JP2014055780A - 膜厚測定方法及び膜厚測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光の透過率に差のある第1波長領域及び第2波長領域を有し、第1波長領域の方が第2波長領域よりも光の透過率が低い基準膜と、基準膜の一方側に形成された1又は複数の測定対象膜と、基準膜の他方側に形成された1または複数の測定対象膜と、を含む試料を用い、各測定対象膜の厚さを計測する膜厚計測方法であって、試料による光の反射率スペクトルを、第1波長領域の一部又は全部、及び第2波長領域の一部又は全部において測定し、第1波長領域における反射率スペクトルに基づいて、前記一方側に形成された各測定対象膜の厚さを計算し、前記一方側に形成された各測定対象膜の厚さと、第2波長領域における反射率スペクトルと、に基づいて、前記他方側に形成される各膜の厚さを計算する。
【選択図】図5
Description
Claims (5)
- 光の透過率に差のある第1波長領域及び第2波長領域を有し、前記第1波長領域の方が前記第2波長領域よりも光の透過率が低い基準膜と、前記基準膜の一方側に形成された1又は複数の測定対象膜と、前記基準膜の他方側に形成された1または複数の測定対象膜と、を含む試料を用い、前記各測定対象膜の厚さを計測する膜厚計測方法であって、
前記試料に前記一方側から光を照射する照射ステップと、
前記試料による前記光の反射率スペクトルを、前記第1波長領域の一部又は全部、及び前記第2波長領域の一部又は全部において測定する測定ステップと、
前記第1波長領域における反射率スペクトルに基づいて、前記一方側に形成された前記各測定対象膜の厚さを計算する第1計算ステップと、
前記一方側に形成された前記各測定対象膜の厚さと、少なくとも前記第2波長領域における反射率スペクトルと、に基づいて、前記他方側に形成される前記各膜の厚さを計算する第2計算ステップと、
を含むことを特徴とする膜厚計測方法。 - 請求項1に記載の膜厚計測方法において、
前記第1波長領域及び前記第2波長領域は隣接する波長領域であり、それらの境界は光の透過率の変化に基づいて決定される、
ことを特徴とする膜厚計測方法。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計測方法において、
前記第2計算ステップは、前記一方側に形成された前記各測定対象膜の厚さを前記第1計算ステップにおいて計算された値とし、前記他方側に形成される前記各膜の厚さを未知のパラメータとする、理論反射率スペクトルを、前記測定ステップにより測定される反射率スペクトルにフィッティングさせることにより、前記未知のパラメータを算出する、
ことを特徴とする膜厚計測方法。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計測方法において、
前記第1計算ステップは、前記第1波長領域における反射率スペクトルに基づいて得られる波形の波長解析を行うとともに、解析により得られる波長成分に基づいて、前記一方側に形成された前記各測定対象膜の膜厚を決定し、
前記第2計算ステップは、前記第2波長領域における反射率スペクトルに基づいて得られる波形の波長解析を行い、解析により得られる波長成分のうち、前記第1計算ステップで得られるもの以外に基づいて、前記他方側に形成された前記各測定対象膜の膜厚を決定する、
ことを特徴とする膜厚計測方法。 - 光の透過率に差のある第1波長領域及び第2波長領域を有し、前記第1波長領域の方が前記第2波長領域よりも光の透過率が低い基準膜と、前記基準膜の一方側に形成された1又は複数の測定対象膜と、前記基準膜の他方側に形成された1または複数の測定対象膜と、を含む試料を用い、前記各測定対象膜の厚さを計測する膜厚計測装置であって、
前記試料に前記一方側から光を照射する照射手段と、
前記試料による前記光の反射率スペクトルを、前記第1波長領域の一部又は全部、及び前記第2波長領域の一部又は全部において測定する測定手段と、
前記第1波長領域における反射率スペクトルに基づいて、前記一方側に形成された前記各測定対象膜の厚さを計算するとともに、前記一方側に形成された前記各測定対象膜の厚さと、少なくとも前記第2波長領域における反射率スペクトルと、に基づいて、前記他方側に形成される前記各膜の厚さを計算する計算手段と、
を含むことを特徴とする膜厚計測装置。
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