JP2014096423A - 回路付きサスペンション基板集合体シートおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数のサスペンション基板100と検査用基板200とが支持枠により一体的に支持される。各サスペンション基板100においては、導電性の支持基板110上にベース絶縁層170を介して線路123,125が形成される。支持基板110と線路123,125とがそれぞれベース絶縁層170内のビア128,129により電気的に接続される。検査用基板200においては、導電性の支持基板210上にベース絶縁層240を介して導体層220が形成される。支持基板210と導体層220とがベース絶縁層240内のビア221により電気的に接続される。ビア128,129とビア221とは同じ構成を有する。
【選択図】図10
Description
図1および図2は、本発明の一実施の形態に係る集合体シートの上面図である。また、図3は、図1の集合体シート500の一部拡大上面図である。集合体シート500は、金属製の長尺状の支持基板から作製される。なお、図1および図3においては、矢印X,Yで示すように、互いに直交する二方向をX方向およびY方向と定義する。本例では、X方向およびY方向は水平面に平行な方向である。製造時には、長尺状の支持基板に複数の集合体シート500が長手方向に並ぶように作製される。図1には、支持基板上の1つの集合体シート500が示される。
図4は、図1のサスペンション基板100の上面図である。図4に示すように、サスペンション基板100は、金属製の長尺状基板により形成される支持基板110を備える。支持基板110上には、太い点線で示すように、書込用配線パターン120,130および読取用配線パターン140,150が形成されている。図4では、書込用配線パターン120,130が一本の点線で示され、読取用配線パターン140,150が一本の点線で示される。書込用配線パターン120と書込用配線パターン130とは、一対の信号線路対を構成する。また、読取用配線パターン140と読取用配線パターン150とは、一対の信号線路対を構成する。
次に、書込用配線パターン120,130の詳細な構成について説明する。図5は、書込用配線パターン120,130の構成を示す模式図である。図5に示すように、書込用配線パターン120は、線路121〜125により構成される。電極パッド161に線路121が接続され、電極パッド165に線路122が接続される。
図8は、検査用基板200の構成を示す図である。図8(a)は、検査用基板200の上面図を示す。図8(b)は、図8(a)のB−B線断面図を示す。図8(c)は、図8(a)のC−C線断面図を示す。
次に、集合体シート500の製造方法について説明する。本例においては、長尺状の支持基板上にロール・トゥ・ロール方式により複数の集合体シート500が形成される。図9、図10および図11は、本発明の一実施の形態に係る集合体シート500の製造方法の一例を示す工程断面図である。図9(a)〜図11(b)の上段の図は、図7のA−A線断面に対応する。図9(a)〜図11(b)の下段の図は、図8のB−B線断面に対応する。
集合体シート500に形成された検査用基板200のビア221の検査を行う。例えば、検査装置の位置のプローブを検査用基板200のめっき層230に接触させ、他のプローブを検査用基板200の開口244内で露出した支持基板210に接触させる。それにより、ビア221の抵抗値を測定することができる。
上記実施の形態において、X方向における矩形領域521〜525の各々の一端部のサスペンション基板100と側部枠511との間の分離溝526内および他端部のサスペンション基板100と側部枠512との間の分離溝526内に検査用基板200が設けられるが、これに限定されない。
上記実施の形態において、一の検査用基板200に一のビア221が設けられるが、これに限定されない。一の検査用基板200に複数種類のビア221が設けられてもよい。図13は、第2の変形例に係る集合体シート500の検査用基板200の構成を示す図である。図13(a)は、検査用基板200の上面図を示す。図8(b)は、図8(a)のI−I線断面図を示す。
本実施の形態に係る集合体シート500においては、検査用基板200が、複数のサスペンション基板100と同様に支持枠510に一体的に支持されるように形成され、かつ、複数のサスペンション基板100のビア128,129と検査用基板200のビア221とは同じ構成を有する。それにより、ビア128,129の状態とビア221の状態とが高い相関性を有する。したがって、検査用基板200のビア221の検査を行うことにより、複数のサスペンション基板のビア128,129の検査を短時間で行うことができるとともに、検査結果の信頼性を向上させることができる。
実施例1〜12として、図1に示す構成を有する複数の集合体シート500を作製した。複数の集合体シート500における検査用基板200のビア221は、それぞれ異なる直径を有する。また、同一の集合体シート500内で検査用基板200のビア221と各サスペンション基板100のビア128とは同じ構成および同じ直径を有する。実施例1〜12の集合体シート500の各々から1つの検査用基板200および1つのサスペンション基板100を選択し、選択された検査用基板200のビア221の抵抗値および選択したサスペンション基板100のビア128の抵抗値を測定した。
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各部との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。
110,210,530 支持基板
111 開口部
112 タング部
113 孔部
114,115 交差領域
116,244 開口
117 領域
120,130 書込用配線パターン
121〜125,131〜135 線路
126,127 接続部
128,129,221,221A〜221C ビア
140,150 読取用配線パターン
161〜168 電極パッド
170,240,540 ベース絶縁層
171,172,243 貫通孔
180,250 カバー絶縁層
200 検査用基板
220 導体層
230 めっき層
241 内部領域
242 外部領域
500 集合体シート
510 支持枠
511,512 側部枠
520 連結部
513〜517 端部枠
521〜525 矩形領域
526 分離溝
550 製品保証領域
集合体シート500に形成された検査用基板200のビア221の検査を行う。例えば、検査装置の一のプローブを検査用基板200のめっき層230に接触させ、他のプローブを検査用基板200の開口244内で露出した支持基板210に接触させる。それにより、ビア221の抵抗値を測定することができる。
上記実施の形態において、一の検査用基板200に一のビア221が設けられるが、これに限定されない。一の検査用基板200に複数種類のビア221が設けられてもよい。図13は、第2の変形例に係る集合体シート500の検査用基板200の構成を示す図である。図13(a)は、検査用基板200の上面図を示す。図13(b)は、図13(a)のI−I線断面図を示す。
本実施の形態に係る集合体シート500においては、検査用基板200が、複数のサスペンション基板100と同様に支持枠510に一体的に支持されるように形成され、かつ、複数のサスペンション基板100のビア128,129と検査用基板200のビア221とは同じ構成を有する。それにより、ビア128,129の状態とビア221の状態とが高い相関性を有する。したがって、検査用基板200のビア221の検査を行うことにより、複数のサスペンション基板100のビア128,129の検査を短時間で行うことができるとともに、検査結果の信頼性を向上させることができる。
Claims (9)
- 複数の回路付きサスペンション基板と、
検査用基板と、
前記複数の回路付きサスペンション基板および前記検査用基板を一体的に支持する支持枠とを備え、
前記複数の回路付きサスペンション基板の各々は、
導電性の第1の支持基板と、
前記第1の支持基板上に形成された第1の絶縁層と、
前記第1の絶縁層上に形成された導体線路と、
前記第1の絶縁層内を通って前記第1の支持基板と前記導体線路とを電気的に接続する第1のビアとを含み、
前記検査用基板は、
導電性の第2の支持基板と、
前記第2の支持基板上に形成された第2の絶縁層と、
前記第2の絶縁層上に形成された導体層と、
前記第2の絶縁層内を通って前記第2の支持基板と前記導体層とを電気的に接続する第2のビアとを含み、
前記第1のビアと前記第2のビアとは同じ構成を有する、回路付きサスペンション基板集合体シート。 - 前記第2の絶縁層は、前記第2の支持基板の一部が露出するように形成される開口部を有する、請求項1記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。
- 前記開口部は、前記第2の支持基板の300μm以上の長さの部分が露出するように形成される、請求項2記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。
- 前記複数の回路付きサスペンション基板は、前記導体線路の少なくとも一部および前記第1のビアを覆うように前記第1の絶縁層上に形成される第3の絶縁層をさらに含み、
前記検査用基板は、前記第2のビアを覆うとともに前記導体層の少なくとも一部が露出するように前記第2の絶縁層上に形成される第4の絶縁層をさらに含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。 - 前記第4の絶縁層は、前記導体層の300μm以上の長さの部分が露出するように形成される、請求項4記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。
- 前記複数の回路付きサスペンション基板および前記検査用基板は、整列状態で前記支持枠に支持される、請求項1〜5のいずれか一項に記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。
- 前記検査用基板は、前記複数の回路付きサスペンション基板のうち端部の回路付きサスペンション基板と前記支持枠の部分との間に配置される、請求項6記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。
- 前記検査用基板は、前記複数の回路付きサスペンション基板のうち隣り合う一対の回路付きサスペンション基板間に配置される、請求項6または7記載の回路付きサスペンション基板集合体シート。
- 導電性の支持基板と絶縁層との積層構造を有する基材を用意する工程と、
前記絶縁層を加工することにより、複数の回路付きサスペンション基板用の複数の第1の絶縁層および前記検査用基板用の第2の絶縁層を形成する工程と、
前記支持基板に電気的に接続される第1のビアを前記複数の第1の絶縁層にそれぞれ形成するとともに前記支持基板に電気的に接続される第2のビアを前記第2の絶縁層に形成し、前記複数の第1の絶縁層上に前記第1のビアに電気的に接続されるように導体線路をそれぞれ形成するとともに前記第2の絶縁層上に前記第2のビアに電気的に接続されるように導体層を形成する工程と、
前記支持基板における前記複数の回路付きサスペンション基板用の領域、前記検査用基板用の領域および前記支持枠用の領域を除く前記支持基板の領域を除去することにより、複数の回路付きサスペンション基板、検査用基板および支持枠を作製する工程とを備える、回路付きサスペンション基板集合体シートの製造方法。
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