JP2016051496A5 - - Google Patents

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  1. メモリセルと、
    第1乃至第5の配線と、を有し、
    前記メモリセルは、第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、第3のトランジスタと、第1の容量素子と、第1の配線と、第2の配線と、第3の配線と、第4の配線と、第5の配線と、を有し、
    前記第1のトランジスタのソースおよびドレインの一方は、前記第1の配線電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソースおよびドレインの他方は、前記第1の容量素子の一方の端子と、前記第2のトランジスタのソースおよびドレインの一方と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのゲートは、前記第1の容量素子の他方の端子と、前記第3のトランジスタのソースおよびドレインの一方電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのソースおよびドレインの他方は、前記第5の配線電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのゲートは、前記第3の配線電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタのソースおよびドレインの他方は、前記第2の配線電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタのゲートは、前記第4の配線電気的に接続されている半導体装置。
  2. 請求項1において、
    第4のトランジスタと、
    第5のトランジスタと、
    第1の回路と、
    第6乃至第8の配線と、を有し、
    前記第4のトランジスタのソースおよびドレインの一方は、前記第5の配線電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタのソースおよびドレインの他方は、前記第8の配線電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタのゲートは、前記第6の配線電気的に接続され、
    前記第5のトランジスタのソースおよびドレインの一方は、前記第1の回路電気的に接続され、
    前記第5のトランジスタのソースおよびドレインの他方は、前記第5の配線電気的に接続され、
    前記第5のトランジスタのゲートは、前記第7の配線電気的に接続され
    前記第1の回路は、前記第5の配線に流れる電流と前記第4のトランジスタに流れる電流とが等しいか否かを検出する機能を有する半導体装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102238689B1 (ko) * 2014-03-14 2021-04-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치, 전자 부품, 및 전자 기기
JP6796461B2 (ja) * 2015-11-18 2020-12-09 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、コンピュータ及び電子機器
US10595054B2 (en) 2016-05-10 2020-03-17 Google Llc Method and apparatus for a virtual online video channel
JP6625942B2 (ja) * 2016-07-29 2019-12-25 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP6963463B2 (ja) 2016-11-10 2021-11-10 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、電子部品、及び電子機器
TW201915818A (zh) * 2017-10-05 2019-04-16 香港商印芯科技股份有限公司 光學識別模組
CN108321245B (zh) * 2018-04-11 2023-10-27 南京邮电大学 基于光电器件的动态随机存取存储单元及其制备方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3876993A (en) * 1974-03-25 1975-04-08 Texas Instruments Inc Random access memory cell
US3955181A (en) * 1974-11-19 1976-05-04 Texas Instruments Incorporated Self-refreshing random access memory cell
US3986180A (en) * 1975-09-22 1976-10-12 International Business Machines Corporation Depletion mode field effect transistor memory system
US5705807A (en) 1994-10-24 1998-01-06 Nissan Motor Co., Ltd. Photo detecting apparatus for detecting reflected light from an object and excluding an external light componet from the reflected light
KR0146075B1 (ko) * 1995-05-25 1998-11-02 문정환 반도체 메모리 셀
JP4271268B2 (ja) 1997-09-20 2009-06-03 株式会社半導体エネルギー研究所 イメージセンサおよびイメージセンサ一体型アクティブマトリクス型表示装置
JP2006269023A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Nec Corp 半導体記憶装置
US7193898B2 (en) * 2005-06-20 2007-03-20 Sandisk Corporation Compensation currents in non-volatile memory read operations
KR101811999B1 (ko) 2009-11-20 2017-12-26 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
WO2011068025A1 (en) 2009-12-04 2011-06-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Dc converter circuit and power supply circuit
CN102696109B (zh) 2010-01-15 2015-08-19 株式会社半导体能源研究所 半导体装置及半导体装置的驱动方法
WO2011099360A1 (en) * 2010-02-12 2011-08-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for driving the same
KR101924318B1 (ko) 2010-02-12 2018-12-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 그 구동 방법
WO2011129233A1 (en) * 2010-04-16 2011-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
TWI555128B (zh) 2010-08-06 2016-10-21 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置及半導體裝置的驅動方法
TWI543158B (zh) * 2010-10-25 2016-07-21 半導體能源研究所股份有限公司 半導體儲存裝置及其驅動方法
US8836626B2 (en) 2011-07-15 2014-09-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for driving the same
JP6151530B2 (ja) 2012-02-29 2017-06-21 株式会社半導体エネルギー研究所 イメージセンサ、カメラ、及び監視システム
US9177644B2 (en) * 2012-08-15 2015-11-03 Aplus Flash Technology, Inc. Low-voltage fast-write PMOS NVSRAM cell
JP6545541B2 (ja) * 2014-06-25 2019-07-17 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、監視装置、及び電子機器

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