直線距離との積内に収めることができ、ジッターおよび電気的不連続性を低減させる。
図1〜5は従来技術のループバック回路の提案を示す。
図を参照すると、すべての図面は以下の要素番号を使用する。
被試験装置への送信P接続−要素1
被試験装置への送信N接続−要素2
被試験装置への受信P接続−要素3
被試験装置への受信N接続−要素4
ループバック(主路)の差分P側の結合コンデンサ−要素5
ループバック(主路)の差分N側の結合コンデンサ−要素6
送信P用の測定/タップ抵抗器−要素7
受信P用の測定/タップ抵抗器−要素8
送信N用の測定/タップ抵抗器−要素9
受信N用の測定/タップ抵抗器−要素10
主路、ループバックのP側の減衰抵抗器−要素11
主路、ループバックのN側の減衰抵抗器−要素12
送信Pでの測定用の試験機器接続−要素13
送信Nでの測定用の試験機器接続−要素14
受信Pでの測定用の試験機器接続−要素15
受信Nでの測定用の試験機器接続−要素16
送信P用の測定/タップインダクタ−要素17
受信P用の測定/タップインダクタ−要素18
送信N用の測定/タップインダクタ−要素19
受信N用の測定/タップインダクタ−要素20
接続トレース:コンデンサ5/6は送信端、トレース21の中間、または受信端(図示するように)に配置することができる−要素21
トレース21のインピーダンス制御用の上側接地面−要素22
トレース21のインピーダンス制御用の下側接地面−要素23
受信タップ抵抗器またはインダクタ用の接続マイクロトレース−要素24
送信タップ抵抗器またはインダクタ用の接続マイクロトレース−要素25
送信用のループバック回路から被試験装置パッドまでの接続ビア−要素26
受信用のループバック回路から被試験装置パッドまでの接続ビア−要素27
受信タップコンポーネントをトレース24に接続するマイクロビア−要素28
受信タップコンポーネントをトレース25に接続するマイクロビア−要素29
トレース24を外部接続部−外部または内部(15/16)に接続するマイクロビアまたはビア−要素30
トレース25を外部接続部−外部または内部(13/14)に接続するマイクロビアまたはビア−要素31
埋込みコンポーネント層を含む非導電性誘電材料。この層はトレース21のインピーダンスの制御に役立つ−要素32。
トレース24をタップコンポーネントから隔離する薄非導電性誘電層。この層はトレース21のインピーダンスの制御に役立つ−要素33。
構造への外部接続からトレース24を隔離するための薄非導電性誘電層−要素34
構造への外部接続からコンポーネント層を隔離するための薄非導電性誘電層−要素35
被試験装置への送信P接続−要素1
被試験装置への送信N接続−要素2
被試験装置への受信P接続−要素3
被試験装置への受信N接続−要素4
ループバック(主路)の差分P側の結合コンデンサ−要素5
ループバック(主路)の差分N側の結合コンデンサ−要素6
送信P用の測定/タップ抵抗器−要素7
受信P用の測定/タップ抵抗器−要素8
送信N用の測定/タップ抵抗器−要素9
受信N用の測定/タップ抵抗器−要素10
主路、ループバックのP側の減衰抵抗器−要素11
主路、ループバックのN側の減衰抵抗器−要素12
送信Pでの測定用の試験機器接続−要素13
送信Nでの測定用の試験機器接続−要素14
受信Pでの測定用の試験機器接続−要素15
受信Nでの測定用の試験機器接続−要素16
送信P用の測定/タップインダクタ−要素17
受信P用の測定/タップインダクタ−要素18
送信N用の測定/タップインダクタ−要素19
受信N用の測定/タップインダクタ−要素20
接続トレース:コンデンサ5/6は送信端、トレース21の中間、または受信端(図示するように)に配置することができる−要素21
トレース21のインピーダンス制御用の上側接地面−要素22
トレース21のインピーダンス制御用の下側接地面−要素23
受信タップ抵抗器またはインダクタ用の接続マイクロトレース−要素24
送信タップ抵抗器またはインダクタ用の接続マイクロトレース−要素25
送信用のループバック回路から被試験装置パッドまでの接続ビア−要素26
受信用のループバック回路から被試験装置パッドまでの接続ビア−要素27
受信タップコンポーネントをトレース24に接続するマイクロビア−要素28
受信タップコンポーネントをトレース25に接続するマイクロビア−要素29
トレース24を外部接続部−外部または内部(15/16)に接続するマイクロビアまたはビア−要素30
トレース25を外部接続部−外部または内部(13/14)に接続するマイクロビアまたはビア−要素31
埋込みコンポーネント層を含む非導電性誘電材料。この層はトレース21のインピーダンスの制御に役立つ−要素32。
トレース24をタップコンポーネントから隔離する薄非導電性誘電層。この層はトレース21のインピーダンスの制御に役立つ−要素33。
構造への外部接続からトレース24を隔離するための薄非導電性誘電層−要素34
構造への外部接続からコンポーネント層を隔離するための薄非導電性誘電層−要素35
埋込みタップ抵抗器を収容する第2の非導電性誘電層−要素36。シリアルデータリンクを備えた例示の被試験装置(DUT)−要素37。説明のため、被試験装置は「ボールグリッドアレイ」(BGA)パッケージ内に示される。被試験装置は集積回路パッケージとして示され、ウェハ/ダイ形状をとることができる。正確な形状は本開示にとっては重要ではなく、上述の方法は、ウェハプロービング、最終パッケージ試験、バーンイン、キャラクタリゼーションなどを含むがそれらに限定されない任意の試験フォーラムに適用される。DUTとDUTの特徴および機能の測定に使用する試験機器との間のインタフェースボードにDUTを留める例示の電気インタフェースおよび機械的取付機構(ソケットまたはプローブヘッド)−要素38。最も簡易な形状では、はんだインタフェースである。ソケットまたはプローブヘッドは説明のために示しており、本開示にとっては重要ではない。
DUTを試験機器素子に電気的に接続する例示の「装置インタフェースボード」(DIB)−要素39。その他の一般名称は、「ロードボード」、「パフォーマンスボード」、「パーソナリティボード」、「プローブカード」、「ファミリーボード」、「マザーボード」、「ドーターカード」などを含むが、それらに限定されない。ほぼすべてのケースで、DIBはプリント回路基板の製造および組立方法を用いて構築される。図13では、アイテム39は「従来技術」のDIBを表す。図14では、アイテム39はDIB内に含まれる埋込みループバック回路を示す。図15では、アイテム39は、インターポーザ/ドーターカードに別途含まれるために埋込みループバック回路を含まない。
試験回路のDC/低周波部を関連試験機器に接続するDIB内の電気接続ルーティング。図1、2、5〜10では、これらは上述のアイテム[13]、[14]、[15]、[16]を示す−要素40。
高周波路ならびに図1〜5の結合コンデンサ[5]および[6]とのインタフェース用の高性能インタフェースビア−要素41。これらのビアは、回路性能を阻害する導電性金属スタブを除去するために深さ制御バックドリルを必要とする。このバックドリルの質はジッター性能に直接影響を及ぼす。このアイテムは従来技術に特有であり、比較のために示す。
従来技術のループバック回路(図1〜5)の位置−要素42。自動ウェハプローブ試験および自動パッケージ試験に必要な複雑な機械インタフェースでは、物理的にループバック回路の位置を、被試験装置からいくらかの距離だけ分離させなければならない。標準的な距離は3”〜5”であり、中程度複雑な装置にとっては2”が取りうる中で最適な位置である。このアイテムは従来技術に特有であり、比較のために示す。
被試験装置インタフェースによって生成されるビアフィールドからの脱出を可能にする高周波路用の高性能インタフェースビア−要素43。これらのビアは、回路性能を邪魔する導電性金属スタブを除去するため、深さが制御されるバックドリルを必要とする。このバックドリルの質はジッター性能に直接影響を及ぼす。このアイテムは従来技術に特有であり、比較のために示す。
埋込みループバック回路素子を含むインターポーザまたはドーターカード−要素44。インターポーザは、3つの上記埋込みループバック方法または関連の回路図のいずれを利用してもよい。インターポーザアプローチによると、埋込みループバックを現在使用していないDIB(図13に示すDIBを含む)に埋込みループバックを後付けすることができる。このため、既存のDIB/従来技術に対して改良された路が低コストで提供される。また、試験のキャラクタリゼーションの利点ももたらし、エンドユーザは装置をミッションモード試験評価に接続したいと思うかもしれない。
DIBへのインターポーザのインタフェース機構−要素45。インタフェース機構は、はんだ方法、焼結ペースト方法、導電性エラストマー、または金属バネ接触プローブを使用することができるが、それらに限定されない。
(図16)被試験装置(DUT)Tx端子をTxタップコンポーネント(すなわち、図1の抵抗器[7]、[9])に接続するパッドおよびマイクロビア。パッドおよびビアは、図1でノード[1]および[2]として概略的に示す−要素46。
(図16)被試験装置(DUT)Rx端子をRxタップコンポーネント(たとえば、図1の抵抗器[8]、[10])に接続し、そしてこの場合、結合コンデンサ[5]および[6]に接続するパッドおよびマイクロビア−要素47。パッドおよびビアは、図1でノード[3]および[4]として概略的に示す−要素47。
(図16)Txマイクロビア[1]、[2]から結合コンデンサ[5]、[6]への相互接続トレース。このレイアウトでは、結合コンデンサは相互接続トレースの一端に配置される。これは本開示の要件ではなく、コンデンサはこの相互接続トレース素子のどの場所に配置してもよい−要素48。
(図16)TxマイクロビアとRxマイクロビアとの間の直線距離−要素49。これは理論的に最短のループバックトレース長を表す。実際上の考慮事項−主に他の被試験装置との相互接続点および関連ビア−によって、直線距離を利用できないことが非常に多い。しかし、電気接続をルーティングする要件は、直線距離を1.41倍増加させるだけである。
(図16)RxのDCおよび低周波測定のためのタップコンポーネントへのマイクロビア接続−要素50。これらは図1でノード[15]、[16]として概略的に示す。
(図16)TxのDCおよび低周波測定のためのタップコンポーネントへのマイクロビア接続−要素51。これらは図1でノード[13]、[14]として概略的に示す。
図6および7を参照すると、第1の構造は、プリント回路基板の単独の埋込み層にすべてのコンポーネントを配置する。この実施態様は、0.65mm以上のピングリッドアレイ用である。図6の左上は、被試験装置からの送信信号用のインタフェースパッド[1/2]を示す。被試験装置は高速インタフェース方法を通じてこのパッドに接続され、その方法は重要だが、本開示にとって重要ではない。ビア(マイクロビア)[26]は、抵抗器として示されるようなタップコンポーネント[7/8]にパッドを接続する。それはインダクタ[17/19]であってもよい。インダクタを使用するには、空洞を生成するU状キャップを必要とする。タップコンポーネント[7/8]はマイクロビア[29]にルーティングされ、次いで、トレース[25]およびビア[31]を通じてトレースまたは回路に接続される。これにより、送信側のタップが完成する。
トレース21は主ループバック路であり、ビア[26]とコンポーネント[7/8]の端子を主結合コンデンサ[5/6]に接続する。次に、コンデンサ[5/6]をビア[27]と受信インタフェースパッド[3/4]に接続することによってループバック路が完成する。図6および7は、受信パッド[3/4]およびビア[27]の下に配置される主結合コンデンサを示す。主結合コンデンサは送信パッド[1/2]およびビア[26]の下に配置することができる、あるいは主ループバックトレース[21]の中間に置くことができる。
受信側のタップは、ビア(マイクロビア)[27]の直下に接続される抵抗器として示されるタップコンポーネント[9/10]を示す。それはインダクタ[18/20]であってもよい。インダクタを使用するには、空洞を生成するU状キャップを必要とする。タップコンポーネント[9/10]はマイクロビア[28]にルーティングされ、次いで、トレース[24]およびビア[30]を通じてトレースまたは回路に接続される。これにより、受信側のタップが完成する。
タップコンポーネントは、ビア[26]、[27]に配置させる必要はない。タップコンポーネントは、主結合コンデンサの端子に隣接させることがより望ましい。しかし、これは、1mm以上のピングリッドアレーピッチを有する装置でしか可能ではない。
図8に示す埋込みシリアルループバック構造の第2の実施態様は2つのコンポーネント層を使用し、主ループバック路の下の層にタップコンポーネントを配置する。これにより、厚い埋込み構造が生成されるが、X−Y実装面積は低減される。図8では、小さなX−Y実装面積のため、精細ピッチグリッドアレイ(0.5mm以下)での埋込みループバックが可能である。
埋込みシリアルループバック構造(図9を参照)の第3の実施態様は2つのコンポーネント層を使用し、主ループバック路の下の層にタップコンポーネントを置く。この場合、タップコンポーネント(たとえば、抵抗器)は垂直配向のために回転される。これにより、厚い埋込み構造が生成されるが、X−Y実装面積は低減される。また、垂直コンポーネントは、図6〜8のマイクロビア[29/28]および接続トレース[25/24]と関連する寄生接続を低減させる。図9では、精細ピッチグリッドアレイ(0.5mm以下)の埋込みループバックが可能である。
図面中のすべての数字はビア[31/30]とビア[26/27]の配列を示す。これは、構造が大きなプリント回路基板に完全に組み込まれるとき(図10)には、構造の必須要件ではない。ループバック構造がドーターカードとして独立して使用される、あるいは既存のプリント回路基板に後付けされるときには、構造の重要な部分である。
図6は、埋込みループバック回路の本発明の第1の実施形態の断面図(1/2)であり、すべてのコンポーネントは同一平面上にあり、タップ抵抗器[7−10]とタップインダクタ[17−20]は入れ変えることができ、タップインダクタは空心洞を必要とする(図1を1例として使用する)。5つの受動トポロジーのいずれも、概略断面図(1/2)において使用することができる。この方法によると、すべてのコンポーネント同一平面上にある。タップ抵抗器[7−10]およびタップインダクタ[17−20]は入れ替えることができる(たとえば、図5)。タップインダクタは空心洞を要する。このトポロジーの主要な特徴は、電気的長さが試験時の集積回路のピン割当てにのみ依存することである。ほとんどの場合、ループバック路は、従来技術において記載される基準である4.4mmより短くなる。
図7は、コンポーネントが埋込みループバック回路の同一平面上にある図6の実施形態の変形の断面図(1/2)である(図1は1例として使用する)。すべてのコンポーネントは同一平面上にあり、タップ抵抗器[7−10]とタップインダクタ[17−20](たとえば、図5)は入れ替えることができ、タップインダクタは空心洞を必要とし、トレース21はコンポーネント端子の中心に位置するように図示される。図6と同様、この実施態様は、4.4mm基準未満となる。
図8は、埋込みコンポーネントが2層を使用して精細ピッチを可能にする第3の実施形態を示す断面図(1/2)である。タップ抵抗器[7−10]およびタップインダクタ[17−20]は入れ替えることができ(たとえば、図5)、タップインダクタは空心洞を必要とする。第2の方法は、第1の方法を超える特別な性能上の利点を備えていない。しかし、集積回路のより精細なピッチの実施態様を可能にする。第1の方法と同様、ループバックの電気的長さは集積回路のピン割当てに依存する。大半のケースでは、28GBPSの4.4mm基準より短くなる。
図9は、複数層、たとえば、精細ピッチの実施態様を可能にする層を採用する埋込みループバック回路の本発明の第4の実施形態を示す図であり、タップコンポーネントは垂直に配向されており、タップ抵抗器[7−10]およびタップインダクタ[17−20]は入れ替えることができ、タップインダクタは空心洞を必要とする。方法3はマイクロビアの要件を低減することによって、方法1および2を超える性能を有する。これにより、集積回路のより精細なピッチの実施態様が可能になる。第1の方法と同様、ループバックの電気的長さは集積回路のピン割当てに依存する。大半のケースでは、28GBPSの4.4mm基準より短くなる。
図10は、厚いプリント回路基板で図9の実施形態よりもさらに精細なピッチを提供する埋込みループバック回路の本発明の第4の実施形態の図である。
図11:同図は、従来技術の可能な最善の実施態様を用いた40Gbpsでのデータ目開口を示す(データ目はシリアルデータリンクの品質および劣化を判定するためである。これは、各クロック期間を分割し重複するオシロスコープのキャプチャである)。従来技術の実施態様の最大「目高」[A]は初期振幅の26%である。最大「目幅」は期間の76%(または0.76UI)である。図11は図1に示す回路図を使用する。また、これは集積回路のTx出力およびRx入力と関連する一般的なセットの非理想的な寄生パラメータを仮定している。
図12:同図は、本開示の方法1の実施態様を用いた40Gbpsでのデータ目開口を示す。従来技術の実施態様の最大「目高」[A]は初期振幅の71%である。最大「目幅」は期間の91%(または0.91UI)である。図11と比較したとき、目開口は2.73の複数倍向上し、目幅は1.2の複数倍向上する。図12は図1に示す回路図を使用する。また、これは集積回路のTx出力およびRx入力と関連する同じ一般的なセットの非理想的な寄生パラメータを仮定している。
図13:同図は、シリアルデータループバック試験のために図1〜5の回路図を実行する「従来技術」の方法を示す。電気信号は被試験装置(DUT)[37]のTxピンから発生し、DUTインタフェース[38](はんだ、ソケットまたはプローブヘッド)、左側のビア/バックドリル構造[43]、PCボードトレース、左側ビア/バックドリル構造[41]を通って試験回路[42]まで進む。[42]の中央コンポーネントは必須の結合コンデンサを表し、左側および右側コンポーネントはタップ素子(抵抗器またはインダクタ)を提供してシリアルリンクの低周波試験を可能にする。[40]はタップコンポーネントを試験機器に接続するPCボードトレースを表す。高速信号は、右側ビア/バックドリル構造[41]、PCボードトレース、左側ビア/バックドリル構造[43]、DUTインタフェース[38](はんだ、ソケットまたはプローブヘッド)を通ってDUT[37]のRxピンに戻る。
図14:同図は、図1〜5の回路図を実行する一体化埋込みループバック回路を示す。ピッチ要件に応じて、これは図6〜9に示すような3つの実行方法のうちの1つを使用することができる。電気信号は被試験装置(DUT)[37]のTxピンから発生し、DUTインタフェース[38](はんだ、ソケットまたはプローブヘッド)と左側マイクロビアを通って、DUT時に試験回路まで直接進む。Tx信号路を結合コンデンサの左側端子に接続する超短PCボードトレースが試験回路内に存在する。結合コンデンサの右側端子は第2のマイクロビアに接続され、電気インタフェース[38]を通って信号をDUTのRxピンまで戻す。[40]は、タップコンポーネントを試験機器に接続するPCボードトレースを表す。タップコンポーネント端子は、普通の(しかしブラインドの)ビアに接続されるマイクロビアを使用して、低周波試験機器インタフェースに接続される。高周波路には、従来技術において使用される8ビア/バックドリル構造に対抗して、極めて長の短い4マイクロビアしか存在しない。ループバック短トレースをTxピンとRxピンとの間の直接直線接続とすることができるとき、2つのDUTピン間は可能な限り最短の接続である。通常は可能ではないが、短接続は理論的直線距離と非常に近い場合が多い。
図15:同図は、図1〜5の回路図を実行する脱着式埋込みループバック回路を示す。ピッチ要件に応じて、図6〜9に示すような3つの実行方法のうちの1つを使用することができる。脱着式方法は、埋込みループバック回路に後付けするという利点を提供する。電気信号は被試験装置(DUT)[37]のTxピンから発生し、DUTインタフェース[38](はんだ、ソケットまたはプローブヘッド)および左側マイクロビアを通ってDUT時に試験回路まで直接移動する。Tx信号路を結合コンデンサの左側端子に接続する超短PCボードトレースが試験回路内に存在する。結合コンデンサの右側端子は第2のマイクロビアに接続され、電気インタフェース[38]を通って信号をDUTのRxピンまで戻す。これらはすべて、「インターポーズ」、「ドーターカード」、または「パーソナリティボード」と一般的に称される脱着式プリント回路基板[44]に位置する。[45]はインターポーザと装置インタフェースボード(DIB)との間の電気インタフェースを表す。[40]はタップコンポーネントを試験機器に接続するPCボードトレースを表す。タップコンポーネント端子は、低周波試験機器接続[40]のため、ブラインドビアに接続され、インタフェース[45]を介してインターポーザ[44]からDIB[39]の通常ビアへとルーティングされるマイクロビアを使用する。高速の利点、すなわち、ビア構造とプリント回路基板トレース長の低減は、図14と図15とでは同じである。
図16:同図は、図1の回路図と図6および7の大ピッチのための方法(1)とを用いた埋込みコンポーネントループバック回路の上面図である。同図は、2つの埋込みループバック回路全体を示す。左側回路のみに符号を付して、右側回路をより明瞭に視覚化する(このレイアウトは実際の実施態様から得る)。Tx差分信号は被試験装置(DUT)からマイクロビア[46](図6/7のマイクロビア26)まで伝播する。信号は高速トレース[48]を通って結合コンデンサ[5]、[6]まで進む。次に、信号は図1の概略的ノード[4]、[6](図6/7のマイクロビア26)に対応するマイクロビア[47]を通って、AC結合後にDUTに戻る。Txタップコンポーネント[7]、[9]は、マイクロビア[51](図6/7のマイクロビア[29])および図1の概略的ノード[13]、[14]を通じてDC/低周波試験機器に接続される。Rxタップコンポーネント[8]、[10]は、マイクロビア[50](図6/7のマイクロビア[28])および図1の概略的ノード[15]、[16]を通じてDC/低周波試験機器に接続される。TxおよびRx低周波試験のために試験機器に接続されるエスケープ構造の残りは、物理上、この構造の下に位置する。点線[49]は、TxポートとRxポートとの間の直線距離を示す。この点線は、所与の集積回路デバイスのTxとRxとの間の理論的最短距離限度を表す。グリッド上の未接続の符号を付されていないパッドは、ビアを必要とするその他の信号を表す。それらは直線路と干渉し、物理的高速路を周りにルーティングする必要がある。このため、信号路距離が、1.4121(2の平方根)と直線距離との積の新たな上限まで増加する。
特定の実施形態を図示および説明したが、本発明はそれに限定されず、添付の請求項の範囲内で別の形で具体化することができると明確に理解される。
Claims (23)
- 被試験装置にインタフェースで接続するプリント回路基板の表面の真下にコンポーネントを置く構造であって、
送信コンポーネント(Tx)および受信コンポーネント(Rx)を含むコンポーネントを接続するマイクロビアおよびトレースが、被試験装置(DUT)への接続のためにループバック回路に形成され、前記接続が、前記コンポーネント間の直線に近い可能な限り最短の電気的長さで結合コンデンサによって達成され、その距離が前記短い直線と2の平方根との積の長さであるため、前記受信コンポーネントが前記DUTの下に位置する、構造。 - 前記受信機は、その下に位置し、前記マイクロビアおよび概略的ノードを通じて前記DUTに接続されるタップコンポーネントを有し、TxおよびRx低周波試験のための前記DUTに接続されるエスケープ構造の残りは、物理上、前記TxおよびRxポート間に前記直線距離を有して前記構造下に位置し、前記直線距離は、所与の集積回路デバイスでのTxおよびRx間の最短距離限度を表し、1.4121(2の平方根)と前記直線距離との積である新たな上限まで信号経路距離を増大させる、請求項1に記載の構造。
- 市販コンポーネントが、集積回路内のシリアルデータ路を試験する目的で、高性能ループバック路を形成するように(埋込み)プリント回路基板の内部に置かれる、請求項1に記載の構造。
- すべてのループバックコンポーネントが同一平面上にある、請求項1に記載の構造。
- すべてのループバックコンポーネントが複数の平面層を使用する、請求項1に記載の構造。
- ループバックコンポーネントが、ループバックコンポーネントの水平および垂直配向の両方を使用する、請求項1に記載の構造。
- 前記主ループバック路に容量結合を備えた抵抗性または誘導性タップコンポーネントを使用する、請求項1に記載の構造。
- 前記主ループバック路に容量結合を備えたハイブリッドpi減衰フィルタを使用する、請求項1に記載の構造。
- 前記主ループバック路に容量結合のみを使用する、請求項1に記載の構造。
- すべてのインダクタに空心洞を使用する、請求項1に記載の構造。
- 任意のサイズ、公差、または温度係数の2つの端子、表面搭載抵抗器、インダクタ、またはコンデンサを使用する、請求項1に記載の構造。
- 前記可能な最短の外部ループバック路に容量結合を提供する、請求項1に記載の構造。
- 独立型プリント回路基板/インターポーザ/ドーターカードとすることができる、請求項1に記載の構造。
- ずっと厚く大きなプリント回路基板に完全に組み込むことができる、請求項1に記載の構造。
- 任意の相互接続技術を用いて、既存のプリント回路基板に後付けすることができる、請求項1または11に記載の構造。
- 前記被試験装置の下にすべての回路を置くことによって、前記プリント回路基板上のX−Yを占有しない、請求項1に記載の構造。
- 被試験装置にインタフェースで接続するプリント回路基板の表面の真下にコンポーネントを置く方法であって、
送信コンポーネント(Tx)および受信コンポーネント(Rx)を含むコンポーネントを被試験装置(DUT)と接続するために、ループバック回路に形成されるマイクロビアおよびトレースを使用するステップを備え、
前記接続ステップは、前記コンポーネントと前記DUTとの間の直線に近い可能な限り最短の電気的長さで結合コンデンサによって達成され、その距離が前記短い直線と2の平方根との積の長さであるため、前記受信コンポーネントが前記DUTの下に位置する、方法。 - 大ピッチのために単層が埋め込まれる、請求項17による方法。
- 前記ピッチが0.65mm以上である、請求項18による方法。
- 精細ピッチのために複数層が埋め込まれる、請求項17による方法。
- 前記ピッチが0.5mmまたは0.4mmである、請求項19による方法。
- 最精細ピッチのために垂直および水平の多軸が埋め込まれる、請求項17による方法。
- 前記ピッチが高性能のために0.4mm、0.35mmおよび0.3mmである、請求項22による方法。
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