JP2017507501A - 光学センサを使用したパルスプラズマのモニタリング - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (15)
- 半導体プラズマ処理チャンバ内でパルスプラズマが放出した光を受信する工程と、
前記受信した光を前記パルスプラズマのパルスレートよりも高いサンプリングレートでサンプリングする工程であって、前記サンプリングされた光は周期振幅波形を有し、かつ前記サンプリングレートは前記振幅波形の周期よりも高い工程と、
平均的波形を作成するために多数のサンプリングされた波形を蓄積する工程と、
前記平均的波形の特徴をチャンバ制御ツールへ送信する工程を含む方法。 - 前記特徴は、振幅、周期及び勾配を含む、請求項1に記載の方法。
- 後続の多数のサンプリングされた波形のために平均的波形の作成を繰り返す工程と、特徴の送信を繰り返す工程をさらに含み、特徴を送信する工程は、パルスレートよりも低いレートでそれぞれの新たな平均的波形の特徴を送信することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記光をサンプリングする工程が、前記振幅波形の周期よりも100倍高いサンプリングレートで受信した光をサンプリングすることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記平均的波形を障害イベントに対して解析する工程と、障害イベントが判定された場合、前記チャンバ制御ツールに障害コードを送信する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 障害コードを送信する工程が、データパケットのコード及びタイムスタンプを送信することを含む、請求項5に記載の方法。
- 障害コードを送信する工程が、判定される障害イベントを引き起こした前記波形の特徴を、障害イベントが判定される前及び後の波形の特徴と共に送信することを含む、請求項6に記載の方法。
- 前記平均的波形を解析する工程が、前記平均的波形のパラメータを決定することと、前記パラメータを保存されたパラメータと比較することを含む、請求項5に記載の方法。
- 前記受信した光をサンプリングする工程は、前記光を電気信号に変換し、サンプル/ホールド回路を使用して前記電気信号をサンプリングすることを含む、請求項1に記載の方法。
- 半導体プラズマ処理チャンバ内のパルスプラズマによって放出された光を受信するための光検出器と、
前記受信した光を前記パルスプラズマのパルスレートよりも高いサンプリングレートでサンプリングするためのデジタイザであって、前記サンプリングされた光は周期振幅波形を有し、前記サンプリングレートは振幅波形の周期よりも高いデジタイザと、
平均的波形を作成するために多数のサンプリングされた波形を蓄積するための信号解析器と、
前記平均的波形の特徴をチャンバ制御ツールに送信するための通信用インターフェースを備える装置。 - 前記特徴は、前記蓄積された多数のサンプリングされた波形に対する平均的振幅を備える波形を備える、請求項10に記載の装置。
- 前記特徴が、振幅、周期及び勾配を備える、請求項10に記載の装置。
- 前記蓄積された波形を比較して、前記平均的波形を障害イベントに対して解析して、障害イベントが判定された場合、前記チャンバ制御ツールに障害コードを送信するための信号解析器をさらに備える、請求項10に記載の装置。
- 前記信号解析器は、障害コード及びタイムスタンプを備える、前記チャンバ制御ツールに送信するためのデータパケットを組み立てる、請求項10に記載の装置。
- 前記データパケットがさらに、判定される障害イベントを引き起こした前記波形の特徴を、障害イベントが判定される前及び後の波形の特徴と共に備える、請求項14に記載の装置。
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