JP2015210272A - ハイブリッド電流センサアセンブリ - Google Patents

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ホン イル チェ、
ヨウ シク チェ、
You Sik Choi
ヨウ シク チェ、
シン ウク カン、
Shin Wook Kang
シン ウク カン、
ヨン ウン キム、
Young Woon Kim
ヨン ウン キム、
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Abstract

【課題】二つのタイプのセンサが一体化されるハイブリッド電流センサアセンブリを提供する。【解決手段】外部電子デバイスに接続される導体15と、前記導体に流れる電流によって発生する磁界が印加されるホールコア111と、前記ホールコアに印加される前記磁界に起因して両端に電位差が生じるホールセンサ112と、前記導体に流れる前記電流を分路するように構成される分路端子122と、前記分路端子に接続され且つ前記導体に流れる前記電流を測定するように構成されるマイクロプロセッサ123とを含む。【選択図】図2

Description

関連出願の相互参照
本願は、韓国特許庁に2014年4月28日に出願された韓国特許出願第10−2014−0050656号と2014年9月18日に出願された韓国特許出願第10−2014−0124358号の優先権を主張し、これらの開示は、参照によって本書に組み入れられる。
本発明は、ハイブリッド電流センサアセンブリに関する。
電流センサは、電流を検出する電子部品である。電流センサは、例えば、ホールセンサ及び分路センサのような種々のタイプで提供される。
ホール効果は、電流が流れる電導体と磁界が鎖交される時に、この導電体の両端に電位差が生じる物理現象を指す。このようなホール効果によって導入される電位差は、この鎖交された磁界に比例する。このホール効果を使用して、ホールセンサは、バイアス電流を導電体に送り導電体の両端で電位差を測定し且つその磁界の強度を測定する。例えば、韓国特許公開第10−2011−0017774号は、ホールセンサを開示している。
ホールセンサと分路センサは、夫々の利点と不利な点を有する。一般的に、これら二つのセンサの一方は、各性能に基づいて選択的に使用される。しかしながら、安全性の仕様の最近の強化は、これらの両方の使用を必要としている。従って、製品の製造コストと体積は、これら二つのセンサを互いに独立して設置することによって増加する。
本発明の一態様は、二つのタイプのセンサが一体化されるハイブリッド電流センサアセンブリを提供する。
本発明の一態様に従って、外部電気デバイスの両端子に接続される導体と、前記導体に流れる電流によって発生する磁界が印加されるホールコアと、前記ホールコアへの前記磁界の印加によって両端に電位差が生じるホールセンサと、前記導体に流れる前記電流を分路するように構成される分路端子と、前記分路端子に接続され且つ前記導体に流れる前記電流を測定するように構成されるマイクロプロセッサとを含むハイブリッド電流センサアセンブリが提供される。
このハイブリッド電流センサアセンブリは、更に、前記ホールコア、前記ホールセンサ、前記分路端子、及び前記マイクロプロセッサを収容するためのハウジングを含んでもよい。前記導体の少なくとも一部は、前記ハウジングに収容され、前記導体の両端部は、前記ハウジングから外部に露出される。
前記ハイブリッド電流センサアセンブリは、更に、前記ホールセンサ、前記マイクロプロセッサ、及び前記分路端子が接続される回路基板を含んでもよい。
前記ホールコアは、前記磁界を前記ホールセンサに集中させるように配置されてもよい。
前記ホールコアは、前記導体の底側を覆う第1の面、及び前記第1の面の両縁から対応して湾曲し且つ前記導体の両側部を覆う第2の面と第3の面を含んでもよい。
前記回路基板は、前記ホールコアが中に挿入されるコア挿入部を含んでもよい。
前記コア挿入部は、前記回路基板に形成されるスロットであってもよく、前記第2の面と前記第3の面の少なくとも一方は、前記コア挿入部を介して前記回路基板を通るように配置されてもよい。
前記ホールコアは、第1の端部と第2の端部を含んでもよく、前記第1の端部と前記第2の端部は、前記第1の端部と前記第2の端部が互い対向する方向に向かって前記第2の面と前記第3の面から対応して湾曲する。
前記コア挿入部は、前記回路基板の縁から内方へ直線的に凹まされた溝であってもよく、前記第2の面と前記第3の面の少なくとも一方は、前記コア挿入部を介して前記回路基板に摺動可能に接続されてもよい。
前記ホールコアは、前記導体と前記回路基板を覆う形態で設けられてもよい。
前記ホールセンサは、前記ホールコアの前記第1の端部と前記第2の端部との間に形成された隙間に配置されてもよい。
本発明の他の態様に従って、外部電気デバイスの両端子に接続される導体と、ホール効果を使用して、前記導体に流れる電流に関する情報を検出するように構成されるホールセンサモジュールと、前記導体に流れる前記電流に関する情報を測定するように構成される分路センサモジュールとを含むハイブリッド電流センサアセンブリが提供される。
前記ホールセンサモジュールは、前記導体の長手方向に対して垂直な方向に前記導体の少なくとも一部を覆うホールコアと、前記ホールコアの内側に配置されるホールセンサとを含んでもよい。前記分路センサモジュールは、前記導体に流れる前記電流を分路するように構成された分路端子と、前記分路端子に接続され且つ前記導体に流れる前記電流を測定するように構成されるマイクロプロセッサとを含んでもよい。
前記マイクロプロセッサは、前記ホールコアに印加される磁界によって前記ホールセンサの両端に生じる電位差を検出し、前記導体に流れる前記電流を測定することができる。
前記ハイブリッド電流センサアセンブリは、更に、前記マイクロプロセッサによって測定された情報を外部に伝送するように構成されるコネクタを含んでもよい。前記マイクロプロセッサは、前記ホールセンサモジュールによって測定された第1の電流値及び前記分路センサモジュールによって測定された第2の電流値の任意の一方を選択的に又は同時に外部へ伝送することができる。
前記ハイブリッド電流センサアセンブリは、更に、前記ホールコア、前記ホールセンサ、前記分路端子、及び前記マイクロプロセッサを収容するためのハウジングを含んでもよい。前記導体は、前記ハウジングを貫通するように配置されてもよい。
本発明のこれらや他の態様、特徴、及び利点は、添付の図面に関連して例示的実施形態の以下の記述から明らかになり且つより容易に理解される。
本発明の一実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの斜視図である。 本発明の一実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの分解斜視図である。 本発明の一実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの内部構造の斜視図である。 本発明の一実施形態に係るホールセンサモジュールの斜視図である。 本発明の一実施形態に係る分路センサモジュールの斜視図である。 本発明の他の実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの分解斜視図である。 本発明の他の実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの内部構造の斜視図である。 本発明の更に他の実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの分解斜視図である。 本発明の更に他の実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリの内部構造の斜視図である。
以下では、幾つかの例の実施形態が、添付の図面を参照して詳細に記述される。これらの図面の部材に割り当てられる参照番号に関して、同じ部材は、それらが異なる図面に示されている場合であっても、同じ参照番号によって指定されることに留意すること。また、実施形態の記述において、周知の関連する構造又は機能の詳細は、その記載が本開示の多義の解釈を引き起こすと思われる場合は、省略される。
加えて、第1、第2、A、B、(a)、(b)等のような用語は、本書では、部品を記述するために使用することができる。これらの用語の各々は、対応する部品の本質、順序又は列を定義するために使用されるのではなく、単に、他の部品からその対応する部品を区別するために使用される。一つの部品が、他の部品に「接続される」、「連結される」又は「接合される」ということが明細書に記述されている場合、第1の部品が第2の部品に直接接続、連結又は接合されてもよいが、第3の部品が第1の部品と第2の部品との間に「接続」、「連結」又は「接合」されることができることに留意すべきである。
本書で使用される用語は、特定の実施形態のみを記述するためであり、制限する意図はない。本書で記述されるように、単数形「一つ(a)」、「一つ(an)」、及び「その(the)」は、内容が明らかにそうでないことを指している場合を除き、同様に、複数形を含むことを意図している。更に、本書で使用される用語「備える(comprises)」、「備える(comprising)」、「含む(includes)」、「含む(including)」は、記述された特徴、数、ステップ、操作、部材や部品の存在を指すが、1つ以上の他の特徴、数、ステップ、操作、部材、部品やそれらの群の存在又は追加を排除するものではないことに留意すべきである。
電気自動車(EV)、ハイブリッド電気自動車(HEV)、及びプラグインハイブリッド電気自動車(PHEV)のバッテリ管理システム(BMS)は、電圧値又は電流値を使用して充電状態(SoC)及び正常状態(SoH)を計算することができる。
本発明の一実施形態に従って、ハイブリッド電流センサは、ホール電流センサと分路電流センサを組み合わせることによって提供され、従って、冗長デュアル出力及び高電流範囲と低電流範囲を有することができる。
図1は、本発明の一実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリ1の斜視図であり、図2は、ハイブリッド電流センサアセンブリ1の分解斜視図であり、図3は、ハイブリッド電流センサアセンブリ1の内部構造の斜視図である。
図1乃至図3を参照すると、ハイブリッド電流センサアセンブリ1は、外部電子デバイスに接続され、この電子デバイスに流れる電流の値を測定するように構成される。ハイブリッド電流センサアセンブリ1は、ハウジング11、導体15、回路基板16、コネクタ19、ホールコア111、ホールセンサ112、分路抵抗121、分路端子122、及びマイクロプロセッサ123を含む。
ハウジング11は、ハイブリッド電流センサアセンブリ1の外部を形成する。ハウジング11は矩形形態で設けられる。しかしながら、ハウジング11の形状は、図示の例に限定されない。ハウジング11はハウジング本体11aとハウジングカバー11bを含む。
ハウジング本体11aは、中に電気部品を収容する収容空間を含む。ハウジング本体11aは、導体15が中に挿入される導体挿入部11aaを含む。例えば、導体挿入部11aaは、ハウジング本体11aの両側面に対向するように対応して形成されたスロットである。コネクタ19が中に挿入される第1のコネクタ挿入部は、ハウジング本体11aの一方の側に設けられる。例えば、第1のコネクタ挿入部は、ハウジング本体11aのその一方の側で凹まされることによって形成される溝である。
ハウジングカバー11bは、ハウジング本体11aの収容空間の少なくとも一部を覆う。コネクタ19が中に挿入される第2のコネクタ挿入部は、ハウジングカバー11bの一方の側に設けられる。例えば、第2のコネクタ挿入部は、ハウジングカバー11bのその一方の側で凹まされることによって形成される溝である。
導体15の少なくとも一部は、ハウジング11内に配置される。外部電子デバイスは、導体15の両側に接続される。導体15の両側の各々では、外部電子デバイスの両端子が接続される接続部15aが形成される。例えば、接続部15aは、導体15に形成された穴である。導体15は、ハウジング11を貫通するように配置される。導体15は、ハウジング11から外部に露出している。詳しくは、導体15の両端部は、ハウジング11の両側から露出する。すなわち、導体15の両端部は、ハウジング11の両側から外部に突出している。導体15は矩形状の板である。導体15は、ホールコア111の中心を貫通するように配置される。
ホールセンサ112、分路端子122、マイクロプロセッサ123、及びコネクタ19は、回路基板16に配置される。回路基板16は、回路基板16に配置される電気部品を互いに接続するための回路を含む。例えば、回路基板16は、中にホールコア111が挿入されるコア挿入部16aを含む。例えば、コア挿入部16aは、回路基板16を貫通して形成されるスロットである。コア挿入部16aは、ホールコア111の形状に対応して形成される。例えば、コア挿入部16aは、直線的に形成されるスリットの形態で設けられる。
ホールセンサ112とマイクロプロセッサ123の両方は、単一の回路基板16に接続される。ホールセンサ112とマイクロプロセッサ123は夫々、回路基板16の前面と後面に接続される。ホールセンサ112とマイクロプロセッサ123は、少なくとも一部が回路基板16の垂直な方向に重なることができるように配置される。そのような場合、ホールセンサ112とマイクロプロセッサ123を設置するために使用される回路基板16の面積が減少されることができ、従って、全体の幅を減少することができる。
図3とは異なり、ホールセンサ112とマイクロプロセッサ123の両方は、回路基板16の前面と後面の任意の一方に接続される。そのような場合、ホールセンサ112、マイクロプロセッサ123、及び回路基板16の全体の高さを減少することができ、従って、製品全体の高さを減少することができる。
コネクタ19は、ホールセンサ112又はマイクロプロセッサ123によって検出された情報を外部に伝送するための経路として機能する。加えて、コネクタ19は、電力を外部電源から回路基板16に配置された電子部品に供給する経路として機能する。コネクタ19の一部は、ハウジング11内に配置され、その残りの部分は、ハウジング11から外部へ露出されるように配置される。
導体15に流れる電流によって発生する磁界は、ホールコア111に印加される。ホールコア111は、導体15の少なくとも一部を覆う形態で設けられる。ホールコア111は、導体15の長手方向に対して垂直な方向に導体15の少なくとも一部を覆う部分を含む。ホールコア111は、導体15の底側を覆う第1の面と、第1の面の両縁から湾曲し且つ導体15の両側を覆う第2の面と第3の面を含む。すなわち、ホールコア111は、平坦化されたU形状に設けられる。ホールコア111の第2の面と第3の面の少なくとも一部は、コア挿入部16aを介して回路基板16を貫通するように配置される。
ホールセンサ112は、ホールコア111に印加される磁界に基づいて電流を検出する。ホールセンサ112は、ホールコア111の内側に配置される。ホールコア111に印加される磁界に起因してホールセンサ112の両端に電位差が生じる。ホールセンサ112は、ホールコア111の中心の周りに配置される。そのような場合、ホールセンサ112の感度は向上する。
ホールコア111とホールセンサ112は、集合的にホールセンサモジュール110と呼ばれる。ホールセンサモジュール110は、ホール効果を使用して、導体15に流れる電流に関する情報を検出する。
分路抵抗121は、導体15の一側に設けられる。例えば、分路抵抗121は、導体15の中心に配置される。導体15は、分路抵抗121の両側に対応して接続される第1の導体と第2の導体を含む。第1の導体、分路抵抗121、及び第2の導体は、逐次直列に接続される。分路抵抗121の抵抗値は、測定される電流の大きさに基づいて決定される。
分路端子122は、導体15に流れる電流を分路する。分路端子122は、導体15を回路基板16に接続する。分路端子122は、マイクロプロセッサ123を導体15に対して並列に接続させる。分路端子122は、第1の導体と第2の導体を回路基板16の二つのポイントに夫々接続するために第1の分路端子と第2の分路端子を含む。第1の分路端子と第2の分路端子は、マイクロプロセッサ123に接続される。第1の分路端子と第2の分路端子は、分路抵抗121の各側に配置される。第1の分路端子と第2の分路端子は、分路抵抗121に直接接続されないように互いに離れて配置される。
例えば、マイクロプロセッサ123は、回路基板16に基づいてホールセンサ112の反対側に配置される。或いは、ホールセンサ112とマイクロプロセッサ123の両方は、回路基板16の一面に配置される。マイクロプロセッサ123は、ホールコア111の中心から離れて配置される。このような場合、ホールコア111に印加される磁界のマイクロプロセッサ123への影響を減少することができる。
マイクロプロセッサ123は、導体15に流れる電流を測定するために分路端子122に接続される。従って、マイクロプロセッサ123は、分路センサとして機能できる。
加えて、マイクロプロセッサ123は、ホールセンサ112によって検出された情報に基づいて導体15に流れる電流を測定する。このような場合、マイクロプロセッサ123は、ホールコア111に印加された磁界に起因してホールセンサ112の両端に生じる電位差を検出して導体15に流れる電流を測定する。ホールセンサモジュール110によって測定された電流の値は第1の電流値と呼ばれ、分路センサモジュール120によって測定された電流の値が第2の電流値と呼ばれる場合、マイクロプロセッサ123は、コネクタ19を介して、第1の電流値と第2の電流値を選択的に又は同時に外部へ伝送する。
ここで、分路抵抗121、分路端子122、及びマイクロプロセッサ123は、集合的に分路センサモジュール120と呼ばれる。分路センサモジュール120は、分路原理に基づいて導体15に流れる電流に関する情報を測定する。
先に記述されたハイブリッド電流センサモジュール1の構造に基づいて、ホールセンサモジュール110と分路センサモジュール120の各々は、単一の導体15に流れる電流を測定する。
図4は、ホールセンサモジュール110の斜視図である。記述を簡単にするために、回路基板16、分路端子122、及びマイクロプロセッサ123は、図4には示されていない。
図4を参照すると、ホールセンサモジュール110は、導体15、ホールコア111、及びホールセンサ112を含む。
電流が導体15に流れると、導体15に流れる電流に比例する磁界がアンペールの法則に基づいて導体15の周りに誘導される。誘導された磁界は、ホールコア111を磁化し、平坦化されたU形状におけるホールコア111の中心で増幅された磁束が鎖交されることができる。そのような磁束は、ホールセンサ112にホール効果をもたらす。従って、導体15に流れる電流によって誘導された磁界に比例する電子差である電圧は、ホールセンサ112から出力されることができる。
ホールセンサ112から出力される値は、マイクロプロセッサ123に伝送され、従って、導体15に流れる電流の値が測定される。
図5は、分路センサモジュール120の斜視図である。記述を簡単にするために、ホールコア111と他の部材は、図5には示されていない。
図5を参照すると、分路センサモジュール120は、導体15、分路抵抗121、分路端子122、及びマイクロプロセッサ123を含む。
電流が導体15に流れると、導体15に流れる電流は、分路抵抗121に電圧降下が生ずる。分路抵抗121の抵抗値が予め決定されるので、マイクロプロセッサ123は、分路抵抗121に流れる電流を決定するために、分路抵抗121の前端と後端で電圧値を測定し、オームの法則に基づいて電圧値同士間の差を計算する。
表1は、ホールセンサモジュール110と分路センサモジュール120を使用して、ホールセンサモジュール110と分路センサモジュール120の夫々の性能とハイブリッド電流センサアセンブリ1の性能を示す。
Figure 2015210272
表1を参照すると、ホールセンサモジュール110と分路センサモジュール120の各々は、測定項目に基づいて利点と不利な点を有する。ホールセンサモジュール110は、電流の変化に対してより速い応答時間を有する。分路センサモジュール120は、より少ないゼロオフセット電流とより高い精度を有する。ハイブリッド電流センサアセンブリ1は、ホールセンサモジュール110と分路センサモジュール120の組合せであり、従って、二つのセンサの相補的利点と不利な点を有する。例えば、ハイブリッド電流センサアセンブリ1は、マイクロプロセッサ123を使用して、状況に依存してホールセンサモジュール110と分路センサアセンブリ120の少なくとも一方によって測定された値を使用することができる。ホールセンサアセンブリ110と分路センサアセンブリ120は、互いに独立して電流を測定する。従って、これら二つのセンサの一方が壊れた時、ハイブリッド電流センサアセンブリ1は、他方のセンサを使用して電流を測定できる。
以下、先に記述された部品に対して同一の機能を実行する部品は、先に記述された部品の同じ名称を使用して呼ばれる。別段の定めがない限り、先に提供された記述は、以下に記述される例の実施形態に適用され、繰り返しの説明が省略される。
図6は本発明の他の実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリ2の分解斜視図であり、図7はこのハイブリッド電流センサアセンブリ2の内部構造の斜視図である。
図6及び図7を参照すると、ハイブリッド電流センサアセンブリ2は、ハウジング、導体25、回路基板26、コネクタ29、ホールコア211、ホールセンサ212、分路抵抗221、分路端子222、及びマイクロプロセッサ223を含む。
ハウジングは、ハウジング本体21aとハウジングカバー21bを含む。ハウジング本体21aは、導体25が中に挿入される第1の導体挿入部(図示せず)を含む。例えば、第1の導体挿入部は、ハウジング本体21aに形成されるスロットである。図6では、第1の導体挿入部は、ハウジング本体21aの後面に形成される。また、ハウジング本体21aは、導体29が中に挿入されるコネクタ挿入部21aaを含む。例えば、コネクタ挿入部21aaは、ハウジング本体21aに一方の側で凹まされることによって形成される溝である。
ハウジングカバー21bは、導体25が中に挿入される第2の導体挿入部21baを含む。例えば、第2の導体挿入部21baは、ハウジングカバー21bに形成されるスロットである。第2の導体挿入部21baは、第1の導体挿入部に対応する面に形成される。
導体25は、ハウジングを貫通するように配置される。導体25の一端部は、ハウジング本体21aの一面を貫通するように配置され、導体25の他端部は、ハウジングカバー21bを貫通するように配置される。
回路基板26は、中にホールコア211が中に挿入されるコア挿入部26aを含む。例えば、コア挿入部26aは、回路基板26の一縁から内方へ直線的に凹まされた溝である。
ホールコア211は、導体25を覆う形態で設けられる。ホールコア211は、導体25の底側を覆う第1の面、第1の面の両縁から湾曲し且つ導体15を覆う第2の面及び第3の面、及び第1の端部と第2の端部を含み、これらの第1の端部と第2の端部は、第1の端部と第2の端部が互いに対向する方向に第2の面と第3の面から対応して湾曲する。そのような形態に基づき、ホールコア211に印加されるべき磁界は増加し得る。ホールコア211は、コア挿入部26aに沿って摺動可能に接続される。詳しくは、ホールコア211の第2の面と第3の面の少なくとも一方は、コア挿入部26aを介して回路基板26に摺動可能に接続される。
ホールコア211及びホールセンサ212は、集合的にホールセンサモジュールと呼ばれる。
分路抵抗221、分路端子222、及びマイクロプロセッサ223は、集合的に分路センサモジュールと呼ばれる。
図8は、本発明の更に他の実施形態に係るハイブリッド電流センサアセンブリ3の分解斜視図であり、図9は、このハイブリッド電流センサアセンブリ3の内部構造の斜視図である。
図8と図9を参照すると、ハイブリッド電流センサアセンブリ3は、ハウジング、導体35、回路基板36、コネクタ39、ホールコア311、ホールセンサ312、分路抵抗321、分路端子322、及びマイクロプロセッサ323を含む。
ハウジングは、ハウジング本体31aとハウジングカバー31bを含む。ハウジング本体31aは、導体35が中に挿入される第1の導体挿入部(図示せず)を含む。例えば、第1の導体挿入部は、ハウジング本体31aに形成されたスロットである。図8では、第1の導体挿入部は、ハウジング本体31aの後面に形成される。ハウジング本体31aは、コネクタ39が中に挿入されるコネクタ挿入部(図示せず)を含む。例えば、コネクタ挿入部は、ハウジング本体31aの一側に形成されるスロットである。図8では、コネクタ挿入部は、ハウジング本体31aの後面に形成される。すなわち、第1の導体挿入部とコネクタ挿入部は、ハウジング本体31aの同一面に形成される。
ハウジングカバー31bは、導体35が中に挿入される第2の導体挿入部31baを含む。例えば、第2の導体挿入部31baは、ハウジングカバー31bに形成されたスロットである。第2の導体挿入部31baは、第1の導体挿入部に対応する面に形成される。
導体35は、ハウジングを貫通するように配置される。導体35の一端部は、ハウジング本体31aの一面を貫通するように配置され、導体35の他端部は、ハウジングカバー31bを貫通するように配置される。
ホールコア311は、導体35と回路基板36を覆う形態で設けられる。ホールコア311は、導体35の底側と回路基板36を覆う第1の面、第1の面の両縁から湾曲し且つ導体35の両側と回路基板36を覆う第2の面と第3の面、及び第1の端部と第2の端部を含み、これらの第1の端部と第2の端部は、第1の端部と第2の端部が互いに対向する方向に第2の面と第3の面から対応して湾曲する。このような形態に基づき、ホールコア311に印加される磁界を増加することができる。
ホールセンサ312は、ホールコア311の第1の端部と第2の端部との間に形成される隙間に配置される。ホールセンサ312の検出面は、ホールコア311に誘導された磁束が垂直に鎖交されるように配置される。先に記述されたそのような構造に基づき、ホールセンサ312の感度が向上されることができる。
ホールコア311とホールセンサ312は、集合的にホールセンサモジュールと呼ばれる。
分路抵抗321、分路端子322、及びマイクロプロセッサ323は、集合的に分路センサモジュールと呼ばれる。
本発明の例の実施形態によれば、二つのタイプのセンサの夫々の利点と不利な点は、両タイプを単一のセンサハウジングに統合することによって補完されることができる。従って、電流の変化に対するより速い応答速度と設計におけるより高い精度を達成することができる。加えて、製品の製造コストとサイズを低減することができる。
本書での開示は、特定の例を含むが、請求項及びそれらの等価物の精神及び範囲から逸脱することなく形態及び細部において種々の変更がこれらの例においてなされ得ることは当業者にとって明白である。本書で記述された例は、記述的意味に過ぎず制限目的ではないと考えられるべきである。各例における特徴又は態様の記述は、他の例における同様の特徴又は態様に適用可能であると考えられるべきである。記述された技術が異なる順序で実行される場合や記述されたシステム、アーキテクチャ、デバイス、又は回路が異なる方法で組み合わされる場合や他の部品又はそれらの等価物によって交換される又は補充される場合に、相応する結果が達成される。
従って、開示の範囲は、詳細な記述によって画定されるのではなく、請求項及びそれらの等価物によって画定され、請求項及びそれらの等価物の範囲内の全てのバリエーションは、本開示に含まれるものと考えられるべきである。

Claims (16)

  1. ハイブリッド電流センサアセンブリであって、
    外部電子デバイスの両端子に接続される導体と、
    前記導体に流れる電流によって発生する磁界が印加されるホールコアと、
    前記ホールコアに印加された前記磁界に起因して両端に電位差が生じるホールセンサと、
    前記導体に流れる前記電流を分路するように構成される分路端子と、
    前記分路端子に接続され且つ前記導体に流れる前記電流を測定するように構成されるマイクロプロセッサと
    を備えるハイブリッド電流センサアセンブリ。
  2. 更に、前記ホールコア、前記ホールセンサ、前記分路端子、及び前記マイクロプロセッサを収容するためのハウジングを備え、
    前記導体の少なくとも一部が前記ハウジングに収容され、且つ前記導体の両端部が前記ハウジングから外部に露出する請求項1に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  3. 更に、前記ホールセンサ、前記マイクロプロセッサ、及び前記分路端子が接続される回路基板を備える請求項1に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  4. 前記ホールコアは、磁界がホールセンサに集中するように配置される請求項3に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  5. 前記ホールコアは、前記導体の底側を覆う第1の面と、
    前記第1の面の両縁から対応して湾曲し且つ前記導体の両側を覆う第2の面と第3の面を備える請求項4に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  6. 前記回路基板は、
    前記ホールコアが中に挿入されるコア挿入部を備える請求項5に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  7. 前記コア挿入部は、前記回路基板に形成されたスロットであり、
    前記第2の面と前記第3の面の少なくとも一方は、前記コア挿入部を介して前記回路基板を通るように配置される請求項6に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  8. 前記ホールコアは、第1の端部と第2の端部を備え、
    前記第1の端部と前記第2の端部は、前記第1の端部と前記第2の端部が互いに対向する方向へ前記第2の面と前記第3の面から対応して湾曲する請求項6に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  9. 前記コア挿入部は、前記回路基板の縁から内方へ直線的に凹まされた溝であり、
    前記第2の面と前記第3の面の少なくとも一方は、前記コア挿入部を介して前記回路基板へ摺動可能に接続される請求項8に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  10. 前記ホールコアは、前記導体と前記回路基板を覆う形態で設けられる請求項8に記載のハイブリッド電流センサアセンブル。
  11. 前記ホールセンサは、前記ホールコアの前記第1の端部と前記第2の端部との間に形成された隙間に配置される請求項8に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  12. ハイブリッド電流センサアセンブリであって、
    外部電子デバイスの両端子に接続される導体と、
    ホール効果を用いて、前記導体に流れる電流に関する情報を検出するように構成されるホールセンサモジュールと、
    前記導体に流れる前記電流に関する情報を測定するように構成される分路センサモジュールと
    を備えるハイブリッド電流センサアセンブリ。
  13. 前記ホールセンサモジュールは、
    前記導体の長手方向に対して垂直な方向へ前記導体の少なくとも一部を覆うホールコアと、
    前記ホールコアの内側に配置されるホールセンサと
    を備え、
    前記分路センサモジュールは、
    前記導体に流れる前記電流を分路するように構成される分路端子と、
    前記分路端子に接続され且つ前記導体に流れる前記電流を測定するように構成されるマイクロコンピュータと
    を備える請求項12に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  14. 前記マイクロプロセッサは、前記ホールコアに印加される磁界に起因して前記ホールセンサの両端に生じる電位差を検出し且つ前記導体に流れる前記電流を測定するように構成される請求項13に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  15. 更に、前記マイクロプロセッサによって測定された情報を外部へ伝送するように構成されるコネクタを備え、
    前記マイクロプロセッサは、前記ホールセンサモジュールによって測定された第1の電流値及び前記分路センサモジュールによって測定された第2の電流値の任意の一方を選択的に又は同時に外部へ伝送するように構成される請求項14に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
  16. 更に、前記ホールコア、前記ホールセンサ、前記分路端子、及び前記マイクロプロセッサを収容するためのハウジングを備え、
    前記導体は、前記ハウジングを貫通するように配置される請求項13に記載のハイブリッド電流センサアセンブリ。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106291033A (zh) * 2016-10-26 2017-01-04 绵阳市维博电子有限责任公司 一种可开合式电流传感器用磁芯固定结构及磁芯组件
WO2018003360A1 (ja) * 2016-06-27 2018-01-04 Koa株式会社 電流測定装置
JP2019503035A (ja) * 2015-12-07 2019-01-31 ティーディーケイ・エレクトロニクス・アクチェンゲゼルシャフトTdk Electronics Ag 電力接触器、及び、電力接触器の機能検査のための方法
JP2021502554A (ja) * 2018-08-10 2021-01-28 エルジー・ケム・リミテッド 電流検出回路、バッテリー管理システム及びバッテリーパック
CN112653095A (zh) * 2019-10-09 2021-04-13 株式会社牧田 电动作业机
JP2021512290A (ja) * 2018-11-20 2021-05-13 エルジー・ケム・リミテッド 複合型電流測定装置
JP2022117289A (ja) * 2021-01-29 2022-08-10 Tdk株式会社 電流センサおよびそれを備えた電気制御装置
JP2023513369A (ja) * 2020-03-03 2023-03-30 コンチネンタル・オートモーティヴ・テクノロジーズ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 電流センサ
WO2024142703A1 (ja) * 2022-12-27 2024-07-04 サンコール株式会社 電流検出器

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102558559B1 (ko) * 2018-09-05 2023-07-24 엘지이노텍 주식회사 기판 모듈
KR102312332B1 (ko) * 2018-12-18 2021-10-12 주식회사 엘지에너지솔루션 나사 체결 구조를 갖는 션트 저항 모듈
CN109541282B (zh) * 2018-12-28 2024-06-21 珠海市爱能电子有限公司 一种电流传感器及其制备方法
KR102602873B1 (ko) * 2021-02-17 2023-11-16 스마트전자 주식회사 전류 센싱 장치
JP7173187B2 (ja) * 2021-02-22 2022-11-16 株式会社安川電機 電流検出装置、電流検出方法、電流制御装置および電流制御方法
EP4388326A1 (en) * 2021-08-20 2024-06-26 Suzhou Littelfuse OVS Co., Ltd. Battery system and hybrid current sensor therefor
DE102022207853A1 (de) * 2022-07-29 2024-02-01 Continental Automotive Technologies GmbH Stromsensor

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59113766U (ja) * 1983-01-20 1984-08-01 本田技研工業株式会社 直流電流検出回路
JPS6082971A (ja) * 1983-10-14 1985-05-11 Toyota Motor Corp 電気自動車用電流検出装置
JPS6361170A (ja) * 1986-08-30 1988-03-17 Toyota Autom Loom Works Ltd 電流センサにおける磁気コアの形状
JPH07140179A (ja) * 1993-11-15 1995-06-02 Yazaki Corp 電流・電圧検出装置
JP2002303642A (ja) * 2001-04-03 2002-10-18 Stanley Electric Co Ltd 電流検出装置
JP2005172716A (ja) * 2003-12-15 2005-06-30 Hitachi Ltd 電流センサ内蔵半導体モジュール
JP2005337941A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Nippon Ceramic Co Ltd 電流センサ
US20060158176A1 (en) * 2003-07-14 2006-07-20 Norbert Preusse Measuring method and measuring arrangement for measuring currents with a large dynamic range
JP2008275566A (ja) * 2007-05-07 2008-11-13 Tdk Corp 電流センサ
JP2009281773A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Honda Motor Co Ltd 電流センサ
JP2010101635A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Tdk Corp 磁気平衡式電流センサ
JP2010112767A (ja) * 2008-11-04 2010-05-20 Tdk Corp 電流センサ
JP2011064648A (ja) * 2009-09-18 2011-03-31 Tokai Rika Co Ltd 電流センサ
WO2012005042A1 (ja) * 2010-07-07 2012-01-12 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
WO2012070337A1 (ja) * 2010-11-26 2012-05-31 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6759840B2 (en) * 2002-06-11 2004-07-06 Rockwell Automation Technologies, Inc. Hall effect conductor/core method and apparatus
US7084617B2 (en) * 2004-04-21 2006-08-01 Denso Corporation Electric current sensor having magnetic gap
US20070279175A1 (en) 2006-06-01 2007-12-06 Tai-Shan Lin Current sensor
DE102009028956A1 (de) * 2009-08-28 2011-03-03 Robert Bosch Gmbh Magnetfeldsensor
KR200455870Y1 (ko) * 2009-11-23 2011-09-30 대성전기공업 주식회사 전류 센서
JP5067676B2 (ja) * 2010-03-12 2012-11-07 株式会社デンソー センサユニット及び、集磁モジュール
KR101742485B1 (ko) * 2010-08-19 2017-06-01 우리산업 주식회사 전류센서 조립체
CH705027A1 (de) 2011-05-30 2012-11-30 Melexis Technologies Nv Vorrichtung zur Messung eines durch ein elektrisches Kabel fliessenden Stroms.
KR200480159Y1 (ko) * 2011-12-28 2016-04-20 한국단자공업 주식회사 전류센서
US9054523B2 (en) 2012-05-25 2015-06-09 Lsis Co., Ltd. Current detecting mechanism capable of detecting ground fault for direct current circuit breaker

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59113766U (ja) * 1983-01-20 1984-08-01 本田技研工業株式会社 直流電流検出回路
JPS6082971A (ja) * 1983-10-14 1985-05-11 Toyota Motor Corp 電気自動車用電流検出装置
JPS6361170A (ja) * 1986-08-30 1988-03-17 Toyota Autom Loom Works Ltd 電流センサにおける磁気コアの形状
JPH07140179A (ja) * 1993-11-15 1995-06-02 Yazaki Corp 電流・電圧検出装置
JP2002303642A (ja) * 2001-04-03 2002-10-18 Stanley Electric Co Ltd 電流検出装置
US20060158176A1 (en) * 2003-07-14 2006-07-20 Norbert Preusse Measuring method and measuring arrangement for measuring currents with a large dynamic range
JP2005172716A (ja) * 2003-12-15 2005-06-30 Hitachi Ltd 電流センサ内蔵半導体モジュール
JP2005337941A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Nippon Ceramic Co Ltd 電流センサ
JP2008275566A (ja) * 2007-05-07 2008-11-13 Tdk Corp 電流センサ
JP2009281773A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Honda Motor Co Ltd 電流センサ
JP2010101635A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Tdk Corp 磁気平衡式電流センサ
JP2010112767A (ja) * 2008-11-04 2010-05-20 Tdk Corp 電流センサ
JP2011064648A (ja) * 2009-09-18 2011-03-31 Tokai Rika Co Ltd 電流センサ
WO2012005042A1 (ja) * 2010-07-07 2012-01-12 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
WO2012070337A1 (ja) * 2010-11-26 2012-05-31 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019503035A (ja) * 2015-12-07 2019-01-31 ティーディーケイ・エレクトロニクス・アクチェンゲゼルシャフトTdk Electronics Ag 電力接触器、及び、電力接触器の機能検査のための方法
WO2018003360A1 (ja) * 2016-06-27 2018-01-04 Koa株式会社 電流測定装置
JP2018004263A (ja) * 2016-06-27 2018-01-11 Koa株式会社 電流測定装置
US10969408B2 (en) 2016-06-27 2021-04-06 Koa Corporation Current measuring device
CN106291033A (zh) * 2016-10-26 2017-01-04 绵阳市维博电子有限责任公司 一种可开合式电流传感器用磁芯固定结构及磁芯组件
JP2021502554A (ja) * 2018-08-10 2021-01-28 エルジー・ケム・リミテッド 電流検出回路、バッテリー管理システム及びバッテリーパック
JP7049563B2 (ja) 2018-08-10 2022-04-07 エルジー エナジー ソリューション リミテッド 電流検出回路、バッテリー管理システム及びバッテリーパック
JP2021512290A (ja) * 2018-11-20 2021-05-13 エルジー・ケム・リミテッド 複合型電流測定装置
US11313885B2 (en) 2018-11-20 2022-04-26 Lg Energy Solution, Ltd. Integrated current-measuring apparatus
JP7111387B2 (ja) 2018-11-20 2022-08-02 エルジー エナジー ソリューション リミテッド 複合型電流測定装置
JP2021061723A (ja) * 2019-10-09 2021-04-15 株式会社マキタ 電動作業機
CN112653095A (zh) * 2019-10-09 2021-04-13 株式会社牧田 电动作业机
JP7341836B2 (ja) 2019-10-09 2023-09-11 株式会社マキタ 電動作業機
JP2023513369A (ja) * 2020-03-03 2023-03-30 コンチネンタル・オートモーティヴ・テクノロジーズ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 電流センサ
JP7549027B2 (ja) 2020-03-03 2024-09-10 コンチネンタル・オートモーティヴ・テクノロジーズ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 電流センサ
JP2022117289A (ja) * 2021-01-29 2022-08-10 Tdk株式会社 電流センサおよびそれを備えた電気制御装置
US11543469B2 (en) 2021-01-29 2023-01-03 Tdk Corporation Current sensor, and electric control apparatus including the current sensor
JP7243747B2 (ja) 2021-01-29 2023-03-22 Tdk株式会社 電流センサおよびそれを備えた電気制御装置
WO2024142703A1 (ja) * 2022-12-27 2024-07-04 サンコール株式会社 電流検出器

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