JP2014516386A - 合金、磁心および合金からテープを製造する方法 - Google Patents

合金、磁心および合金からテープを製造する方法 Download PDF

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Abstract

Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSiと、最大1at%の不純物とからなる合金であって、Mが元素Mo、TaおよびZrの1種または複数種であり、Tが元素V、Mn、Cr、CoおよびNiの1種または複数種であり、Zが元素C、PおよびGeの1種または複数種であり、0at%≦a<1.5at%、0at%≦b<2at%、0at%≦(b+c)<2at%、0at%≦d<5at%、10at%<x<18at%、5at%<y<11at%および0at%≦z<2at%である。この合金はテープの形に構成され、粒子の少なくとも50vol%の平均径が100nm未満であるナノ結晶性構造と、中央の線形領域を持つヒステリシスループと、残留磁気率Jr/Js<0.1と、保磁力H対異方場強度H比<10%と,を有している。

Description

本発明は合金、特に、磁心としての使用に適した軟磁性合金、磁心および合金からテープを製造する方法に関する。
Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSiの組成に基づくナノ結晶性合金を、様々な用途において磁心として使用することができる。米国特許第7,583,173号明細書には、数ある用途の中でも変流器において使用され、(Fe1−aNi100−x−y−z−a−b−cCuSiNbαM’βM’’γからなる巻き磁心が開示されている。式中、a≦0.3、0.6≦x≦1.5、10≦y≦17、5≦z≦14、2≦α≦6、β≦7、γ≦8であり、M’が元素V、Cr、AlおよびZnの少なくとも1種、M’’が元素C、Ge、P、Ga、Sb、InおよびBeの少なくとも1種である。
欧州特許出願公開第0271657号明細書にも、類似の組成に基づく合金が開示されている。
テープの形も取るこれらの合金は、たとえば電力変圧器、変流器および蓄積チョークなど、様々な部品における磁心として使用することができる。
一般に、磁心用途に置いて可能な限り低い製造コストを実現することが望ましい。しかしながら、このようなコスト削減は、可能であれば、磁心の機能性に全く、または最小限の影響しか与えないべきである。
一部の磁心用途においては、部品自体の大きさおよび重量をさらに縮小するために、磁心の大きさおよび重量をさらに縮小することが望ましい。しかしながら、同時に製造コストの増加は望ましくない。
したがって、目的は、よりコスト効率よく製造することができる磁心としての使用に適した合金を提供することである。さらなる目的は、従来の磁心と比較して磁心の大きさおよび/または重量を縮小することができるようにして、使用する合金を選択することである。
この目的は、独立請求項の対象によって実現される。さらなる改良が従属請求項に詳細に記載されている。
本発明は、Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSiと、最大1at%の不純物とからなる合金を開示する。Mが元素Mo、TaおよびZrの1種または複数種、Tが元素V、Mn、Cr、CoおよびNiの1種または複数種、Zが元素C、PおよびGeの1種または複数種であり、0at%≦a<1.5at%、0at%≦b<2at%、0at%≦(b+c)<2at%、0at%≦d<5at%、10at%<x<18at%、5at%<y<11at%および0at%≦z<2at%である。加えて、この合金はテープの形に構成され、粒子の少なくとも50vol%の平均径が100nm未満であるナノ結晶性構造を有する、また、この合金のヒステリシスループが中央の線形領域を有し、残留磁気率J/J<0.1を有し、保磁力H対異方場強度H比<10%を有する。
したがって、この合金の組成は、ニオブ含有量が2at%未満である。ニオブは比較的高価な元素であるため、これは、ニオブ含有量がより高い組成についてよりも原材料コストが低いという利点を有する。加えて、合金のケイ素含有量下限およびホウ素含有量上限は、連続炉内で引張応力下、テープの形で合金を製造することができるように設定され、それにより上記磁気特性が実現される。したがって、この製造方法を用いると、合金は、ニオブ含有量がより低いにもかかわらず、磁心用途に望まれる軟磁気特性を有することが可能である。
テープの形であることで、連続炉内で引張応力下、合金を製造することが可能となるだけでなく、任意の巻数の磁心を製造することも可能となる。したがって、磁心の大きさおよび磁気特性は、巻数の適当な選択によって単に用途に合わせて調整することができる。合金の少なくとも50vol%中の粒径が100nm未満であるナノ結晶性構造により、高い飽和分極で低い飽和磁歪が生じる。適切な合金選択によって、引張応力下の熱処理の結果、中央の線形領域を有する磁気ヒステリシスループ、0.1未満の残留磁気率、および異方性場の10%未満の保磁力が得られる。これにより、低ヒステリシス損失と、加えられた磁場および/またはヒステリシスループの線形性中央部分における事前磁化とは大部分が無関係である透磁率値とが組み合わされるが、これらはいずれも、変流器、電力変圧器、蓄積チョークなどの用途向けの磁心に望まれる。
本発明の目的のために、ヒステリシスループの中央領域を、飽和への移行を特徴付ける異方場強度点間にあるヒステリシスループの領域と定義する。同様に、ヒステリシスループのこの中央領域の線形領域は、3%未満の非線形因子NLによって定義され、非線形因子は以下のように計算される。
NL(%)=100(δJup+δJdown)/(2J) (1)
式中、δJupおよびδJdownは、飽和分極Jの±75%の磁化値間のヒステリシスループの上昇(up)分岐または下降(down)分岐を通る最良適合線からの磁化の標準偏差である。
したがって、この合金は、より小さく、より軽く、したがって原材料コストがより低く、また磁心としての使用のための所望の軟磁気特性を有する磁心に特に適している。
一実施形態においては、この合金の残留磁気率は0.05未満である。したがって、この合金のヒステリシスループはさらに線形性またはフラットとなる。別の実施形態においては、異方性場強度に対する保磁力の比が5%未満である。この実施形態においても、ヒステリシスループはさらに線形性となるため、ヒステリシス損失がさらに低くなる。
一実施形態において、この合金はまた、40〜3000または80〜1500の透磁率μを有する。別の実施形態においては、合金の透磁率は約200〜9000である。これらの、また他の例において、主に熱処理中の引張応力を設定することによって透磁率を決定する。ここで、引張応力は、テープ破壊なしで最大約800MPaとなり得る。したがって、所定の組成物により、全透磁率がμ=40からおよそμ=10000の範囲内の透磁率を有するテープを網羅することが可能である。この結果、低透磁率、すなわち、およそμ=40〜3000の領域において特に線形性のループが得られる。
このような比較的低い透磁率は、高電流が磁心の周りのコイルに流れた場合に誘導損失を防止するために磁心の強磁性飽和を回避する必要がある変流器、電力変圧器、チョークコイルおよび他の用途にとって有利である。
様々な用途の特定の要件により、適切な透磁率範囲が決まる。適切な範囲は1500〜3000、200〜1500および50〜200である。したがって、たとえば、約1500〜約3000の透磁率μが直流変流器には有利である一方、約200〜1500の透磁率範囲が電力変圧器には特に適し、約50〜200の透磁率範囲が蓄積チョークには特に適している。
透磁率が低くなればなるほど、磁心の巻きを流れる電流は、材料を飽和させることなくより大きくなり得る。同様に、同一の透磁率では、材料の飽和分極Jが大きくなればなるほど、これら電流は大きくなり得る。対照的に、磁心の誘導は、透磁率および大きさとともに増大する。したがって、誘導も大きく電流耐性も高い磁心を構築するためには、飽和分極レベルがより高い合金を使用すると有利である。一実施形態においては、たとえば、ニオブ含有量を削減することよって、飽和分極がJ=1.21TからJ=1.34Tに、すなわち、10%を超えて増大する。これを利用して、損失なく磁心の大きさおよび重量を削減することができる。
合金の飽和磁歪量は、5ppm未満とすることができる。この限界値を下回る飽和磁歪を有する合金は、内部応力がある場合でさえ、特に透磁率が500を大きく超えない場合、特に優れた軟磁気特性を有する。より高い透磁率では、飽和磁歪値がより低い合金を選択すると有利である。
さらに、合金の飽和磁歪量は2ppm未満、好ましくは1ppm未満となり得る。この限界値を下回る飽和磁歪を有する合金は、内部応力がある場合でさえ、特に透磁率μが500を超える、または1000を超える場合、特に優れた軟磁気特性を有する。
一実施形態においては、合金はニオブを含まない、すなわちb=0である。この実施形態は、ニオブが完全に省かれるため、原料コストがさらに削減されるという利点を有する。
さらなる一実施形態においては、合金は銅を含まない、すなわちa=0である。さらなる一実施形態においては、合金はニオブも銅も含まない、すなわちa=0およびb=0である。
さらなる諸実施形態においては、合金はニオブおよび/または銅を0<a≦0.5および0<b≦0.5で含む。
さらなる諸実施形態においては、ケイ素および/またはホウ素の含有量も定義され、合金は14at%<x<17at%および/または5.5at%<y<8at%で含む。
既に上述した通り、合金はテープの形を有する。このテープの厚さは10μm〜50μmでよい。この厚さにより、磁心を大きい巻数で巻くことが、また、外径を小さくすることが可能となる。
さらなる一実施形態においては、粒子の少なくとも70vol%の平均径が50nm未満である。これにより、磁気特性をさらに増大させることが可能となる。
この合金を、引張応力下、テープの形で熱処理して、所望の磁気特性を発生させる。したがって、この合金、すなわち、完成した熱処理後のテープは、この製造方法によって作り上げられた構造も特徴とする。一実施形態においては、結晶子は約20〜25nmの平均径を、またテープに沿って約0.02%〜0.5%の残留伸度を有し、この残留伸度は、熱処理中に加わる引張応力に比例する。たとえば、100MPaの引張応力下の熱処理により、約0.1%の伸度がもたらされる。
結晶性粒子は、好ましい方向に少なくとも0.02%の伸度を有することができる。
先の諸実施形態の1つで開示されている合金で作製される磁心もまた提供される。この磁心は、巻きテープの形を取ることができ、その場合、テープを一平面内で、または軸を中心としたソレノイドとして巻いて、用途に応じた磁心を形成することができる。
磁心のテープを絶縁層で被覆して、磁心の巻きを互いに電気的に絶縁することができる。この層は、たとえば、ポリマー層またはセラミック層でよい。テープは、巻いて磁心を形成する前および/または形成した後に、絶縁層で被覆することができる。
既に述べた通り、先の諸実施形態の1つで開示されている磁心は、様々な部品において使用することができる。これら実施形態の1つで開示されている磁心を有する電力変圧器、変流器および蓄積チョークもまた提供される。
テープを製造する方法が以下を含む。すなわち、Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSiと、最大1at%の不純物とからなる組成を有する非晶質合金で作製されるテープの提供であって、Mが元素Mo、TaおよびZrの1種または複数種、Tが元素V、Mn、Cr、CoおよびNiの1種または複数種、Zが元素C、PおよびGeの1種または複数種であり、0at%≦a<1.5at%、0at%≦b<2at%、0at%≦(b+c)<2at%、0at%≦d<5at%、10at%<x<18at%、5at%<y<11at%および0at%≦z<2at%である提供を含む。このテープは、450℃≦Ta≦750℃である温度Tの連続炉内で、引張応力下で熱処理される。
この組成物は、引張応力下、450℃〜750℃における熱処理によって、磁心として使用するための適切な磁気特性を伴って製造される。この熱処理により、粒子の少なくとも50vol%の平均径が100nm未満であるナノ結晶性構造が形成される。特に、中央の線形領域を有するヒステリシスループ、残留磁気率J/J<0.1および保磁力H対異方場強度H比<10%が得られるように、この方法を使用して、2at%未満のニオブを含むこの組成を生成することができる。
テープは連続的に熱処理される。その結果、テープは速度sで連続炉を通過する。この速度sは、温度Tの5%以内の温度の連続炉の温度ゾーンにおいてテープが費やす時間の長さが2秒〜2分となるように設定することができる。この方法において、温度Tまでテープを加熱するために必要となる時間の長さは、加熱処理自体の長さの桁と同等である。同じことが、後に続く冷却期間の長さについても当てはまる。このアニーリング温度範囲におけるこの時間の長さの熱処理により、所望の構造および所望の磁気特性がもたらされる。
一実施形態において、テープは、5〜160MPaの引張応力下で連続炉内を通過する。さらなる一実施形態において、テープは、20MPa〜500MPaの引張応力下で連続炉内を通過する。最大約800MPaのより高い引張応力の炉内でテープを破壊なく通過させることも可能である。この引張応力範囲は、上記組成物で所望の磁気特性を実現させるために適している。
実現される透磁率μの値は、熱処理中に加わる引張応力σに反比例する。したがって、方程式σ≒α/μを満たす引張応力σが、所定の相対透磁率値μを実現するために熱処理中に必要となる。一実施形態において、αの値はα≒48000MPaである。別の実施形態においては、たとえば、αの値はα≒36000MPaである。したがって、本発明で開示する合金および対応する熱処理プロセスには、α≒30000MPaからα≒70000の範囲の値を使用することができる。αの正確な値は、個々の各場合において、組成に、アニーリング温度に、またある程度はアニーリング時間に依存する。
したがって、所望の磁気特性をもたらす引張応力は、合金の組成およびアニーリング温度に、また、アニーリング時間にも依存することがある。一実施形態において、所定の透磁率μに必要とされる引張応力σは、下記方程式に従う引張応力σTest下における試験アニーリングプロセスの透磁率μTestから選択される。
σ≒σTest・μTest/μ
所望の磁気特性は、アニーリング温度Tに依存することもあるため、アニーリング温度を選択することによって設定することができる。一実施形態において、温度Tは、方程式(Tx1+50℃)≦Ta≦(Tx2+30℃)に従いニオブ含有量bに依存して選択される。ここで、Tx1およびTx2は、最大変換熱によって定義される結晶化温度に対応し、加熱速度10K/分における示差走査熱量測定(DSC)など、標準的な熱的方法によって決定される。
さらなる一実施形態においては、所望の透磁率または異方性場強度の値と、許容される偏差範囲とがあらかじめ定められる。テープの長さに沿ってこの値を実現するために、テープの磁気特性を、テープが連続炉を離れると連続的に測定する。許容される偏差範囲からの逸脱が認められた場合には、磁気特性の測定値が許容される偏差範囲内に戻るように、テープの引張応力を調整する。
この実施形態により、テープの長さに沿った磁気特性の偏差が低減され、それにより磁心内の磁気特性がより均一になり、かつ/または同じテープで作製される複数の磁心の磁気特性の偏差が低減される。したがって、特に、商業生産において、磁心の軟磁気特性の規則性を改善することが可能である。
以下の例、表および図面を参照して、諸実施形態について以下にさらに詳細に説明する。
テープの長さに垂直な磁場内熱処理後における、ニオブ含有量が異なるナノ結晶性Fe77−xCuNbSi15.56.5の対照例についてのヒステリシスループの図を示す。 異なるニオブ含有量について、テープの長さに沿って加わる引張応力下の熱処理後における、ナノ結晶性Fe77−xCuNbSi15.56.5についてのヒステリシスループの図を示す。 Nb含有量の関数としての、磁場内熱処理後および引張応力下熱処理後のナノ結晶性Fe77−xCuNbSi15.56.5の残留磁気率の図を示す。 Nb含有量の関数としての、Fe77−xCuNbSi15.56.5の飽和分極の図を示す。 異なるアニーリング温度における引張応力下熱処理後の、Fe75.5CuNb1.5Si15.56.5の飽和磁歪λ、異方性場H、保磁力H、残留磁気率J/Jおよび非線形因子NLの図を示す。 引張応力下熱処理後の合金Fe77CuSi15.56.5の残留磁気率J/Jおよび保磁力Hの図を示す。 合金Fe77CuSi15.56.5の加熱速度10K/分における示差走査熱量測定(DSC)を用いて測定した結晶挙動、ならびに結晶化温度Tx1およびTx2の定義を示す。 合金Fe77CuSi15.56.5について、その最初の非晶質状態における、また異なる結晶化段階における異なるアニーリング温度での応力下熱処理後のX線回折図を示す。 特定の引張応力σ下熱処理後のナノ結晶性Fe75.5CuNb1.5Si15.56.5の透磁率μ、異方性場H、保磁力H、残留磁気率J/Jおよび非線形因子NLの図を示す。 結晶化温度Tx1およびTx2の関数として、異なる合金組成物についての最適な最高および最低アニーリング温度Ta1およびTa2を示す。 引張応力下熱処理後の合金Fe80Si11および対照組成物Fe78.5Si1011.5の保磁力Hおよび残留磁気率J/Jの図を示す。 異なる引張応力下熱処理後の合金Fe80Si11および対照組成物Fe78.5Si1011.5についてのヒステリシスループの図を示す。 連続炉の概略図を示す。 (表1)磁場における熱処理後(対照例)、および機械的引張応力下の熱処理後(本発明による方法)における合金Fe77−xCuNbSi15.56.5の異なるNb含有量についての非線形因子NLを示す。 (表2)合金Fe77−xCuNbSi15.56.5の異なるNb含有量について、測定した結晶化温度および約2秒〜10秒のアニーリング時間で適切なアニーリング温度Tを示す。 (表3)アニーリング時間tの関数としての、約120MPaの引張応力下、610℃の連続炉内における熱処理後の合金Fe76CuNb1.5Si13.5の磁気特性を示す。 (表4)特定の引張応力σを伴う熱処理後の合金Fe76Cu0.5Nb1.5Si15.56.5の磁気特性を示す。 (表5)作製した状態で測定した飽和分極レベルJ、異なる合金組成物の熱処理後に異なるアニーリング温度Tで測定した非線形性NL、残留磁気率J/J、保磁力H、異方性場強度Hおよび相対透磁率μの値を示す。 (表6)作製した状態で測定した飽和分極レベルJ、異なる合金組成物の熱処理後に測定した非線形性NL、残留磁気率J/J、保磁力H、異方性場強度Hおよび相対透磁率μの値を示す。 (表7)作製した状態で、また特定のアニーリング温度Tにおける応力下熱処理後に測定した異なる合金組成物の飽和磁歪λを示す。
図1は、テープの形のナノ結晶合金についてのヒステリシスループの図を示す。
幅が6mmおよび10mm、典型的には厚さが17μm〜25μmのメタルテープについて、例として試験を行った。しかしながら、本発明の着想は、これらの寸法に限定されない。
これらのテープの組成はFe77−xCuNbSi15.56.5である。ヒステリシスループは、磁場において熱処理後に測定するが、熱処理は、テープの長さに垂直であるH=200kA/mの磁場において540℃で0.5時間行う。図1は、Nb含有量が減少するにつれてヒステリシスループがより非線形になることを示している。この非線形ヒステリシスループは、ヒステリシスによる損失が増大するため、一部の磁心用途では望ましくない。
表1は、異なる熱処理および異なるNb含有量についての図1および図2に示すヒステリシスループについて非線形因子NLを示す。特に、表1は、異なるNb含有量について、温度540℃で0.5時間の磁場における熱処理後、および600℃で4秒間の100MPaの引張応力下の熱処理後のナノ結晶性Fe77−xCuNbSi15.56.5についての非線形因子を示す。
図3は、Nb含有量の関数として、熱処理後の試料の残留磁気率J/Jの図を示す。特に、図3は、Nb含有量の関数としての、480℃〜540℃の温度で0.5時間の磁場における熱処理後、および520℃〜700℃の温度で4秒の引張応力下熱処理後のナノ結晶性Fe77−xCuNbSi15.56.5の残留磁気率を示す。
磁場における熱処理の場合、図3に白丸で示すように、残留磁気率が0.1未満で非線形因子が3%未満である特に線形性のループが、Nb含有量が2at%を超える場合のみ確実に得られる。引張応力下の熱処理の場合、対照的に、残留磁気率が0.1未満で非線形因子が3%未満である線形性のループを、2at%未満のNb含有量で、またニオブなしの組成物についてさえ確実に実現することができる。
図1および図3に示されている結果は、熱処理を磁場において行う場合、好ましくは2at%を超える最小Nb含有量が、磁心としての使用に適した磁気特性を有するテープを製造するためには必要となることを示している。
表1〜表6および図2〜図12は、テープに沿った機械的引張応力下で熱処理を行う場合、残留磁気率が小さい線形性のループを、ニオブ含有量が2at%未満である組成物において実現することができることを示している。ニオブが比較的高価な元素であるため、これらの組成物は原材料コスト削減の利点を有する。
図2は、600℃の温度で有効アニーリング時間が4秒である連続炉内における、約100MPaの引張応力下の熱処理後のテープについてのヒステリシスループの図を示す。
連続炉内におけるアニーリング時間は、温度がここで特定されているアニーリング温度の5%以内である温度ゾーンを、テープが通過する期間と定義される。テープをアニーリング温度まで加熱するために必要となる時間の長さは、加熱処理自体の長さの桁と同等である。
図2は、中央の線形領域を有し、2at%未満のNb含有量では残留磁気率が小さいヒステリシスループを得ることが可能であることを示している。3at%のNbを含む組成物は対照例、Nb<2at%である組成物は本発明による例である。矢印は、異方性場強度Hの定義を例として示す。
図3は、Nb含有量の関数として、図3において黒のひし形で示される残留磁気率など、引張応力下で焼き戻された試料の残留磁気率と、白丸で示されるような磁場内において焼き戻された試料の残留磁気率との比較の図を示す。Nb含有量が2at%未満である合金は、引張応力下で熱処理された場合のみ残留磁気率が0.05未満と小さい。一方、これら組成物が磁場内において焼き戻された場合、残留磁気率ははるかに高く、したがって、このような合金は一部の磁心用途には適さない。合金Fe77CuSi15.56.5、すなわち、添加Nbを含有しない合金でさえ、引張応力下で熱処理された場合には、残留磁気率が0.05未満の概して線形性のループを生じる。
図4は、Nb含有量の関数として、Fe77−xCuNbSi115.56.5の組成を有する合金の飽和分極の図を示す。Nb含有量が少ない合金の飽和分極がはるかに高い。このことは、重量と製造コストとを両方削減するために有利に利用することができる。原材料コスト削減に加えて、磁心を含むデバイスをより小さくすることができるという点でさらなる利点ももたらされる。
図5は、アニーリング温度の関数として、約50MPaの引張応力下、約4秒間の熱処理後の組成物Fe75.5CuNb1.5Si15.56.5の飽和磁歪λ、異方性場H、保磁力H、残留磁気率J/Jおよび非線形因子NLの図を示す。図2に示すように、異方性場Hは、ヒステリシスループの線形領域が飽和する場に対応する。
図中網掛けで示すように、その間で所望の特性を実現することができるアニーリング温度は、約535℃〜670℃の範囲にある。
網掛け領域は、飽和磁歪が小さく、異方性場が高く、残留磁気率が低い線形性ループの領域を示す。これもまた、合金が特に線形性のループを有する領域である。したがって、図5に開示する実施形態では、最も適切なアニーリング温度は、535℃〜670℃間にある。
これらの温度限界は、大部分が引張応力のレベルとは無関係である。しかしながら、熱処理の長さおよびNb含有量には依存する。したがって、たとえば、図6および表2に示すように、Nb含有量が低下する、または熱処理の長さが増大するにつれて降下する。
図6は、最適なアニーリング温度が約500℃〜570℃の範囲にある、すなわち、図5に示す組成物のアニーリング温度をはるかに下回るニオブを含まない合金異形のアニーリング挙動を示す。特に、図6は、約50MPaの引張応力下、T=613℃で4秒間の熱処理後の合金Fe77CuSi15.56.5の残留磁気率J/Jおよび保磁力Hの図を示す。ここで、本発明で開示する最適なアニーリング温度は、約500℃〜570℃の範囲内にある。差し込み図に概略的に示されるように、残留磁気率が0.1未満であるフラットな線形性のヒステリシスループがこれで与えられる。
図7は、合金Fe77CuSi15.56.5の例を用いて10K/分の加熱速度で示差走査熱量測定(DSC)によって測定した結晶化挙動を示す。この図は、結晶化温度Tx1およびTx2によって特徴付けられる2つの結晶化段階を示している。ここで、DSC測定におけるTx1およびTx2によって区切られる温度範囲は、図6に示すようなこの合金についての500℃〜570℃間にある最適なアニーリング温度範囲に対応する。
図8は、合金Fe77CuSi15.56.5について、その元の非晶質状態における、またTx1およびTx2によって定義される異なる結晶化段階に対応する異なるアニーリング温度における応力下熱処理後のX線回折図を示す。特に、図8は、515℃で4秒間の応力下熱処理後の、すなわち、本発明で開示する磁気特性が実現されるアニーリング範囲における、また680℃における、すなわち、残留磁気率が低い線形性のヒステリシスループがもはやもたらされない好ましくないアニーリング範囲におけるX線回折図を示す。
残留磁気率が低い線形性のヒステリシスループをもたらすアニーリング温度では、結晶相において生じる結晶子だけが、少量の非晶質マトリックスに埋め込まれている本質的に立方晶系のFe−Si結晶子であることが、最大回折値の解析によって明らかとなる。合金Fe77CuSi15.56.5の場合、これら結晶子の平均径が約38〜44nmの範囲にある。合金組成物Fe75.5CuNb1.5Si15.56.5を用いて同じ分析を行った場合、対応する最適なアニーリング温度で実現される平均結晶子径が、20〜25nmの範囲にある。
結晶化の第2の段階では、磁気特性に好ましくない影響を及ぼし、また残留磁気率が高く保磁力が高い非線形ループにつながるホウ化物相が、非晶質残留マトリックスから結晶化する。
表2は、それぞれ体心立方FeSiおよびホウ化物の結晶化に対応する、示差走査熱量測定(DSC)によって2510K/分で測定した結晶化温度Tx1およびTx2の形で、さらなる例および追加のデータを示す。適切なアニーリング温度はおよそTx1とTx2との間にあるが、そのアニーリング温度の結果、非晶質マトリックスに埋め込まれている平均粒径が50nm未満である、また所望の磁気特性を有するナノ結晶粒子の構造体が得られる。
しかしながら、Tx1およびTx2ならびにアニーリング温度Tは、加熱速度および加熱処理の長さに依存する。このため、10秒未満の加熱処理のための最適なアニーリング温度は、表2に示す10K/分で示差走査熱量測定(DSC)を用いて測定される結晶化温度Tx1およびTx2よりも高い。したがって、より長いアニーリング時間10分〜60分間における最適なアニーリング温度Tは、たとえば、数秒の熱処理について表2に示すT値よりも通常50℃〜100℃低い。
したがって、図5の教示に従って必要に応じ、また表2の通り示差走査熱量測定を用いて測定した結晶化温度を用いて組成および熱処理の長さにアニーリング温度Tを適応させることができる。
表3は、組成Fe76CuNb1.5Si13.5の合金の例を用いたアニーリング時間の影響を示す。数秒〜数分の範囲のアニーリング時間は、結果として得られる磁気特性に対して大きな影響は示さない。これは、アニーリング時間Tが表2に記載の限界温度間にある限り当てはまる。本実施形態においては、10K/分で示差走査熱量測定を用いて測定したTx1=489℃およびTx2=630℃、あるいは4秒続く熱処理についてのTa1=540℃およびTa2=640℃である。
本実施形態においては、アニーリング温度がT=610℃であるため、定義した2つの限界温度の上限値と下限値との間にある。10K/分の加熱速度で測定される結晶化温度は、数分続く等温熱処理についての最適なアニーリング範囲にほぼ対応する。
図9は、透磁率、異方性場、保磁力、残留磁気率および非線形因子の、熱処理中に加わる引張応力への依存度を示す。特に、図9は、特定の引張応力σ下613℃で4秒間の熱処理後のナノ結晶性Fe75.5CuNb1.5Si15.56.5の透磁率、異方性場、保磁力、残留磁気率および非線形因子の図を示す。あらゆる場合において、典型的にはJ/J<0.04未満である残留磁気率および2%未満の非線形因子がこれでもたらされた。
表4は、透磁率、異方性場、保磁力、残留磁気率および非線形因子の、熱処理中に加わる引張応力への依存度のさらなる例を示す。特に、この表は、特定の引張応力σ下605℃で4秒間の熱処理後のナノ結晶性Fe76Cu0.5Nb1.5Si15.56.5の透磁率、異方性場、保磁力、残留磁気率および非線形因子を示す。あらゆる場合において、典型的にはJ/J<0.1未満である残留磁気率および3%未満の非線形因子がこれでもたらされた。
図9および表4により、引張応力σを調整することによって異方性場強度Hおよび透磁率μを正確に設定することができることが示される。所定の異方性場強度Hまたは透磁率μの値を実現するには、熱処理中引張応力σ≒αμ/Jまたはσ≒α/μが必要で、式中、μ=(4π10−7Vs/(Am))は磁場定数である。ここで、αは、主として合金組成物に依存するが、アニーリング温度およびアニーリング時間にも依存することがある材料パラメータを示す。典型的な値は、α≒30000MPa10〜α≒70000MPaの範囲にある。特に、図9に示す例では結果としてα≒48000MPaの値が得られ、表3に示す例では結果としてα≒36000MPaの値が得られる。
図9および表3の諸実施形態により、透磁率が低く設定されればされるほど、ループの線形性がより大きくなることも実証される。したがって、およそμ=3000未満の透磁率の結果、非線形性が2%未満で残留磁気率がJ/J<0.05である特に線形のループが得られる。
先の諸実施形態におけるテープは、下記組成を有する合金を含む。
Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSi、式中、
Cu 0≦a<1.5、
Nb 0≦b<2、
Mは、元素Mo、Ta、またはZrの1種または複数種で、0≦b+c<2、
Tは、元素V、Mn、Cr、CoまたはNiの1種または複数種で、0≦d<5、
Si 10<x<18、
B 5<y<11、
Zは、元素C、PまたはGeの1種または複数種で、0≦z<2、
この合金は最大1at%の不純物を含有する。典型的な不純物がC、P、S、Ti、Mn、Cr、Mo、NiおよびTaである。
一部の熱処理の下では、組成物が磁気特性に影響を及ぼすことができる。所与の組成物の所望の磁気特性を実現するために、熱処理、特に引張応力を調整することが可能である。
表5は、問題となっている組成について最適なアニーリング温度Tで50MPaの引張応力の下約4秒間熱処理された合金の例、および2at%を超える含有量のニオブを含有する組成を有する対照例を示す。連続して1〜10の番号が付けられている他の例は、Nb含有量が2at%未満である本発明で開示する組成物を示す。加えて、図10は、合金例1〜10の最適なアニーリングおよび結晶化温度を示す。特に、図10は、10K/分でDSCを用いて測定した結晶化温度Tx1およびTx2の関数として、4秒間のアニーリング時間についての最適な上限および下限アニーリング温度Ta1およびTa2を示す。
これらの例により、本発明で開示する合金の組成物をある範囲内で変化させることができることが実証される。上記範囲内において、(1)Nbの代わりにMo、Taおよび/またはZrなどの元素を合金に添加することができ、(2)Feの代わりにV、Mn、Cr、Coおよび/またはNiなどの遷移金属を合金に添加することができ、かつ/あるいは(3)特性を大幅に変化させることなく、C、Pおよび/またはGeなどの元素を合金に添加することができる。この知見を裏付けるために、さらなる一実施形態において、下記合金組成物、
Fe71.5Co2.5Ni0.5Cr0.50.5Mn0.2Cu0.7Nb0.5Mo0.5Ta0.4Si15.56.50.2
を、厚さ20μm幅10mmのテープで作製した。この合金は、J=1.25Tの飽和分極を有し、たとえば、表3における合金例2〜5と同様にして引張応力下で熱処理に対して反応する。したがって、50MPaの引張応力下、600℃で約4秒間続く熱処理の結果、0.4%の非線形因子、J/J=0.01の残留磁気率、H=6A/mの保磁力、H=855A/mの異方性場およびμ=1160の透磁率の値が得られる。
表5により、Cuの添加なしでも所望の磁気特性が実現されることが示される。
したがって、表6は、Cu含有量を系統的に変化させ、約15MPaの引張応力下、600℃で約7秒間熱処理を行うさらなる合金例を示す。特に、表6では、Fe元素が段階的にCuと置き換えられたが、他の合金成分は変化しないままであった。
表6は、1.5at%を下回るCu含有量では、磁気特性に対するCu含有量の大きな影響を示してはいない。しかしながら、Cuの添加により、製造中のテープの脆性傾向が促進される。特に、Cu含有量が1.5at%を超える合金(たとえば、表6における合金No.15など)は、作製した状態で高い脆性を示す。たとえば、合金Fe74.5CuNb1.5Si15.56.5の厚さ20μmのテープは、約1mmの曲げ径で割れることがある。
製造中に到達するテープ速度が高速であるため(25〜30m/秒)、鋳造プロセス中にこの脆性テープを捕獲し、冷却ローラから離れるや否や巻くことが不可能、または非常に困難である。これにより、テープの製造は不経済となる。加えて、最初から脆性である多くのこのようなテープが、熱処理中に、特により高い温度ゾーンに到達する前に割れる。このように割れてしまうと、熱処理プロセスが中断され、テープは再度炉内を通過しなければならない。
対照的に、Cu含有量が1.5at%未満である合金は、テープ厚さの2倍の曲げ径、すなわち、典型的には0.06mm未満まで、破壊なく曲げることができる。これにより、鋳造中に直接テープを巻き上げることが可能となる。加えて、最初から延性のあるこのようなテープの熱処理はかなり簡単である。Cu含有量が1.5at%未満である合金は熱処理中に脆化するが、炉から離れ冷却されるまでは脆化しない。したがって、加熱処理中のテープ亀裂の可能性は著しく低い。加えて、ほとんどの場合、炉内を通るテープ輸送は、亀裂ににもかかわらず継続することができる。概して、最初から延性のあるテープを、問題をより少なくして製造することも熱処理することもでき、したがってより経済的である。
表5および表6に示す組成は、化学分析において典型的には±0.5at%の精度で見出される個々の元素の濃度に対応するat%の点で公称組成である。
ケイ素およびホウ素の含有量もまた、ニオブ含有量が2at%未満であるこの種のナノ結晶性合金の磁気特性に、引張応力下で作製された場合、影響を及ぼす。
表3〜表6に挙げられている例は、以下の特性、線形性の中央領域を有する磁化ループ、残留磁気率J/J<0.1、および典型的には異方性場強度Hの数パーセントしか示さない低い保磁力Hの所望の組合せを有する。
図11および図12では、組成物Fe80Si11およびFe78.5Si1011.5の磁気特性を比較する。図11は、アニーリング温度Tを関数として、約50MPaの引張応力下の熱処理後の両合金についての保磁力Hおよび残留磁気率J/J曲線の図を示す。黒丸で示される、本発明で開示する合金Fe80Si11の、また白三角で示される対照組成物Fe78.5Si1011.5の保磁力Hおよび残留磁気率J/Jは、約50MPaの引張応力下のアニーリング温度Tにおける4秒間の熱処理後で示してある。
図12は、50MPa(破線)および220MPa(実線)の引張応力下、約565℃における4秒間熱処理後のこれらの2種の合金についてのヒステリシスループの図を示す。本発明で開示する合金Fe80Si11についてのヒステリシスループは左側に、対照組成物Fe78.5Si1011.5についてのヒステリシスループは右側に示してある。
図11および図12に示す合金は、その化学組成がわずかに異なるだけであるが、これら2種の合金の磁気特性には著しい差がある。
たとえば、約530℃〜570℃間における熱処理後は、組成物Fe80Si11の線形磁化ループは残留磁気率がJ/J<0.1と低く、保磁力が100A/mを大きく下回るほど低く、またこの組成物は異方性場強度Hの数パーセントしか示さない。
対照的に、組成物Fe78.5Si1011.5の残留磁気率は熱処理範囲全体にわたって高い。540℃〜570℃間のアニーリング温度で実現される最も低い残留磁気率の値さえ、J/J≒0.5前後である(図11参照)。加えて、これら最も低いJ/J値においては、保磁力がおよそH≒800〜1000A/mと高く、好ましくない。したがって、磁化ループの中央領域は線形性を失い、またヒステリシスループにおける著しい発散が不都合に高いヒステリシス損失を招く(図12参照)。
引張応力下の熱処理後、Si含有量が10at%を超え、B含有量が11at%未満である合金組成物により、残留磁気率がJ/J<0.1で、100A/mを著しく下回る異方場の10%しか示さない低い保磁力のフラットで大部分が線形性のヒステリシスループがもたらされることが、これら諸実施形態では示されている。ケイ素含有量がこれら限界値よりも低く、またホウ素含有量がこれら限界値よりも高い場合、このような引張応力下の熱処理後には所望の磁気特性が得られない。
Si含有量の上限値およびB含有量の下限値も検討する。合金組成物Fe75Cu0.5Nb1.5Si17.55.5(表5における合金No.5参照)は、非晶質で延性のあるテープとして難なく製造することができ、熱処理後所望の特性を有するが、熱処理後、合金組成物Fe75Cu0.5Nb1.5Si18はボーダーラインの磁気特性しか示さず、合金組成物Fe75Cu0.5Nb1.5Si18.54.5はもはや延性のある非晶質のテープとして製造することができなかった。
引張応力下の熱処理後、Si含有量が18at%未満で、B含有量が5at%を超える合金組成物により、残留磁気率がJ/J<0.1で、100A/mを著しく下回る異方場の10%しか示さない低い保磁力のフラットで大部分が線形性のヒステリシスループがもたらされることが、これら諸実施形態では示されている。ケイ素含有量が18at%を超え、ホウ素含有量が5at%未満である場合、所望の磁気特性が実現されない、またはこのような引張応力下の熱処理ではもはや非晶質および延性のテープを製造することができない。
表7は、作製した状態で、また特定のアニーリング温度Tで50MPaの応力下4秒の熱処理後に測定した、異なる合金組成についての飽和磁歪定数λを示す。特に、選択したアニーリング温度は、所与の組成について特に小さい磁歪値を得るために、最大可能アニーリング温度Ta2から50℃にすぎず(図5参照)、これらの値は最終的に合金組成によって決まる。Si含有量の効果を示す。
表7の補足として、図5は、引張応力下の熱処理の結果、飽和磁歪が明らかに減少し、この減少は再現性のある磁気特性をもたらすことができることを実証している。特に、小さい磁歪によって、機械的応力がヒステリシスループに全く、またはほんのわずかしか影響を及ぼさない。このような機械的応力は、熱処理したテープを巻いて磁心とした場合、あるいはさらなる加工の過程で、磁心をトラフもしくはプラスチック塊に埋め込んで保護する、または続いて針金コイルを設ける場合に生じることがある。これを利用して、特に有利な組成物、すなわち、磁歪が小さい組成物を考案することができる。
表7に挙げられている例によって実証されているように、5ppm未満という量の特に有利な磁歪値は、Si含有量が13at%を超え、かつ熱処理温度が最適なアニーリング範囲の上限値Ta2を下回る50℃を超えない場合に実現することができる。2ppm未満という量のさらに小さい飽和磁歪の値が、Si含有量が14at%を超え18at%未満、かつ熱処理温度が最適なアニーリング範囲の上限値Ta2を下回る50℃を超えない場合に実現することができる。1ppm未満という量のさらに小さい飽和磁歪の値は、Si含有量が15at%を超え、かつ熱処理温度が最適なアニーリング範囲の上限値Ta2を下回る50℃を超えない場合に実現することができる。
透磁率が高くなればなるほど、量の小さい磁歪値が重要になる。たとえば、透磁率の値が500を超える、または1000を超える合金は、飽和磁歪の量が2ppm未満または1ppm未満である場合、機械的応力への依存度が比較的低い。
この合金の飽和磁歪の量を5ppm未満とすることもできる。この限界値を下回る飽和磁歪を有する合金は、透磁率が500未満である場合内部応力があっても優れた軟磁気特性を保ち続ける。
飽和磁歪値は、熱処理中に加わる引張応力σに依然としてわずかに依存することがある。たとえば、アニーリング応力に応じて、610℃で4秒の熱処理後合金Fe75.5CuNb1.5Si15.56.5について以下の値が測定される。すなわち、σ≒50MPaでλ≒1ppm、σ≒260MPaでλ≒0.7ppm、およびσ≒500MPaでλ≒0.3ppm。これは、Δλ≒−0.15ppm/100Mpaのわずかな磁歪減少に相当する。その他の合金組成物は同等の挙動を示す。
図13は、先の諸実施形態の1つによる組成を有する、テープの形の合金の製造に適した装置1の概略図である。この装置1は、温度ゾーン3を有する連続炉2を備え、この温度ゾーンは、このゾーンにおける炉内の温度がアニーリング温度Tから5℃以内となるように設定される。この装置1はまた、非晶質合金5が巻かれたコイル4と、熱処理したテープ7を巻き取る巻き取りコイル6とを備える。テープは、コイル4から連続炉2を通って受入れコイル6へと速度sで通過する。この過程で、テープ7は、装置9から装置10へと進行方向にかかる引張応力σを受ける。
この装置1は、熱処理され連続炉2から取り出されたテープ6の磁気特性の連続測定のための装置8も備える。この装置8の領域では、テープ7はもはや引張応力下にない。測定した磁気特性を使用して引張応力σを調整することができ、この引張応力σ下、テープ7が連続炉2を通過する。これは、矢印9および10によって図13に概略的に示してある。この磁気特性の測定および引張応力の連続測定により、テープの長さに沿った磁気特性の規則性を改善することができる。
Figure 2014516386
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Claims (24)

  1. Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSiと、最大1at%の不純物とからなり、Mが元素Mo、TaまたはZrの1種または複数種であり、Tが元素V、Mn、Cr、CoまたはNiの1種または複数種であり、Zが元素C、PまたはGeの1種または複数種であり、0at%≦a<1.5at%、0at%≦b<2at%、0at%≦(b+c)<2at%、0at%≦d<5at%、10at%<x<18at%、5at%<y<11at%および0at%≦z<2at%である、
    テープの形に構成されている合金であって,
    粒子の少なくとも50vol%の平均径が100nm未満であるナノ結晶性構造と、
    中央の線形性部分を持つヒステリシスループと、
    残留磁気率Jr/Js<0.1と
    保磁力H対異方場強度H比<10%と、を有する、
    合金。
  2. 残留磁気率J/Jが<0.05である、請求項1に記載の合金。
  3. 保磁力対異方場強度比が<5%である、請求項1または2に記載の合金。
  4. 40〜3000の透磁率μをさらに備える、請求項1から3のいずれか一項に記載の合金。
  5. 2ppm未満、好ましくは1ppm未満の飽和磁歪をさらに備える、請求項1から4のいずれか一項に記載の合金。
  6. 500未満の透磁率および5ppm未満の飽和磁歪を備える、請求項1から5のいずれか一項に記載の合金。
  7. b<0.5である、請求項1から6のいずれか一項に記載の合金。
  8. a<0.5である、請求項1から7のいずれか一項に記載の合金。
  9. 14at%<x<17at%および5.5at%<y<8at%である、請求項1から8のいずれか一項に記載の合金。
  10. 前記テープが、10μm〜50μmの厚さを有する、請求項1から9のいずれか一項に記載の合金。
  11. 前記粒子の少なくとも70%が50nm未満の平均径を有する、請求項1から10のいずれか一項に記載の合金。
  12. 前記結晶性粒子が、好ましい方向に少なくとも0.02%の伸度を有する、請求項1から11のいずれか一項に記載の合金。
  13. 請求項1から12のいずれか一項に記載の合金からなる磁心。
  14. 巻き付けたテープの形を有する、請求項13に記載の磁心。
  15. 前記テープが絶縁層で被覆されている、請求項13または14に記載の磁心。
  16. 透磁率が1500〜3000である、請求項13〜15のいずれか一項に記載の磁心を備える耐直流変流器。
  17. 透磁率が200〜1500である、請求項13〜15のいずれか一項に記載の磁心を備える電力変圧器。
  18. 透磁率が50〜200である、請求項13〜15のいずれか一項に記載の磁心を備える蓄積チョーク。
  19. テープを製造する方法であって、
    Fe100−a−b−c−d−x−y−zCuNbSiと、最大1at%の不純物とからなる組成を有する非晶質合金で作製されるテープを提供する工程であって、Mが元素Mo、TaおよびZrの1種または複数種であり、Tが元素V、Mn、Cr、CoまたはNiの1種または複数種であり、Zが元素C、PまたはGeの1種または複数種であり、0at%≦a<1.5at%、0at%≦b<2at%、0at%≦(b+c)<2at%、0at%≦d<5at%、10at%<x<18at%、5at%<y<11at%および0at%≦z<2at%である工程と、
    450℃≦T≦750℃である温度Tの連続炉内引張応力下において、前記テープを熱処理する工程と、を含む
    方法。
  20. 温度Tの前記連続炉の温度ゾーンにおいてテープが費やす時間が2秒〜2分となるように、前記テープが速度sで前記連続炉を通過する、請求項19に記載の方法。
  21. 前記テープが、5MPa〜800MPaの引張応力下で前記連続炉を通過する、請求項19または20に記載の方法。
  22. 前記引張応力σが、比σ≒σTestμTest/μに従う組成に応じて選択され、μが所望の透磁率、μTestが試験応力σTestで実現される透磁率である、請求項19から21のいずれか一項に記載の方法。
  23. 前記温度Tが、比率(Tx1+50℃)≦T≦(Tx2+30℃)に従って前記ニオブ含有量bに依存して選択される、請求項19から22のいずれか一項に記載の方法。
  24. 所望の透磁率または異方場値、0.1未満の最大残留磁気率Jr/Jsの値、異方場強度に対する保磁力の比H/Hの10%未満の最大値、およびこれらの値それぞれについての許容される偏差範囲があらかじめ定められ、
    前記テープの磁気特性が、前記テープが連続炉を離れると連続的に測定され、
    前記許容される磁気特性偏差からの逸脱が認められた場合、それに応じてテープの引張応力は、測定した磁気特性値が前記許容される偏差範囲内に戻るように調整される、請求項19から23のいずれか一項に記載の方法。
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