JP2013522808A - 手動ローディングを使用する記憶装置のバルク搬送 - Google Patents
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Abstract
記憶装置搬送ステーションは、第1スロットと、第2スロットと、コンベヤー・アセンブリと、を含む。コンベヤー・アセンブリは、記憶装置が垂直に積層され、かつ互いに離間した関係にあるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。コンベヤー・アセンブリは記憶装置を第1スロットと第2スロットとの間で搬送するように動作可能である。
Description
(関連出願の相互参照)
本特許出願は、2010年3月23日出願の米国特許仮出願第61/316,667号の利益を主張する。米国特許仮出願第61/316,667号は本明細書で完全に説明されたものとして、参照により全て本出願に組み込まれる。
本特許出願は、2010年3月23日出願の米国特許仮出願第61/316,667号の利益を主張する。米国特許仮出願第61/316,667号は本明細書で完全に説明されたものとして、参照により全て本出願に組み込まれる。
本開示は、記憶装置試験システムへの、及びこれらからの記憶装置のバルク搬送、並びに記憶装置試験システムのための搬送ステーションに関する。
記憶装置メーカーは典型的には、一連の要件を順守するために製造した記憶装置を試験する。大量の記憶装置を連続的に又は並列式で試験するための、試験機器及び技術が存在する。メーカーは大量の記憶装置をバッチで同時に試験する傾向がある。記憶装置試験システムは典型的には、試験のための記憶装置を受け取る多数の試験スロットを有する1つ以上のラックを含む。
現在の記憶装置試験システムは、オペレータ、ロボットアーム、又はコンベヤーベルトを使用して記憶装置を個々に、試験のために試験システム内にローディングするための搬送位置まで供給する。他の現在の記憶装置のテスターは、トート又は可動式トートを使用して、複数の記憶装置を搬送位置まで同時にロード又はアンロードする。試験システムのロボットアームは、記憶装置を個々又は小さなバッチで搬送位置から回収し、それらを試験のために試験スロットにおいてロードする。
一般的に、本開示は、記憶装置試験システムへの、及びこれらからの記憶装置のバルク搬送、及び記憶装置試験システムのための搬送ステーションに関する。
一態様において、記憶装置搬送ステーションは、第1位置と、第2位置と、コンベヤー・アセンブリと、を含む。このコンベヤー・アセンブリは、記憶装置が垂直に積層され(例えばカラム内に)、かつ互いに離間した関係にあるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。コンベヤー・アセンブリは記憶装置を第1位置と第2位置との間で搬送するように動作可能である。
別の態様において、記憶装置試験システムは、1つ以上の試験ラックと、この試験ラックによって支持される複数の試験スロットと、記憶装置搬送ステーションと、記憶装置搬送ステーションと試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と、を含む。各試験スロットは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される。記憶装置搬送ステーションは、第1位置と、第2位置と、コンベヤー・アセンブリと、を含む。このコンベヤー・アセンブリは、複数の記憶装置が垂直に積層され、かつ互いに離間した関係にあるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。コンベヤー・アセンブリは、第1位置と第2位置との間で複数の記憶装置を搬送するように動作可能である。
更なる態様において、記憶装置試験システムは、1つ以上の試験ラックと、この試験ラックによって支持される複数の試験スロットと、入力/出力ステーションと、記憶装置搬送ステーションと試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と、複数の試験スロットと、を含む。複数の試験スロットは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される。入力/出力ステーションは、記憶装置を受け取り、記憶装置を互いに離間した関係で保管し、かつ自動機械装置によるサービスのために記憶装置を提示するように構成される入力搬送ステーションを含む。入力/出力ステーションはまた、自動機械装置から試験された記憶装置を受け取り、試験された記憶装置を互いに離間した関係で保管し、かつ回収のために試験された記憶装置を提示するように構成される出力搬送ステーションを含む。
他の態様によると、方法は、複数の記憶装置を記憶装置搬送ステーション内に手動でローディングすることと、自動機械装置を作動させて、複数の記憶装置のうちの1つの記憶装置を記憶装置搬送ステーションから回収することと、自動機械装置を作動させて、1つの記憶装置を記憶装置試験システムの試験スロットに送達し、1つの試験装置を試験スロット内に挿入することと、を含む。記憶装置搬送ステーションは、複数の記憶装置が互いに離間した関係で維持されるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。
開示される方法の実施形態、システム、及び装置は、1つ以上の以下の特徴を含み得る。
いくつかの実施形態では、コンベヤー・アセンブリは、複数の記憶装置をそれらの間に受け取るように配置された一対の連続ループを含む。連続ループはベルト、金網、又はチェーンを含み得る。
いくつかの場合では、コンベヤー・アセンブリは連続ループ、及びこの連続ループから外側に延在する複数のプラットフォームを含み得る。複数のプラットフォームのそれぞれは、記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成され得る。複数のプラットフォームのそれぞれは、連続ループに接続される第1部分、及び第1部分に枢動可能に接続される第2部分を含み得る。
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、少なくとも部分的にコンベヤー・アセンブリから外へ、及び少なくとも部分的に第2スロット内へ記憶装置を前進させるように配置されるアクチュエータを含むこともできる。
いくつかの場合では、記憶装置搬送ステーションは、第1スロットを通じた記憶装置の移動を支援するように配置されるフィーダー・コンベヤーも含み得る。
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは検出器、及びこの検出器と通信する制御電子機器も含み得る。検出器は、第2スロット内の記憶装置の存在を検出するように配置されてもよく、制御機器は、少なくとも一部分において、検出器から受信される信号に基づいてコンベヤー・アセンブリの動作を、制御するように構成され得る。
いくつかの場合では、コンベヤー・アセンブリは、重力下において第1スロットと第2スロットとの間で複数の記憶装置を搬送するように動作可能である。
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、コンベヤー・アセンブリに駆動自在に接続される電動モータ、及びこの電動モータと通信する制御電子機器を含む。制御電子機器は、電動モータを介してコンベヤー・アセンブリの動作を制御するように構成され得る。
いくつかの場合では、第1スロットは、例えばオペレータから1つずつ記憶装置を受け取るように構成される。
いくつかの実施形態では、第2スロットは、自動機械装置によるサービスのために、例えば1つずつ記憶装置を提示するように構成される。
いくつかの場合では、第2スロットは、例えば自動機械装置から1つずつ記憶装置を受け取るように構成され、第1スロットは、オペレータによる回収のために1つずつ記憶装置を提示するように構成される。
いくつかの実施形態では、試験スロットのそれぞれは、試験のために記憶装置を運ぶ記憶装置輸送器を受け取り、かつ支持するように構成される。
いくつかの実施形態では、入力搬送ステーションは、例えばオペレータから1つずつ記憶装置を直接受け取るように構成される。
いくつかの場合では、出力搬送ステーションは、オペレータによる回収のために、試験した記憶装置を例えば1つずつ提示するように構成される。
複数の記憶装置を手動でローディングすることは、記憶装置を記憶装置搬送ステーション内へ1つずつローディングすることを含み得る。
複数の記憶装置を手動でローディングすることは、搬送ステーションの第1スロットを通じて記憶装置を記憶装置搬送ステーション内に搬送することを含み得る。
いくつかの実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、記憶装置が互いに離間した関係で垂直に積層されるように複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される。
特定の実施形態では、記憶装置搬送ステーションは、入力ステーション又は出力ステーションの一方として、又はこれらの両方として使用され得る。例えば、入力ステーションはいったん空になると、出力供給ステーションとなることができ、逆もまた同様である。
記憶装置(例えばディスクドライブ)は、カラム内に積層され、底部まで降下し、そこでは、記憶装置はロボットマニピュレータにより保持される記憶装置輸送器によって回収され得る。手動ローディングは単純であり、オペレータには、カラムが満杯になるまで、記憶装置を同じスロット内に何度も繰り返して挿入することのみを必要とする。
同様の方法は記憶装置をアンロードするのに使用されてもよい。ロボットは、記憶装置輸送器を使用しながら、出力カラムの頂部において、出力されたドライブをロードする。カラムが満杯のとき(又は実際にはいつでも)オペレータはカラムから手で1つずつドライブを取り出すことができる。
システムは複数の入力カラム及び出力カラムと、これに加えて、ドライブをロード又はアンロードするための待ち時間を低減させる又は待ち時間なく最大スループットを達成するために、カラムが空であるとき又は満杯であるときを知らせる信号システムを使用することができる。カラムは空間効率がよいため、何千もの記憶装置を比較的小さな空間で待ち行列にすることができる。複数の出力カラムの使用はまた、出力された記憶装置をそれらの試験結果により事前に仕分けするのを可能にする。
記憶装置は単純に互いの上に積層され、重力によって供給され得る。
あるいは、又はそれに加えて、記憶装置は、それらが互いに接触したり、又はスクラッチすることがないように、U型(PCボード用のカードガイドのような)のガイドに配置することができる。減衰システムは重力が依然として原動力であるのを可能にする。
あるいは、又はそれに加えて、電動式ベルト式エレベータ、チェーン式エレベータ、又ギア駆動エレベータを使用して、記憶装置を移動させてもよい。
あるいは、又はそれに加えて、オペレータはカラムの前面全体を見ることができ、かつ、同じスロット内に繰り返しロード/アンロードするよりもむしろ、個々のスロットに記憶装置を手動でロード/アンロードすることができる。これは、ローディング又はアンローディング時に記憶装置間でエレベータを前進させる必要性を排除する。
あるいは、又はそれに加えて、記憶装置はカラムの底部から、又は底部付近からロードされてもよく、並びにロボットは記憶装置をカラムの上部から、又は上部付近から規則装置を取り出すことができる。これによりカラムは人の到達可能な高さよりも大きいことが可能である。
あるいは、又はそれに加えて、ドライブは記憶装置輸送器と共にロードされてもよく、ロボットはこの組合せを操作する。
あるいは、又はそれに加えて、カラムはベルト又はチェーンを使用しながら、連続ループを形成することができる。それは1つの連続ロード又はアンロードループであってもよく、又は一方の側はロードに使用され、他方はアンロードに使用されてもよい(同期していない場合でも依然として両側にアクセスできるように、前面全体が露出された場合にのみ)。
あるいは、又は追加として、これらの方法はシステムから記憶装置をロード又はアンロードするのに使用されてもよい。
あるいは、又はそれに加えて、これらの方法は、プロセス工程間で単に一部の待機又は緩衝をもたらすために自動化工場で使用されてもよい。例えば、手動ローディング及びアンローディングは、コンベヤー又はロボットインターフェースによって交換されてもよい。
実施形態では、以下の利点の1つ以上を挙げることができる。
開示されるシステム、方法、及び装置の実施形態は、記憶装置を記憶装置試験システム内へローディング/記憶装置試験システムからのアンロードに関連する、オペレータの待ち時間を低減するのに役立つことができる。例えば、いくつかの実施形態では、バルクロード/アンロード搬送ステーションは、人間のオペレータが、多くの記憶装置を試験システム内に一度にロード/アンロードするのを可能にし、これによってオペレータは自由にロード/アンロード操作の間に他の仕事を実施することができる。
バルクロード/アンロードシステムは、記憶装置の取り扱いを改善するためのより多くの機会を可能にすることができる。例えば、一人の人間のオペレータが多くの記憶装置を一度にロードした場合(例えば、限定された継続時間の単一のローディング操作中に連続的に)、長期間にわたって連続的に記憶装置をローディングするのと比較して、記憶装置提示エラーにつながる機会の数は低減される。
バルクロード/アンロードシステムはまた、異なる待ち行列又は容器への出力された記憶装置の事前の仕分けを可能にすることができる。
いくつかの実施形態では、開示されたシステム、方法、及び装置は、多くの記憶装置が、入力及び/又は出力のために待ち行列にあることを可能にすることができる。
いくつかの実施形態は、特殊のトート又は他の特殊の容器を使用せずに、例えば記憶装置試験システム内への記憶装置のバルク搬送を可能にする。
いくつかの実施形態では、開示されたシステム、方法、及び装置は、手動ではあるがバルク配置された入力/出力ステーションを使用して、完全に自動化された工場の多くの利点(例えば信頼性、再現性、及び密度)を達成する手段を提供する。
記憶装置のバルク供給は、人間の介入の量を低減することによって、増加したスループットをもたらすのに役立つことができる。
記憶装置のバルク供給は、別個の及び離間したインターバルの時間に対する人間の介入の量を限定することによって、増加したスループットをもたらすのに役立つことができる。これは、例えば長時間にわたって、オペレータが連続的に記憶装置をシステム内に供給する(又はシステムから記憶装置を取り出す)システムと比較して、オペレータが時間と共に注意又は集中を失うという可能性を低減することによって、表示エラーを低減するのを役立つことができる。
記憶装置のバルクの待機/保管は、空間(例えば工場の床面積)の効率のよい利用を可能にすることができる。
他の態様、特徴、及び利点は、明細書、図面、及び請求の範囲にある。
異なる図面における同様の参照符合は同様の要素を示す。
システムの概要
図1に示されるように、記憶装置試験システム10は、1つ以上の試験ラック100と、搬送ステーション200と、搬送ステーション200(すなわち入力/出力ステーション)と試験ラック100との間で記憶装置600を搬送するように動作可能なロボット300と、を含む。
図1に示されるように、記憶装置試験システム10は、1つ以上の試験ラック100と、搬送ステーション200と、搬送ステーション200(すなわち入力/出力ステーション)と試験ラック100との間で記憶装置600を搬送するように動作可能なロボット300と、を含む。
本明細書で使用されるとき、記憶装置には、ディスクドライブ、ソリッド・ステートドライブ、メモリ装置、及び検証のために非同期試験を必要とする任意の装置が挙げられる。ディスクドライブは一般に、磁気表面を備える高速回転する円盤上にデジタルでコード化されたデータを格納する不揮発性の記憶装置である。ソリッド・ステートドライブ(SSD)は、永続データを保存するために半導体メモリを使用するデータ記憶装置である。SRAM又はDRAM(フラッシュメモリの代わりに)を使用するSSDは、RAMドライブと呼ばれることが多い。用語「ソリッド・ステート」は一般にソリッド・ステート電子機器を電気機械的な装置と区別する。
各試験ラック100は一般的に、複数の試験スロットアセンブリ120を含む。図2に示されるように、各試験スロットアセンブリ120は、記憶装置輸送器400及び試験スロット500を含む。記憶装置輸送器400は、搬送ステーション200と試験スロット500との間で記憶装置600を輸送するために、例えばロット300と協働して使用される。
図3A及び3Bを参照すると、いくつかの実施では、搬送ステーション200は、入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bを含む。入力搬送ステーション210aは、ハウジング212a、第1スロット214a、第2スロット216a、及びステータス指示ライト218aを含む。第1スロット214aは、例えばオペレータから1つずつ記憶装置600を受け取るように構成される。受け取られた記憶装置600は、例えばハウジング212a内で、垂直の積層体において、かつ互いに離間した関係でバルクで積層される。第2スロット216aは、例えば、ロボット300によるサービスのために、記憶装置600のストックを1つずつ提示するように構成される。ステータス指示ライト218aは例えばオペレータに、入力搬送ステーション210aのステータスの視覚的な指示を提供する。例えば、ステータス指示ライト218aは、例えばストックを補給するために、入力搬送ステーション210aにおいて1つ以上の追加の記憶装置600のための空間が存在するとき、着色された光(例えば黄色の光)を点灯する、又は放射するように構成されてもよい。
出力搬送ステーション210bはまた、ハウジング212b、第1スロット214b、第2スロット216b、及びステータス指示ライト218bを含む。第2スロット216bは、例えばロボット300から1つずつ記憶装置600を受け取るように構成される。受け取られた記憶装置600は、例えば出力搬送ステーション210bのハウジング212b内で、垂直の積層体で、かつ互いに離間した関係でバルクで積層される。出力搬送ステーション210bの第1スロット214bは、(例えばオペレータによる)取り出しのために、記憶装置600のストックを、例えば1つずつ提示するように構成される。ステータス指示ライト218bはオペレータに視覚的な指示、例えば出力搬送ステーション210bのステータスを提供する。例えば、ステータス指示ライト218bは、出力搬送ステーション210bから回収される準備ができている記憶装置600(例えば試験された記憶装置)が存在するときに、着色された光(例えば緑色の光)を点灯する、又は放射するように構成され得る。
図4A及び4Bに示されるように、ロボット300はロボットアーム310、及びこのロボットアーム310の遠位端に配置されたマニピュレータ312を含む。マニピュレータの詳細な記載、並びに本明細書に記載のものと適合性のある他の詳細及び特徴は、添付の同時出願の、以下の米国特許出願;割り当てられたシリアル番号第12/104,536号を有する表題「Transferring Disk Drives Within Disk Drive Testing Systems」(代理人整理番号:18523−073001、発明者:Evgeny Polyakovら)に見出すことができ、前述の出願の全ての内容は参照により本明細書に組み込まれる。ロボットアーム310は、床部表面316に垂直である第1軸(図4A)を画定し、ロボットの動作領域318内で、第1軸314を中心に所定の弧を通って回転し、第1軸314から放射状に延びるように動作し得る。
ロボット300はガイドシステム320上に配置されてもよい。いくつかの実施(implantation)では、ガイドシステム320は、試験ラック100に隣接して沿ってロボット300を動かすように構成されるリニアアクチュエータを含み、ロボット300が2つ以上のラック100の試験スロット500をサービスするのを可能にする。他の実施において、ロボット300は、ガイドシステム320に沿ってロボット300を動かすように構成される駆動システム322を含んでもよい。例えば、ロボット300は、レールシステム324上に設置されてもよく、駆動システム322はこのレールシステム324に沿ってロボット300を動かす。ガイドシステム320は拡張可能であってもよく(例えば長さにおいて)、かつ複数のロボットを収容して、例えば、より長い試験ラック100を支持するために、又は各ロボット300によってサービスされる面積を更に低減して、スループットを増加させ、及び/又はより短い試験時間に適応してもよい。
ロボットアーム310は、入力搬送ステーション210aと試験ラック100との間で記憶装置600を搬送することによって、各試験スロット500を個別にサービスするように構成される。特に、ロボットアーム310は、マニピュレータ312を用いて試験スロット500のうちの1つから記憶装置輸送器400を取り出し、次いで記憶装置輸送器40を用いて、記憶装置輸送器400を用いて、入力搬送ステーション210aにおいて第2スロット216aから記憶装置600を拾得し、次いで、その内部の記憶装置600と共に、記憶装置600の試験のために記憶装置輸送器400を試験スロット500に戻すように構成される。試験の後で、ロボットアーム310は、試験スロット500のうちの1つから記憶装置輸送器400を、支持された記憶装置600と共に回収し、それを記憶装置輸送器400の操作によって(すなわち、マニピュレータ312を用いて)出力搬送ステーション210bの第2スロット216bに戻す(又は、それを試験スロット500の別のものに移動させる)。
図5A及び5Bを参照して、記憶装置輸送器400は、フレーム410及びクランプ機構450を含む。フレーム410は面板412を含む。図5Aに示されるように、第1表面414に沿って、面板412はくぼみ416を画定する。くぼみ416は、ロボットアーム310のマニピュレータ312(図4A及び4B)によって開放可能に係合されてもよく、これはロボットアーム310が輸送器400を把持し、動かすことを可能にする。使用時に、記憶装置輸送器400のうちの1つは、ロボットアーム300を用いて試験スロット500のうちの1つから取り除かれてもよい(例えば把持することにより、ないしは別の方法で輸送器400のくぼみ416をロボット300のマニピュレータ312と係合することによって)。フレーム410は、共同でフレーム410が、入力搬送ステーション210aの第2スロット216aから記憶装置600を回収するために使用されるのを可能にする側壁418及び基部プレート420によって形成される実質的にU型の開口部415を画定する。
図6A及び6Bに図示されるように、記憶装置600のうちの1つがフレーム410内の定位置にある状態で、記憶装置輸送器400及び記憶装置600は一緒に、試験スロット500のうちの1つ内における配置のために、ロボットアーム310(図4A)により移動されてもよい。マニピュレータ312(図4A)はまた、記憶装置輸送器400内に配置されるクランプ機構450の作動を開始するように構成される。これは、輸送器400がトート220から試験スロット500に移動する前に、クランプ機構450の作動を可能にし、移動中にディスクドライブ輸送器400に対するディスクドライブ600の動作を阻止する。試験スロット500内への挿入の前に、マニピュレータ312が再びクランプ機構450を作動して、フレーム410内のディスクドライブ600を解放し得る。これは試験スロット500のうちの1つへの記憶装置輸送器400の挿入を可能にする。クランプ機構450はまた、一度内部に受け取られると、試験スロット500と係合し、試験スロット500に対する記憶装置輸送器400の動作を阻止するように構成され得る。かかる実施において、いったん記憶装置600が試験スロット500における試験位置に完全に挿入されると、クランプ機構450が再び係合し(例えば、マニピュレータ312により)、記憶装置輸送器400の試験スロット500に対する動作を阻止する。このような方法で、記憶装置輸送器400をクランプすることは、試験中の振動の低減を助け得る。クランプ機構450の詳細な記載、並びに本明細書に記載のものと適合性のある他の詳細及び特徴は、割り当てられたシリアル番号第11/959,133号を有する以下の米国特許出願、表題「DISK DRIVE TRANSPORT,CLAMPING AND TESTING」(2007年12月18日出願、代理人整理番号:18523−067001、発明者:Brian Merrowら)に見出すことができ、その出願の全ての内容は参照により本明細書に組み込まれる。
図7A及び7Bを参照して、いくつかの実施形態では、ディスクドライブ試験システム10はまた、試験ラック100のそれぞれと通信する少なくとも1つのコントローラ130(例えば、演算装置)、搬送ステーション200、及びロボット300を含む。コントローラ130は、入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bのステータスをモニターし、並びに、入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bのステータスに少なくとも部分的に基づき、ロボット300による試験スロット500のサービスを調整することができる。
搬送(入力/出力)ステーション
上記のように、搬送ステーション200は入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bを含む。入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bは両方とも、同じ一般構成を有してもよい。例えば、図8A〜8Dは、入力搬送ステーションとして、及び/又は出力搬送ステーションとして使用され得る搬送ステーション210を図示する。搬送ステーション210は、ハウジング212の第1表面215に沿って配置される第1スロット214を備えるハウジング212(例えば、シート金属エンクロージャ)を含む。第1スロット214は、オペレータと搬送ステーション210との間のインターフェースとして機能する。第2スロット216は、ハウジング212の第2表面217に沿って配置される。第2スロット216は、ロボット300と搬送ステーション210との間のインターフェースとして機能する。ハウジング212内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ220である。コンベヤー・アセンブリ220は、記憶装置600(例えばディスクドライブ)を受け取り、保管し、かつ第1スロット214と第2スロット216との間で記憶装置600を搬送するように動作する。
上記のように、搬送ステーション200は入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bを含む。入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bは両方とも、同じ一般構成を有してもよい。例えば、図8A〜8Dは、入力搬送ステーションとして、及び/又は出力搬送ステーションとして使用され得る搬送ステーション210を図示する。搬送ステーション210は、ハウジング212の第1表面215に沿って配置される第1スロット214を備えるハウジング212(例えば、シート金属エンクロージャ)を含む。第1スロット214は、オペレータと搬送ステーション210との間のインターフェースとして機能する。第2スロット216は、ハウジング212の第2表面217に沿って配置される。第2スロット216は、ロボット300と搬送ステーション210との間のインターフェースとして機能する。ハウジング212内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ220である。コンベヤー・アセンブリ220は、記憶装置600(例えばディスクドライブ)を受け取り、保管し、かつ第1スロット214と第2スロット216との間で記憶装置600を搬送するように動作する。
図9A及び9Bに示されるように、コンベヤー・アセンブリ220は、連続ループ221の平行な対、及び複数のヒンジで連結されたプラットフォーム222を含む。プラットフォーム222のそれぞれは、ループ221の対応する1つに接続されている第1部分223aと、第1部分223aに枢動可能に接続される第2部分223bとを含む。ヒンジで連結されているプラットフォーム222は対で配置され、これによってプラットフォーム222の各対はループ221の間で記憶装置600を受け取り、これを支持することができる。複数の記憶装置600が、ループ221の長さに沿って互いに対して離間された関係で支持され、かつ維持され得るように、プラットフォーム222の連続的な対はループ221の長さに沿って互いから離間される。記憶装置600の間隔は、記憶装置600が互いに擦れたり、スクラッチするのを防ぐのを役立つことができる。ループ221は、ベルト(例えばプラスチック若しくはゴムベルト)、金網、又はチェーンであってもよい。プラットフォーム222は金属(例、シートメタル)又はプラスチックで形成されてもよく、並びに接着剤、溶接又は金属製品(例、ネジ)を介してループ221に接続されてもよい。
ループ221は回転可能なスピンドル224上に設置され、これはループ221が回転するのを可能にし、これによって記憶装置600をループ221の長さに沿った位置の間で搬送する。一対のスピンドル224(それぞれループ221の対応する1つ結合している)は、電動モータ225(例えばスピンドルモータ)に、動力伝達系226を介して駆動自在に接続される。図9Bを参照すると、動力伝達系226は、それぞれがスピンドル224の関連付けられた1つに接続されている一対の駆動シャフト227と、差動装置228と、を含む。出力側上では、差動装置228は、直角ギア229を介して駆動シャフト227のそれぞれに駆動自在に接続される。入力側上では、差動装置228は、電動モータ225のシャフト230に駆動自在に接続される。シャフト230の回転は、動力伝達系226を通じてスピンドル224を駆動させる。モータ225は、モータ225の動作を制御する制御電子機器232に電気的に接続される。
図10A及び10Bを参照して、第1スロット214と関連付けられているのは、第1フィーダー・コンベヤー233、第1検出器234及び第1リニアアクチュエータ235(例えばソレノイド)である。これらの装置は、搬送ステーション210内へ及び/又はこれから外への記憶装置の動作を支援する。入力搬送ステーション210aとして使用されたとき、オペレータは第1スロット214内へ記憶装置600を挿入するであろう。複数のホイール又はローラー236が、第1スロット214の下面237上に提供され、これは記憶装置600が、記憶装置600の底面を摺動することなく、かつ潜在的にこれをスクラッチすることなく、第1スロット214の長さに沿って移動するのを可能にする。第1フィーダー・コンベヤー233は、第1スロット214内に少なくとも部分的に配置され、かつ第1スロット214内の記憶装置600の上面に接触するように配置される。
第1フィーダー・コンベヤー233は一般的に、駆動ベルト238(例えばゴムベルト)、スピンドル239a、239b、及びスピンドル239aの最初の1つに駆動自在に接続されるモータ240(図10B)を含む。モータ240は、制御電子機器232に電気的に接続され、かつこれによって電気的に制御可能である。記憶装置600が第1スロット214に挿入されたとき、それは駆動ベルト238によって係合され、駆動ベルト238の動作は(これはスピンドル239a、239bを介してモータ240によって駆動される)は、第1スロット214を通じ、並びにコンベヤー・アセンブリ220内の所定の位置への記憶装置600の移動を支援する。
第1検出器234は、制御電子機器232と協働して動作し、第1スロット214を通過する記憶装置600の位置をモニターする。例えば、搬送ステーション210が入力搬送ステーション210aとして使用されるとき、第1検出器234は、挿入された記憶装置600がコンベヤー・アセンブリ22内で完全に密閉されたかどうか、及びいつ完全に密閉されたかということを決定するために使用される。これに関して、第1検出器234は、記憶装置600が第1スロット214内に配置されているかどうかを検出するように位置決めされてもよい。第1検出器234から受信した信号に基づいて、記憶装置600が第1スロット214内に位置決めされているということを制御電子機器232が決定した場合、第1フィーダー・コンベヤー233が駆動され、記憶装置600を第1スロット214を通じて前進させる。第1検出器234は、1つ以上の検出装置、例えば光学検出器及び/又は電気機械スイッチなどを含み得る。
第1リニアアクチュエータ235は、コンベヤー・アセンブリ220から外に記憶装置600を押し出すために、並びに、例えば搬送ステーション210が出力搬送ステーション210bとして使用されるときに、第1スロット214内へ押すために提供される。より具体的には、第1リニアアクチュエータ235は、第1スロット214に直接隣接する位置において、コンベヤー・アセンブリ220において支持される記憶装置600を係合するように、並びに記憶装置600を少なくとも部分的にコンベヤー・アセンブリ220から外へ、及び少なくとも部分的に第1スロット214内へ前進させるように位置決めされる。第1検出器234との通信を介して記憶装置600が第1スロット214内に前進されているということを、制御電子機器232が決定したとき、第1フィーダー・コンベヤー233が作動して、第1スロット214を通じて記憶装置600の一部分が第1スロット214から(例えばオペレータによって)取り除かれるために外側に延びる位置の方へ、記憶装置600を更に前進させる。
図11A及び11Bを参照して、第2スロット216と関連付けられているのは第2フィーダー・コンベヤー241、第2検出器242、及び第2リニアアクチュエータ243(例えばソレノイド)である。これらの装置は、第2スロット216を通じて、搬送ステーション210内へ、及び/又はこれから外への記憶装置600の移動を支援する。第2リニアアクチュエータ243は、コンベヤー・アセンブリ220から外に記憶装置600を押し出すために、並びに、例えば搬送ステーション210が入力搬送ステーション210bとして使用されるときなど、第2スロット216内へ記憶装置600押すために提供される。この関連で、第2リニアアクチュエータ243は、コンベヤー・アセンブリ220において、第2スロット216に直接隣接する位置において支持される記憶装置600を係合するように、並びに記憶装置600を少なくとも部分的にコンベヤー・アセンブリ220から外へ、及び少なくとも部分的に第2スロット216内へ前進させるように位置決めされる。
複数のホイール又はローラー244が、第2スロット216の下面245上に提供され、これは記憶装置600が、記憶装置600の底面を摺動することなく、かつ潜在的にこれをスクラッチすることなく、第2スロット216の長さに沿って移動するのを可能にする。第2フィーダー・コンベヤー241は、第2スロット216内に少なくとも部分的に配置され、かつ第2スロット216の長さに沿って記憶装置600を前進させるために、第2スロット216内で記憶装置600の上面に接触するように位置決めされる。
第2フィーダー・コンベヤー241は一般的に、駆動ベルト246(例えばゴムベルト)、スピンドル247a、247b、及びスピンドル247aの最初の1つに駆動自在に接続されるモータ248(図11B)を含む。モータ248は、制御電子機器232に電気的に接続され、かつこれによって制御可能である(図8C及び8D)。記憶装置600が第2スロット216内に挿入されたとき、それは駆動ベルト246と係合し、スピンドル247a、247bを介してモータ248によって駆動される駆動ベルト246の動作は、第2スロット216を通じる記憶装置600の移動、及び第2スロット216内のピックアップ位置内への移動を支援する。
第2検出器242は、制御電子機器232(図8C及び8D)と協働して動作し、第2スロット216内に配置される記憶装置600の存在及び/又は位置を検出する。第2検出器242は、1つ以上の検出装置、例えば光学検出器及び/又は電気機械スイッチなどを含み得る。第2検出器242から受信した信号に基づいて、記憶装置600が第2スロット216内に位置決めされたということを制御電子機器232が決定した場合、第2フィーダー・コンベヤー241は、第2スロット216を通じて、ロボット300によってそれがピックアップされ得るピックアップ位置の方へ記憶装置600を前進させるように駆動される。この関連で、ローラー244が輸送器400のU型の開口部415内に適合した状態で、記憶装置輸送器400(図5B)を記憶装置600の下に位置決めし、次いで輸送器400を上昇させ、記憶装置600をローラー244から離して持ち上げることによってロボット300が記憶装置600をすくうことができるように、ローラー244は記憶装置600を支持するように寸法決めされてもよい。
図12A及び12Bを参照すると、いくつかの実施形態では第2スロット216はまたピックアップ位置において基台249を含んでもよい。記憶装置600を送達して、それがロボット300によってピックアップされ得る基台249の上に位置するように第2フィーダー・コンベヤー241及びローラー244は配置されてもよい。基台249は、第2スロット216の下面245の上で上昇した位置において記憶装置を保持するように寸法決めされてもよい。記憶装置輸送器400が、基台249上に支持される記憶装置600の下で位置決めされることができ、かつ基台249が、記憶装置輸送器400のU型の開口部415内に収容されるように、基台249の幅は、記憶装置輸送器400の側壁418が基台249の周囲に適合するのを可能にする。
搬送ステーション210が出力搬送ステーション210bとして使用されるとき、ロボット300は試験された記憶装置600を第2スロット216に配置することができる。制御電子機器232は、第2検出器242との通信を介して、記憶装置600が第2スロット216内に挿入されているということを決定するとき、第2フィーダー・コンベヤー241が作動され、第2スロット216を通じて及びコンベヤー・アセンブリ220内のある位置内に記憶装置600が更に前進させる。
操作の方法
使用時に、オペレータは複数の記憶装置600を例えば1つずつ入力搬送ステーション210aの第1スロット214a内に、(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220が記憶装置600で完全にストックされるまで供給する。入力搬送ステーション210aのコンベヤー・アセンブリ220のステータスは、ステータス指示ライト218aを制御する(入力搬送ステーション210aの)制御電子機器232によってモニターされる。追加の記憶装置600に対して(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220において空間が利用可能であるとき、入力搬送ステーション210a上のステータス指示ライト218aが点灯する(例えば黄色の光を照射する)。(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220が記憶装置600で完全にストックされたとき、ステータス指示ライト218aは消灯する(又は異なる色のライトを提供する)。
使用時に、オペレータは複数の記憶装置600を例えば1つずつ入力搬送ステーション210aの第1スロット214a内に、(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220が記憶装置600で完全にストックされるまで供給する。入力搬送ステーション210aのコンベヤー・アセンブリ220のステータスは、ステータス指示ライト218aを制御する(入力搬送ステーション210aの)制御電子機器232によってモニターされる。追加の記憶装置600に対して(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220において空間が利用可能であるとき、入力搬送ステーション210a上のステータス指示ライト218aが点灯する(例えば黄色の光を照射する)。(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220が記憶装置600で完全にストックされたとき、ステータス指示ライト218aは消灯する(又は異なる色のライトを提供する)。
記憶装置600が入力搬送ステーション210aの第1スロット214a内に挿入されると、(入力搬送ステーション210a)の制御電子機器232は、例えば第1検出器234を介して、第1スロット214aにおける記憶装置600の存在を検出し、並びに第1フィーダー・コンベヤー233を作動させて、(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220における位置内に記憶装置600を前進させる。いったん記憶装置600が、(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220における位置に完全に供給されると、(入力搬送ステーション210aの)制御電子機器232は、コンベヤー・アセンブリ220を作動させて、受け取った記憶装置600(received storage device 220)を第2スロット216aの方へ上方に移動させ、他の記憶装置600のための空間を作る。これは、入力搬送ステーション210a内に供給される各記憶装置600に関して、(入力搬送ステーション210aの)コンベヤー・アセンブリ220が記憶装置600で完全にストックされるまで繰り返され、その時点でオペレータは自由に離れて、他のタスクを実施できる。
入力搬送ステーション210aが記憶装置600で完全にストックされたとき、入力搬送ステーション210a内に供給された第1記憶装置600は第2スロット216aと位置合わせされる。この点において、(入力搬送ステーション210aの)制御電子機器232は、(入力搬送ステーション210aの)第2リニアアクチュエータ243を作動させて、記憶装置600を第2スロット216a内に押す。(入力搬送ステーション210aの)制御電子機器232は次いで、第2スロット216aにおける記憶装置600の存在を(第2検出器242を介して)検出し、それに応じて(入力搬送ステーション210aの)第2フィーダー・コンベヤー241を作動させて、記憶装置600をピックアップ位置内に前進させ、そこでは記憶装置600はロボットアーム300によって回収され得る。記憶装置600がロボット300によって入力搬送ステーション210aから取り除かれた後、(入力搬送ステーション210aの)制御電子機器232は、第2スロット216aが空であるということを検出し、それに応じて次の記憶装置600を、第2スロット216と位置合わせさせて(例えば、入力搬送ステーション210aのコンベヤー・アセンブリ220の動作を介して)、次いでコンベヤー・アセンブリ220から外へ、そして第2スロット216aにおけるピックアップ位置内へと移動させる。このプロセスは、入力搬送ステーション210aに保管される、それぞれ後に続く記憶装置600に関して繰り返されてもよい。したがって、複数の記憶装置600が入力搬送ステーション210aにおいて保管され、かつ待ち行列にされてもよく、記憶装置600が例えば1つずつ入力搬送ステーション210aによってロボット300に自動的に供給されている間、オペレータが他のタスクを実施するのを可能にする。
ロボット300は、記憶装置輸送器400のうちの1つを使用して、入力搬送ステーション210aから記憶装置600を回収することができる。次いで、ロボット300は記憶装置輸送器400及び回収された記憶装置600を、記憶装置600の試験のために試験スロット500のうちの1つに送達することができる。このプロセスは、入力搬送ステーション210aにおいて保管された記憶装置のそれぞれに関して繰り返されてもよい。
ロボット300はまた、記憶装置600を支持する記憶装置輸送器400を、試験スロット500から取り除くことによって、試験スロット500のうちの1つから試験された記憶装置600を取り除く。ロボット300は次いで、試験された記憶装置600を出力搬送ステーション210bの第2スロット216bまで送達する。出力搬送ステーション210bの制御電子機器232は、(出力搬送ステーション210bの)第2検出器242を介して、第2スロット216bにおける記憶装置600の存在を検出し、それに応じて、(出力搬送ステーション210bの)第2フィーダー・コンベヤー241を作動させて、出力搬送ステーション210bのコンベヤー・アセンブリ220内に記憶装置600を供給する。これは、(出力搬送ステーション210bの)コンベヤー・アセンブリ220が記憶装置600で完全にストックされるまで、出力搬送ステーション210b内に供給される各記憶装置600に関して繰り返され得る。
出力搬送ステーション210bが記憶装置600で完全にストックされたとき、出力搬送ステーション210b内に供給された第1記憶装置600は第1スロット214bと位置合わせされる。この点において、出力搬送ステーション210bの制御電子機器232は(出力搬送ステーション210bの)第1リニアアクチュエータ235を作動させて、記憶装置600を第2スロット216b内に押す。(出力搬送ステーション210bの)制御電子機器232は次いで(出力搬送ステーション210bの第1検出器234を介して)第1スロット214bにおける記憶装置600の存在を検出し、それに応じて、(出力搬送ステーション210bの)第1フィーダー・コンベヤー233を作動させて、その記憶装置600をピックアップ位置内に前進させ、そこでは記憶装置600は第1スロット214bから外側へ延び、これによって記憶装置600が、例えばオペレータにより回収されるのを可能にする。記憶装置600がオペレータによって出力搬送ステーション210bから取り出された後、(出力搬送ステーション210bの)制御電子機器232は、第1スロット214bが空であるということを検出し、それに応じて次の記憶装置600を移動させて、出力搬送ステーション210bのコンベヤー・アセンブリ220の動作を介して第1スロット214bと位置合わせさせ、次いで(出力搬送ステーション210bの)コンベヤー・アセンブリ220から外へ、そして第1スロット214bにおけるピックアップ位置内に移動させる。このプロセスは、出力搬送ステーション210bに保管される、それぞれ後に続く記憶装置600に関して繰り返されてもよい。
出力搬送ステーション210bのコンベヤー・アセンブリ220のステータスは、ステータス指示ライト218bを制御する(出力搬送ステーション210bの)制御電子機器232によってモニターされる。出力搬送ステーション210b上のステータス指示ライト218bは、(出力搬送ステーション210bの)コンベヤー・アセンブリ220が試験された記憶装置600によって完全にストックされ、空になる準備ができているときに点灯する(例えば緑色の光を照射する)。(出力搬送ステーション210bの)コンベヤー・アセンブリ220が、試験された記憶装置600を空にされたとき、ステータス指示ライト218bは消灯する(又は異なる色のライトを提供する)。
出力搬送ステーション210a、210bのステータスに基づいてロボット300が制御され得るように、入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bの対応する制御電子機器232は、コントローラ130と通信する状態で配置され得る。
他の実施形態
特定の実施形態について上記に記載したが、他の実施形態も可能である。
特定の実施形態について上記に記載したが、他の実施形態も可能である。
例えば、図13A〜13Cは、記憶装置試験システム20の実施形態を説明し、ここでは試験ラック100及び入力搬送ステーション210a及び出力搬送ステーション210bは、ロボット300を中心に円形のアレイで配置される。試験ラック100及び搬送ステーション210a、210bがロボット300によるサービスのための、各試験スロット500のアクセスビリティに関して、作業包囲330内で配置されている状態で、ロボット300は実質的に円筒形の作業包囲体積330を画定する。実質的に円筒形の作業包囲体積330は小さな設置面積をもたらし、一般的に高さの制約によってのみ容量が制限される。いくつかの実施例において、ロボット300は床部表面316上の基台又はリフト340(図13C)上で上昇され、かつ支持される。ロボット300が上方だけでなく、下方にもまた到達して、試験スロット500及び/又は搬送ステーション210a、210bにサービスすることを可能にすることにより、基台又はリフト340は作業包囲体積330の寸法を増大させる。作業包囲体積330の大きさは、垂直作動装置を基台又はリフト340に追加することによって更に増加させることができる。
図14A〜14Cは搬送ステーション700の他の実施形態を説明する。搬送ステーション700は、ハウジング712の上面715に沿って配置される第1スロット714を備える、ハウジング712(例えば、シート金属エンクロージャ)を含む。第1スロット714は、オペレータと搬送ステーション700との間のインターフェースとして機能する。第2スロット716は、ハウジング712の第2表面717に沿って配置される。第2スロット716は、ロボット300と搬送ステーション700との間のインターフェースとして機能する。ハウジング内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ720である。コンベヤー・アセンブリ720は、記憶装置600(例えばディスクドライブ)を受け取り、保管し、かつ第1スロット714と第2スロット716との間で記憶装置600を搬送するように動作する。
図14B及び14Cに示されるように、コンベヤー・アセンブリ720は、連続ループ721の平行な対、及び複数の支持体722を含む。支持体722のそれぞれは、ループ721の対応する1つに接続される、又はこれと一体形成される第1端部723aと、カンチレバー方式で結合したループ721から外側に延びる第2端部723bと、を含む。支持体722は、支持体722の各対がループ721の間で記憶装置600を受け取り、これを支持できるように配置される。複数の記憶装置600が、ループ721の長さに沿って互いに対して離間された関係で支持され、かつ維持され得るように、支持体722の連続的な対はループ721の長さに沿って互いから離間される。ループ721は、ベルト(例えばプラスチック若しくはゴムベルト)、金網、又はチェーンであってもよい。支持体722は金属(例、シートメタル)又はプラスチックで形成されてもよく、並びに接着剤、溶接又は金属製品(例、ネジ)を介してループ721に接続されてもよく、又はこれと一体形成されてもよい(例えば成形される)。
ループ721は回転可能なスピンドル724上に設置され、これはループ721が回転するのを可能にし、これによって記憶装置600をループ721の長さに沿った位置の間で搬送する。ループ721は重力下において、例えば記憶装置の重量下で回転し、記憶装置600を第1スロット714から第2スロット716まで送達することができる。
第1スロット714はハウジング712内へのアクセスを提供し、これによってオペレータは記憶装置600を、例えば1つずつコンベヤー・アセンブリ720内に取り入れることを可能にする。
第2スロット716は基台749を含む。基台749は、第2スロット716の下面745の上の、上昇した位置において記憶装置600を保持するように寸法決めされる。例えばオペレータによって搬送ステーション700内に供給された記憶装置600は、第1スロット714において、例えば1つずつ基台749に、ループ721の回転を介して供給され、ここでそれらはロボット300によって回収され得る。記憶装置輸送器400が、基台749上に支持される記憶装置の下で位置決めされることができ、かつ基台749が、記憶装置輸送器400のU型の開口部415内に収容されるように、基台749の幅は、記憶装置輸送器400の側壁418が基台749の周囲に適合するのを可能にする。
検出器734(例、任意のセンサ又はスイッチ)は基台749上の記憶装置の存在を検出するために、第2スロット716と関連付けられる。検出器734は制御電子機器732と通信し、これは検出器734から受信した信号に基づいて第2スロット716のステータスをモニターする。
搬送ステーション700はまた、制御電子機器732と通信する作動装置735(例えばソレノイド)を含んでもよい。制御電子機器732の制御下にある作動装置735は、コンベヤー・アセンブリ720と係合するように配置され、ループ721の動作を抑制することができる。例えば、作動装置735は、支持体722を阻害するように配置され、ループ721の更なる回転を抑制する(例えば阻止する)ことができる。
ロボット300によって回収されるのを待ちながら、記憶装置600が基台749上に位置決めされているということを制御電子機器732が決定したとき、制御電子機器732は、記憶装置600が基台749から取り除かれ、基台749が再び他の記憶装置600を受け入れるように準備されるまで、作動装置735を作動させてコンベヤー・アセンブリ720の更なる動作を抑制することができる。
あるいは、又はそれに加えて、搬送ステーション700は、ループ721の動作を制御するために、コンベヤー・アセンブリ720に駆動自在に接続された電動モータを含むことができる。例えば、図15A及び15Bは、電動モータ725が動力伝達系726(図15B)を介して、コンベヤー・アセンブリ720の一対のスピンドル724に駆動自在に接続される搬送ステーション700’の実施形態を示す。動力伝達系726は一対の駆動シャフト727を含み、それぞれは、スピンドル724の関連付けられた1つ及び差動装置728に接続される。出力側上では、差動装置728は、直角ギア729を介して駆動シャフト727のそれぞれに駆動自在に接続される。入力側上では、差動装置728は、電動モータ725のシャフト730に駆動自在に接続される。モータシャフト730の回転は、動力伝達系726を通じてスピンドル724を駆動させる。モータ725は、モータ725の動作を制御する電子機器732に電気的に接続される。
いくつかの実施形態では、基台749はまた上昇されて、記憶装置600を第2スロット716からコンベヤー・アセンブリ720内に組み込むのを助けることができる。例えば、図16は、制御電子機器732によって制御されるリニアアクチュエータ750上に基台749が設置される、搬送ステーション700”の実施形態を示す。これは搬送ステーション700”が出力搬送ステーションとして使用されるのを可能にする。例えば、ロボット300は基台749に記憶装置を送達することができる。次いで、制御電子機器732の制御下において、リニアアクチュエータ750が作動されて、記憶装置600がループ721間に受け取られるよう位置決めされるように、基台749を上昇させることができる。この場合では、電動モータ725は基台749から第1スロット714の方へ記憶装置600を送達するように駆動されてもよく、ここでは、それは例えばオペレータによって回収され得る。
図17A〜17Cは、搬送ステーション800の他の実施形態を説明する。搬送ステーション800は、ハウジング812の上面815に沿って配置される第1スロット814を備える、ハウジング812(例えば、シート金属エンクロージャ)を含む。第1スロット814は、オペレータと搬送ステーション800との間のインターフェースとして機能する。第2スロット816は、ハウジング812の第2表面817に沿って配置される。第2スロット816は、ロボット300と搬送ステーション800との間のインターフェースとして機能する。ハウジング812内に配置されるのは、コンベヤー・アセンブリ820である。コンベヤー・アセンブリ820は、記憶装置600(例えばディスクドライブ)を受け取り、保管し、かつ第1スロット814と第2スロット816との間で記憶装置600を搬送するように動作する。
図17B及び17Cに示されるように、コンベヤー・アセンブリ820は、連続ループ821、及び複数のヒンジで連結されたプラットフォーム822を含む。プラットフォーム822のそれぞれは、ループ821に接続されている第1部分823aと、第1部分823aに枢動可能に接続されている第2部分823bとを含む。プラットフォーム822の第2部分823bは、側壁856及び基部プレート858によって形成される実質的にU型の開口部855をなど、記憶装置輸送器400と類似の形状を有し、側壁856及び基部プレート858は記憶装置600を、それが第1スロット814と第2スロット816との間に搬送されるときに支持する。
ループ821はベルト(例、プラスチック又はゴムベルト)であってもよい。プラットフォーム822は金属(例、シートメタル)又はプラスチックで形成されてもよく、並びに接着剤、溶接又は金属製品(例、ネジ)を介してループ821接続されてもよい。
ループ821は回転可能なスピンドル824上に設置され、これはループ821が回転するのを可能にし、これによって第1スロット814と第2スロット816との間で記憶装置600を搬送する。ループ821は重力下において、例えば記憶装置の重量下で回転し、記憶装置600を第1スロット814から第2スロット816まで送達することができる。
第1スロット814はハウジング812内へのアクセスを提供し、これによってオペレータが記憶装置600を、例えば1つずつコンベヤー・アセンブリ820内にと取り入れることを可能にする。第2スロット816は基台849を含む。基台849は、第2スロット816の下面845の上の、上昇した位置において記憶装置600を保持するように寸法決めされる。例えばオペレータによって搬送ステーション800内に供給された記憶装置600は、第1スロット814において、例えば1つずつ基台849に、重力下においてループ821の回転を介して供給され、ここでそれらはロボット300によって回収され得る。記憶装置輸送器400が、基台849上に支持される記憶装置600の下で位置決めされることができ、かつ基台849が、記憶装置輸送器400のU型の開口部415内に収容されるように、基台849の幅は、記憶装置輸送器400の側壁418が基台849の周囲に適合するのを可能にする。
検出器834(例、任意のセンサ又はスイッチ)は基台849上の記憶装置600の存在を検出するために、第2スロット816と関連付けられる。検出器834は制御電子機器832と通信し、これは検出器834から受信した信号に基づいて第2スロット816のステータスをモニターする。
搬送ステーション800はまた、制御電子機器832と通信する作動装置835(例えばソレノイド)を含んでもよい。制御電子機器832の制御下にある作動装置835は、コンベヤー・アセンブリ820と係合するように配置され、ループ821の動作を抑制することができる。例えば、作動装置835は、プラットフォーム822を阻害するように配置され、ループ821の更なる動作を抑制する(例えば阻止する)ことができる。
ロボット300によって回収されるのを待ちながら、記憶装置600が基台849上に位置決めされているということを、例えば検出器834から受信した信号に基づいて制御電子機器832が決定したとき、制御電子機器832は、記憶装置600が基台849から取り除かれ、基台849が再び他の記憶装置600を受け入れるように準備されるまで、作動装置835を作動させてコンベヤー・アセンブリ820の更なる動作を抑制することができる。
あるいは、又はそれに加えて、搬送ステーション800は、ループ821の動作を制御するためにコンベヤー・アセンブリ820に駆動自在に接続された電動モータを含むことができる。例えば、図18A及び18Bは、電動モータ825がコンベヤー・アセンブリ820のスピンドル824のうちの1つに駆動自在に接続される搬送ステーション800’の実施形態を示す。モータシャフト830の回転はスピンドル824を駆動させる。モータ825は、モータ825の動作を制御する電子機器832を制御するように電気的に接続される。
いくつかの実施形態では、基台849もまた上昇されて、記憶装置600を第2スロット816からコンベヤー・アセンブリ820内に組み込むのを助けることができる。例えば、図19は、制御電子機器832によって制御されるリニアアクチュエータ850上に基台849が設置されている、搬送ステーション800”の実施形態を示す。これは搬送ステーション800”が出力搬送ステーションとして使用されるのを可能にする。例えば、ロボット300は基台849に記憶装置を送達することができる。次いで、制御電子機器832の制御下において、リニアアクチュエータ850が作動されて、記憶装置600が、プラットフォーム822のうちの1つの側壁856(図17C)間に受け取られるよう位置決めされるように、基台849を上昇させることができる。この場合では、電動モータ825は基台489から第1スロット814の方へ記憶装置600を送達するように駆動されてもよく、ここでは、それは例えばオペレータによって回収され得る。
いくつかの実施形態では、記憶装置試験システムは複数の入力搬送ステーション及び/又は複数の出力搬送ステーションを含む。
いくつかの場合では、記憶装置が、例えばロボットによるサービスのために記憶装置輸送器のうちの1つと共に提示されるように、搬送ステーションは記憶装置輸送器に支持される記憶装置を受け取るように構成されてもよい。
その他の実施形態は、以下の請求項の範囲内にある。
Claims (27)
- 記憶装置搬送ステーションであって、
第1スロットと、
第2スロットと、
複数の記憶装置を、該記憶装置が垂直に積層され、互いに離間された関係にあるように受け取り、かつ支持するように構成されるコンベヤー・アセンブリであって、前記コンベヤー・アセンブリは前記記憶装置を前記第1スロットと前記第2スロットとの間で搬送するように動作可能である、コンベヤー・アセンブリと
を含む、記憶装置搬送ステーション。 - 前記コンベヤー・アセンブリは、複数の記憶装置をそれらの間に受け取るように配置された一対の連続ループを含む、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。
- 前記連続ループは、ベルト、金網、又はチェーンを含む、請求項2に記載の記憶装置搬送ステーション。
- 前記コンベヤー・アセンブリは、
連続ループと、
前記連続ループから外向きに延びる複数のプラットフォームであって、前記複数のプラットフォームのそれぞれは、記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、複数のプラットフォームと
を含む、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。 - 前記複数のプラットフォームのそれぞれは、
前記連続ループに接続される第1部分と、
前記第1部分に枢動可能に接続される第2部分と
を含む、請求項4に記載の記憶装置搬送ステーション。 - アクチュエータを更に含み、前記アクチュエータは記憶装置を少なくとも部分的に前記コンベヤー・アセンブリから外へ、及び少なくとも部分的に前記第2スロット内へ前進させるように配置される、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。
- フィーダー・コンベヤーを更に含み、前記フィーダー・コンベヤーは、前記第1スロットを通じた記憶装置の移動を支援するように配置される、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。
- 前記第2スロット内の記憶装置の存在を検出するように配置された検出器と、
センサと通信する制御電子機器と
を更に含み、
前記制御電子機器は、少なくとも一部分において、前記検出器から受信される信号に基づいて前記コンベヤー・アセンブリの動作を制御するように構成される、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。 - 前記コンベヤー・アセンブリは、前記記憶装置を重力下において前記第1スロットと前記第2スロットとの間で搬送するように動作可能である、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。
- 前記コンベヤー・アセンブリに駆動自在に接続される電動モータと、
前記電動モータと通信する制御電子機器と
を更に含み、
前記制御電子機器は、前記電動モータを介して前記コンベヤー・アセンブリの動作を制御するように構成される、請求項1に記載の記憶装置搬送ステーション。 - 記憶装置試験システムであって、
1つ以上の試験ラックと、
前記試験ラックによって支持される複数の試験スロットであって、前記複数の試験スロットのそれぞれは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される、複数の試験スロットと、
記憶装置搬送ステーションと、
前記記憶装置搬送ステーションと前記複数の試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と
を含み、
前記記憶装置搬送ステーションは、
(i)第1スロットと、
(ii)第2スロットと、
(iii)複数の記憶装置を、該記憶装置が垂直に積層され、互いに離間された関係にあるように受け取り、かつ支持するように構成されるコンベヤー・アセンブリであって、前記コンベヤー・アセンブリは前記記憶装置を前記第1スロットと前記第2スロットとの間で搬送するように動作可能である、コンベヤー・アセンブリと
を含む、記憶装置試験システム。 - 前記第1スロットは、オペレータから記憶装置を受け取るように構成される、請求項11に記載の記憶装置試験システム。
- 前記第1スロットは、オペレータから1つずつ記憶装置を受け取るように構成される、請求項11に記載の記憶装置試験システム。
- 前記第2スロットは、前記自動機械装置によるサービスのために、記憶装置を提示するように構成される、請求項11に記載の記憶装置試験システム。
- 前記第2スロットは、前記自動機械装置によるサービスのために、1つずつ記憶装置を提示するように構成される、請求項11に記載の記憶装置試験システム。
- 前記第2スロットは、前記自動機械装置から記憶装置を受け取るように構成され、並びに前記第1スロットは、オペレータによる回収のために記憶装置を提示するように構成される、請求項11に記載の記憶装置試験システム。
- 前記第2スロットは、前記自動機械装置から1つずつ記憶装置を受け取るように構成され、前記第1スロットは、オペレータによる回収のために1つずつ記憶装置を提示するように構成される、請求項11に記載の記憶装置試験システム。
- 記憶装置試験システムであって、
1つ以上の試験ラックと、
前記試験ラックによって支持される複数の試験スロットであって、前記複数の試験スロットのそれぞれは、試験のために記憶装置を受け取るように構成される、複数の試験スロットと、
入力/出力ステーションと、
前記入力/出力ステーションと前記複数の試験スロットとの間で記憶装置を搬送するように構成される自動機械装置と
を含み、
前記入力/出力ステーションは、
(i)記憶装置を受け取るように、
(ii)前記受け取った記憶装置を互いに離間した関係で保管するように、及び
(iii)前記自動機械装置によるサービスのために前記記憶装置を提示するように構成される入力搬送ステーションと、
前記自動機械装置から試験された記憶装置を受け取り、前記試験された記憶装置を互いに離間した関係で保管し、かつ回収のために前記試験された記憶装置を提示するように構成される出力搬送ステーションと
を含む、記憶装置試験システム。 - 前記入力搬送ステーションは、オペレータから記憶装置を直接受け取るように構成される、請求項18に記載の記憶装置試験システム。
- 前記入力搬送ステーションは、オペレータから1つずつ記憶装置を直接受け取るように構成される、請求項18に記載の記憶装置試験システム。
- 前記出力搬送ステーションは、オペレータによる回収のために、試験した記憶装置を提示するように構成される、請求項18に記載の記憶装置試験システム。
- 前記出力搬送ステーションは、オペレータによる回収のために、試験した記憶装置を1つずつ提示するように構成される、請求項18に記載の記憶装置試験システム。
- 記憶装置を記憶装置試験システムに供給する方法であって、前記方法は、
複数の記憶装置を記憶装置搬送ステーション内に手動でローディングすることと、
自動機械装置を作動させて、前記複数の記憶装置のうちの1つの記憶装置を前記記憶装置搬送ステーションから回収することと、
前記自動機械装置を作動させて、前記1つの記憶装置を前記記憶装置試験システムの試験スロットに送達し、前記1つの記憶装置を前記試験スロット内に挿入することと
を含み、
前記記憶装置搬送ステーションは、複数の記憶装置が互いに離間した関係で維持されるように前記複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、方法。 - 前記複数の記憶装置を手動でローディングすることは、前記記憶装置を前記記憶装置搬送ステーション内へ1つずつローディングすることを含む、請求項23に記載の方法。
- 前記複数の記憶装置を手動でローディングすることは、前記搬送ステーションの第1スロットを通じて前記複数の記憶装置を前記記憶装置搬送ステーション内に供給することを含む、請求項23に記載の方法。
- 前記記憶装置搬送ステーションは、複数の記憶装置が互いに離間した関係で垂直に積層されるように前記複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、請求項23に記載の方法。
- 記憶装置搬送ステーションであって、
第1スロットと、
第2スロットと、
複数の記憶装置が互いに離間した関係で維持されるように前記複数の記憶装置を受け取り、かつ支持するように構成される、コンベヤー・アセンブリと
を含み、
前記コンベヤー・アセンブリは、重力下において前記第1スロットと前記第2スロットとの間で前記複数の記憶装置を送達するように構成される、記憶装置搬送ステーション。
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