JP2014044075A - 走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 走査型プローブ顕微鏡1において、光学顕微鏡40の光軸とは非同軸の観察軸を有すると共に、光学顕微鏡40よりも広域かつカンチレバー28とサンプル39を同時に観察可能な視野を設定することができる撮像装置17と撮像装置17の画像を表示する画像表示装置3を設けた。
【選択図】 図3
Description
本発明は、先端に探針が設けられたカンチレバーと、カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダと、サンプルを載置するサンプルホルダと、サンプル表面を探針により相対的に走査するための水平方向微動機構と、探針とサンプル表面間の距離制御を行う垂直方向微動機構と、水平方向微動機構及び垂直方向微動機構よりも稼動範囲の大きい水平方向粗動機構及び垂直方向粗動機構と、カンチレバーとサンプルを観察するための光学顕微鏡により構成される走査型プローブ顕微鏡ユニット部と、走査型プローブ顕微鏡を制御する制御装置と、光学顕微鏡の画像を表示する画像表示装置からなる走査型プローブ顕微鏡において、光学顕微鏡の光軸とは非同軸の観察軸を有すると共に、光学顕微鏡よりも広域かつ前記カンチレバーと前記サンプルを同時に観察可能な視野を設定することができる撮像装置と該撮像装置の画像を表示する画像表示装置を設けた。
撮像装置の視野はサンプルホルダの全域又は1/4以上の面積を観察可能に設定した。
また、光学顕微鏡と撮像装置の照明装置が共通の光源から光を供給されるようにした。
また、撮像装置がズームの機能を有し、当該撮像装置で観察可能な最大視野よりも小さい領域を拡大した画像を画像表示装置上に表示可能とした。
また、前記画像表示装置上に表示された画像により前記探針又は前記光学式の計測/分析/観察装置の対物レンズの焦点位置と前記サンプルの位置を調整できるようにした。
また、前記撮像装置に設けられたレンズに外部から駆動可能なフォーカス調整機構を設けた。
本発明では撮像装置としてデジタル又はアナログ式のビデオカメラ又は連写して撮像するスチルカメラを用いた。
本発明では、光学顕微鏡よりも視野の広いカメラを設けたため、目視確認の場合に比べ、サンプルと探針を精度よく位置合わせすることが可能となる。
また、カメラによる画像表示装置により水平方向粗動機構と垂直方向粗動機構を遠隔操作してサンプルの被測定箇所の位置決めが行えるため、全ての操作をディスプレイの前で行うことができる。
以上のように本発明では測定を効率よく楽に行うことができ被測定箇所の位置決め精度も目視確認よりも向上する。
さらに光学顕微鏡とカメラの照明を共通の光源から供給することで、コストを抑えることができる。
<第1の実施形態>
図1〜図3は本発明の第1の実施形態に係る走査型プローブ顕微鏡1の構成を示す概観図である。図1は全体構成を示しており、後述する防音カバー4の扉15が開かれた状態である。図2は防音カバー4の扉15が閉じられた状態である。図3は防音カバー4内の走査型プローブ顕微鏡ユニット部2の概観図であり、そのうち(c)は(a)のA方向から見た後述するカメラ17の配置に係る概観図である。
このカメラ17はボイスコイルモータによりフォーカスが調整可能なカメラレンズとCMOSイメージセンサ(詳細構造は図示せず)により構成されている。
カメラレンズのフォーカスは対象物から5cm以上で合うように構成されており、画角は75°でボイスコイルモータによるオートフォーカス機能が設けられている。
1)サンプルの設置
ユニット2前に測定者が移動し、防音カバー4の扉15を開けて、XYステージ34をY軸方向の手前に移動させてサンプルホルダ38にサンプルを載せる。本実施形態では直径8インチのシリコンウェハーをサンプル38として測定する。
XYステージの端に設置されたカンチレバー取付台52にカンチレバー28を置き、測定に備えて防音カバー4の扉15を閉める。カンチレバー28は摩耗時の交換や測定目的により違う種類への交換などを行う場合には複数本のカンチレバーを並べておく。扉15を閉めた後、測定者は制御装置3の前に移動し、椅子13に座ってディスプレイ8を見ながら操作を続ける。
Zステージ22をカンチレバー取付台52から離す。次にカメラ17の照明51を点灯させてカメラ画像をディスプレイ上8に表示させる。このとき視野の中にはカンチレバー28とサンプル39全体が確認できる。
XYステージ34とZステージ22で位置合わせを行った後は、走査型プローブ顕微鏡の操作ソフトウェアにより探針28aとサンプル39を測定領域に入るまで自動的に近づけ、その後、測定パラメータの調整を行って、変位検出機構33によりカンチレバー28の変位や振幅量を計測し垂直方向微動機構24で高さの調整を行いながら水平方向微動機構23で走査を行い、走査型プローブ顕微鏡のイメージ測定が行われる。測定の際には光学顕微鏡40やカメラ17の照明47、51は点灯したままで測定の様子を確認してもよいが、光てこのフォトディテクタ31に光学顕微鏡40やカメラ17の照明47、51が混入してノイズとなる場合がある。この場合にはソフトウエアにより照明47、51を消灯させておく。
測定が終了し、測定場所を変更する場合には、探針28aとサンプル39をZステージ22により離した後、カメラ17による画像を確認しながら再び3)の手順により被測定箇所の位置決めを行い4)の手順により測定を行う。Zステージ22の退避量は測定者がユニット2や防音カバー4を触ることがないため数10〜数100μm程度わずかに離しておけばよい。
また、カンチレバー28を交換する場合には、1)の手順によりカンチレバー交換を行う。
これらの手順も測定者はディスプレイ8の前で椅子13に座ったままで行うことが可能である。
測定が完了したら、測定者は椅子13を離れてユニット2の前に移動し防音カバー4の扉15を開けてサンプル39やカンチレバー28を片付け、一連の測定が完了する。
さらに、複数台のカメラを設置して様々な角度からの画像を確認しながら操作することでより多角的に内部の様子が認識でき、操作性が向上する。
図4の(a)及び(b)は、本発明の第二の実施形態に係る走査型プローブ顕微鏡ユニット部2の概観図であり、(c)は(a)のB方向から見たカメラ17の配置に係る概観図である。また図5は、図4のカメラ17及び光学顕微鏡40の照明用のLED光源54の概観図である。
本実施形態は、図5のLED光源54が除振台の下の架台に置かれており、LED光源54から2分岐された光ファイバーの束からなるライトガイド55が接続されている。
本実施形態の照明もソフトウエア上から点灯、消灯、明るさ調整を行うことができる。
また光源54を防音カバー4外部に配置しライトガイド55a、55bで照明を導入するようにしたため防音カバー4内部の発熱を抑えることができ温度ドリフトが防止される。
図6は本発明の第二の実施形態にかかる走査型プローブ顕微鏡のユニット部の概観図である。
本実施形態もカメラ17の取り付け方法とサンプルホルダ57の大きさ以外は第一の実施形態と同じ構成であるため、図面上の同じ構成要素には同じ番号を付し、装置の構造や測定手順の説明は省略する。
図7は本発明の第四の実施形態にかかる走査型プローブ顕微鏡のユニット部の概観図である。
本実施形態も第一の実施形態と同じ構成箇所には、図面上の同じ番号を付し、装置の構造や測定手順の説明は省略する。
本実施形態では走査型プローブ顕微鏡ユニット部2に、サンプル39表面の凹凸を観察する白色干渉計60を複合させた装置である。
本実施形態では倍率10倍の対物レンズ61を用いることで1000μm×700μmの視野で白色干渉計60の測定が行なわれる。
なお、本実施形態では垂直方向粗動機構22も走査型プローブ顕微鏡ユニットと白色干渉計60で共有したが、それぞれ別の垂直方向粗動機構を有してもよい。
このように配置することで、白色干渉計60での観察時とカンチレバー28の観察時にそれぞれ探針28a又は対物レンズ61の焦点をサンプル39の測定箇所に位置合わせすることが可能となる。白色干渉計60の対物レンズ61の光軸中心をサンプル39の被測定箇所に位置合わせする場合には、対物レンズ61からサンプル39に照明されるLEDのスポットを目印にすることができる。
探針28a又は対物レンズ61の局所位置を観察する場合には、カメラ17のズーム機構によりそれぞれの場所を拡大して観察することが可能となる。
例えば、カメラや光学顕微鏡の構造や種類は実施形態のものに限定されず、任意の形態のものが使用可能であり、カメラについてはウェブ・カメラであっても本発明に利用可能であれば本発明の範囲に含まれる。
また、防音カバーは必須の構成ではなく、カバーがない場合でも本発明のカメラを利用することで全ての操作をディスプレイの前で操作できるので、操作性が大幅に向上する。
また、防音カバー以外にも防風カバー、遮光カバー、真空やガス雰囲気にするためのチャンバー、グローブボックスなど任意の形態のカバー内で使用可能である。
また、走査型プローブ顕微鏡の構造もカンチレバー側に垂直方向微動機構と粗動機構を設けた構造以外にサンプル側に設けてもよく、カンチレバーとサンプル側に分割して設けてもよい。
2 走査型プローブ顕微鏡ユニット部
3 制御装置
4 防音カバー
17 カメラ
22 Zステージ(垂直方向粗動機構)
23 水平方向微動機構
24 垂直方向微動機構
28 カンチレバー
29 半導体レーザ
31 フォトディテクタ
33 変位検出機構
34 XYステージ(水平方向粗動機構)
38 サンプルホルダ
40 光学顕微鏡
42 対物レンズ
43 フォーカス調整機構
44 ズーム鏡筒
45 CMOSカメラ
47 照明装置
51 LED照明
54 LED光源
55 ライトガイド
56 ライトガイド取付冶具
60 白色干渉計
61 対物レンズ
62 圧電アクチュエータ
63 筐体
また、光学顕微鏡と撮像装置の照明装置が共通の光源から光を供給されるようにした。
本発明では撮像装置としてデジタル又はアナログ式のビデオカメラ又は連写して撮像するスチルカメラを用いた。
以上のように本発明では測定を効率よく楽に行うことができ被測定箇所の位置決め精度も目視確認よりも向上する。
なお、本実施形態では垂直方向粗動機構22も走査型プロープ顕微鏡ユニット部と白色干渉計60で共有したが、それぞれ別の垂直方向粗動機構を有してもよい。
Claims (17)
- 先端に探針が設けられたカンチレバーと、前記カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダと、サンプルを載置するサンプルホルダと、前記サンプル表面を前記探針により相対的に走査するための水平方向微動機構と、前記探針と前記サンプル表面間の距離制御を行う垂直方向微動機構と、前記水平方向微動機構及び前記垂直方向微動機構よりも稼動範囲の大きい水平方向粗動機構及び垂直方向粗動機構と、前記カンチレバーと前記サンプルを観察するための光学顕微鏡により構成される走査型プローブ顕微鏡ユニット部と、前記走査型プローブ顕微鏡を制御する制御装置と、前記光学顕微鏡の画像を表示する画像表示装置からなる走査型プローブ顕微鏡において、
前記光学顕微鏡の光軸とは非同軸の観察軸を有すると共に、前記光学顕微鏡よりも広域かつ前記カンチレバーと前記サンプルを同時に観察可能な視野を設定することができる撮像装置と該撮像装置の画像を表示する画像表示装置を有する走査型プローブ顕微鏡。 - 前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部を覆うカバーを備え、
前記撮像装置が当該カバーの内部に収納され、当該カバーの閉状態において前記撮像装置によりカバー内部の状態が観察可能な請求項1に記載の走査型プローブ顕微鏡。 - 前記撮像装置の視野の広さが前記サンプルホルダの1/4以上の面積を観察可能な請求項1又は2に記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記撮像装置の視野を照射する照明を有する請求項1乃至3のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記照明の点灯、消灯が遠隔制御可能な請求項4に記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記照明が、ユニットに配置されたLED発光素子を有する光源、又はユニットから離れた場所に設置された任意の光源からライトガイドによりユニットに光が伝播される光源である請求項4又は5に記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記光学顕微鏡の視野を照明する照明を有し、前記光学顕微鏡と前記撮像装置の照明装置が共通の光源から光を供給される請求項4又は5に記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記撮像装置の観察軸がサンプル表面に対して30°以上90°以下である請求項1乃至7のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記撮像装置がズームの機能を有し、前記カメラで観察可能な最大視野よりも小さい領域を拡大した画像を前記画像表示装置上に表示可能な請求項1乃至8のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記水平方向粗動機構又は/及び垂直方向粗動機構が、遠隔動作可能なアクチュエータを有し、前記画像表示装置に表示された画像を確認しながら前記水平方向粗動機構又は/及び垂直方向粗動機構を遠隔動作させる請求項1乃至9のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部が、探針を有するカンチレバーとカンチレバーホルダと水平方向微動機構と垂直方向微動機構と変位検出機構からなる複数の走査型プローブ顕微鏡測定ヘッド部、又は、前記撮像装置の最大視野よりも視野が狭く前記撮像装置の観察軸とは異なる光軸を持つ対物レンズを有する光学式計測/分析/観察装置を備え、
当該走査型プローブ顕微鏡概測定ヘッド部又は当該光学式計測/分析/観察装置が、前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部と前記サンプルホルダと前記水平方向粗動機構を共有し、
前記撮像装置が、当該撮像装置の最大視野において、前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部のカンチレバーと前記サンプルに加えて、前記走査型プローブ顕微鏡測定ヘッド部のカンチレバー又は前記光学式計測/分析/観察装置の対物レンズの焦点位置とを同時に観察可能とした請求項1乃至10のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。 - 前記画像表示装置上に表示された画像により前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部に備わる複数の探針のうち少なくとも一つ又は前記光学式計測/分析/観察装置の対物レンズの焦点位置と前記サンプルの位置を調整する請求項11に記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記光学顕微鏡又は前記光学式計測/分析/観察装置が光軸に沿って照明光を照射する照明を有し、前記光学顕微鏡又は前記光学式計測/分析/観察装置のサンプルの表面に照射された前記照明光を前記撮像装置で観察し、前記照明光のスポットを目印に前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部に備わる複数の探針のうち少なくとも一つ又は前記光学式計測/分析/観察装置の対物レンズの焦点位置と前記サンプルの位置合わせを行う請求項11又は12に記載の走査型プローブ顕微鏡。
- レーザ光を前記カンチレバーの背面に照射して前記カンチレバーからの反射光をディテクタにより検出する光てこ方式の変位検出機構を有し、前記カンチレバーの背面にレーザスポットを位置合わせしたときに、前記サンプル表面に照射される前記レーザスポットのカンチレバーからはみ出した漏れ光を前記撮像装置で観察し、前記漏れ光を目印に前記走査型プローブ顕微鏡ユニット部に備わる複数の探針のうち少なくとも一つと前記サンプルの位置合わせを行う請求項10乃至12のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記撮像装置に設けられたレンズが外部から駆動可能なフォーカス調整機構を有する請求項1乃至14のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記走査型プローブ顕微鏡ユニット内にマイクを配置し、周辺の音を集音して、スピーカーより音を発するようにした、請求項1乃至15のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
- 前記撮像装置が連続して撮像するビデオカメラ又は連写して撮像するスチルカメラである請求項1乃至16のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017049087A (ja) * | 2015-09-01 | 2017-03-09 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡の光軸調整方法 |
KR20180057567A (ko) * | 2016-11-22 | 2018-05-30 | 안톤 파르 게엠베하 | 주사 프로브 현미경의 프로브와 샘플 사이의 간격을 수평 측면 방향으로 촬영하는 방법 |
JP2019117111A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | 株式会社生体分子計測研究所 | 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡の位置設定方法 |
WO2022014838A1 (ko) * | 2020-07-14 | 2022-01-20 | 충북대학교 산학협력단 | 인공지능 객체 인식 기술을 이용한 원자 힘 현미경 및 이의 동작 방법 |
KR20220008696A (ko) * | 2020-07-14 | 2022-01-21 | 충북대학교 산학협력단 | 인공지능 객체 인식 기술을 이용한 원자 힘 현미경 및 이의 동작 방법 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101804162B1 (ko) | 2016-11-17 | 2017-12-04 | 주식회사 엔유씨전자 | 블렌더 |
JP6919275B2 (ja) * | 2017-03-31 | 2021-08-18 | セイコーエプソン株式会社 | 圧電駆動装置、圧電モーター、ロボット、電子部品搬送装置およびプリンター |
EP3441773B1 (en) | 2017-08-11 | 2022-11-23 | Anton Paar GmbH | Characterizing a height profile of a sample by side view imaging |
KR102043827B1 (ko) * | 2018-02-14 | 2019-11-12 | (의)삼성의료재단 | 현미경 자동 제어 시스템 |
JP6631674B1 (ja) * | 2018-10-16 | 2020-01-15 | 株式会社島津製作所 | 表面分析装置 |
JP7076574B2 (ja) * | 2018-12-06 | 2022-05-27 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子線装置 |
CN109884343B (zh) * | 2019-02-22 | 2023-12-19 | 浙江中医药大学 | 一种用于透射电镜直投图像观察的挡光装置 |
CN110736715B (zh) * | 2019-10-25 | 2022-05-24 | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 | 探针防误触方法、装置及系统 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0643552U (ja) * | 1992-11-16 | 1994-06-10 | グラフテック株式会社 | 環境試験装置 |
US5650614A (en) * | 1994-11-29 | 1997-07-22 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical scanning system utilizing an atomic force microscope and an optical microscope |
JPH09203740A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2005061877A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Sii Nanotechnology Inc | 防音ボックスおよびそれを用いたプローブ顕微鏡 |
JP2006023443A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Keyence Corp | 顕微鏡装置 |
JP2006173020A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Keyence Corp | 試料表示装置、試料表示装置の操作方法、試料表示装置操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
JP2006292768A (ja) * | 1999-03-17 | 2006-10-26 | Sii Nanotechnology Inc | 走査型プローブ顕微鏡 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5859364A (en) * | 1995-06-05 | 1999-01-12 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning probe microscope |
US6469288B1 (en) * | 1999-05-17 | 2002-10-22 | Olympus Optcial Co., Ltd. | Near field optical microscope and probe for near field optical microscope |
JP2005037205A (ja) * | 2003-07-18 | 2005-02-10 | Hitachi Kenki Fine Tech Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 |
JP4498081B2 (ja) | 2004-09-21 | 2010-07-07 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 |
-
2012
- 2012-08-24 JP JP2012185477A patent/JP6009862B2/ja active Active
-
2013
- 2013-08-23 US US13/974,634 patent/US8813261B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0643552U (ja) * | 1992-11-16 | 1994-06-10 | グラフテック株式会社 | 環境試験装置 |
US5650614A (en) * | 1994-11-29 | 1997-07-22 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical scanning system utilizing an atomic force microscope and an optical microscope |
JPH09203740A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2006292768A (ja) * | 1999-03-17 | 2006-10-26 | Sii Nanotechnology Inc | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP2005061877A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Sii Nanotechnology Inc | 防音ボックスおよびそれを用いたプローブ顕微鏡 |
JP2006023443A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Keyence Corp | 顕微鏡装置 |
JP2006173020A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Keyence Corp | 試料表示装置、試料表示装置の操作方法、試料表示装置操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017049087A (ja) * | 2015-09-01 | 2017-03-09 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡の光軸調整方法 |
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