JPH04100287A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
半導体レーザ装置Info
- Publication number
- JPH04100287A JPH04100287A JP2217003A JP21700390A JPH04100287A JP H04100287 A JPH04100287 A JP H04100287A JP 2217003 A JP2217003 A JP 2217003A JP 21700390 A JP21700390 A JP 21700390A JP H04100287 A JPH04100287 A JP H04100287A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- laser device
- diffraction grating
- optical output
- mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 abstract description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 10
- 240000002329 Inga feuillei Species 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 2
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1206—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
- H01S5/1215—Multiplicity of periods
Landscapes
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高光出力時まで安定な縦単一モードで発振し
、狭いスペクトル線幅を有する半導体レーザ装置に関す
る。
、狭いスペクトル線幅を有する半導体レーザ装置に関す
る。
従来、安定な縦単一モードを有する半導体レーザとして
、4分の1波長シフト型分布帰還型半導体レーザが、エ
レクトロニクス・レター20゜(1984年)第100
8頁から1010頁(Electron、Lett、M
AG 20 、 1984 、 p p1008−10
10)において論じられている。
、4分の1波長シフト型分布帰還型半導体レーザが、エ
レクトロニクス・レター20゜(1984年)第100
8頁から1010頁(Electron、Lett、M
AG 20 、 1984 、 p p1008−10
10)において論じられている。
上記、4分の1波長シフト型分布帰還型半導体レーザに
おいて、スペクトル線幅の狭い半導体レーザを得るため
に、帰路化結合係数を大きく設定すると、軸方向ホール
バーニングのために縦単一モードの安定性が劣化し、狭
いスペクトル線幅を得ることができないという問題点が
あった。
おいて、スペクトル線幅の狭い半導体レーザを得るため
に、帰路化結合係数を大きく設定すると、軸方向ホール
バーニングのために縦単一モードの安定性が劣化し、狭
いスペクトル線幅を得ることができないという問題点が
あった。
本発明は、高光出力時まで安定な縦単一モードで発振し
、狭いスペクトル線幅を有する半導体レーザ装置を提供
する。
、狭いスペクトル線幅を有する半導体レーザ装置を提供
する。
本発明は、上記目的を達成するために、周期変調構造を
有する回折格子を導入し、さらに活性層に多重量子井戸
構造を導入したものである。
有する回折格子を導入し、さらに活性層に多重量子井戸
構造を導入したものである。
周期変調型回折格子を導入すると、軸方向光強度分布が
平坦化し、軸方向ホールバーニング現象を大幅に低減す
ることができる。その結果、主モードと副モードの間の
規格化しきい値利得差ΔαthLは、注入電流を増加し
ても、4分の1波長シフト型分布帰還型半導体レーザは
ど低減しない。
平坦化し、軸方向ホールバーニング現象を大幅に低減す
ることができる。その結果、主モードと副モードの間の
規格化しきい値利得差ΔαthLは、注入電流を増加し
ても、4分の1波長シフト型分布帰還型半導体レーザは
ど低減しない。
また、この周期変諷型分布帰還型半導体レーザの活性領
域に、多重量子井戸構造を導入すると、さらにこのしき
い値利得差αLの低減を押えることができる。これは、
多重量子井戸の場合、バルク結晶に比べて、キャリア注
入による屈折率の変化量が小さいためである。
域に、多重量子井戸構造を導入すると、さらにこのしき
い値利得差αLの低減を押えることができる。これは、
多重量子井戸の場合、バルク結晶に比べて、キャリア注
入による屈折率の変化量が小さいためである。
4分の1波長シフト型9周期変調型、多重量子井戸構造
を導入した周期変調型分布帰還型半導体レーザについて
、規格化しきい値利得差αLの注入電流依存性を第2図
に示した。
を導入した周期変調型分布帰還型半導体レーザについて
、規格化しきい値利得差αLの注入電流依存性を第2図
に示した。
これより、多重量子井戸構造を導入した周期変調型分布
帰還型半導体レーザは、注入電流を増加しても、規格化
しきい値利得差ΔαthLがほとんど低減せず、高光出
力時まで安定な軸縦−モートで発振し、その結果狭いス
ペクトル線幅が期待できることがわかる。
帰還型半導体レーザは、注入電流を増加しても、規格化
しきい値利得差ΔαthLがほとんど低減せず、高光出
力時まで安定な軸縦−モートで発振し、その結果狭いス
ペクトル線幅が期待できることがわかる。
以下、本発明の第一の実施例を第1図を用いて説明する
。n型InP基板1の表面に、周期変調型回折格子2を
ホトマスク自己干渉法により作製する。位相調整領域の
長さは400μmで、全共振器長1200μmの4分の
1である。位相調整領域における回折格子の周期は24
0.O2nmで、他の部分に比べて0.8nm だけ短
かくなっている。これにより、位相調整領域の左右で回
折格子の位相が反転している。また、規格化結合定数K
Lは4.5である。回折格子作製後、有機金属多層成長
法により、n型InGaAsP光ガイド層3.InGa
As/InGaAsP多重量子井戸層4.p型InGa
AsP光ガイド層StP型InPクラッド層6を順次多
層成長した。ここで、I nGaAs/I nGaAs
P多重量子井戸層4は、InGaAs井戸層とInGa
AsP障壁層とからなっており、井戸数は3である。井
戸数は1〜5であれば、狭いスペクトル幅が得られる。
。n型InP基板1の表面に、周期変調型回折格子2を
ホトマスク自己干渉法により作製する。位相調整領域の
長さは400μmで、全共振器長1200μmの4分の
1である。位相調整領域における回折格子の周期は24
0.O2nmで、他の部分に比べて0.8nm だけ短
かくなっている。これにより、位相調整領域の左右で回
折格子の位相が反転している。また、規格化結合定数K
Lは4.5である。回折格子作製後、有機金属多層成長
法により、n型InGaAsP光ガイド層3.InGa
As/InGaAsP多重量子井戸層4.p型InGa
AsP光ガイド層StP型InPクラッド層6を順次多
層成長した。ここで、I nGaAs/I nGaAs
P多重量子井戸層4は、InGaAs井戸層とInGa
AsP障壁層とからなっており、井戸数は3である。井
戸数は1〜5であれば、狭いスペクトル幅が得られる。
多層成長後、メサ形成・埋込成長により、BH(埋込み
へテロ: buried hetero)構造を形成し
、n電極7およびn電極8を蒸着法により形成した。ヘ
キ開後、ヘキ開面にS i Nx膜9をスパッタ法によ
り形成し、無反射コーチイブを行なった。
へテロ: buried hetero)構造を形成し
、n電極7およびn電極8を蒸着法により形成した。ヘ
キ開後、ヘキ開面にS i Nx膜9をスパッタ法によ
り形成し、無反射コーチイブを行なった。
この半導体レーザは、高光出力時まで安定な縦単一モー
ドで発振し、光出力30mWにおいて、最小スペクトル
線幅100kHzを得た。
ドで発振し、光出力30mWにおいて、最小スペクトル
線幅100kHzを得た。
次に、本発明の第2の実施例を、第3図を用いて説明す
る。第2の実施例では、周期変調型回折格子2の位置調
整領域における回折格子の周期が他の領域よりも長いこ
とが第1の実施例と異なる。
る。第2の実施例では、周期変調型回折格子2の位置調
整領域における回折格子の周期が他の領域よりも長いこ
とが第1の実施例と異なる。
この半導体レーザは、高光出力時まで安定な縦単一モー
ドで発振し、光出力30mWにおいて、最小スペクトル
線幅100kHzを得た。
ドで発振し、光出力30mWにおいて、最小スペクトル
線幅100kHzを得た。
次に、本発明の第3の実施例を、第4図を用いて説明す
る。第3の実施例では、位相調整領域を2つ設けた点が
、第1の実施例と異なる。
る。第3の実施例では、位相調整領域を2つ設けた点が
、第1の実施例と異なる。
この半導体レーザは、高光出力時まで安定な縦単一モー
ドで発振し、光出力30mWにおいて、最小スペクトル
線幅100kHzを得た。
ドで発振し、光出力30mWにおいて、最小スペクトル
線幅100kHzを得た。
次に、本発明の第4の実施例を、第5図を用いて説明す
る。第5図は、コヒーレント光多重通信システムのブロ
ック図である。それぞれ独立に変調したわずかに発振波
長の異なる!】個の半導体レーザからの光を一本の光フ
ァイバーに導き、一定距離の伝送を行なう。受信側では
、波長可変の局発用半導体レーザの光を信号光と重ね合
せることにより、任意の波長の信号光を選択して復調す
る。
る。第5図は、コヒーレント光多重通信システムのブロ
ック図である。それぞれ独立に変調したわずかに発振波
長の異なる!】個の半導体レーザからの光を一本の光フ
ァイバーに導き、一定距離の伝送を行なう。受信側では
、波長可変の局発用半導体レーザの光を信号光と重ね合
せることにより、任意の波長の信号光を選択して復調す
る。
このシステムにおいて、送信用半導体レーザとして1本
発明の半導体レーザを使用した。これにより、100チ
ヤンネルの位相変調ホモダイン検波方式が可能となった
。
発明の半導体レーザを使用した。これにより、100チ
ヤンネルの位相変調ホモダイン検波方式が可能となった
。
以上、半導体レーザ装置の材料としてInP系について
説明したが、本発明はあらゆる材料系について適用可能
である。さらに、横モード制御の方法として、BH溝構
造ついて説明したが、本発明は、あらゆる横モード制御
構造を有する半導体レーザにも適用可能である。
説明したが、本発明はあらゆる材料系について適用可能
である。さらに、横モード制御の方法として、BH溝構
造ついて説明したが、本発明は、あらゆる横モード制御
構造を有する半導体レーザにも適用可能である。
本発明によれば、高光出力時まで安定な縦単一モードで
発振し、スペクトル線幅の狭い半導体レーザを得ること
ができる。
発振し、スペクトル線幅の狭い半導体レーザを得ること
ができる。
第1図は本発明の第1の実施例のレーザ装置の縦断面図
、第2図は本発明の詳細な説明するための特性図、第3
図、第4図は本発明の他の実施例のレーザ装置の縦断面
図、第5図は本発明の実施例の光通信システムの概略構
成図である。 1・・・n型InP基板、2・・・周期変調型回折格子
、χ 1 口 l’73 図 ¥12 口 ¥J 4 図 θ 〉1人を丸
、第2図は本発明の詳細な説明するための特性図、第3
図、第4図は本発明の他の実施例のレーザ装置の縦断面
図、第5図は本発明の実施例の光通信システムの概略構
成図である。 1・・・n型InP基板、2・・・周期変調型回折格子
、χ 1 口 l’73 図 ¥12 口 ¥J 4 図 θ 〉1人を丸
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、しきい値電流の5倍以上の高電流注入時においても
、主モードと副モードの間の規格化しきい値利得差が0
.3以上あることを特徴とする半導体レーザ装置。 2、しきい値電流注入時における軸方向光強度分布と、
高電流注入時における軸方向光強度分布がほとんど変化
しないことを特徴とする半導体レーザ装置。 3、分布帰還型半導体レーザにおいて、その内部に有す
る回折格子の周期が、他の部分と異なる領域を1つ以上
有し、その領域の長さが全共振器長の5分の1から2分
の1であることを特徴とする特許請求の範囲第1項およ
び第2項記載の半導体レーザ装置。 4、特許請求の範囲第3項記載の半導体レーザ装置にお
いて、回折格子の周期が他の部分と異なる領域の左右で
、回折格子の位相が反転していることを特徴とする半導
体レーザ装置。 5、活性領域に多重量子井戸構造を有することを特徴と
する、特許請求の範囲第1項、第2項、第3項、第4項
記載の半導体レーザ装置。 6、請求項1乃至5記載の半導体レーザ装置を用いた光
通信システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2217003A JPH04100287A (ja) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | 半導体レーザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2217003A JPH04100287A (ja) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | 半導体レーザ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04100287A true JPH04100287A (ja) | 1992-04-02 |
Family
ID=16697300
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2217003A Pending JPH04100287A (ja) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | 半導体レーザ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04100287A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6111906A (en) * | 1997-03-17 | 2000-08-29 | Nec Corporation | Distributed-feedback semiconductor laser |
US6175581B1 (en) | 1997-08-05 | 2001-01-16 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser |
US6501777B1 (en) | 1999-01-29 | 2002-12-31 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser emitting device having asymmetrical diffraction gratings |
JP2009064837A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザ及び半導体光集積素子 |
JP2016154203A (ja) * | 2014-04-25 | 2016-08-25 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法 |
WO2018147470A1 (en) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | Kyushu University, National University Corporation | Current-injection organic semiconductor laser diode, method for producing same and program |
US11539190B2 (en) | 2016-09-02 | 2022-12-27 | Kyushu University, National University Corporation | Continuous-wave organic thin-film distributed feedback laser and electrically driven organic semiconductor laser diode |
WO2022269848A1 (ja) * | 2021-06-24 | 2022-12-29 | 日本電信電話株式会社 | 半導体レーザ |
-
1990
- 1990-08-20 JP JP2217003A patent/JPH04100287A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6111906A (en) * | 1997-03-17 | 2000-08-29 | Nec Corporation | Distributed-feedback semiconductor laser |
US6175581B1 (en) | 1997-08-05 | 2001-01-16 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser |
US6501777B1 (en) | 1999-01-29 | 2002-12-31 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser emitting device having asymmetrical diffraction gratings |
JP2009064837A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザ及び半導体光集積素子 |
US7852894B2 (en) | 2007-09-04 | 2010-12-14 | Fujitsu Limited | Semiconductor laser and semiconductor optical integrated device |
JP2016154203A (ja) * | 2014-04-25 | 2016-08-25 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法 |
US11539190B2 (en) | 2016-09-02 | 2022-12-27 | Kyushu University, National University Corporation | Continuous-wave organic thin-film distributed feedback laser and electrically driven organic semiconductor laser diode |
US11909177B2 (en) | 2016-09-02 | 2024-02-20 | Kyushu University, National University Corporation | Continuous-wave organic thin-film distributed feedback laser and electrically driven organic semiconductor laser diode |
US12015248B2 (en) | 2016-09-02 | 2024-06-18 | Kyushu University, National University Corporation | Continuous-wave organic thin-film distributed feedback laser and electrically driven organic semiconductor laser diode |
WO2018147470A1 (en) * | 2017-02-07 | 2018-08-16 | Kyushu University, National University Corporation | Current-injection organic semiconductor laser diode, method for producing same and program |
JP2020506527A (ja) * | 2017-02-07 | 2020-02-27 | 国立大学法人九州大学 | 電流注入有機半導体レーザダイオード、その作成方法及びプログラム |
WO2022269848A1 (ja) * | 2021-06-24 | 2022-12-29 | 日本電信電話株式会社 | 半導体レーザ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH1075009A (ja) | 光半導体装置とその製造方法 | |
JPH0770791B2 (ja) | 半導体レーザ及びその製造方法 | |
KR100519922B1 (ko) | 다영역 자기모드 잠김 반도체 레이저 다이오드 | |
JP2937751B2 (ja) | 光半導体装置の製造方法 | |
JPH06338659A (ja) | レ−ザ素子 | |
JPH08213703A (ja) | レーザダイオード、その製造方法、およびかかるレーザダイオードを使った光通信システム | |
JPH05183236A (ja) | 利得結合分布帰還型半導体レーザ | |
JPH04100287A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP4027639B2 (ja) | 半導体発光装置 | |
JPH04783A (ja) | 半導体光素子 | |
KR100526999B1 (ko) | 다영역 dfb 레이저 다이오드 | |
JP2000261093A (ja) | 分布帰還型半導体レーザ | |
JPS63166281A (ja) | 分布帰還型半導体レ−ザ装置 | |
US5675602A (en) | Optical integrated circuit device and driving method therefor | |
US11557876B2 (en) | Semiconductor laser | |
JP3264179B2 (ja) | 半導体発光装置およびその製造方法 | |
JPH11150324A (ja) | 半導体レーザ | |
JPH1098231A (ja) | 半導体光集積素子とその製造方法 | |
KR100429531B1 (ko) | 분포귀환형 반도체 레이저 | |
JPH08274406A (ja) | 分布帰還型半導体レーザ装置及びその製造方法 | |
JP2574806B2 (ja) | 半導体レ−ザ装置 | |
JP2804502B2 (ja) | 半導体レーザ素子及びその製造方法 | |
JP2950297B2 (ja) | 分布帰還型半導体レーザ及びその製造方法 | |
JPH09307179A (ja) | 位相シフト型分布帰還半導体レーザ | |
JPS61164289A (ja) | 集積型半導体レ−ザ |