JP7199093B2 - 光学測定システムおよび光学測定方法 - Google Patents
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Description
サンプルの光学特性を算出する処理は、第2のスペクトルをフーリエ変換した結果に現れるピークに基づいて膜厚を算出する処理を含んでいてもよい。
まず、本実施の形態に従う光学測定システム1の構成例について説明する。
次に、本願発明者らによって新たに見いだされた、光干渉法を用いた光学測定方法において生じる課題について説明する。
<C.第1の実施の形態>
第1の実施の形態として、サンプルから測定された反射率スペクトルに含まれる周波成分(ピーク)の数が相対的に少ない場合の処理について説明する。第1の実施の形態に従う光学測定方法は、典型的には、単層膜のサンプルについて膜厚を測定する場合などに適用可能である。
まず、第1の実施の形態に従う光学測定方法の処理手順について説明する。
次に、図8のステップS4に示すボトム区間を特定する処理の詳細について説明する。
次に、第1の実施の形態に従う光学測定方法による測定例について説明する。
第1の実施の形態に従う光学測定方法によれば、異方性を有するサンプルなどから測定されるスペクトルに現れるうなり(異なる周波成分の組み合わせによる変動)の影響を除去した上で、サンプルの光学特性を算出する。そのため、測定精度の低下を抑制できる。
第1の実施の形態においては、異方性を有する単層膜のサンプルを一例として説明した。実際のサンプルは、複数の層からなる多層膜であることも多い。異方性を有する多層膜のサンプルを測定する場合には、複屈折率に起因するうなり(ビート)を生じる層の影響だけではなく、他の層からの影響を受けて、うなりの影響を除去することが難しい場合もある。そこで、第2の実施の形態として、多層膜のサンプルについて膜厚を測定するのに適した光学測定方法について説明する。
まず、第2の実施の形態に従う光学測定方法の処理概要について説明する。
次に、第2の実施の形態に従う光学測定方法の処理手順について説明する。
次に、第2の実施の形態に従う光学測定方法による測定例について説明する。
第2の実施の形態に従う光学測定方法によれば、サンプルから測定された反射率スペクトルなどのスペクトルをフーリエ変換した結果において、測定対象外の層に由来する情報を除去し、その上で、元のスペクトルに対応するスペクトルに復元した上で、サンプルの光学特性を算出する。上述した第1の実施の形態に従う光学測定方法と同様に、復元したスペクトルに現れるうなり(異なる周波成分の組み合わせによる変動)の影響を除去できるので、測定精度の低下を抑制できる。
上述の発明の詳細な説明によれば、本願発明者らによって見いだされた光干渉法を用いた光学測定方法において生じる新たな課題、および、当該課題に対する解決手段の有効性を理解することができるであろう。
Claims (9)
- サンプルに照射するための測定光を発生する光源と、
前記測定光により前記サンプルで生じる反射光または透過光を受光する分光検出器と、
前記分光検出器の検出結果が入力される処理装置とを備え、
前記処理装置は、
前記分光検出器の検出結果に基づいて第1のスペクトルを算出する処理と、
前記第1のスペクトルにおいて、波長に関する振幅の変化が所定条件を満たしている区間を特定する処理と、
前記第1のスペクトルから前記特定された区間の情報を除去した第2のスペクトルを用いて前記サンプルの光学特性を算出する処理とを、実行可能に構成されており、
前記特定する処理は、
前記第1のスペクトルに対して、予め定められた波長幅を有する評価ウィンドウを順次設定する処理と、
各評価ウィンドウに含まれる前記第1のスペクトルの振幅の変化に基づいて、各評価ウィンドウに対応する区間における振幅のばらつきの度合いが前記所定条件を満たしているか否かを判断する処理とを含む、光学測定システム。 - 前記第1のスペクトルの各評価ウィンドウに対応する区間における振幅のばらつきの度合いが所定しきい値を下回る場合に、当該評価ウィンドウに対応する区間が前記所定条件を満たしていると判断される、請求項1に記載の光学測定システム。
- 前記評価ウィンドウの波長幅は、サンプルの種類毎に予め定められている、請求項1または2に記載の光学測定システム。
- 前記サンプルの光学特性を算出する処理は、前記第2のスペクトルをフーリエ変換した結果に現れるピークに基づいて膜厚を算出する処理を含む、請求項1~3のいずれかに記載の光学測定システム。
- 前記第1のスペクトルを算出する処理は、前記第1のスペクトルとして、前記分光検出器の検出結果に基づいて前記サンプルの反射率スペクトルを算出する処理を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の光学測定システム。
- 前記第1のスペクトルを算出する処理は、前記第1のスペクトルとして、前記分光検出器の検出結果に基づいて算出される前記サンプルの反射率スペクトルから、前記サンプルに含まれる測定対象外の層に由来する情報を除去した反射率スペクトルを算出する処理を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の光学測定システム。
- 前記第1のスペクトルを算出する処理は、
前記サンプルの反射率スペクトルをフーリエ変換して第3のスペクトルを算出する処理と、
前記第3のスペクトルのうち、前記サンプルに含まれる測定対象外の層に由来するピークを特定する処理と、
当該特定したピークおよび当該ピーク近傍の情報を前記第3のスペクトルから除去して第4のスペクトルを算出する処理とをさらに含む、請求項6に記載の光学測定システム。 - 前記第1のスペクトルを算出する処理は、前記第4のスペクトルを逆フーリエ変換して前記第1のスペクトルを算出する処理をさらに含む、請求項7に記載の光学測定システム。
- 光源からサンプルに測定光を照射し、当該測定光により前記サンプルで生じる反射光または透過光を分光検出器で受光して得られる検出結果に基づいて、第1のスペクトルを算出するステップと、
前記第1のスペクトルにおいて、波長に関する振幅の変化が所定条件を満たしている区間を特定するステップと、
前記第1のスペクトルから前記特定された区間の情報を除去した第2のスペクトルを用いて前記サンプルの光学特性を算出するステップとを備え、
前記特定するステップは、
前記第1のスペクトルに対して、予め定められた波長幅を有する評価ウィンドウを順次設定するステップと、
各評価ウィンドウに含まれる前記第1のスペクトルの振幅の変化に基づいて、各評価ウィンドウに対応する区間における振幅のばらつきの度合いが前記所定条件を満たしているか否かを判断するステップとを含む、光学測定方法。
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