JP2016103451A - X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム - Google Patents

X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム Download PDF

Info

Publication number
JP2016103451A
JP2016103451A JP2014242457A JP2014242457A JP2016103451A JP 2016103451 A JP2016103451 A JP 2016103451A JP 2014242457 A JP2014242457 A JP 2014242457A JP 2014242457 A JP2014242457 A JP 2014242457A JP 2016103451 A JP2016103451 A JP 2016103451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tube
anode
ray
cathode
inner peripheral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014242457A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6468821B2 (ja
JP2016103451A5 (ja
Inventor
崇史 塩澤
Takashi Shiozawa
崇史 塩澤
和哉 辻野
Kazuya Tsujino
和哉 辻野
角田 浩一
Koichi Tsunoda
浩一 角田
靖浩 伊藤
Yasuhiro Ito
靖浩 伊藤
和宏 三道
Kazuhiro Mitsumichi
和宏 三道
洋一 五十嵐
Yoichi Igarashi
洋一 五十嵐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2014242457A priority Critical patent/JP6468821B2/ja
Priority to EP15195240.5A priority patent/EP3026690A1/en
Priority to US14/950,570 priority patent/US9818571B2/en
Priority to CN201510847901.9A priority patent/CN105655216B/zh
Publication of JP2016103451A publication Critical patent/JP2016103451A/ja
Publication of JP2016103451A5 publication Critical patent/JP2016103451A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6468821B2 publication Critical patent/JP6468821B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/08Anodes; Anti cathodes
    • H01J35/112Non-rotating anodes
    • H01J35/116Transmissive anodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/064Details of the emitter, e.g. material or structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/147Spot size control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/16Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/10Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/08Targets (anodes) and X-ray converters
    • H01J2235/088Laminated targets, e.g. plurality of emitting layers of unique or differing materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/16Vessels
    • H01J2235/165Shielding arrangements
    • H01J2235/168Shielding arrangements against charged particles

Abstract

【課題】 耐電圧特性と焦点位置精度とを両立したX線発生管を提供する。【解決手段】 電子の照射によりX線を発生するターゲットと、前記ターゲットに電気的に接続された陽極部材と、を有した陽極と、前記ターゲットに電子線を照射する電子放出源と、前記電子放出源に電気的に接続された陰極部材と、を有した陰極と、前記ターゲットと前記電子放出源とが対向するように、前記陽極部材と前記陰極部材とに接続された絶縁管と、を備えたX線発生管であって、前記陽極は、前記絶縁管の内周面において前記陽極部材と電気的に接続された内周陽極層をさらに有し、前記内周陽極層は、前記絶縁管の管軸方向において対陰極陽極端を有する。【選択図】 図1

Description

本発明は、医療機器および産業機器分野における非破壊X線撮影等に適用できるX線発生装置、および該X線発生装置を備えるX線撮影システムに関する。
近年半導体デバイス等の微細化や多層化が進み産業分野における半導体集積回路基板に代表される電子デバイス検査においてはマイクロフォーカスX線管を備えたX線検査装置が用いられている。
マイクロフォーカスX線管において、低ヒール効果に由来する広い放射角、ターゲットがX線放出窓を兼ねる点から、短いSOD(線源検体間距離)、高い拡大率を確保できる点で反射型ターゲットに対して有利な透過型ターゲットを備えることが公知である。
特許文献1には、導電性のベローズをターゲットの後方に配置し、後方散乱電子によるベローズの帯電を抑制させ電子軌道を安定化させた透過型マイクロフォーカスX線発生管が開示されている。特許文献1の透過型マイクロフォーカスX線発生管は、さらに、帯電の抑制により焦点の位置精度と焦点ボケを低減すること開示されている。
特許文献2には、集束レンズ電極を先端に備えた電子放出源9をターゲットに近接させた透過型マイクロフォーカスX線発生管が開示されている。
特許文献1、2のいずれの透過型マイクロフォーカスX線発生管も、ターゲットに向かう様に電子放出源は突出し、管軸方向において電子放出源に重なるように陰極側に延在している管状の陽極部材が開示されている。
特開2012‐104272号公報 特開2002‐298772号公報
特許文献1および2に記載の透過型マイクロフォーカスX線発生管では、特にX線発生管外部の陽極陰極管軸方向に沿面距離に対して絶縁距離が相対的に短く、小型化と必要な分解能(管電圧上限)とが両立し難く、商品性が制限されてしまうことがあった。
本発明は、耐電圧性能と小型化を両立した透過型マイクロフォーカスX線発生管および透過型マイクロフォーカスX線発生装置を提供することを目的とする。並びに、高精細な透過X線像が得られるX線撮影システムを提供することを目的とする。
本発明のX線発生装置は、電子の照射によりX線を発生するターゲットと、前記ターゲットに電気的に接続された陽極部材と、を有した陽極と、前記ターゲットに電子線を照射する電子放出源と、前記電子放出源に電気的に接続された陰極部材と、を有した陰極と、
前記陽極部材と前記陰極部材とに接続された絶縁管と、を備えたX線発生管であって、前記陽極は、前記絶縁管の内周面において前記陽極部材と電気的に接続され前記陰極部材と離間している内周陽極層をさらに有していることを特徴とする。
本発明によれば、X線発生管の外部での耐電圧性能を低下させることなく、絶縁管の帯電を防止することが可能となる。その結果、電子線軌道が安定化され、焦点ボケや焦点位置変動が抑制された高精細なX線発生装置を提供することが可能となる。なお、本願明細書において、これ以降、透過型マイクロフォーカスX線発生管および透過型マイクロフォーカスX線発生装置を、簡略化を意図して、それぞれ、X線発生管、X線発生装置と称する。
本発明の第1の実施形態に関わるX線発生管を示す概略構成図である。 第1の実施形態に関わる技術的意義を説明する模式図である。 第1の実施形態に関わる他の技術的意義を説明する模式図である。 本発明の第2の実施形態に関わるX線発生装置を示す構成図である。 本発明の第3の実施形態に関わるX線撮影システムを示す構成図である。 実施例における評価系を示す構成図である。
以下図面を参照して、本発明のX線発生ユニット、並びに、マイクロフォーカスX線発生装置についての実施形態を例示的に説明する。但し、各実施形態に記載されている構成の材質、寸法、形状、相対配置等は、特に記載がない限り、本発明の範囲を限定する趣旨のものではない。まず、図1〜図5を用いて本発明の第1〜第3の実施形態に関わるX線発生管102、X線発生装置101およびX線撮影システム200について説明する。
〔第1の実施形態―X線発生管〕
まず、図1を用いて、本発明に関わるX線発生管の基本的な構成を説明する。図1には、電子放出源9と透過型ターゲット1とを備えた第1の実施形態に関わる透過型のX線発生管102が示されている。本願発明は、透過型ターゲットを備えた透過型X線発生管に関わる課題を解決するものである。従って、簡単のために、本願明細書においては、これ以降、透過型ターゲット、透過型X線発生管をそれぞれ、ターゲット、X線発生管と称する。
X線発生管102は、電子放出源9が備える電子放出部6から放出された電子線束10をターゲット1に照射することによりX線を発生させる。
陰極104は、電子を放出する電子放出源9、X線発生管102の陰極側の静電場を規定する電極部材、外囲器111を構成する構造部材として陰極部材8とを、少なくとも備えている。
絶縁管4は、陰極104と後述する陽極103との間の絶縁を担うとともに、陽極103、陰極104とともに内部空間13が規定された外囲器111を構成している。絶縁管4は、ガラス材料やセラミックス材料等の絶縁性材料で構成される。絶縁管4は、管軸方向Dtcの両端において、後述するターゲット1と電子放出源9とが対向するように、陰極104と後述する陽極103とのそれぞれに接続される。
陽極103は、電子の照射によりX線を発生するターゲット1、ターゲット1の電位とX線発生管102の陽極側の電位を規定する電極部材、外囲器111を構成する構造部材として、陽極部材2と、を少なくとも備えている。本実施形態に関わる陽極103は、さらに、後述する絶縁管4の内周面に沿って設けられ、陽極部材2から陰極部材8に向かって延在し、陰極部材8から離間している内周陽極層3を備えている。
内周陽極層3は、図1(b)(c)に示すように、管軸方向Dtcにおいて、陽極103の側から陰極104に向かう途中までの、沿面距離Laaだけ、絶縁管4の内周面を覆っている。なお、本実施例においては、内周陽極層3の陰極側の端部である対陰極陽極端11は、電子放出源9のヘッド部23を環状に囲んでいる。すなわち、内周陽極層3は、管周方向Dtaに沿って全周に延在しヘッド部23を囲んでいる。ヘッド部23と対陰極陽極端11との間の配置関係については後述する。
なお、図1(b)(c)は、図1(a)の指示線A−A、B−Bにより指示された断面をそれぞれ示すものである。また、本願明細書において、X線発生管102および絶縁管4に対して、方向を定める際に、図1(a)〜(c)に示す様に、管軸方向Dtc、管周方向Dta、管径方向Dtdのいずれかを用いる。管軸方向Dtc、管周方向Dta、管径方向Dtdのいずれも、絶縁管4とX線発生管102において一致しているとして、一般性を失わない。
管軸方向Dtcは、図1(a)において、絶縁管4の開口の中心が延びる方向に相当する。本実施形態においては、管軸方向Dtcは、陰極部材8、陽極部材2それぞれの法線と平行である。管周方向Dtaは、図1(b)において、絶縁管4の管壁が延在する環状の方向に一致する。また、管径方向Dtdは、絶縁管4の直径を規定する方向であって、絶縁管4の中心軸CAを通過しかつ管軸方向Dtcに垂直な方向に一致する。
次に、本願発明の特徴である内周陽極層の技術的意義について図1〜図3の各図を用いて説明する。図2(a)、(b)には、内周陽極層を備えていない点において、第1の実施形態に関わるX線発生管102と相違するX線発生管112、113が、参考例として示されている。
参考例の図2(a)に示すX線発生管112は、曝射動作の履歴により、X線の焦点FSの「ずれ」が観測される場合があった。本願発明者等の鋭意なる検討の結果、焦点FSから後方に散乱する後方散乱X線が絶縁管4の内周面の帯電が、かかる焦点ずれの原因であることが判った。
同定されたメカニズムは、以下の通りである。
・焦点FSからの後方散乱X線が絶縁管4の陽極側の内周面に入射することにより絶縁管4の陽極側の内周面が帯電する。
・かかる帯電は、管軸方向Dtc、管周方向Dtaにおいて不均一な分布を呈する。
・電子放出源9とターゲット1との間の静電場が帯電により変形し、電子線束10の軌道がずれる
本願発明の特徴である内周陽極層3は、絶縁管4の内周面の陽極側に位置し、陽極部材2に電気的に接続される為、前述の後方散乱電子に由来する絶縁管4の帯電を抑制する効果を発現する第1の技術的意義を有する。
一方、図2(b)に示すX線発生管113は、胴部の陽極側を陽極部材2から陰極側に向けて突出する管状の陽極管部材12を有し、陽極管部材12と絶縁管4の陽極側端部とを接続している点において、第1の参考例に関わるX線発生管112と相違する。第2の参考例に関わるX線発生管113は、絶縁管4より陽極側に位置し陽極部材2に電気的に接続される陽極管部材12により、前述の後方散乱電子に由来する帯電領域を導電性部材に置き換えているため、電子線束10の軌道ずれが効果的に抑制される作用を有する。
しかしながら、第2の参考例に関わるX線発生管113は、曝射動作の履歴により、放電が発生し曝射動作が停止せざるを得ない場合があった。放電が発生したX線発生管113を分析したところ、絶縁管44の外周面を放電経路とする沿面放電が発生していたことが判った。
本願発明者等のさらなる検討の結果、かかる絶縁管44の外周面に発生した沿面放電の原因は、曝射動作の履歴に伴う外周面の絶縁性能の低下にあることが判った。
第2の参考例に認められた絶縁管44の外周面の沿面放電の機序は、以下の通りである。
・第2の参考例のX線発生管113の絶縁距離Lo2は、第1の参考例のX線発生管の絶縁距離Lo1より短く、X線発生管112より微小放電が発生し易かった。
・収納容器107の内部であってX線発生管113の外部に存在する不可避の不純物、異物が、X線発生管113の動作に伴う微小放電により、絶縁管44の外周面に付着する。
・絶縁管44の外周面に蓄積した不純物には、絶縁管44より導電性が高い成分がある。
・蓄積した不純物は、絶縁管44の外周面において不均一に分布している場合があった。
以上より、本参考例の絶縁管44は、実効的に必要な絶縁距離が低下していく変化を受ける。
一方、本願発明の特徴である内周陽極層3は、陽極部材2に電気的に接続され、絶縁管4の陽極側の内周面に位置する為、絶縁管4の外周面の耐圧を低下させることなく後方散乱電子に由来する絶縁管4の帯電を抑制する第2の技術的意義を有する。
なお、収納容器107の内部であってX線発生管102に存在する不可避の不純物、異物は、収納容器107内に製造時に持ち込まれる異物か、収納された後に熱分解、放電残さとして発生する不純物である。
次に、図3(a)〜(c)を用いて、内周陽極層3の管軸方向Dtcの形成範囲について述べる。図3(c)は、本願発明の第1の実施形態に関わるX線発生管102の内周陽極層3を含む要部を拡大して示す部分拡大図である。すなわち、図3(c)は、図1(a)に示す第1の実施形態の管軸方向Dtcと管径方向Dtdとにおいて一部を切り出した断面図であるとも言える。図3(a)〜(c)には、管電圧Va、陰極電位(−Va)、陽極電位0(V)、とした場合の、−0.1×Va(V)、−0.9×Va(V)の空間電位に相当する等電位線61,69がそれぞれ破線で示されている。
図3(a)、(b)は、第1の実施形態に関わるX線発生管102の内周導電層3の形成範囲を変更した変形形態がそれぞれ示されている。
図3(a)〜(c)に示された第1の実施形態及び変形形態は、いずれも本願発明の特徴である内周陽極層3を備えている点において、後方散乱電子に由来する絶縁管4の帯電を抑制し、絶縁管4の外周面の沿面放電を抑制する効果を発現する。
図3(a)に示された第1の変形形態の内周陽極層3は、管軸方向Dtcにおいて、内周陽極層3が電子放出源9と重なるところまでは延在されていない。従って、焦点FSから後方に散乱する後方散乱電子の一部は、電子放出源9と陽極103との間に形成された電場の影響を受けて、対陰極陽極端11近傍の絶縁管4の内周面に入射され絶縁管4を僅かながら帯電させる。
一方、図3(b)、(c)に示された第1の実施形態及び変形形態は、内周陽極層3が管軸方向Dtcにおいて電子放出源9と重なっているため、焦点FSからの後方散乱電子の絶縁管4への入射を制限し、内周陽極層3に入射させる。内周陽極層3に入射された電子は、陽極部材2を介して接地端子に流される。従って、内周陽極層3が、管軸方向Dtcにおいて、電子放出源9と重なっている本実施形態と変形形態は、焦点FSからの後方散乱電子に由来するビームズレが効果的に抑制される効果を有する。
図3(b)に示された第1の実施形態の変形形態の内周陽極層3は、管軸方向Dtcにおいて、内周陽極層3が電子放出源9と重なるところまでは延在し、さらに、集束レンズ電極5bが配置されるヘッド部23より、小径のネック部22にまで延在している。
なお、本願明細書において、管軸方向Dtcにおける内周陽極層3と電子放出源9との重なりは、管径方向DtdにX線発生管102の構造を投影した際に、内周陽極層3と電子放出源9の正射影像が互いに重なることを意味する。従って、管軸方向Dtcにおける内周陽極層3と電子放出源9との重なりは、図1(b)に示すように、内周陽極層3と電子放出源9(23、22)とを通過する管軸方法Dtcに垂直な仮想平面が存在して得るとも言える。かかる仮想平面は、図1(a)に示す断面B−Bに相当する。
一方で、図3(a)〜(c)に示された第1の実施形態及び変形形態は、焦点FSの位置ズレ抑制、すなわち、電子線束10の軌道の直進安定化の目的において、電子放出源9の陽極側の先端をターゲット1に近接化させている。また、図3(a)〜(c)に示された第1の実施形態及び変形形態は、焦点FSの微小焦点化の目的において、電子放出源9は集束レンズ電極5b有している。電子放出源9は、電子放出源9と陽極103との間の電場の均一性の観点から、管径方向Dtdにおいてネック部22より大きな幅Whを有する導電性のヘッド部23に集束レンズ電極5bを備えている。ヘッド部23は、電子放出源9の陽極側の終端に位置し陽極部材2に対向している。また、ヘッド部23は、ネック部22からの移行部に移行部エッジ23aを、陽極103の側に陽極側エッジ23bを備えている。
図3(b)に示され変形形態では、内周陽極層3のネック部22までの延在に伴い、−0.1×Va(V)の等電位線61は、ヘッド部23を超えて陰極側にまで延びて絶縁管4の内周に終端している。この結果、電子放出源9に近接する−0.9×Va(V)の等電位線69が移行部エッジ23a部において、−0.1×Va(V)の等電位線61から遠ざかる方向に屈曲している。すなわち、本変形形態においては、移行部エッジ23a付近に僅かながら電界集中が生じている。
一方、図3(c)に示された第1の実施形態は、内周陽極層3の対陰極陽極端11は、管軸方向Dtcにおいて、ヘッド部23と重なっている為、−0.1×Va(V)の等電位線61は、管軸方向Dtcにおけるヘッド部23のあたりで絶縁管4の内周に終端している。この結果、電子放出源9に近接する−0.9×Va(V)の等電位線69は移行部エッジ23aにおいても屈曲することなく陰極側に向かって延在している。すなわち、本実施形態においては、移行部エッジ23a付近においても何ら電界集中することがない、理想的な静電場が形成されていることが読み取れる。
以上のように、内周陽極層3の形成範囲を、管軸方向Dtcにおいて、電子放出源9、特にヘッド部23を有する場合は、ヘッド部23と重なるように設けることが、焦点FSの位置精度、放電の抑制の観点から好ましい。放電耐圧性能において絶縁距離の確保とX線発生装置の小型化とは二律背反の関係にあるため、本願発明のX線発生管を備える後述するX線発生装置、ならびに、X線撮影システムは、小型化されるメリットを有する。
次に、図1を用いて、X線発生管102の基本的な形態について、さらに説明する。
ターゲット1は、電子放出源9に近い側から、ターゲット層1aと、ターゲット層1aを支持する透過基板1bを備えている。透過基板1bは、X線発生管102の陽極側の端窓を構成している。ターゲット1は、開口を有する陽極部材2に、Ag−Sn合金等のろう材を介して、機械的、電気的、熱的、気密的に接続されている。陽極部材2は、ターゲット1とともに、少なくとも備えた陽極103は、不図示の管電圧回路により電位規定され、X線発生管102の陽極付近の静電場を規定する役割を担う。
外囲器111は、真空度を維持するための気密性と耐大気圧性有する堅牢性とを備える部材から構成されることが好ましい。外囲器111は、絶縁管4、陰極部材8、電子放出源9、ターゲット1、陽極部材2とから構成されている。
電子放出源9から放出された電子は、管電圧Vaが印加された陰極104と陽極103との間に形成された加速電界により、ターゲット層1aでX線を発生させる為に必要な入射エネルギーまで加速され電子線束10となる。
X線発生管102の内部空間13は、電子放出源9から放出された電子の平均自由行程を確保することを目的として、真空となっている。X線発生管102の内部の真空度は、1E−8Pa以上1E−4Pa以下であることが好ましく、電子放出源9の寿命の観点からは、1E−8Pa以上1E−6Pa以下であることがより一層好ましい。従って、電子放出部6およびターゲット層1aは、それぞれ、X線発生管102の内部空間13または内面に配置されている。
X線発生管102の内部空間13は、不図示の排気管および真空ポンプを用いて真空排気した後、かかる排気管を封止することにより真空とすることが可能である。また、X線発生管102の内部空間13には、真空度の維持を目的として、不図示のゲッターを配置しても良い。
ターゲット層1aは、透過基板1bの電子放出部6側の面に設置されている。ターゲット層1aを構成する材料は、融点が高く、X線発生効率の高いものが好ましく、例えばタングステン、タンタル、モリブデンおよびそれらの合金等を用いることができる。
透過基板1bを構成する材料は、ターゲット層1aを支持できる強度を有し、ターゲット層1aで発生したX線の吸収が少なく、かつターゲット層1aで発生した熱をすばやく放熱できるよう熱伝導率の高いものが好ましい。例えばダイアモンド、炭化シリコン、窒化アルミニウム等を用いることができる。なお、透過基板1bは、ターゲット層1aで発生したX線をX線発生管102の外に取り出す透過窓の役割を担うとともに、外囲器111の部分を構成しているとも言える。
電子放出源9は、電子放出部6に、タングステンフィラメント、含浸型カソードのような熱陰極や、カーボンナノチューブ等の冷陰極を用いることができる。電子放出源9は、電子線束10のビーム径および電子電流密度、オン・オフタイミング等の制御を目的として、グリッド電極5a、静電レンズ電極5bを備えることが可能である。本実施形態においては、静電レンズ電極5bは、ピアース型の集束レンズ電極を構成している。
陽極部材2及び陰極部材8は、モネル(米国登録商標シリアルNo.71136034:MONEL、Ni−Cu系合金)、インコネル(米国登録商標シリアルNo.71333517:INCONEL、Ni基の超合金)、コバール(米国登録商標シリアルNo.71367381:KOVAR、Fe−Ni−Co系の合金)等の低線膨張係数合金やステンレスなどの金属が用いられる。
なお、内周陽極層3は非磁性で導電性が高い材料が好ましい。銅、タングステン、チタン等の金属や、それらを主成分とする合金、およびそれらの複合素材などから形成され、また釉薬等を用いることも出来る。内周陽極層3は、絶縁管4の管内周面を周方向に連続に形成される。内周陽極層3は10nm以上1mm以下の層厚であることが好ましく、100nm以上50μm以下の層厚とすることがより一層好ましい。内周陽極層3の層厚の下限は、後方散乱電子の内周陽極層3に対する電子進入深さにより設定される。内周陽極層3の密度、比重、管電圧Vaにより決定することができる。内周陽極層3の層厚の上限は、絶縁管4との線膨張率の不整合の観点から決定される。絶縁管4と内周陽極層3それぞれの材料の線膨張係数に応じて決定することができる。
〔第2の実施形態―X線発生装置〕
図4は本発明の第2の実施形態に関わるX線発生装置101を示す模式図である。X線発生装置101は、第1の実施形態に関わるX線発生管102を駆動するため管駆動回路106を備えている。管駆動回路106は、X線発生管102の陽極103、陰極104間に管電圧Vaを印加する管電圧回路を少なくとも備えている。管駆動回路106は、3極管、4極管等のグリッド電極、静電レンズ電極等を有した多極管の電子銃(電子放出源9)を制御するグリッド制御回路を備える形態とすることもできる。図1、図4に示す実施形態においては、放出電子の電流密度を可変するグリッド電極5a、集束レンズ電極5bを制御する不図示のグリッド制御回路を管駆動回路106は備えている。また、本実施形態の管駆動回路106は、導電性の収納容器107の内部に、かかる絶縁液体108とともに、X線発生管102、管駆動回路106が収納されている。
本実施形態においては、管駆動回路106およびX線発生管102は、収納容器107を介して陽極接地されている。このため、陰極104は、収納容器107に対して−Va(V)の負電位に規定されている。管駆動回路106は、収納容器107の外部に配置し、耐電圧性を有する不図示の電流導入端子を介してX線発生管102に外部から給電する変形形態も本発明に含まれる。
収納容器107としては、ユーザビリティ、安全の観点から電位を規定する為に導電性を有することが好ましく、アルミニウム、真鍮、ステンレス等の金属部材で構成される。
絶縁性液体108は、収納容器107内部に存在するX線発生管102、管駆動回路106、その他の構成要素の相互あるいは、各構成要素自身の電位差に基づく絶縁性能を担保している。また、絶縁性液体108は、X線発生装置101内部の温度差に基づいて、管駆動回路106およびX線発生管102(高温部)と収納容器107(低温部)との間の対流熱交換を行う冷却媒体とも言える。
絶縁性液体108としては、鉱物油、化学合成油、SF6等が適用可能である。収納容器107としては、真鍮、ステンレス、アルミニウム等が適用可能である。また、管駆動回路106としては、コッククロフト・ウォルトン回路が適用可能である。
第1の実施形態に関わるX線発生管102を備えるため、本実施形態のX線発生装置101は、絶縁管4の外部沿面の耐圧性能を低下させることなく、ターゲット1の後方散乱電子に由来する絶縁管4の帯電を抑制し電子線軌道の直進性を担保している。従って、本実施形態のX線発生装置101は、X線管102ならびX線発生装置101を大型化することなく高い管電圧で駆動することが可能であり、かつ、焦点の位置精度が高く、焦点ボケが抑制されたX線放出特性を有するものとなっている。なお、本実施形態に関わるX線発生装置101は、内周陽極層3と電子放出源9とが管軸方向Dtcに重なった配置をとっている為、微小放電によるX線の出力変動が抑制される効果も発現される。
〔第3の実施形態―X線発生装置〕
図5は、本発明の第3の実施形態に関わるX線撮影システム200を示す構成図である。システム制御装置202は、第2の実施形態に関わるX線発生装置101とX線検出装置201とを統合して制御する。
管駆動回路106は、システム制御装置202による制御の下に、X線発生管102に各種の制御信号を出力する。システム制御装置202から出力された制御信号により、X線発生装置101から放出されるX線の放出状態が制御される。X線発生装置101から放出されたX線11は、被検体204を透過してX線検出器206で検出される。X線検出器206は、不図示の検出素子を複数備えており、透過X線像を取得する。取得した透過X線像を画像信号に変換して信号処理部205に出力する。信号処理部205は、システム制御装置202による制御の下に、画像信号に所定の信号処理を施し、処理された画像信号をシステム制御装置202に出力する。システム制御装置202は、処理された画像信号に基づいて、表示装置203に画像を表示させるために表示信号を表示装置203に出力する。表示装置203は、表示信号に基づく画像を、被検体204の撮影画像をスクリーンに表示する。X線発生管1と被検体4の間には、不要なX線の照射を抑制するために、不図示のスリット、コリメータ等を配置してもよい。
以上、本実施形態によれば、小型でかつ放電耐圧特性に優れた透過型のX線発生装置101を備えているので、安定して撮影画像を取得することが可能な、信頼性の高いX線撮影システム200となっている。
本実施例は上記実施形態で例示された構成の例であり、図1および、図1を用いて詳細に説明する。図1は、本実施例のX線発生管102の断面であり、図1は、X線発生管102の動作特性を評価する評価系70を示す構成図である。
本実施例のX線発生管102を以下のようにして作成した。まず、住友電気工業株式会社製の化学的気相体製法(CVD法)による多結晶ダイアモンドを透過基板1bして用意した。透過基板1bは、直径5mm、厚さ1mmのディスク状(円柱状)の形状である。透過基板1bの残留有機物を、不図示のUV−オゾンアッシャ装置により除去する洗浄を行った。
透過基板1bの直径1mmの円形をなす2面のうちの一方に、RFスパッタ法によりArをキャリアガスとして、タングステンからなるターゲット層1aを7μmの厚さに堆積した。成膜時の透過基板1bは260℃となるように加熱した。
次に、直径60mmΦで厚さ3mmのディスク状のコバールからなる金属円板の中心に、直径1.1mmΦの円柱状の開口を形成し陽極部材2とした。陽極部材2に対して、有機溶媒洗浄、リンス、UV−オゾンアッシャ処理によって、陽極部材2の表面にある有機物を除去した。
次に、陽極部材2の開口と、ディスク状のターゲット1の外周部との間に、銀ろうを接合材として付与し、ろう付けを行い、ターゲット1が接続された陽極部材2を得た。
次に、直径60mmΦで厚さ3mmのディスク状のコバールからなる陰極部材8の中心部に、不図示の電流導入端子をスポット溶接により接続しけて陰極部材8とした。なお、陰極部材8に対しても、陽極部材2にした洗浄と同様の洗浄を行った。
次に、電流導入端子と不図示の含浸型電子銃を接続して電子放出源9を備えた陰極104を得た。
次に、長さ70mm、外径60mm、内径50mmの円管状で、アルミナからなる絶縁管4を用意した。絶縁管4に対しても、陰極部材8、陽極部材2と同様の洗浄を行い、表面に残留する有機物を除去した。次に、円錐形の側面において頂角から等距離の開口を有するメタルマスクを用い、RFスパッタの斜め成膜により、絶縁管4の一端から30mmの位置までの内周面に、層厚3μmのタングステンからなる内周陽極層3を形成した。
次に、陰極104と絶縁管4の一方の端部との間にAg−Sn系のろう材を用いてろう付けを行った。さらに、絶縁管4の他方の開口端と陽極部材2とを、陰極104と絶縁管4との接合と同様にしてろう付けを行い、気密封止した。以上により、陰極104、陽極103、絶縁管4とからなる気密容器を作成した。絶縁管4の他方の開口端は、内周陽極層3が形成されている側の端部である。
次に、不図示の排気管と排気装置により、気密容器の内部を1E−6Paの真空度となるように排気した後、排気管を封止することにより、X線発生管102を作成した。
図1に示すように、作成したX線発生管102を管駆動回路106、絶縁性液体108とともに、収納容器107に収納した。X線発生管102は、陽極接地となるように管電圧Vaを出力する管駆動回路106、真鍮製の収納容器107に電気的に接続した。本実施例では、陽極接地であるため、陰極104は、GND電位に規定された収納容器に対して、−Va(V)の電位に規定されている。このようにしてX線発生装置102を作成した。
次に、X線発生装置102のターゲット1の中心を通る法線上であって、ターゲット1からの距離が100cmの位置に、X線強度検出器26を配置した。また、放電カウンタ76は、陰極104から駆動回路16への接続配線、収納容器107からGND設置端子16との接続配線に、放電カウンタ76に接続された誘導プローブ77をカップリングした。このようにしてX線発生装置101の安定性を評価する評価系70を作成した。
X線出力の安定性評価は、管電圧Vaを60kVとして、電子放出源9を1秒間の照射期間と3秒間の休止期間を100回繰り返す毎に5秒間のX線照射を行い、前後の1秒間を除いた3秒間のX線出力を観測して行った。なお、X線発生管102の電子放出源9は、陰極部材8と接地電極16との径路に流れる管電流を不図示の負帰還回路により1%以内の変動値とするよう制御した。
静耐圧試験の評価は、電子放出源9の電子放出を停止した状態で、管電圧Vaを徐々に増大しながら、放電カウンタ76放電耐圧特性試験を行った。
X線発生装置101のX線出力の平均変動値は1.5%であり、X線発生管102の放電耐圧の評価値は112kVであり、いずれも良好な結果であることが判った。
1 ターゲット
2 陽極部材
3 内周陽極層
4 絶縁管
8 陰極部材
9 電子放出源
11 対陰極陽極端
12 陽極管部材
21 対陽極陰極端
102 X線発生管
103 陽極
104 陰極

Claims (13)

  1. 電子の照射によりX線を発生するターゲットと、前記ターゲットに電気的に接続された陽極部材と、を有した陽極と、
    前記ターゲットに電子線を照射する電子放出源と、前記電子放出源に電気的に接続された陰極部材と、を有した陰極と、
    前記陽極部材と前記陰極部材とに接続された絶縁管と、
    を備えたX線発生管であって、
    前記陽極は、前記絶縁管の内周面において前記陽極部材と電気的に接続され前記陰極部材と離間している内周陽極層をさらに有していることを特徴とするX線発生管。
  2. 前記電子放出源は、前記ターゲットに向かって前記陰極部材から突出しており、管軸方向において前記内周陽極層は前記電子放出源と重なっている部分を有していることを特徴とする請求項1に記載のX線発生管。
  3. 前記電子放出源は、陽極部材に対向するヘッド部と、前記ヘッド部と前記陽極部材とに接続され前記ヘッド部より管径方向において小さいネック部を有し、
    前記内周陽極層の対陰極陽極端は、前記管軸方向において、前記ヘッド部と重なって位置していることを特徴とする請求項2に記載のX線発生管。
  4. 前記ヘッド部は、静電レンズ電極であることを特徴とする請求項3に記載のX線発生管。
  5. 静電レンズ電極は、集束レンズ電極であることを特徴とする請求項4に記載のX線発生管。
  6. 前記内周陽極層は、前記絶縁管の周方向において連続であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載のX線発生管。
  7. 前記対陰極陽極端は、前記ヘッド部を囲んでいることを特徴とする請求項6に記載のX線発生管。
  8. 前記内周陽極層は、10nm以上1mm以下の層厚であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のX線発生管。
  9. 前記内周陽極層は、100nm以上50μm以下の層厚であることを特徴とする請求項8に記載のX線発生管。
  10. 前記絶縁管は、前記ターゲットと前記電子放出源とが対向するように、前記陽極部材と前記陰極部材とに接続されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載のX線発生管。
  11. 前記絶縁管は、管軸方向の一方の端部において前記陽極部材に接続され、
    管軸方向の他方の端部において前記陰極部材に接続され、
    前記陽極と前記陰極と前記絶縁管とにより内部空間を規定していることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載のX線発生管。
  12. 請求項1乃至11のいずれか1項に記載のX線発生管と、
    前記陽極と前記陰極との間に管電圧を印加する管電圧回路と、
    を備えていることを特徴とするX線発生装置。
  13. 請求項12に記載のX線発生装置と、
    前記X線発生装置から発生し検体を透過したX線を検出するX線検出器と、
    前記X線発生装置と前記X線検出器とを統合して制御するシステム制御装置と、
    を有することを特徴とするX線撮影システム。
JP2014242457A 2014-11-28 2014-11-28 X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム Active JP6468821B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014242457A JP6468821B2 (ja) 2014-11-28 2014-11-28 X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
EP15195240.5A EP3026690A1 (en) 2014-11-28 2015-11-18 X-ray generation tube, x-ray generation apparatus, and radiography system
US14/950,570 US9818571B2 (en) 2014-11-28 2015-11-24 X-ray generation tube, X-ray generation apparatus, and radiography system
CN201510847901.9A CN105655216B (zh) 2014-11-28 2015-11-27 X射线发生管、x射线发生装置和射线照相系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014242457A JP6468821B2 (ja) 2014-11-28 2014-11-28 X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2016103451A true JP2016103451A (ja) 2016-06-02
JP2016103451A5 JP2016103451A5 (ja) 2017-12-28
JP6468821B2 JP6468821B2 (ja) 2019-02-13

Family

ID=54608364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014242457A Active JP6468821B2 (ja) 2014-11-28 2014-11-28 X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9818571B2 (ja)
EP (1) EP3026690A1 (ja)
JP (1) JP6468821B2 (ja)
CN (1) CN105655216B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2629759C1 (ru) * 2016-06-21 2017-09-01 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" Устройство для определения размеров фокусного пятна тормозного излучения ускорителя
JP6609088B1 (ja) * 2018-12-28 2019-11-20 キヤノンアネルバ株式会社 X線発生管、x線発生装置およびx線撮像装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6140983B2 (ja) * 2012-11-15 2017-06-07 キヤノン株式会社 透過型ターゲット、x線発生ターゲット、x線発生管、x線x線発生装置、並びに、x線x線撮影装置
JP6573380B2 (ja) * 2015-07-27 2019-09-11 キヤノン株式会社 X線発生装置及びx線撮影システム
KR101966794B1 (ko) * 2017-07-12 2019-08-27 (주)선재하이테크 전자 집속 개선용 엑스선관
KR102288924B1 (ko) * 2017-07-28 2021-08-11 (주) 브이에스아이 원통형 엑스선 튜브 및 그 제조 방법
JP6543377B1 (ja) * 2018-04-12 2019-07-10 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置
CN112602381B (zh) * 2018-09-11 2024-02-20 株式会社岛津制作所 X射线装置
US11315751B2 (en) * 2019-04-25 2022-04-26 The Boeing Company Electromagnetic X-ray control

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5169573U (ja) * 1974-11-28 1976-06-01
JP2007311195A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Hamamatsu Photonics Kk X線管
JP2014026801A (ja) * 2012-07-26 2014-02-06 Canon Inc 穿刺用x線発生装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5520174B2 (ja) 1975-02-07 1980-05-31
JPS55178962U (ja) * 1979-06-11 1980-12-22
JPS5790856A (en) * 1980-11-28 1982-06-05 Hitachi Ltd X-ray tube
JPS5844662A (ja) * 1981-09-09 1983-03-15 Hitachi Ltd セラミツク外囲器x線管
US5751784A (en) * 1996-09-27 1998-05-12 Kevex X-Ray X-ray tube
JP2002298772A (ja) 2001-03-30 2002-10-11 Toshiba Corp 透過放射型x線管およびその製造方法
JP2012104272A (ja) 2010-11-08 2012-05-31 Hamamatsu Photonics Kk X線発生装置
JP6049350B2 (ja) * 2012-08-21 2016-12-21 キヤノン株式会社 放射線発生管、放射線発生ユニット及び放射線撮影システム
JP6153314B2 (ja) 2012-11-19 2017-06-28 キヤノン株式会社 X線透過型ターゲット及びその製造方法
JP6327802B2 (ja) * 2013-06-12 2018-05-23 キヤノン株式会社 放射線発生管及びそれを用いた放射線発生装置と放射線撮影システム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5169573U (ja) * 1974-11-28 1976-06-01
JP2007311195A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Hamamatsu Photonics Kk X線管
JP2014026801A (ja) * 2012-07-26 2014-02-06 Canon Inc 穿刺用x線発生装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2629759C1 (ru) * 2016-06-21 2017-09-01 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" Устройство для определения размеров фокусного пятна тормозного излучения ускорителя
JP6609088B1 (ja) * 2018-12-28 2019-11-20 キヤノンアネルバ株式会社 X線発生管、x線発生装置およびx線撮像装置
WO2020136911A1 (ja) 2018-12-28 2020-07-02 キヤノンアネルバ株式会社 X線発生管、x線発生装置およびx線撮像装置
US10720299B1 (en) 2018-12-28 2020-07-21 Canon Anelva Corporation X-ray generating tube, X-ray generating apparatus, and X-ray imaging apparatus
KR20210087102A (ko) 2018-12-28 2021-07-09 캐논 아네르바 가부시키가이샤 X선 발생관, x선 발생 장치 및 x선 촬상 장치
CN113272931A (zh) * 2018-12-28 2021-08-17 佳能安内华股份有限公司 X射线产生管、x射线产生装置及x射线成像装置
CN113272931B (zh) * 2018-12-28 2022-10-18 佳能安内华股份有限公司 X射线产生管、x射线产生装置及x射线成像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6468821B2 (ja) 2019-02-13
EP3026690A1 (en) 2016-06-01
CN105655216B (zh) 2018-04-20
US20160155598A1 (en) 2016-06-02
US9818571B2 (en) 2017-11-14
CN105655216A (zh) 2016-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6468821B2 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
JP6039282B2 (ja) 放射線発生装置及び放射線撮影装置
US20120307974A1 (en) X-ray tube and radiation imaging apparatus
JP6415250B2 (ja) X線発生管、x線発生装置及びx線撮影システム
JP2012256559A (ja) 放射線透過型ターゲット
JP6552289B2 (ja) X線発生管、x線発生装置、x線撮影システム
US10813203B2 (en) X-ray generating apparatus
JP2014041714A (ja) 放射線発生管、放射線発生ユニット及び放射線撮影システム
JP2013051165A (ja) 透過型x線発生装置
JP2019519900A (ja) X線の生成に使用するためのカソードアセンブリ
JPWO2008062519A1 (ja) X線発生装置
JP5342317B2 (ja) X線管
US11114268B2 (en) X-ray generating tube, X-ray generating apparatus, and radiography system
JP2014086147A (ja) 放射線発生管、放射線発生ユニット及び放射線撮影システム
JP6153314B2 (ja) X線透過型ターゲット及びその製造方法
JP6659167B2 (ja) 電子銃を備えたx線発生管及びx線撮影装置
KR20190040265A (ko) X선관
JP7167196B2 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
CN109671605B (zh) 固定阳极型x射线管
JP6580231B2 (ja) X線発生管、x線発生装置及びx線撮影システム
JP6121072B1 (ja) 反射型x線発生装置
JP6611495B2 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
JP2017212229A (ja) 透過型ターゲットおよび該透過型ターゲットを備える放射線発生管、放射線発生装置、及び、放射線撮影装置
JP2016085946A (ja) X線発生管、x線発生装置及びx線撮影システム
JP2014067670A (ja) 放射線発生ユニット及び放射線撮影システム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171117

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171117

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180921

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181218

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190115

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6468821

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151