JP2014027217A - マスクブランク収納ケース、及びマスクブランク収納体 - Google Patents

マスクブランク収納ケース、及びマスクブランク収納体 Download PDF

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Abstract

【課題】収納ケースの中ケースからマスクブランクを出し入れする際の発塵を抑制できるマスクブランク収納ケースを提供する。
【解決手段】上方が開口したケース本体7と、該ケース本体7に被せる蓋体6と、ケース本体7内に収容され、主表面が四角形状のマスクブランクを内部に縦方向に収納する中ケース5とを備えるマスクブランク収納ケースである。中ケース5は、マスクブランクの両側端を縦方向に保持する基板保持部53を備え、該基板保持部53は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されている。また中ケース5は、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂からなり、鉛筆硬度でH以上の表面硬度を有している。
【選択図】図4

Description

本発明は、電子デバイスの製造に使用されるフォトマスクの製造に用いられるマスクブランクを収納する収納ケース、及びマスクブランク収納体に関するものである。
近年の電子デバイス、特に半導体素子や液晶モニター用のカラーフィルター或いはTFT素子等は、IT技術の急速な発達に伴い、一層の微細化が要求されている。このような微細加工技術を支える技術の一つが、転写用マスクと呼ばれるフォトマスクを用いたリソグラフィー技術である。このリソグラフィー技術においては、露光用光源の電磁波を転写用マスクを通じてレジスト膜付きシリコンウエハーに露光することにより、シリコンウエハー上に微細なパターンを形成している。この転写用マスクは通常、ガラス基板等の表面に遮光膜等の薄膜を形成したマスクブランクにリソグラフィー技術を用いて転写パターン(マスクパターン)となるパターンを形成して製造される。ところで、マスクブランクの表面にパーティクル等の異物があると、形成されるパターンの欠陥の原因となるので、マスクブランクの表面には異物等が付着しないように清浄に保管される必要がある。
このようなマスクブランクを収納保管し運搬するためのケースとしては、従来では例えば下記特許文献1に開示されているようなマスク運搬用ケースが知られている。すなわち、従来のマスクブランクを収納保管するケースは、キャリアなどと呼ばれている中ケースにマスクブランクを数枚乃至数十枚並べて保持させ、このマスクブランクを保持した中ケースを外箱(ケース本体)内に収容し、さらに外箱上に蓋体を被せて、マスクブランクを収納する構造となっていた。
図9乃至図11は、特許文献1に開示されたものと同様の構造の収納ケースを示すもので、図9は収納ケースの蓋体を示す斜視図、図10はマスクブランクを中ケースに収納する状態を示す斜視図、図11は収納ケースのケース本体(外ケース)を示す斜視図である。
この収納ケースは、マスクブランク1を中ケース2に収納し、この中ケース2をケース本体3に収納し、このケース本体3の開口部側に蓋体4を被せる構造である。
上記中ケース2は、開口部側(上方)から底面側(下方)に向けて複数の溝21,22を一方の互いに対向する内側面に所定間隔をおいて一対をなして形成し、その溝21,22の底面側の底部と中ケース底面にはそれぞれ開口窓(図示せず)と開口部27が設けられ、さらに中ケース底面側には基板支持部26が形成され、この基板支持部26でマスクブランク1の下方端面を支持している(図10)。そして、この中ケース2をケース本体3に収納して固定するための凹面部28,29がそれぞれ中ケースの他方の互いに対向する外側面に底面側から開口部側の途中まで形成されている。数枚のマスクブランク1を中ケース2の一対の溝21,22に沿って入れると、これらのマスクブランクは所定間隔をおいて互いに平行に並べられて収納される。
上記ケース本体3は、上述した中ケース2の凹面部28,29と当接するに適合した突出部31,32を、互いに対向する内側面に形成し、その突出部31,32の底部はケース本体3底面とも接合している(図11)。また、一方の対向する外側面の開口部側には凸部33,34が形成されている。そして、ケース本体3の開口縁35のやや下方の位置に続く外周面36と上記凸部33,34の凸面とは略同一面に形成されている。
また上記蓋体4は、その一方の対向する下方縁47(ケース本体へ差し込む開口部側の縁であって、図9では上方へ向いている)の中央から延びた係合片41,42に凹部43,44を形成している。これにより、蓋体4をケース本体3に被せたときに、上記凹部43,44が前記ケース本体3の凸部33,34とそれぞれ嵌合することで、蓋4とケース本体3とが固定される構造となっている。また、中ケース2の開口部側上端面25と当接して中ケース2を垂直方向において支持固定するストッパー45,46を一方の内側面に互いに対向させて形成している。
特公平1−39653号公報
近年の電子デバイスの高性能化に伴って、転写用マスクに形成されるパターンも一段と微細化が要求されており、このような微細パターンを形成するためにもマスクブランクの清浄度は極めて高いものでないと許容できなくなってきている。従って、マスクブランクに異物等が付着するのを出来るだけ抑制することにより、特にレジスト膜を有するマスクブランクの保管中は出来るだけ高い清浄度に維持する必要がある。
しかしながら、従来構造の収納ケースは、マスクブランクを中ケース2に収納する際、あるいは中ケース2から取り出す際に、マスクブランクの両側端部が中ケース2の溝21,22と接触し、擦れることによる発塵が発生しやすい。従来は、主にマスクブランクの出し入れに支障がないようにする観点から、中ケース2の上記溝21,22は、収納するマスクブランクの大きさ及び板厚よりも若干余裕を持たせていたが、マスクブランクの出し入れの際の発塵を抑制する観点からの検討はなされていなかった。そのため、マスクブランクを上記中ケース2の溝21,22に沿って差し込む際の最初の時点から最後の収納し終わるまで、あるいは収納されたマスクブランクを溝21,22に沿って取り出す際の最初の時点から最後の取り出し終わるまで、マスクブランクの両側端部が中ケース2の溝21,22と常にほぼ接触しているため、その間に発塵が起こり易いものと考えられる。そして、発生したパーティクルは、たとえばマスクブランクの膜表面に付着して、異物欠陥となるおそれが極めて高かった。
また、本発明者の検討によると、発塵の起こり易さは、たとえば上記中ケース2の材質にもよっても異なる。
そこで、本発明は、上記従来の問題点を解消し、中ケースを備える収納ケースからマスクブランクを出し入れする際の発塵を抑制できるようにしたマスクブランク収納ケース、及びマスクブランク収納体を提供することを目的とする。
本発明者は、前記課題を解決するため鋭意検討した結果、マスクブランクの両側端を縦方向に保持する中ケースの基板保持部をテーパー形状とし、その底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成するとともに、中ケースを摺動性が高く、かつ表面硬度が高い材料で形成することで、マスクブランクを中ケースから出し入れする際の発塵を効果的に抑制できることを見い出し、本発明を完成するに至ったものである。
すなわち、本発明は以下の構成を有するものである。
(構成1)
上方が開口したケース本体と、該ケース本体に被せて嵌め合わされる蓋体と、前記ケース本体内に収容され、主表面が四角形状のマスクブランクを内部に縦方向に収納する中ケースとを備えるマスクブランク収納ケースであって、前記中ケースは、マスクブランクの両側端を縦方向に保持する基板保持部を備え、該基板保持部は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されており、且つ前記中ケースは、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂からなり、前記中ケースは、鉛筆硬度でH以上の表面硬度を有することを特徴とするマスクブランク収納ケースである。
構成1のように、中ケースの基板保持部は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成し、且つ中ケースは、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂であって、鉛筆硬度でH以上の表面硬度を有しているので、マスクブランクと接触する中ケースの摺動性が高く、且つ表面硬度が高いので、中ケースからマスクブランクを出し入れする際にマスクブランクと中ケース(基板保持部)との接触、擦れによる発塵が特に発生しやすい中ケースの開口部側での発塵を効果的に抑制することができ、その結果としてマスクブランクを中ケースから出し入れする際の発塵を全体として抑制することができる。
(構成2)
前記中ケースの基板保持部は、マスクブランクの主表面方向の横幅と板厚方向の横幅のいずれも、底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されていることを特徴とする構成1に記載のマスクブランク収納ケースである。
構成2にあるように、中ケースの基板保持部は、マスクブランクの主表面方向の横幅と板厚方向の横幅のいずれも、底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成することにより、マスクブランクを中ケースから出し入れする際の発塵を抑制する効果がより効果的に発揮される。
(構成3)
前記中ケースの基板保持部は、底面側よりも開口部側の寸法が1mm〜3mm広くなるように構成されていることを特徴とする構成1又は2に記載のマスクブランク収納ケースである。
構成3にあるように、中ケースの基板保持部は、例えば底面側よりも開口部側の寸法が1mm〜3mm広くなるように構成することにより、上述の本発明による効果が十分に発揮され、なお且つマスクブランクを中ケース内に保持する機能を低下させることはない。
(構成4)
表面にレジスト膜を有するレジスト膜付きマスクブランクを収納することを特徴とする構成1乃至3のいずれかに記載のマスクブランク収納ケースである。
構成4のように、表面にレジスト膜を有するレジスト膜付きマスクブランクの場合は基板保持部との接触、擦れによる発塵が特に発生しやすいため、収納に本発明の収納ケースを用いるのが好適である。
(構成5)
構成1乃至4のいずれかに記載のマスクブランク収納ケースにレジスト膜付きマスクブランクが収納されたことを特徴とするマスクブランク収納体である。
上記本発明の構成のマスクブランク収納ケースにレジスト膜付きマスクブランクが収納されたマスクブランク収納体は、マスクブランクを中ケースから出し入れする際の発塵が抑制されるので、マスクブランクの膜表面への異物付着による欠陥の発生も抑制される。
(構成6)
前記マスクブランクは、基板の主表面上に転写パターン形成用の薄膜を有し、前記基板の対向する主表面間に介在する端面において、前記主表面と直交する方向の側壁面と、該側壁面と前記主表面との間に介在する面取面とを有しており、前記基板における前記側壁面と前記面取面の稜線の曲率半径が50μm以上であることを特徴とする構成5に記載のマスクブランク収納体である。
構成6にあるように、上記マスクブランクは、上記基板における上記側壁面と上記面取面の稜線の曲率半径が50μm以上としているので、マスクブランクの稜線による上記中ケースの基板保持部へのダメージを抑えることができるので、上記基板保持部欠落によるパーティクル発生を抑制することができる。
本発明によれば、中ケースは、マスクブランクの両側端を縦方向に保持する基板保持部を備え、該基板保持部は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成され、且つ中ケースは、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂であって、鉛筆硬度でH以上の表面硬度を有しているので、中ケースからマスクブランクを出し入れする際にマスクブランクと中ケースとの接触、擦れによる発塵が特に発生しやすい中ケースの開口部側での発塵を効果的に抑制することができるので、マスクブランクを中ケースから出し入れする際の発塵を全体として抑制することができる。その結果、マスクブランクの膜表面への異物付着による欠陥の発生も抑制することができる。
本発明に係る収納ケースの一実施の形態を示すもので、蓋体をケース本体に被せる前の状態の(a)正面図と(b)側面図である。 本発明に係る収納ケースの蓋体をケース本体に被せた状態の(a)正面図と(b)側面図である。 複数枚のレジスト膜付きマスクブランクを中ケースに収納した状態を示す平面図である。 (a)は図3の中ケースのI−I線の縦断面図、(b)は同じく中ケースのII−II線の縦断面図である。 マスクブランクの断面図である。 保持部材の斜視図である。 保持部材とマスクブランク端面とが接触した状態を示す図である。 保持部材とマスクブランク端面とが接触した状態を示す図である。 従来構造の収納ケースの蓋体を示す斜視図である。 マスクブランクを中ケースに収納する状態を示す斜視図である。 従来構造の収納ケースのケース本体(外ケース)を示す斜視図である。
以下、図面を参照して、本発明を実施するための形態を説明する。
図1および図2は、本発明に係る収納ケースの一実施の形態を示すものであり、図1の(a)は、本発明に係る収納ケースの蓋体をケース本体に被せる前の状態の正面図、同図(b)はその側面図であり、図2の(a)は、本発明に係る収納ケースの蓋体をケース本体に被せた状態の正面図、同図(b)はその側面図である。また、図3は、複数枚のレジスト膜付きマスクブランクを中ケースに収納した状態を示す平面図であり、図4(a)は、図3の中ケースのI−I線の縦断面図、同図(b)は同じく中ケースのII−II線の縦断面図である。
本実施の形態に係るマスクブランク収納ケースは、上方が開口したケース本体7と、該ケース本体7に被せる蓋体6と、前記ケース本体7内に収容され、主表面が四角形状のマスクブランクを内部に縦方向に収納する中ケース5とを備えるマスクブランクの収納ケースである。上記蓋体6及びケース本体7は、その全体的な形状は、従来構造の収納ケース(すなわち図9に示す蓋4及び図11に示すケース本体3)と同様の形状を有している。
本実施の形態の収納ケースは、主表面が四角形状(例えば正方形)のガラス基板の一主表面上にクロム膜等の遮光性薄膜を成膜し、さらにその上にレジスト膜を形成したレジスト膜付きマスクブランクを中ケース5に収納し、この中ケース5をケース本体7に収納し、このケース本体7の開口部側に蓋体6を被せる構造である(図2(a)、(b)及び図3参照)。ケース本体7の上から蓋体6を被せると、蓋体6の下方縁に続くやや外方に拡開した側壁部61とケース本体7の開口縁71とが前後に重なり合うと同時に、蓋体6の下方縁の側壁部61とケース本体7の開口縁71の下方に形成されたやや外方に拡開した側壁部72とが同一面上に重なり合って蓋体6とケース本体7とが接合される。
また、上記ケース本体7は、その一方の対向する外周面の開口縁71側には凸部73が形成されている。そして、ケース本体7の開口縁71のやや下方の位置に形成された上記側壁部72と上記凸部73の凸面とは略同一面に形成されている。
また上記蓋体6は、その一方の対向する上記側壁部61の中央から延びた係合片62の内側に凹部63を形成している。これにより、蓋体6をケース本体7に被せたときに、その一方の対向する2箇所において、上記係合片62の凹部63がケース本体7の上記凸部73とそれぞれ嵌合することで、蓋体6とケース本体7とが閉じた状態で固定される構造となっている(図2(a)参照)。なお、図1(a)においては、蓋体6の上記係合片62及び凹部63と、ケース本体7の上記凸部73のいずれも一方が示されているが、これと対向する反対側にも蓋体6に上記係合片62及び凹部63が、ケース本体7に上記凸部73がそれぞれ形成されている。
上記中ケース5は、開口部側(上方)から底面側(下方)に向けて複数の溝51,52を一方の互いに対向する内側面に所定間隔をおいて一対をなして形成し、マスクブランク1の両側端を縦方向に保持する基板保持部53を構成している。さらに中ケース5の底面側には基板支持部54が形成され、この基板支持部54で収納されたマスクブランク1の下方端面を支持している。
本発明においては、マスクブランク1の両側端を縦方向に保持する上記基板保持部53をテーパー形状としている。具体的には、該基板保持部53を構成する両側の溝51,52を開口部側(上方)から底面側(下方)に向けてテーパー形状とし、該基板保持部53の底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されている。そして、数枚のマスクブランク1を中ケース5の各々一対の溝51,52に沿って差し込むと、これらのマスクブランク1は所定間隔をおいて互いに平行に並べられて収納される(図3参照)。
また、本発明においては、上記中ケース5は、摺動性の高い(つまり滑り性の良好な)ポリカーボネート樹脂、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂で形成されている。このポリカーボネート樹脂、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂は、化学成分ガスの放出が少ない材料でもある。
本発明のマスクブランク収納ケースは、上記のとおり、中ケース5の一方の対向する内側面にそれぞれ形成した両側の溝51,52で構成される基板保持部53は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成し、且つ中ケース5は摺動性の高いポリカーボネート樹脂、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂で形成する。これにより、マスクブランク1を中ケース5から出し入れする際に、マスクブランク1と基板保持部53である溝51,52との接触、擦れによる発塵が特に発生しやすい中ケース5の開口部側での発塵を効果的に抑制することができる。その結果、マスクブランク1を中ケース5から出し入れする際の発塵を全体として抑制することができる。
また、本発明において、上記中ケース5の基板保持部53は、マスクブランク1の主表面方向の横幅と板厚方向の横幅のいずれも、底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されることが好ましい。図4に示されるように、マスクブランクの板厚方向における開口部側の横幅の寸法をAとし、底面側の横幅の寸法をBとする(同図(a)参照)。また、マスクブランクの主表面方向における開口部側の横幅の寸法をCとし、底面側の横幅の寸法をDとする(同図(b)参照)。本発明においては、少なくともA>BあるいはC>Dであればよいが、特にはA>B、かつ、C>Dであることが好ましい。
このように、中ケース5の基板保持部53は、マスクブランクの主表面方向の横幅と板厚方向の横幅のいずれも、底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成(A>B、かつ、C>D)することによって、マスクブランク1を中ケース5から出し入れする際の発塵を抑制する効果がより効果的に発揮される。
通常、マスクブランク1を中ケース5から出し入れする際には、マスクブランク1の面取面1c(図5参照)が基板保持部53と接触するが、A>Bとなっているので、マスクブランク1と基板保持部53の接触を極力少なくすることができるので、発塵抑制効果が大きい。また、中ケース5の基板保持部53すべてにマスクブランクを収納しない場合においても、保持手段(後述)によりしっかりとマスクブランクを固定させることができるので、搬送・輸送時の振動による発塵の発生を抑制することができる。)
上記のとおり、本発明の収納ケースにおいては、中ケース5の基板保持部53は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されているが、例えば6インチ角のマスクブランクを収納するケースにおいては、好ましくは、底面側よりも開口部側の寸法が1mm〜3mm広くなるように構成されていることが好適である。
このように中ケース5の基板保持部53を、底面側よりも開口部側の寸法が1mm〜3mm広くなるように構成することにより、上述の本発明による発塵抑制効果が十分に発揮され、なお且つ中ケース5内に収納したマスクブランク1を保持する機能が低下することはない。基板保持部53の底面側よりも開口部側の寸法があまり広いと(例えば3mmを超えると)、基板保持部でのマスクブランクを保持する機能が低下し、中ケースに収納したマスクブランクが収納ケース移動中にがたつくおそれがある。さらに好ましくは、底面側よりも開口部側の寸法を1mm〜2mm広くなるように構成することが望ましい。
上記では中ケース5の基板保持部53における底面側と開口部側の寸法差で規定したが、底面側に対する開口部側の広がり角度で規定しても構わない。即ち、中ケース5の基板保持部53を、底面側に対する開口部側の広がり角度が0.08°〜0.5°となるように構成されていることが好適である。好ましくは、0.1°〜0.4°、更に好ましくは、0.15°〜0.35°とすることが望ましい。
なお、本実施の形態の収納ケースは、蓋体6を閉じる際、上記本体ケース7の開口縁71と蓋体6の側壁部61とが嵌め合わされるが、蓋体6を閉じた収納ケースの密閉性を高めるために、蓋体6を閉じた際にケース本体7の開口縁71に嵌め込まれるような適当な大きさの環状の弾性部材(図示せず)を蓋体6の側壁部61の内側に取り付けてもよい。この弾性部材としては、雰囲気の温度、気圧等の変動があっても化学成分ガスの放出が少ない材料が好ましく、例えば、ポリオレフィンエラストマー、ポリエステルエラストマーが挙げられる。
また、上記中ケース5の材質は、前記のとおりポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーの中から選択した樹脂とする。また、中ケース5は、使用する樹脂材料の分子量、成型温度、成型圧力等を適宜調整することで、その表面硬度が鉛筆硬度でH以上としてある。中ケース5の表面硬度は、日本工業規格JIS K5600−5−4で定義されている方法により測定する。手かき法でもよいが、望ましくは機器法により測定することが好ましい。中ケース5の表面硬度を手かき法で測定する場合には、マスクブランクが接触し保持される中ケース5の基板保持部53の部分を測定する。また、機器法で測定する場合には、中ケース5の平坦な面を有する外周部分を測定するか、または、中ケース5を成型する条件と同じ条件で作製した平板を測定しても良い。
また、本実施の形態の収納ケースは、収納されたマスクブランクの上方角部を保持する保持手段を前記蓋体6の内側に設けることが好適である。かかる保持手段として、本実施の形態では、マスクブランクの上方の角部端面を保持する樹脂材料で形成された2本の保持部材10を蓋体6の内側の一方の内側面に互いに対向させて取り付けられる。
以下、上記保持部材10について説明する。
図6は保持部材の斜視図である。図7は保持部材とマスクブランク端面とが接触した状態を一方向から見た図であり、図8は同じく保持部材とマスクブランク端面とが接触した状態を別の方向から図である。
本実施の形態の上記保持部材10は、収納された前記マスクブランク1の上方端面における側壁面1bと面取面1c(図5参照)の稜線にて当接する第1の当接部12と、該第1の当接部12が当接するマスクブランク1の上方端面と隣接する側方端面における側壁面1bに当接する第2の当接部13とを備えている。本実施の形態では、複数枚のマスクブランクの収納に対応できるように、複数の上記第1の当接部12及び上記第2の当接部13を備えている。
上記複数の第1の当接部12及び第2の当接部13はいずれも、直線状に延在した軸11に沿って所定間隔で配列されている。この場合の所定間隔は、中ケース5内に収納される複数枚のマスクブランクの間隔に応じて適宜設定される。そして、上記第1の当接部12及び上記第2の当接部13はそれぞれ同じ方向に向けて配列され、また各第1の当接部12と各第2の当接部13は向い合う位置に配列されている。
上記第1の当接部12は、上記軸11の側面から引き出した延出部122の先端に当接面121を備えてなり、さらに該当接面121の当接側の略中央に突起123を備えている。上記当接面121は、マスクブランク1と接触した時にマスクブランク端面における側壁面1bと両側の面取面1cの稜線にて線接触で当接するように、全体が緩やかな凹形状に形成されている(図6、図7を参照)。また、上記当接面121に上記突起123を設けることにより、上記当接面121の全体がマスクブランク端面の側壁面1bとは接触せずに、上記突起123とマスクブランク端面の側壁面1bとが接触するようになるため、マスクブランク端面との接触領域を出来るだけ少なくして発塵を抑制する観点から有利である。
また、上記第2の当接部13は、全体が断面略L字状に形成されており、上記軸11の側面から引き出した延出部132の先端に、該延出部132とは略垂直な方向に当接面131を備えてなり、さらに該当接面131の当接側の略中央に突起133を備えている。かかる構成の第2の当接部13においては、上記当接面131に設けた突起133とマスクブランク端面の側壁面1bとが接触する。なお、上記突起133を設けない構成とすることも可能であるが、その場合は上記当接面131がマスクブランク端面の側壁面1bと接触するため、マスクブランク端面との接触領域を出来るだけ少なくして発塵を抑制する観点からは、上記のとおり突起133を当接面131に設ける構成が有利である。
また、上記第1の当接部12及び上記第2の当接部13は、上記軸11に対して断面視で互いが鋭角となる方向に配列されていることが好ましい。本実施の形態では、具体的には、上記第1の当接部12の当接面121と上記第2の当接部13の当接面131とが、上記軸11に対して断面視で互いが鋭角となる方向に配列されていることが好ましい。
また、上記軸11には、上記第1の当接部12及び第2の当接部13に対応して複数の切欠きを設けており、具体的には上記第1の当接部12の両側に切欠き14を、上記第2の当接部13の両側に切欠き15をそれぞれ設けている。これらの切欠きの大きさは適宜設定することができる。
また、本実施形態の保持部材10を上記蓋体6の内側に取り付ける際の係合孔として、上記軸11の所定箇所に開口16,17を、さらに保持部材10の両端部に開口18をそれぞれ設けている。勿論、保持部材10の取り付け構造によっては、上記開口を設ける必要はない。
なお、以上説明した軸11と、第1の当接部12及び第2の当接部13から構成される保持部材10は、例えば樹脂材料で一体に形成されている。
上記保持部材10の材質は、中ケース5と同様に、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーの中から選択した材料が好ましい。さらに、使用する樹脂材料の選定、樹脂材料の分子量、成型温度、成型圧力等を適宜調整することで、その表面硬度が鉛筆硬度でH以上とすることが望ましい。保持部材10の表面硬度は、中ケース5と同様、日本工業規格JIS K5600−5−4で定義されている方法により測定する。
上記保持部材10のうち、上記第1の当接部12がマスクブランクの上方端面における側壁面1bと面取面1cの稜線P1、P3で、さらには上記第2の当接部13がマスクブランクの側壁面1bのP2で接触し、所定の圧力がかかった状態でマスクブランクを保持しても、これらの樹脂材料は、所望の硬度と摺動性を兼ね備えているので、マスクブランクと保持部材10との擦れによるパーティクルの発生を著しく抑制することができる。
以上説明したように、収納ケースに収納された状態のマスクブランクの上方角部を保持する保持手段として用いる保持部材10は、マスクブランク端面との接触面積は極めて小さく、しかもマスクブランク端面の面取面1cに転写パターン形成用の薄膜やレジスト膜が形成されたとしても、上記保持部材10の第1の当接部12が直接接触することがない。本実施の形態では、上記第1の当接部12は、マスクブランク1の上方端面における側壁面1bとその両側の面取面1cの稜線上の2箇所と、当接面121の突起123と接触する側壁面1b上の1箇所の全部で3箇所(具体的には図5中に丸印を付したP1,P2,P3の3箇所)でマスクブランク端面と線接触する。従って、上記保持部材10とマスクブランク端面との接触によるパーティクルの発生を著しく抑制することができ、その結果、例えば輸送・保管中の振動等があっても発塵等によるマスクブランクの主表面へのパーティクル付着を抑制することができる。さらに、上記保持部材10はマスクブランクにとって重要な主表面と極めて近い領域に接触することはないため、主表面への影響(例えば主表面における膜欠陥など)の懸念もない。
また、上記保持部材10は、さらに、上記第1の当接部12が当接するマスクブランク1の上方端面と隣接する側方端面における側壁面1bに当接する第2の当接部13を備えているため、上記第1の当接部12によって保持されるマスクブランク1の上方端面と隣接する側方端面における側壁面をも保持することができる(図8を参照)。その結果、収納されたマスクブランク1の上方角部をしっかりと固定して保持することができる。
また、上記のとおり、上記第1の当接部12及び上記第2の当接部13はいずれも直線状に延在した上記軸11に沿って所定間隔で配列され、前記軸11には上記第1の当接部12及び上記第2の当接部13に対応して複数の切欠き14,15を設けているので、第1の当接部12及び第2の当接部13の各々の(一つ一つの)軸回りの動きの自由度が向上する。ゆえに、収納ケース内に収納された複数枚のマスクブランクの1枚1枚をしっかりと保持することができる。また、収納ケース内に、上記保持部材10の上記第1の当接部12、第2の当接部13に対応した枚数のマスクブランク1を収納しない場合においても、上記複数の切欠き14、15により、収納ケース内に収納されたマスクブランクの1枚1枚をしっかり保持することができるので、マスクブランクの輸送、搬送中の振動によるパーティクルの発生を抑制することができる。
また、上記のとおり、上記第1の当接部12及び上記第2の当接部13が、上記軸11に対して断面視で互いが鋭角となる方向に配列されていることにより、ケース本体にマスクブランクを収納して、該ケース本体に上記保持部材10を取り付けた蓋体を被せるときに、マスクブランクの上方端面を保持する第1の当接部12は最初にその先端部がマスクブランクと接触し、続いてその他の部分がマスクブランクと接触するので、マスクブランクに対する保持力を向上でき、接触時の発塵も抑えられる。このような保持部材10(保持手段)を蓋体6の内側に設けていることにより、例えば輸送、搬送中の振動を緩和でき、マスクブランクをしっかりと固定して発塵を防ぐことができる。
一方、上述のケース本体7及び蓋体6の材質は、樹脂材料で形成されるが、例えばポリプロピレン、アクリル、ポリエチレン、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリエチルサルファイト、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン(ABS)、シクロオレフィンポリマー等の樹脂から適宜選択されることが好ましい。これらの中でも、雰囲気の温度、気圧等の変動があっても化学成分ガスの放出が少ない材料が特に好ましく、例えばポリカーボネート、ポリエステル、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーが好ましい。なお、マスクブランクの保管中にチャージが溜まると、マスク製造過程において放電破壊を起こし、パターン欠陥となる場合があるので、たとえばケース本体7の構成樹脂にカーボン等を混ぜ込んで導電性を付与するようにしてもよい。
また、本発明のマスクブランク収納ケースは、保持手段、蓋体及びケース本体の構造に関しては、上記図1及び図2、図6に示すものには限定されない。また、蓋体とケース本体との嵌合構造(固定構造)に関しても上記図1及び図2に示すものには限定されない。
本発明に係る収納ケースに収納されるマスクブランクの一構成例は、基板の主表面上に転写パターンとなる薄膜を形成してなるもの、あるいはさらに該薄膜の表面にレジスト膜を形成してなるものである。
上記基板としては、マスクブランクがバイナリマスクブランクや位相シフト型マスクブランク等の透過型マスクブランクの場合、露光光に対して透光性を有する基板材料を使用し、例えば合成石英ガラス基板である。また、マスクブランクがEUV露光用等の反射型マスクブランクの場合、低熱膨張の特性を有するSiO−TiO系ガラス(2元系(SiO−TiO)及び3元系(SiO−TiO−SnO等))や、例えばSiO−Al−LiO系の結晶化ガラスの基板が使用される。また、マスクブランクがナノインプリントプレート用マスクブランクの場合、例えば合成石英ガラス基板が使用される。
なお、上記マスクブランクは、上記基板における側壁面と面取面との稜線の曲率半径が50μm以上である端部形状を有していることが好ましい。マスクブランクの稜線による基板保持部へのダメージを抑えることができるので、基板保持部の欠落によるパーティクル発生を抑制することができる。上記稜線の曲率半径は、好ましくは50μm以上1000μm以下、さらに好ましくは、100μm以上850μm以下、さらに好ましくは、350μm以上750μm以下が望ましい。
上記透過型マスクブランクは、上記基板の主表面上に、転写パターン形成用の薄膜として遮光膜を形成することによりバイナリマスクブランクが得られる。また、上記基板の主表面上に、転写パターン形成用の薄膜として位相シフト膜、あるいは位相シフト膜及び遮光膜を形成することにより、位相シフト型マスクブランクが得られる。また、基板彫り込み型のレベンソン位相シフト型マスクブランクにおいては、基板の主表面上に、転写パターン形成用の薄膜として遮光膜を形成することにより得られる。また、クロムレスタイプの位相シフト型マスクブランクや、ナノインプリントプレート用マスクブランクにおいては、基板の主表面上に、転写パターン形成用の薄膜としてエッチングマスク膜を形成することにより得られる。
上記遮光膜は、単層でも複数層(例えば遮光層と反射防止層との積層構造)としてもよい。また、遮光膜を遮光層と反射防止層との積層構造とする場合、この遮光層を複数層からなる構造としてもよい。また、上記位相シフト膜、エッチングマスク膜、吸収体膜についても、単層でも複数層としてもよい。
透過型マスクブランクとしては、例えば、クロム(Cr)を含有する材料により形成されている遮光膜を備えるバイナリマスクブランク、遷移金属とケイ素(Si)を含有する材料により形成されている遮光膜を備えるバイナリマスクブランク、タンタル(Ta)を含有する材料により形成されている遮光膜を備えるバイナリマスクブランク、ケイ素(Si)を含有する材料、あるいは遷移金属とケイ素(Si)を含有する材料により形成されている位相シフト膜を備える位相シフト型マスクブランクなどが挙げられる。上記遷移金属とケイ素(Si)を含有する材料としては、遷移金属とケイ素を含有する材料のほかに、遷移金属及びケイ素に、さらに窒素、酸素及び炭素のうち少なくとも1つの元素を含む材料が挙げられる。具体的には、遷移金属シリサイド、または遷移金属シリサイドの窒化物、酸化物、炭化物、酸窒化物、炭酸化物、あるいは炭酸窒化物を含む材料が好適である。遷移金属には、モリブデン、タンタル、タングステン、チタン、クロム、ハフニウム、ニッケル、バナジウム、ジルコニウム、ルテニウム、ロジウム、ニオブ等が適用可能である。この中でも特にモリブデンが好適である。
さらに上記バイナリマスクブランクや位相シフト型マスクブランクにおいて、遮光膜上に、エッチングマスク膜を備えても構わない。エッチングマスク膜の材料は、遮光膜をパターニングする際に使用するエッチャントに対して耐性を有する材料から選択される。遮光膜の材料がクロム(Cr)を含有する材料の場合、エッチングマスク膜の材料としては、例えば上記ケイ素(Si)を含有する材料が選択される。また、遮光膜の材料がケイ素(Si)を含有する材料や、遷移金属とケイ素(Si)を含有する材料の場合、エッチングマスク膜の材料としては、例えば上記クロム(Cr)を含有する材料が選択される。
また、反射型マスクブランクとしては、基板上に、EUV光に対して反射する多層反射膜、さらに、転写用マスクの製造工程におけるドライエッチングやウェット洗浄から多層反射膜を保護するため、保護膜が形成された多層反射膜付き基板として、上記多層反射膜や保護膜上に転写パターン形成用の薄膜として吸収体膜を備える反射型マスクブランクが挙げられる。
EUV光の領域で使用される多層反射膜としては、Mo/Si周期多層膜のほかに、Ru/Si周期多層膜、Mo/Be周期多層膜、Mo化合物/Si化合物周期多層膜、Si/Nb周期多層膜、Si/Mo/Ru周期多層膜、Si/Mo/Ru/Mo周期多層膜、Si/Ru/Mo/Ru周期多層反射膜が挙げられる。
また、上記保護膜の材料としては、例えば、Ru、Ru−(Nb、Zr、Y、B、Ti、La、Mo)、Si−(Ru、Rh、Cr、B)、Si、Zr、Nb、La、B等の材料から選択される。これらのうち、Ruを含む材料を適用すると、多層反射膜の反射率特性がより良好となる。
また、上記吸収体膜の材料としては、例えば、Ta単体、Taを主成分とする材料が用いられる。Taを主成分とする材料は、通常、Taの合金である。このような吸収体膜の結晶状態は、平滑性、平坦性の点から、アモルファス状又は微結晶の構造を有しているものが好ましい。Taを主成分とする材料としては、例えば、TaとBを含む材料、TaとNを含む材料、TaとBを含み、更にOとNの少なくともいずれかを含む材料、TaとSiを含む材料、TaとSiとNを含む材料、TaとGeを含む材料、TaとGeとNを含む材料などを用いることができる。また例えば、TaにB、Si、Ge等を加えることにより、アモルファス構造が容易に得られ、平滑性を向上させることができる。さらに、TaにN、Oを加えれば、酸化に対する耐性が向上するため、経時的な安定性を向上させることができる。
なお、以上は、基板上に転写パターン形成用の薄膜を有するマスクブランク、あるいは前記薄膜上にさらにレジスト膜を有するマスクブランクを収納する収納ケースについて説明したが、本発明に係る収納ケースは、マスクブランク用基板や、上記マスクブランクを用いて製造された転写用マスクの収納ケースとしても好ましく用いることができる。
以下、具体的な実施例により本発明を説明する。
(実施例1)
6インチ角の合成石英ガラス基板(152.4mm×152.4mm×6.25mm)上にスパッタ法で、表層に反射防止機能を有するクロム膜(遮光膜)を形成し、その上にスピンコート法でポジ型の化学増幅型レジストである電子線描画用レジスト膜を形成した後、基板周縁部に形成されたレジスト膜を溶剤で除去してレジスト膜付きマスクブランクを製造した。なお、合成石英ガラス基板の側壁面及び面取面は、酸化セリウムの研磨剤を使用したブラシ研磨により所望の平滑性が得られるように精密研磨され、側壁面と面取面との間の稜線の曲率半径が、350μm以上750μm以下の範囲の合成石英ガラス基板を使用した。稜線の曲率半径は、ミツトヨ社製 輪郭形状測定機CV−3100により測定した。
このようにして製造した5枚のレジスト膜付きマスクブランクを1ケースに収納した。収納ケースとして、前述の図1〜図4に示す本発明の実施の形態に係る収納ケースを用いた。なお、中ケースの基板保持部の寸法(図4参照)は、A=154.2mm、B=153.0mm、C=8.3mm、D=7.3mm(マスクブランク主表面方向における底面側に対する開口部側の横幅の広がり角度は、0.28°、マスクブランク板厚方向における底面側に対する開口部側の横幅の広がり角度は、0.24°)とした。また、蓋体、ケース本体、中ケースの材質は、ポリカーボネート(カーボン入り)、蓋体に取り付けた保持部材の材質はポリブチレンテレフタレートを用いた。収納作業は所定の清浄度に調節されたクリーンルーム内で行った。
なお、中ケースで使用したポリカーボネート、保持部材で使用したポリブチレンテレフタレートは、それぞれ中ケース、保持部材を成型する条件で作製した平板を準備し、鉛筆引っかき試験器によりそれぞれの樹脂の表面硬度を測定した。樹脂の表面硬度は、JIS K5600−5−4に則り測定した。
中ケースのポリカーボネート、保持部材のポリブチレンテレフタレートの表面硬度はそれぞれ、鉛筆硬度で、2H(中ケース)、H(保持部材)であった。なお、マスクブランクが接触する中ケースの基板保持部、保持部材を手かき法で表面硬度を測定したところ、上記と同じ結果が得られた。
そして、中ケースから上記マスクブランクを取り出し、また中ケースに収納するマスクブランクの出し入れ操作を連続10回行った。
マスクブランクの出し入れ操作終了後、欠陥検査装置(レーザーテック社製:M2350)を用いて、マスクブランクの132mm×132mm領域のレジスト膜上の付着異物による欠陥(0.1μm以上の大きさの欠陥)個数を測定した。なお、評価は、上記出し入れ操作前の欠陥個数を予め上記と同様に測定しておき、これに対する出し入れ操作終了後の欠陥個数の増加個数で行った。
その結果、本実施例では、増加欠陥個数は、平均(5枚の平均)して0個であり、中ケースへのマスクブランクの出し入れ操作に伴うマスクブランクと中ケースとの擦れによる発塵を効果的に抑制することが可能であることが確認できた。
(比較例1)
実施例1と同様に製造した5枚のレジスト膜付きマスクブランクを収納するケースとして、前述の図9乃至図11に示す従来構造の収納ケースを用いたこと以外は実施例1と同様にしてマスクブランクの収納を行った。なお、中ケース(図10参照)の基板保持部は、開口部側(上方)から底面側(下方)まで同じ寸法であり、マスクブランクの主表面方向の横幅は153.0mm、板厚方向の横幅は7.3mmとした。また、蓋体の材質は、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン(ABS)、ケース本体、中ケース、保持部材の材質はポリプロピレンを用いた。
なお、実施例1と同様にして測定した中ケース、保持部材のポリプロピレンの表面硬度は、鉛筆硬度で、HBであった。
そして、実施例1と同様に上記レジスト膜付きマスクブランクの中ケースへの出し入れ操作を行った。
そして、実施例1と同様に、マスクブランクの上記出し入れ操作前の付着異物欠陥個数に対する出し入れ操作終了後の欠陥個数の増加個数を測定した。その結果、本比較例では、増加欠陥個数は、平均(5枚の平均)して3.6個と非常に多く、これは中ケースへのマスクブランクの出し入れ操作に伴うマスクブランクと中ケースとの擦れによる発塵が多く発生しやすいことによると考えられる。
(実施例2)
実施例1において、使用する合成石英ガラス基板の側壁面及び面取面のブラシ研磨の研磨時間を短くして、側壁面と面取面との間の稜線の曲率半径を、100μm以上300μm以下の範囲の合成石英ガラス基板を使用した以外は実施例1と同様にして、中ケースに収納するマスクブランクの出し入れ操作を連続10回行った後の増加欠陥個数を評価した。その結果、本実施例2では、増加欠陥個数は、平均(5枚の平均)して0.2個であり、中ケースのマスクブランクの出し入れ操作に伴うマスクブランクと中ケースとの擦れによる発塵を効果的に抑制することが可能であることが確認できた。
(比較例2)
実施例2と同様に製造した5枚のレジスト膜付きマスクブランクを収納するケースとして、前述の図9乃至図11に示す従来構造の収納ケースを用いたこと以外は実施例2と同様にしてマスクブランクの収納を行った。そして、実施例1と同様に上記レジスト膜付きマスクブランクの中ケースへの出し入れ操作を行った。その結果、本比較例では、増加欠陥個数は、平均(5枚の平均)して5.2個と非常に多く、これは中ケースへのマスクブランクの出し入れ操作に伴うマスクブランクと中ケースとの擦れによる発塵が多く発生しやすいことによると考えられる。
(実施例3、4)
実施例1における中ケースをポリブチレンテレフタレート(表面硬度H)、シクロオレフィンポリマー(表面硬度H)とした以外は実施例1と同様にして、中ケース内に収納するマスクブランクの出し入れ操作を連続10回行った後の増加欠陥個数を評価した。その結果、本実施例3,4では、増加欠陥個数は、平均(5枚の平均)して0個であり、中ケースへのマスクブランクの出し入れ操作に伴うマスクブランクと中ケースとの擦れによる発塵を効果的に抑制することが可能であることが確認できた。
1 マスクブランク
2 中ケース
3 ケース本体
4 蓋体
5 中ケース
51,52 溝部
53 基板保持部
6 蓋体
7 ケース本体
10 保持部材

Claims (6)

  1. 上方が開口したケース本体と、該ケース本体に被せて嵌め合わされる蓋体と、前記ケース本体内に収容され、主表面が四角形状のマスクブランクを内部に縦方向に収納する中ケースとを備えるマスクブランク収納ケースであって、
    前記中ケースは、マスクブランクの両側端を縦方向に保持する基板保持部を備え、該基板保持部は底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されており、且つ前記中ケースは、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマーから選択される樹脂からなり、前記中ケースは、鉛筆硬度でH以上の表面硬度を有することを特徴とするマスクブランク収納ケース。
  2. 前記中ケースの基板保持部は、マスクブランクの主表面方向の横幅と板厚方向の横幅のいずれも、底面側よりも開口部側の寸法が広くなるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載のマスクブランク収納ケース。
  3. 前記中ケースの基板保持部は、底面側よりも開口部側の寸法が1mm〜3mm広くなるように構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のマスクブランク収納ケース。
  4. 表面にレジスト膜を有するレジスト膜付きマスクブランクを収納することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のマスクブランク収納ケース。
  5. 請求項1乃至4のいずれかに記載のマスクブランク収納ケースにレジスト膜付きマスクブランクが収納されたことを特徴とするマスクブランク収納体。
  6. 前記マスクブランクは、基板の主表面上に転写パターン形成用の薄膜を有し、前記基板の対向する主表面間に介在する端面において、前記主表面と直交する方向の側壁面と、該側壁面と前記主表面との間に介在する面取面とを有しており、前記基板における前記側壁面と前記面取面の稜線の曲率半径が50μm以上であることを特徴とする請求項5に記載のマスクブランク収納体。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014029519A (ja) * 2012-06-28 2014-02-13 Hoya Corp マスクブランク収納ケース及びマスクブランク収納体
CN104495027A (zh) * 2014-12-01 2015-04-08 芜湖福马汽车零部件有限公司 一种汽车铸件运输箱
WO2018095249A1 (zh) * 2016-11-25 2018-05-31 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种掩模版版盒

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7299851B2 (ja) 2020-03-04 2023-06-28 株式会社日立ハイテクソリューションズ 自動定容装置及び自動定容方法、並びに自動定容システム

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05178381A (ja) * 1991-12-24 1993-07-20 Mitsui Toatsu Chem Inc 精密ガラスの透明搬送用容器
JPH08301354A (ja) * 1995-05-12 1996-11-19 Asahi Chem Ind Co Ltd 板状ガラス部品搬送箱
JP2002362676A (ja) * 2001-05-31 2002-12-18 Sekisui Plastics Co Ltd 板状体の搬送用箱
JP2003146388A (ja) * 2001-11-14 2003-05-21 Kyokuhei Glass Kako Kk ガラス基板搬送用ボックス
JP2003264225A (ja) * 2002-03-12 2003-09-19 Shin Etsu Polymer Co Ltd ガラス基板収納容器
JP2005043796A (ja) * 2003-07-25 2005-02-17 Hoya Corp マスクブランクスの収納容器、マスクブランクスの収納方法及びマスクブランクス収納体並びにマスクブランクス収納体の輸送方法
JP2005193957A (ja) * 2004-01-08 2005-07-21 Dap Technology Kk ガラス基板搬送用ケース
JP2008118000A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Shin Etsu Polymer Co Ltd 基板収納容器
JP2011001454A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Teijin Chem Ltd ポリカーボネート組成物およびその成形品
US20110198256A1 (en) * 2010-02-18 2011-08-18 Dynamic Micro Systems, Semiconductor Equipment Gmbh Stackable substrate carriers

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05178381A (ja) * 1991-12-24 1993-07-20 Mitsui Toatsu Chem Inc 精密ガラスの透明搬送用容器
JPH08301354A (ja) * 1995-05-12 1996-11-19 Asahi Chem Ind Co Ltd 板状ガラス部品搬送箱
JP2002362676A (ja) * 2001-05-31 2002-12-18 Sekisui Plastics Co Ltd 板状体の搬送用箱
JP2003146388A (ja) * 2001-11-14 2003-05-21 Kyokuhei Glass Kako Kk ガラス基板搬送用ボックス
JP2003264225A (ja) * 2002-03-12 2003-09-19 Shin Etsu Polymer Co Ltd ガラス基板収納容器
JP2005043796A (ja) * 2003-07-25 2005-02-17 Hoya Corp マスクブランクスの収納容器、マスクブランクスの収納方法及びマスクブランクス収納体並びにマスクブランクス収納体の輸送方法
JP2005193957A (ja) * 2004-01-08 2005-07-21 Dap Technology Kk ガラス基板搬送用ケース
JP2008118000A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Shin Etsu Polymer Co Ltd 基板収納容器
JP2011001454A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Teijin Chem Ltd ポリカーボネート組成物およびその成形品
US20110198256A1 (en) * 2010-02-18 2011-08-18 Dynamic Micro Systems, Semiconductor Equipment Gmbh Stackable substrate carriers

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014029519A (ja) * 2012-06-28 2014-02-13 Hoya Corp マスクブランク収納ケース及びマスクブランク収納体
CN104495027A (zh) * 2014-12-01 2015-04-08 芜湖福马汽车零部件有限公司 一种汽车铸件运输箱
WO2018095249A1 (zh) * 2016-11-25 2018-05-31 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种掩模版版盒
US10908497B2 (en) 2016-11-25 2021-02-02 Shanghai Micro Electronics Equipment (Group) Co., Ltd. Mask box

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