JP2015065367A - 剥離装置およびピックアップシステム - Google Patents

剥離装置およびピックアップシステム Download PDF

Info

Publication number
JP2015065367A
JP2015065367A JP2013199287A JP2013199287A JP2015065367A JP 2015065367 A JP2015065367 A JP 2015065367A JP 2013199287 A JP2013199287 A JP 2013199287A JP 2013199287 A JP2013199287 A JP 2013199287A JP 2015065367 A JP2015065367 A JP 2015065367A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
adhesive sheet
peeling
peeling apparatus
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013199287A
Other languages
English (en)
Inventor
崇 倉兼
Takashi Kurakane
崇 倉兼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tesec Corp
Original Assignee
Tesec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tesec Corp filed Critical Tesec Corp
Priority to JP2013199287A priority Critical patent/JP2015065367A/ja
Priority to MYPI2014002590A priority patent/MY187780A/en
Priority to US14/493,034 priority patent/US9520316B2/en
Priority to CN201410502669.0A priority patent/CN104517801A/zh
Publication of JP2015065367A publication Critical patent/JP2015065367A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/14Semiconductor wafers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68318Auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
    • H01L2221/68322Auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68381Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
    • H01L2221/68386Separation by peeling
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10S156/918Delaminating processes adapted for specified product, e.g. delaminating medical specimen slide
    • Y10S156/93Semiconductive product delaminating, e.g. delaminating emiconductive wafer from underlayer
    • Y10S156/931Peeling away backing
    • Y10S156/932Peeling away backing with poking during delaminating, e.g. jabbing release sheet backing to remove wafer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10S156/934Apparatus having delaminating means adapted for delaminating a specified article
    • Y10S156/941Means for delaminating semiconductive product
    • Y10S156/943Means for delaminating semiconductive product with poking delaminating means, e.g. jabbing means
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/11Methods of delaminating, per se; i.e., separating at bonding face
    • Y10T156/1126Using direct fluid current against work during delaminating
    • Y10T156/1132Using vacuum directly against work during delaminating
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/19Delaminating means
    • Y10T156/1928Differential fluid pressure delaminating means
    • Y10T156/1944Vacuum delaminating means [e.g., vacuum chamber, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/19Delaminating means
    • Y10T156/1978Delaminating bending means
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/19Delaminating means
    • Y10T156/1978Delaminating bending means
    • Y10T156/1983Poking delaminating means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

【課題】電子部品を破損させずに粘着シートを剥離することができる剥離装置およびピックアップシステムを提供する。【解決手段】ウェーハシートSに貼り付けられた電子部品Dを、ウェーハシートSを介して突出部22上に位置させ吸引口23に負圧を与える。これにより、電子部品Dに貼り付いたウェーハシートSが載置面211a方向に引っ張られるので、電子部品Dを破損させずにウェーハシートSから剥離させることができる。【選択図】 図3

Description

本発明は、粘着シートに貼り付けられた電子部品が粘着シートから剥離する剥離装置およびこの剥離装置を備えたピックアップシステムに関するものである。
従来より、複数の電子部品が貼り付けられた粘着シートからその電子部品をピックアップして、検査をしたり、所定の容器に格納したりするシステムが提案されている。このようなシステムは、粘着シートを載置する平板状の吸着ステージを備えている(例えば、特許文献1参照。)。この吸着ステージには複数の孔が形成され、この孔は吸引ポンプに接続されている。また、図13に示すように、吸着ステージ901は、略中央部に形成された開口902と、開口902から突出する突き上げピン903とを有している。
粘着シートに貼り付けられた電子部品をピックアップする際には、まず、電子部品が貼り付けられていない面を下にして吸着ステージ上に載置し、ピックアップする電子部品を開口902上に配置する。吸引ポンプを駆動して、粘着シートが吸着ステージに密着した状態となる。続いて、図14に示すように、電子部品Dを粘着シートSを介して突き上げピン903で突き上げて粘着シートSから剥離し、コレット等によりピックアップする。
特願平5−22192号公報
しかしながら、上述したような従来の方式では、突き上げピンで突き上げていたので、電子部品に衝撃が加わり電子部品が破損してしまうことがあった。
そこで、本発明は、電子部品を破損させずに粘着シートを剥離することができる剥離装置およびピックアップシステムを提供することを目的とする。
上述したような課題を解決するために、本発明に係る剥離装置は、粘着シートの一方の面に貼り付けられた電子部品を粘着シートから剥離する剥離装置であって、電子部品が貼り付けられた粘着シートを載置する載置台と、この載置台の粘着シートの他方の面と接する載置面状に形成され、載置台上に載置される粘着シートに向かって突出した突出部と、載置面内の突出部の近傍に開口し、負圧が与えられると粘着シートを吸着する吸引口とを備えることを特徴とするものである。
上記剥離装置において、突出部と粘着シートを介して突出部と接する電子部品との接触面積は、電子部品の粘着シートに貼り付けられた面の面積よりも小さくしてもよい。
また、上記剥離装置において、突出部は、載置面に沿った第1の方向に延在し、突出部の突出量は、第1の方向に沿って単調増加するようにしてもよい。
また、上記剥離装置において、突出部の電子部品と接触する領域の第1の方向に直交する第2の方向の長さは、第1の方向に沿って単調減少するようにしてもよい。
また、上記剥離装置において、吸引口は、第1の方向に延在する突出部の両側に形成された第1の開口および第2の開口を有するようにしてもよい。
また、上記剥離装置において、載置台上に形成された突き上げピンをさらに備えるようにしてもよい。
また、本発明に係るピックアップシステムは、電子部品が貼り付けられた粘着シートを移動可能に保持する保持装置と、粘着シートの一方の面に貼り付けられた電子部品を粘着シートから剥離する粘着シートが載置される剥離装置と、この剥離装置上に載置された粘着シートから電子部品を吸着する吸着装置とを備えたピックアップシステムであって、剥離装置は、上記剥離装置のうちの何れかからなることを特徴とするものである。
本発明によれば、粘着シートに貼り付けられた電子部品を粘着シートを介して突出部上に位置させ吸引口に負圧を与えることにより、電子部品に貼り付いた粘着シートが載置面方向に引っ張られるので、電子部品を破損させずに粘着シートから剥離させることができる。
図1は、ピックアップシステムの全体の構成を模式的に示す平面図である。 図2は、ピックアップシステムの全体の構成を模式的に示す正面図である。 図3は、剥離装置の台座の構成を模式的に示す平面図である。 図4は、剥離部の構成を模式的に示す平面図である。 図5は、図4のI-I線断面図である。 図6は、図4のII-II線断面図である。 図7Aは、剥離動作を説明するための斜視図である。 図7Bは、剥離動作を説明するための斜視図である。 図7Cは、剥離動作を説明するための斜視図である。 図8は、剥離動作を説明するための平面図である。 図9は、図8のIII-III線断面図である。 図10は、図8のIV-IV線断面図である。 図11は、剥離装置の構成の変形例を模式的に示す平面図である。 図12は、剥離装置の構成の変形例を模式的に示す平面図である。 図13は、従来の吸着ステージの構成を模式的に示す斜視図である。 図14は、従来の吸着ステージの構成を模式的に示す断面図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
[ピックアップシステムの構成]
図1,図2に示すピックアップシステムは、一方の面に電子部品が貼り付けられたウェーハシートSを支持したウェーハフレームFを移動可能に保持する保持装置1と、電子部品に貼り付いているウェーハシートSの少なくとも一部を剥離する剥離装置2と、この剥離装置2により一部が剥離された電子部品を吸着する吸着装置3と、ピックアップシステム全体の動作を制御する制御装置4とを備えている。
便宜上、以下において、剥離装置2によりウェーハシートSを剥離するために電子部品を移動させる方向、すなわち、水平方向に沿った1の方向を「X軸方向」、鉛直方向を「Z軸方向」、Z軸方向およびX軸方向に直交する方向を「Y軸方向」とも言う。
<保持装置1の構成>
保持装置1は、X軸方向に移動するX移動機構11と、このX移動機構11に固定されY軸方向に移動するY移動機構12と、このY移動機構12に固定されウェーハフレームFを保持する保持部13とを備えている。
X移動機構11は、X軸方向に延在し、かつ、Y軸方向に所定間隔離間して配設された棒状のXレール11a,11bと、取り付けられたXレール11aに沿って延在し、Xレール11aに沿って移動するX移動部11cと、取り付けられたXレール11bに沿って延在し、Xレール11bに沿って移動するX移動部11dとを備えている。
Y移動機構11は、Y軸方向に延在した一対の棒状の部材からなり、一方の部材の両端部近傍がX移動部11c,11dの一端にそれぞれ固定され、他方の部材の両端部近傍がX移動部11c,11dの他端にそれぞれ固定された一対のYレール12a,12bと、Yレール12aに取り付けられてYレール12aに沿って移動するY移動部12cと、Yレール12bに取り付けられてYレール12bに沿って移動するY移動部12dとを備えている。
保持部13は、中央部にウェーハフレームFを固定する開口が形成された平面視略矩形の板状の部材からなる。このような保持部13は、一組の側部のうち一方がY移動部12c、他方がY移動部12dに固定されている。
保持部13に保持されるウェーハフレームFは、ウェーハシートSを支持している。このウェーハシートSは、弾性を有する材料から構成されており、その一方の面(以下、「表面」とも言う。)は粘着性を有し、他方の面(以下、「裏面」とも言う。)は粘着性を有していない。粘着性を有する表面には、平面視略矩形の板状の複数の電子部品がマトリクス状に貼り付けられている。
このような構成を有する保持装置1において、X移動部11c,11dがXレール11a,11bに沿ってX軸方向に移動すると、X移動部11c,11dに固定されたYレール12a,12b、このYレール12a,12bに取り付けられたY移動部12c,12d、および、このY移動部12c,12dに固定された保持部13もX軸方向に移動するので、結果として、保持部13に保持されたウェーハフレームFがX軸方向に移動することとなる。
また、Y移動部12c,12dがYレール12a,12bに沿ってY軸方向に移動すると、このY移動部12c,12dに固定された保持部13もY軸方向に移動するので、結果として、ウェーハフレームFがY軸方向に移動することとなる。
このように、保持装置1は、保持部13が保持したウェーハフレームFを、X軸方向およびY軸方向に移動させることができる。
なお、保持装置1には、Xレール11a,11bをZ軸方向に移動させるZ移動機構をさらに備えるようにしてもよい。このZ移動機構は、例えば、Z軸方向に延在し、かつ、異なるXレール11a,11bの近傍に配設された一対のZレールと、それぞれ異なるZレールに移動可能に取り付けられ、かつ、近傍のXレール11a,11bが固定された一対のZ移動部とから構成される。このようなZ移動機構を備えることにより、保持部13が保持したウェーハフレームFを、Z軸方向にも移動させることができる。
<剥離装置2の構成>
剥離装置2は、図2〜図6に示すように、ウェーハシートSを載置する載置台21と、この載置台21におけるウェーハシートSの裏面と接する載置面211a上に形成され、載置台21上に載置されるウェーハシートSに向かって突出した突出部22と、載置面211a内の突出部22の近傍に開口し、負圧が与えられるとウェーハシートSを吸着する吸引口23とを備えている。また、載置台21には、吸引ポンプ24が接続されている。
載置台21は、円板状に形成された載置板211と、円筒状に形成され、上部の開口が載置板211の下面により閉塞された円筒状の基部212とから構成されている。ここで、載置板211の上面、すなわち、載置面211aには、図3,図4に示すように、その中央部に突出部22および吸引口23が形成されている。この載置面211aは、X軸方向およびY軸方向に沿った状態、すなわち水平に沿った状態とされている。
なお、載置板211には、全体に多数の小孔(図示せず)が形成されている。
突出部22は、X軸方向に延在しており、その突出量はX軸方向に沿って単調増加している。本実施の形態において、突出部22は、図5に示すように、一端が載置面211aと連続し、一定の勾配を有するスロープ状のスロープ部221と、このスロープ部221の他端と連続し、載置面211aと平行な平坦部222とから構成されている。
また、図4に示すように、突出部22上面におけるY軸方向の長さ(以下、「幅」とも言う)は、X軸方向に沿って単調減少している。本実施の形態において、スロープ部221の上面は、載置面211aと連続する平面視略「ハ」の字状に先細りした第1の領域221aと、この第1の領域221aに連続する幅が一定の第2の領域221bと、この第2の領域221bと平坦部222との間の平面視略「ハ」の字状に先細りした第3の領域221cとから構成されている。一方、平坦部222の上面は、幅が一定の平面視略矩形に形成されている。
ここで、突出部22の少なくとも一部の幅は、電子部品の幅よりも小さく形成されている。本実施の形態においては、第1の領域221aの一部以外は、その幅が電子部品の幅よりも小さく形成されている。
吸引口23は、突出部22の両側に隣接して形成された第1の開口231および第2の開口232から構成されている。言い換えると、第1の開口231と第2の開口232の間に突出部22が配置されている。本実施の形態において、吸引口23は全体として長方形に形成されており、その中央部に突出部22が形成されることにより、第1の開口231と第2の開口232が突出部22の中央を通るX軸に沿った軸線に対して線対称な平面視略台形に形成されている。
吸引ポンプ24は、真空発生器からなり、吸引端が載置台21に接続され、載置台21の内部空間の空気を吸引し、その内部空間内の圧力を低下させる。
<吸着装置3の構成>
吸着装置3は、図示しない移動部によりX,Y,Z方向に移動可能に支持された基部31と、この基部31に固定されたピックアップコレット32とを備えている。このピックアップコレット32は、図示しない真空発生器により負圧または正圧の空気が選択的に供給されることにより、吸着端で電子部品を吸着したり、吸着した電子部品を解放したりする。
<制御装置4の構成>
制御装置4は、保持装置1、剥離装置2および吸着装置3の動作を制御することにより、ピックアップシステム全体の動作を制御する。このような制御装置4は、CPUなどの演算装置、メモリ、HDD(Hard Disk Drive)などの記憶装置、キーボード、マウス、タッチパネルなどの外部からの情報入力を検知する入力装置、インターネット、LAN(Local Area Network)、WAN(Wide Area Network)などの通信回線を介して各種情報の送受信を行うI/F装置、およびCRT(Cathode Ray Tube)、LCD(Liquid Crystal Display)等の表示装置などを備えたコンピュータと、このコンピュータにインストールされたプログラムとから構成される。これらのハードウエア資源とソフトウエアが協働することによって、上記のハードウエア資源がプログラムによって制御され、後述するピックアップシステムによる各種動作を実現する。
<ピックアップシステムの動作>
次に、本実施の形態に係るピックアップシステムの動作について説明する。
まず、保持装置1は、吸着装置3により吸着させる電子部品(以下、「吸着対象部品」とも言う。)が表面に貼り付けられたウェーハシートSの裏面を、剥離装置2の載置面211aに当接させる。このとき、吸着対象部品は、平面視において、その中心が突出部22の中心部を通るX軸方向に沿った軸線上に位置し、かつ、1つの辺がその軸線と直交するように配置される。本実施の形態では、ウェーハシートS上に複数の電子部品が連設されているので、ウェーハシートSは、各電子部品の中心を通る軸線と、突出部22の中心軸とが一致するように配置される。
ウェーハシートSを載置面211a上に配置すると、吸引ポンプ24は、駆動を開始する。すると、載置台21に形成された小孔(図示せず)を介して、載置面211aとウェーハシートSとの間に存在する空気が吸引ポンプ24により吸引されるので、ウェーハシートSは載置面211aに密着する。また、第1の開口231および第2の開口232と対向する領域のウェーハシートSは第1の開口231および第2の開口232に向かって吸引される。
なお、吸引ポンプ24は、ウェーハシートSが載置面211aに載置される前に駆動するようにしてもよい。
ウェーハシートSが載置面211aに密着すると、保持装置1は、ウェーハシートSをX軸方向に移動させる。すると、吸着対象部品は、突出部22の上面を移動する。
ここで、保持装置1は、上述したように、吸着対象部品の中心が突出部22の中央部を通る軸線上を通るように、ウェーハシートSをX軸方向に移動させる。すると、吸着対象部品は、図7Aに示すようにスロープ部221の上面を通った後、図7Bに示すように平坦部222の上面に到達する。
このとき、図4に示したように突出部22の幅がスロープ部221から平坦部222に向かうに連れて狭くなっているので、突出部22上面を移動する吸着対象部品がウェーハシートSを介して突出部22と接触する面積は、平坦部222に向かうに連れて小さくなってゆく。これは、吸着対象部品の突出部22と接触していない面積、すなわち、第1の開口231および第2の開口232に向かって露出する領域(以下、「露出領域」とも言う。)が、平坦部222に向かうに連れて大きくなることを意味する。上述したように吸引ポンプ24が駆動しているので、露出領域に貼り付いているウェーハシートSには、第1の開口231および第2の開口232に向かう吸引力が働くこととなる。
また、図5に示したように突出部22の突出量が平坦部222に向かうに連れて大きくなっているので、吸着対象部品と載置面211aとの距離は、吸着対象部品が平坦部222に向かうに連れて徐々に離れていく。したがって、ウェーハシートSは、吸着対象部品に貼り付いている領域と、載置面211a上に吸着している領域との高さの差が徐々に大きくなる。すると、上述したようにウェーハシートSは弾性を有する材料から構成されているので、露出領域に貼り付いているウェーハシートSには、載置面211aに向かう力が働くこととなる。
このように、吸着対象部品の露出領域に貼り付いているウェーハシートSは、第1の開口231および第2の開口232からの吸引力とウェーハシートS自体による弾性力とが働くので、載置面211aの側に向かって引っ張られ、結果として、露出領域から剥離してゆくこととなる。この剥離は次のように行われる。
本実施の形態では平面視略矩形の板状の電子部品がマトリクス状に配置されて、電子部品の配列方向に沿いかつ各電子部品の中心を通る軸線と突出部22の中心部を通る軸線とが一致するようにウェーハシートSが移動するので、吸着対象部品は、突出部22に対向する1つの側辺からスロープ部221上を移動してゆく。このとき、最初にその側辺の両端部が第1の開口231および第2の開口232に露出するので、その両端部に上述した吸引力および弾性力に起因する力が集中する。この結果、その両端部に貼り付いているウェーハシートSが最初に吸着対象部品から剥離する。そして、吸着対象部品が移動するに連れて第1の開口231および第2の開口232に露出する領域が、その側辺の両端部から中央部に向かって移動するので、その露出した部分からウェーハシートSが順次剥離してゆくこととなる。
最終的に、図7Bや図10に示すように、吸着対象部品が平坦部222の上面に到達すると、ウェーハシートSは、吸着対象部品の平坦部222上面に接触している領域以外の部分が、吸着対象部品から剥離していることとなる。
吸着対象部品が平坦部222の上面まで移動すると、吸着装置3は、ピックアップコレット32の吸着端を吸着対象部品に近接させ、そのピックアップコレット32に負圧を供給する。これにより、吸着装置3は、ピックアップコレット32により吸着対象部品を吸着し、ピックアップコレット32を上方に移動させることにより、図7Cに示すように吸着対象部品をウェーハシートSから完全に剥離する。そして、吸着装置3は、吸着対象部品を所定の場所に搬送してゆく。
以上説明したように、本実施の形態によれば、ウェーハシートSに貼り付けられた電子部品DをウェーハシートSを介して突出部22上に位置させ吸引口23に負圧を与えることにより、電子部品Dに貼り付いたウェーハシートSが載置面211a方向に引っ張られるので、電子部品Dを破損させずにウェーハシートSから剥離させることができる。
なお、本実施の形態では、載置面211aから上方に突出する突出部22を設ける場合を例に説明したが、電子部品を載置したときに電子部品の裏面が吸引口に向かって露出するのであれば、そのため構成は突出部22に限定されず、例えば段差など適宜自由な構成を設けることができる。この段差の場合には、段差の境界部分に電子部品を載置することにより、電子部品の裏面を開口側に露出させることができる。
また、本実施の形態では、スロープ部221の突出量が平坦部222に向かって一定の勾配で大きくなる場合を例に説明したが、スロープ部221の突出量の度合いは一定の勾配に限定されず、例えば、放物線状や階段状など適宜自由に設定することができる。
また、突出部22の平面形状についても、この突出部上に電子部品を載置したときに、それらの接触面積の少なくとも一部が電子部品の面積よりも小さいのであれば、適宜自由に設定することができる。
また、突出部22の幅についても、単調減少するのであれば、本実施の形態のような形状に限定されず、適宜自由に設定することができる。
また、第1の開口231および第2の開口232についても、電子部品が突出部上に載置された状態でその電子部品の裏面に貼り付いた粘着シートを吸着できるのであれば、形状や配置は本実施の形態に限定されず、適宜自由に設定することができる。開口の数量についても同様であり、本実施の形態のように2つに限定されない
さらに、本実施の形態において、突き上げピンをさらに設けるようにしてもよい。この突き上げピンを設ける位置については、載置台21上、より具体的には、スロープ部221の近傍、スロープ部221、平坦部222など、載置台21上の電子部品の移動経路上であれば、適宜自由に設定することができる。
例えば、図11に示すように、載置台21のスロープ部221近傍に形成した開口211と、この開口211から突出する突き上げピン212とを備えるようにしてもよい。この場合、突き上げピン212は、ウェーハシート上に貼り付けられた電子部品が載置面211aからスロープ部221に移動するために開口211上を通過するときに、ウェーハシートを介して電子部品を軽く突き上げる。すると、電子部品が上方に移動するので、この電子部品の裏面に貼り付いている一部、特に電子部品の縁部に貼り付いているウェーハシートが剥離されることになる。これにより、突出部22を移動するときには、既に一部が電子部品から剥離されているので、より容易に電子部品をウェーハシートから剥離させることができる。
また、図12に示すように、突出部22の平坦部222に形成した開口223と、この開口223から突出する突き上げピン224とを備えるようにしてもよい。この場合、まず、吸引口23に負圧を与えた上で、ウェーハシート上に貼り付けられた電子部品を突出部22のスロープ部221から平坦部222まで移動させることにより、電子部品の平坦部222上面に接触している領域以外の部分のウェーハシートを、電子部品から剥離させる。この後、突き上げピン224により、電子部品の裏面を突き上げる。これにより、電子部品をウェーハシートから剥離させることができる。この電子部品を突き上げるとき、ウェーハシートの一部が既に電子部品から剥離されているので、突き上げピン224が強い力をかけずに電子部品を剥離させることができる。したがって、電子部品Dが破損することを防ぐことができる。
本発明は、電子部品が貼り付けられた粘着シートから電子部品をピックアップする各種装置に適用することができる。
1…保持装置、2…剥離装置、3…吸着装置、4…制御装置、11…X移動機構、11a,11b…Xレール、11c,11d…X移動部、12…Y移動機構、12a,12b…Yレール、12c,12d…Y移動部、13…保持部、21…載置台、211…載置板、211a…載置面、212…基部、22…突出部、23…吸引口、24…吸引ポンプ、31…基部、32…ピックアップコレット、211…開口、212…突き上げピン、221…スロープ部、221a…第1の領域、221b…第2の領域、221c…第3の領域、222…平坦部、223…開口、224…突き上げピン、231…第1の開口、232…第2の開口。

Claims (7)

  1. 粘着シートの一方の面に貼り付けられた電子部品を前記粘着シートから剥離する剥離装置であって、
    電子部品が貼り付けられた粘着シートを載置する載置台と、
    この載置台の前記粘着シートの他方の面と接する載置面上に形成され、前記載置台上に載置される前記粘着シートに向かって突出した突出部と、
    前記載置面内の前記突出部の近傍に開口し、負圧が与えられると前記粘着シートを吸着する吸引口と
    を備えることを特徴とする剥離装置。
  2. 請求項1記載の剥離装置において、
    前記突出部と前記粘着シートを介して前記突出部と接する電子部品との接触面積は、前記電子部品の前記粘着シートに貼り付けられた面の面積よりも小さい
    ことを特徴とする剥離装置。
  3. 請求項2記載の剥離装置において、
    前記突出部は、前記載置面に沿った第1の方向に延在し、
    前記突出部の突出量は、前記第1の方向に沿って単調増加する
    ことを特徴とする剥離装置。
  4. 請求項3記載の剥離装置において、
    前記突出部の前記電子部品と接触する領域における前記第1の方向に直交する第2の方向の長さ、前記第1の方向に沿って単調減少する
    ことを特徴とする剥離装置。
  5. 請求項3または4記載の剥離装置において、
    前記吸引口は、前記第1の方向に延在する前記突出部の両側に形成された第1の開口および第2の開口を有する
    ことを特徴とする剥離装置。
  6. 請求項1乃至5の何れか1項に記載された剥離装置において、
    前記載置台上に形成された突き上げピンをさらに備える
    ことを特徴とする剥離装置。
  7. 電子部品が貼り付けられた粘着シートを移動可能に保持する保持装置と、
    前記粘着シートの一方の面に貼り付けられた電子部品を前記粘着シートから剥離する前記粘着シートが載置される剥離装置と、
    この剥離装置上に載置された前記粘着シートから前記電子部品を吸着する吸着装置と
    を備えたピックアップシステムであって、
    前記剥離装置は、請求項1乃至6の何れか1項に記載の剥離装置からなる
    ことを特徴とするピックアップシステム。
JP2013199287A 2013-09-26 2013-09-26 剥離装置およびピックアップシステム Pending JP2015065367A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013199287A JP2015065367A (ja) 2013-09-26 2013-09-26 剥離装置およびピックアップシステム
MYPI2014002590A MY187780A (en) 2013-09-26 2014-09-08 Separation device and pickup system
US14/493,034 US9520316B2 (en) 2013-09-26 2014-09-22 Separation device and pickup system
CN201410502669.0A CN104517801A (zh) 2013-09-26 2014-09-26 分离装置和捡取系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013199287A JP2015065367A (ja) 2013-09-26 2013-09-26 剥離装置およびピックアップシステム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015065367A true JP2015065367A (ja) 2015-04-09

Family

ID=52689913

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013199287A Pending JP2015065367A (ja) 2013-09-26 2013-09-26 剥離装置およびピックアップシステム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9520316B2 (ja)
JP (1) JP2015065367A (ja)
CN (1) CN104517801A (ja)
MY (1) MY187780A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020184627A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc. エジェクタ装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10256349A (ja) * 1997-03-12 1998-09-25 Hitachi Ltd ピックアップ装置
JP2003273195A (ja) * 2002-01-09 2003-09-26 Murata Mfg Co Ltd チップ部品供給装置
JP2010206036A (ja) * 2009-03-05 2010-09-16 Shinkawa Ltd 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP2012174742A (ja) * 2011-02-17 2012-09-10 Fuji Mach Mfg Co Ltd ダイピックアップ装置
JP2012182330A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Fuji Mach Mfg Co Ltd ダイピックアップ装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06236916A (ja) 1993-02-10 1994-08-23 Nichiden Mach Ltd チップ剥離装置
JP3955659B2 (ja) * 1997-06-12 2007-08-08 リンテック株式会社 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置
JP3209736B2 (ja) * 1999-11-09 2001-09-17 エヌイーシーマシナリー株式会社 ペレットピックアップ装置
JP4482243B2 (ja) * 2001-03-13 2010-06-16 株式会社新川 ダイのピックアップ方法及びピックアップ装置
JP3976541B2 (ja) * 2001-10-23 2007-09-19 富士通株式会社 半導体チップの剥離方法及び装置
JP4405211B2 (ja) * 2003-09-08 2010-01-27 パナソニック株式会社 半導体チップの剥離装置、剥離方法、及び半導体チップの供給装置
CN100428402C (zh) * 2004-04-13 2008-10-22 优利讯国际贸易有限责任公司 从箔片分离半导体芯片的方法和用于安装半导体芯片的设备
EP1587138B1 (de) * 2004-04-13 2007-05-30 Oerlikon Assembly Equipment AG, Steinhausen Einrichtung für die Montage von Halbleiterchips und Verfahren zum Ablösen eines Halbleiterchips von einer Folie
US7240422B2 (en) * 2004-05-11 2007-07-10 Asm Assembly Automation Ltd. Apparatus for semiconductor chip detachment
US7757742B2 (en) * 2007-07-31 2010-07-20 Asm Assembly Automation Ltd Vibration-induced die detachment system
JP2009064938A (ja) * 2007-09-06 2009-03-26 Shinkawa Ltd 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法
US8141612B2 (en) * 2009-04-02 2012-03-27 Asm Assembly Automation Ltd Device for thin die detachment and pick-up
US8092645B2 (en) * 2010-02-05 2012-01-10 Asm Assembly Automation Ltd Control and monitoring system for thin die detachment and pick-up

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10256349A (ja) * 1997-03-12 1998-09-25 Hitachi Ltd ピックアップ装置
JP2003273195A (ja) * 2002-01-09 2003-09-26 Murata Mfg Co Ltd チップ部品供給装置
JP2010206036A (ja) * 2009-03-05 2010-09-16 Shinkawa Ltd 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP2012174742A (ja) * 2011-02-17 2012-09-10 Fuji Mach Mfg Co Ltd ダイピックアップ装置
JP2012182330A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Fuji Mach Mfg Co Ltd ダイピックアップ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020184627A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc. エジェクタ装置
JP7071433B2 (ja) 2019-05-08 2022-05-18 致茂電子股▲分▼有限公司 エジェクタ装置

Also Published As

Publication number Publication date
MY187780A (en) 2021-10-21
US20150083344A1 (en) 2015-03-26
US9520316B2 (en) 2016-12-13
CN104517801A (zh) 2015-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5488966B2 (ja) ダイエジェクタ
TWI701476B (zh) 貼附裝置
CN103201201B (zh) 薄板状工件的粘附保持方法和薄板状工件的粘附保持装置以及制造系统
JP5669137B2 (ja) ダイピックアップ装置
JP2014189350A (ja) 剥離装置および剥離方法
JP2012238758A (ja) 基板載置装置および基板載置方法
KR20170103056A (ko) 필름 박리장치
JP2014160788A (ja) 部品実装装置および部品実装方法
JP2015065367A (ja) 剥離装置およびピックアップシステム
KR100541856B1 (ko) 기판 홀딩장치
JP2018165186A (ja) 作業装置および作業方法
JP6019406B2 (ja) 電子部品実装装置および電子部品実装方法
KR20160135071A (ko) 테이프 부착장치 및 이를 이용한 부착방법
JP2016219573A (ja) ピックアップ装置及び方法
JP2017005222A (ja) ピックアップ装置
JP2013157417A (ja) シート剥離装置
KR101916752B1 (ko) 곡면 디스플레이 패널 제조 방법
JP2007246244A (ja) ガラス板引き上げ装置
JP6398622B2 (ja) 剥離装置および剥離方法
JP2010087359A (ja) ピックアップ装置
TW202007624A (zh) 薄膜取出裝置以及柔性印刷電路板的製造方法
JP2019153682A (ja) チップキャリア
JP4836042B2 (ja) 剥離装置
KR20070062817A (ko) 대면적 유리기판의 합착에 적합한 fpd 유리기판합착장치
JP7035273B2 (ja) 電子部品剥離装置及び電子部品の剥離方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160916

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170627

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180109