JP2016154203A5 - - Google Patents
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- 互いに周期の異なる第1回折格子と第2回折格子とを交互に、電子ビームを用いた連続した露光法を用いて連続して、ウェハ上に形成する第1工程と、
前記第1回折格子及び前記第2回折格子の上に活性層を形成する第2工程と、
を含み、
前記第2回折格子の周期は、前記第1回折格子の周期の1.05倍以上もしくは0.95倍以下である、
半導体レーザ素子の製造方法。 - 前記ウェハを、前記第2回折格子が存する部分において劈開することにより、劈開面を形成する第3工程をさらに含む、請求項1に記載の半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記第1工程では、
連続して設けられる前記第1回折格子及び前記第2回折格子を少なくとも一ずつ含む複数の被露光領域を、光導波方向に沿ってそれぞれ離間するように設定し、
前記複数の被露光領域のそれぞれに対して、前記電子ビームによって露光する、請求項1又は2に記載の半導体レーザ素子の製造方法。 - 前記第1回折格子、前記第2回折格子及び前記活性層をエッチングすることにより、前記第1回折格子のストライプ幅以下のストライプ幅を有し、前記第1回折格子、前記第2回折格子、及び前記活性層を含むストライプ状のメサ部を形成する第4工程をさらに含み、
前記第4工程後、前記第1回折格子、前記第2回折格子、及び前記活性層のそれぞれのストライプ幅は一定である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の半導体レーザ素子の製造方法。 - 第1の幅を有するストライプ状の前記第1回折格子と、前記第2回折格子と、前記活性層とをエッチングすることにより、前記第1の幅以下のストライプ幅を有するメサストライプ構造を形成する第4工程をさらに含み、
前記第1工程では、
連続して設けられる前記第1回折格子及び前記第2回折格子を少なくとも一ずつ含む複数の被露光領域を、光導波方向に沿ってそれぞれ連結するように設定し、
前記複数の被露光領域の連結部を前記第2回折格子に重ねるように設定し、
前記第2回折格子において前記連結部と重なる部分の幅は、前記第1の幅よりも大きい、請求項1〜3のいずれか一項に記載の半導体レーザ素子の製造方法。 - ストライプ状に形成される第3回折格子と、前記第3回折格子のストライプ幅より広い幅を有する第4回折格子と、を電子ビーム露光法を用いて連続して、ウェハ上に形成する工程と、
前記第3回折格子及び前記第4回折格子の上に活性層を形成する工程と、
前記第3回折格子、前記第4回折格子及び前記活性層をエッチングすることにより、前記第3回折格子のストライプ幅以下のストライプ幅を有するストライプ状のメサ部を形成する工程と、
を含む、半導体レーザ素子の製造方法。 - 基板上に形成される第1回折格子と、
前記第1回折格子の光導波方向における少なくとも片端に接続され、前記第1回折格子の周期の1.05倍以上又は0.95倍以下の周期を有する第2回折格子と、
前記第1回折格子及び前記第2回折格子の上に形成される活性層と、
を備える、半導体レーザ素子。 - 前記第1回折格子および前記第2回折格子のストライプ幅が一定のストライプ状のメサを有する、請求項7に記載の半導体レーザ素子。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014091042 | 2014-04-25 | ||
JP2014091042 | 2014-04-25 | ||
JP2015028474 | 2015-02-17 | ||
JP2015028474 | 2015-02-17 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016154203A JP2016154203A (ja) | 2016-08-25 |
JP2016154203A5 true JP2016154203A5 (ja) | 2017-12-07 |
JP6657537B2 JP6657537B2 (ja) | 2020-03-04 |
Family
ID=54335655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015088507A Active JP6657537B2 (ja) | 2014-04-25 | 2015-04-23 | 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9800021B2 (ja) |
JP (1) | JP6657537B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6962515B2 (ja) * | 2017-09-07 | 2021-11-05 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 半導体レーザ素子の製造方法 |
JP7458885B2 (ja) | 2020-01-28 | 2024-04-01 | 日本ルメンタム株式会社 | 半導体光増幅器集積レーザ |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61190368A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 微細パタ−ンの形成方法 |
JPS62285418A (ja) * | 1986-06-03 | 1987-12-11 | Fujitsu Ltd | 微細幅パタ−ンの露光方法 |
JPH0817262B2 (ja) * | 1989-08-18 | 1996-02-21 | 三菱電機株式会社 | 単一波長発振半導体レーザ装置 |
JP2527833B2 (ja) * | 1990-07-17 | 1996-08-28 | 三菱電機株式会社 | 回折格子の製造方法 |
JPH04100287A (ja) * | 1990-08-20 | 1992-04-02 | Hitachi Ltd | 半導体レーザ装置 |
JPH0529703A (ja) | 1991-07-19 | 1993-02-05 | Toshiba Corp | 半導体レ−ザ素子 |
JP3151755B2 (ja) * | 1993-04-26 | 2001-04-03 | 日本電信電話株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ |
JPH07128510A (ja) * | 1993-10-27 | 1995-05-19 | Canon Inc | 回折格子の作成方法 |
JPH085849A (ja) * | 1994-06-20 | 1996-01-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導波路型光素子 |
JP3180725B2 (ja) * | 1997-08-05 | 2001-06-25 | 日本電気株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ |
JP2950302B2 (ja) * | 1997-11-25 | 1999-09-20 | 日本電気株式会社 | 半導体レーザ |
WO2001065648A2 (en) * | 2000-03-03 | 2001-09-07 | Optium, Inc. | Self-pulsing multi-section complex-coupled distributed feedback (dfb) laser |
JP2002050569A (ja) * | 2000-08-02 | 2002-02-15 | Hitachi Ltd | パターン形成方法 |
JP2007088285A (ja) * | 2005-09-22 | 2007-04-05 | Nec Electronics Corp | 半導体レーザ素子の製造方法および半導体レーザ素子 |
JP4552894B2 (ja) * | 2006-05-12 | 2010-09-29 | 住友電気工業株式会社 | 分布帰還型半導体レーザを作製する方法 |
JP5326810B2 (ja) * | 2009-05-22 | 2013-10-30 | 住友電気工業株式会社 | 半導体光素子を作製する方法 |
JP5646852B2 (ja) * | 2010-01-08 | 2014-12-24 | 日本オクラロ株式会社 | 半導体光素子及びその製造方法 |
JP5589908B2 (ja) * | 2011-03-11 | 2014-09-17 | 三菱電機株式会社 | 分布帰還型半導体レーザの製造方法 |
JP2011176374A (ja) * | 2011-06-13 | 2011-09-08 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザ及び半導体光集積素子 |
-
2015
- 2015-04-23 JP JP2015088507A patent/JP6657537B2/ja active Active
- 2015-04-24 US US14/696,102 patent/US9800021B2/en active Active
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