JP5427896B2 - 干渉を用いた膜厚計測装置及び干渉を用いた膜厚計測方法 - Google Patents
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Description
前記載置部に載置された前記基板に光を照射する光源と、
前記光源からの前記光を分岐して前記基板の表面及び参照面に照射させると共に、前記基板の前記表面及び前記参照面からの反射光を重ね合わせて干渉光を形成するハーフミラーと、
前記光源と前記ハーフミラーとの間に配置されると共に、透過光の強度スペクトルが複数のピークを有する光学フィルタと、
前記干渉光を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置での撮像結果に基づいて前記透明膜の膜厚を算出する演算装置とを備え、
前記演算装置は、
前記透明膜への入射光と反射光との間の第1位相スペクトルの変化量を予めデータベース化して作成されたスペクトル変化量データベースと、
前記撮像装置で撮像した前記透明膜の干渉信号をフーリエ変換して前記透明膜の第2位相スペクトルを算出する第2位相スペクトル算出部と、
前記第2位相スペクトルと最も一致度の高い第1位相スペクトルを前記スペクトル変化量データベースから選択し、選択した前記第1位相スペクトルを用いて前記透明膜の膜厚を計測する膜厚算出部とを有する、
干渉を用いた膜厚計測装置を提供する。
透明膜が表面に形成された基板への入射光と反射光との間での第1位相スペクトルの変化量を予めデータベース化してスペクトル変化量データベースを作成し、
前記透明膜及び参照面からの光が干渉した干渉光の干渉信号をフーリエ変換して前記透明膜の第2位相スペクトルを算出し、
前記第2位相スペクトルと最も一致度の高い第1位相スペクトルを前記スペクトル変化量データベースから選択し、選択した前記第1位相スペクトルを用いて前記透明膜の膜厚を計測する、
干渉を用いた膜厚計測方法を提供する。
本発明の第1実施形態の膜厚計測装置の一例としての白色走査干渉計1は、図1Aに示す光学系である。白色走査干渉計1は、光源の一例としての白色光源101と、ハーフミラー102と、載置部100と、参照面104aを有する参照部材104と、撮像装置の一例としてのエリアセンサ105と、演算装置106とで構成されている。
本発明の第2実施形態の膜厚計測装置の一例としての白色走査干渉計2は、図5に示す光学系である。第2実施形態が第1実施形態と大きく異なるのは、波長フィルタ107を備えることである。
Claims (7)
- 透明膜が表面に形成された基板を載置する載置部と、
前記載置部に載置された前記基板に光を照射する光源と、
前記光源からの前記光を分岐して前記基板の表面及び参照面に照射させると共に、前記基板の前記表面及び前記参照面からの反射光を重ね合わせて干渉光を形成するハーフミラーと、
前記光源と前記ハーフミラーとの間に配置されると共に、透過光の強度スペクトルが複数のピークを有する光学フィルタと、
前記干渉光を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置での撮像結果に基づいて前記透明膜の膜厚を算出する演算装置とを備え、
前記演算装置は、
前記透明膜への入射光と反射光との間の第1位相スペクトルの変化量を予めデータベース化して作成されたスペクトル変化量データベースと、
前記撮像装置で撮像した前記透明膜の干渉信号をフーリエ変換して前記透明膜の第2位相スペクトルを算出する第2位相スペクトル算出部と、
前記第2位相スペクトルと最も一致度の高い第1位相スペクトルを前記スペクトル変化量データベースから選択し、選択した前記第1位相スペクトルを用いて前記透明膜の膜厚を計測する膜厚算出部とを有する、
干渉を用いた膜厚計測装置。 - 前記光学フィルタは、前記透過光の前記強度スペクトルが3つのピークを有するフィルタである、
請求項1に記載の干渉を用いた膜厚計測装置。 - 前記光学フィルタは、前記透過光の前記強度スペクトルの中心ピークの強度が、両サイドピークの強度に比べて小さい、
請求項2に記載の干渉を用いた膜厚計測装置。 - 前記光学フィルタは、前記透過光の前記強度スペクトルの前記中心ピークの強度が、前記両サイドピークの強度に対して80%より大きく100%未満の強度である、
請求項3に記載の干渉を用いた膜厚計測装置。 - 前記光学フィルタは、前記透過光の前記強度スペクトルの前記中心ピークの強度が、前記両サイドピークの強度の93.4%の強度である、
請求項4に記載の干渉を用いた膜厚計測装置。 - 前記光源が白色光源である
請求項1に記載の干渉を用いた膜厚計測装置。 - 透過光の強度スペクトルが複数のピークを有する光学フィルタを介して透明膜と参照面とに光を照射し、
透明膜が表面に形成された基板への入射光と反射光との間での第1位相スペクトルの変化量を予めデータベース化してスペクトル変化量データベースを作成し、
前記透明膜及び前記参照面からの光が干渉した干渉光の干渉信号をフーリエ変換して前記透明膜の第2位相スペクトルを算出し、
前記第2位相スペクトルと最も一致度の高い第1位相スペクトルを前記スペクトル変化量データベースから選択し、選択した前記第1位相スペクトルを用いて前記透明膜の膜厚を計測する、
干渉を用いた膜厚計測方法。
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