JP2013148386A - 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法 - Google Patents

分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2013148386A
JP2013148386A JP2012007293A JP2012007293A JP2013148386A JP 2013148386 A JP2013148386 A JP 2013148386A JP 2012007293 A JP2012007293 A JP 2012007293A JP 2012007293 A JP2012007293 A JP 2012007293A JP 2013148386 A JP2013148386 A JP 2013148386A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spectral
conversion matrix
wavelength band
spectral characteristics
estimation result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012007293A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5834938B2 (ja
Inventor
Yoichi Kubota
陽一 窪田
Toshihiro Shigemori
俊宏 重森
Tadahiro Kamijo
直裕 上条
Kohei Shinpo
晃平 新保
Manabu Seo
学 瀬尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2012007293A priority Critical patent/JP5834938B2/ja
Priority to US13/741,513 priority patent/US8908176B2/en
Priority to EP20130151324 priority patent/EP2618120B1/en
Publication of JP2013148386A publication Critical patent/JP2013148386A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5834938B2 publication Critical patent/JP5834938B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/027Control of working procedures of a spectrometer; Failure detection; Bandwidth calculation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/463Colour matching
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/501Colorimeters using spectrally-selective light sources, e.g. LEDs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J2003/466Coded colour; Recognition of predetermined colour; Determining proximity to predetermined colour

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
  • Color Image Communication Systems (AREA)

Abstract

【課題】低コストで、高精度且つ高速に分光特性を取得すること。
【解決手段】測定対象物からの反射光を分光して得られる複数の波長帯の光量から、変換行列を用いた推定により前記測定対象物の分光特性を取得する分光特性取得装置であって、分光特性が既知の標準対象物から得られる前記複数の波長帯の光量及び前記既知の分光特性から第1変換行列を算出し、前記標準対象物から得られる第1波長帯及び前記第1波長帯とは異なる第2波長帯の前記既知の分光特性から第2変換行列を算出する変換行列算出手段と、前記測定対象物の分光特性を、前記複数の波長帯の光量から前記第1変換行列を用いて推定した1次推定結果と、前記第1波長帯の前記1次推定結果から前記第2変換行列を用いて推定した前記第2波長帯の2次推定結果とを合成することにより取得する分光特性取得手段と、を備える分光特性取得装置。
【選択図】図2

Description

本発明は、分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法に関する。
印刷装置やプリンタ等の画像形成装置において、色安定性や色再現性等の色調管理は重要な技術課題の一つである。近年では、色調管理のために分光光度計等の分光器を搭載した画像形成装置が実現されている。この様な画像形成装置では、印刷物表面の拡散反射光を分光器で測定した分光反射率から、CIE(国際照明委員会)で定めるXYZやL*a*b*等の測色値を求め、印刷物の色調検査や、画像形成プロセスの調整を行っている。
可視光を測定する分光器は、例えば波長400〜700nmの範囲の光を10nmピッチの波長帯ごとに検出した31以上に離散化された値を出力する。被測定面の拡散反射光を時間的、空間的に31以上に分割して光強度信号を取得するため、分光反射率の測定にある程度の時間を必要とする。したがって、例えば高速印刷を行う画像形成装置において、出力画像をその印刷速度に対応した速度でインライン測定を行うには検出速度が十分ではなく、適用が困難な場合があった。
そこで、印刷画像等、比較的分光反射率の分布がなだらかに変化する測定対象から分光反射率を測定する場合に、例えばマルチバンドと呼ばれる3〜16程度の比較的少数の波長帯の光強度信号を分光器で検出し、その検出結果から測定対象の分光反射率を推定する方法が知られている(例えば非特許文献1)。この方法によれば、4種程度の色材の組み合わせで色を再現するような印刷画像等、その分光反射率に関する統計的な情報を事前に取得できるような測定対象に限定すると、高い精度で分光反射率を推定できる。また、検出する光強度信号の数が少ないので、その検出に必要な時間を短縮でき、印刷画像のインライン測定等の高速な測定が要求される分野にも適用できる。
この様な分光器の光源としては、例えば、高安定・長寿命であり、さらに高輝度化・高効率化が進められている白色LED等が好ましい。しかし、白色LEDは青色光を発光するLEDと青色光を吸収して黄色に発光する蛍光体で構成されており、分光分布では青色と黄色の2つのピーク以外の波長帯の分光輝度が低く、可視波長全域に渡って均質に発光するものではない。この様な光源を分光器に用いて高精度な測色用途に応用した場合には、特定の色の測色精度が大きく低下してしまうという問題がある。また、高速で測定を行う場合には、取得する波長帯の光量に応じて波長帯ごとに露光時間を変えることは困難であり、特定の波長帯における分光反射率の推定精度が著しく低下するという問題がある。
そこで、例えば特許文献1には、分光反射率の分解手法と分光反射率推定モデルを用いて、印刷機などにおいてある特定の光源下で再現目標と再現出力物の色差をほぼ0とし、異なる光源下においても再現目標の分光反射率に近い再現出力物の分光反射率を導出する分光反射率導出装置が提案されている。
しかしながら、特許文献1の分光反射率導出装置では、誤差を最小化するために再現目標の分光反射率を、分光反射率の分解手法に基づいて分解処理を行う必要があり、測定対象物の分光反射率を精度良く、且つ、高速に推定するのは困難である。
また、例えば分光器の光源に測定を行う全波長領域において均質に照明可能なものを用いるか、特定の波長帯における検出感度が高いセンサ等を用いることで、上記した問題を解消できる可能性はあるものの、何れもコストが増大する虞がある。
本発明は上記に鑑みてなされたものであって、低コストで、高精度且つ高速に分光特性を取得可能な分光特性取得装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様における分光特性取得装置は、測定対象物からの反射光を分光して得られる複数の波長帯の光量から、変換行列を用いた推定により前記測定対象物の分光特性を取得する分光特性取得装置であって、分光特性が既知の標準対象物から得られる前記複数の波長帯の光量及び前記既知の分光特性から第1変換行列を算出し、前記標準対象物から得られる第1波長帯及び前記第1波長帯とは異なる第2波長帯の前記既知の分光特性から第2変換行列を算出する変換行列算出手段と、前記測定対象物の分光特性を、前記複数の波長帯の光量から前記第1変換行列を用いて推定した1次推定結果と、前記第1波長帯の前記1次推定結果から前記第2変換行列を用いて推定した前記第2波長帯の2次推定結果とを合成することにより取得する分光特性取得手段と、を備える。
本発明の実施形態によれば、低コストで、高精度且つ高速に分光特性を取得可能な分光特性取得装置を提供できる。
第1の実施形態の分光特性取得装置の構成例を示す概略図である。 第1の実施形態の分光特性取得装置の機能ブロックの一例を示す図である。 標準サンプルの分光反射率の例を示す図である。 分光特性取得装置による標準サンプルのセンサ出力例を示す図である。 標準サンプルの分光反射率の推定結果の誤差の例を示す図(1)である。 標準サンプルの分光反射率の推定結果の誤差の例を示す図(2)である。 第1の実施形態における変換行列算出処理のフローチャートを例示する図である。 分光特性取得部による1次推定結果と測定サンプルの分光反射率の例を示す図である。 分光特性取得部による2次推定結果と測定サンプルの分光反射率の例を示す図である。 1次推定結果と2次推定結果の合成例を示す図である。 分光特性取得部による推定結果と測定サンプルの分光反射率の例を示す図である。 第1の実施形態における分光特性取得処理のフローチャートを例示する図である。 第2の実施形態の分光特性取得装置の機能ブロックの一例を示す図である。 第2の実施形態における変換行列算出処理のフローチャートを例示する図である。 第1の実施形態における分光特性取得処理のフローチャートを例示する図である。 等色関数の一例を示す図である。 等色関数と白色LED光源の分光分布との比の例を示す図である。 分光特性取得部による推定結果の誤差の例を示す図(1)である。 分光特性取得部による推定結果の誤差の例を示す図(2)である。 第3の実施形態の画像評価装置の構成例を示す図である。 第4の実施形態の画像形成装置の構成例を示す図である。 分光器における分光積の例を示す図である。
以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。
<分光特性の推定方法>
本発明の実施形態について説明する前に、まず分光器の測定結果から分光特性を推定する方法について説明する。なお、本願において、分光特性とは拡散反射光の光量を波長の関数として表したものを指し、分光特性には分光反射率を含むものとする。
上述した様に、印刷画像など、比較的分光反射率の分布がなだらかに変化する測定対象の場合、マルチバンドと呼ばれる3〜16程度の比較的少数の波長帯に対してCCD(Charge Coupled Device)等の受光センサで光量を検出し、そこから分光反射率を推定できる。この様なマルチバンド分光による分光反射率の推定方法は、検出する波長帯の数が少なく、測定時間を短縮できるため、印刷画像のインライン測定等の高速な測定が要求される分野に適している。
分光反射率の推定方法は、予め分光反射率が得られている複数の色サンプルの測定結果を用いて、検出された光量から分光反射率に変換する変換行列を求め、測定サンプルから検出された光量から変換行列を用いて分光反射率の推定を行うものである。
変換行列の算出方法として、低次元線形近似法やWiener推定法、ニューラルネットワーク等を用いた非線形演算による推定法、重回帰分析による方法等が知られている。以下では、この中でも重回帰分析による変換行列の算出方法について説明する。
1つの分光センサを構成しているN個の画素からのセンサ出力vi(i=1〜N)を格納した行ベクトルvと、変換行列Gを用いて、各波長帯の分光反射率(例えば波長400nm〜700nmにおいて10nm間隔の31個)の行ベクトルrは式(1)で表される。
変換行列Gは、式(2)〜(4)に示す様に、予め分光反射率が既知な多数(n個)のサンプルの分光分布を格納した行列Rと、同サンプルを分光器で測定したときの信号出力vを格納した行列Vから、最小二乗法を用いて誤差の二乗ノルム‖・‖2を最小化することによって求められる。
Vを説明変数、Rを目的変数としたVからRへの回帰式の回帰係数行列Gは、行列Vの二乗最小ノルム解を与えるMoore-Penroseの一般化逆行列を用いて式(5)の様に計算される。
ここで、上付きtは行列の転置を、上付き−1は逆行列を表す。逆行列の算出には、一般的に知られている特異値分解法等を用いることができる。式(5)で求められるGを記憶させておくことで、実際の測定時には変換行列Gと信号出力vの積を取ることで任意の対象物の分光反射率rを推定できる。
ここで、測定対象の分光反射率をr(λ)、測定対象に光を照射する光源のスペクトルをE(λ)、結像レンズの透過率をL(λ)、回折素子の分光機能と受光素子の分光感度分布による各画素の分光透過率分布をSi(λ)とすると、マルチバンド分光センサからの出力応答viは以下の式(6)で表すことができる。
Si(λ),E(λ),L(λ)を波長ごとにかけ合わせたものを分光積といい、図22に、白色LEDのスペクトル、光学系の分光透過率、受光部に用いるCCDの分光感度特性及びこれらの積で表される分光積の例を示す。
図22に示す様に、光源として白色LEDを用いた場合には、約450nm以下の短波長領域及び約650nm以上の長波長領域において分光積が小さい。一般的に、測定対象からの反射光を受光する受光素子の出力信号には、暗電流等の影響でランダムノイズが重畳するため、分光積が小さい波長帯の光を受光する素子によって検出される出力のSN比が低下し、分光反射率の推定精度が悪化する場合がある。
しかし、以下で説明する実施形態によれば、この様な場合においても分光反射率の推定精度を向上させ、且つ、高速に分光特性の測定を行うことができる。
[第1の実施形態]
第1の実施形態の分光特性取得装置では、分光反射率の推定を行うための第1変換行列と、例えば分光積が小さい波長帯の分光反射率を精度良く推定するための第2変換行列とを用いて分光反射率の推定を行うことで、測定対象物の分光反射率を高精度且つ高速に求めることができる。
<分光特性取得装置の構成>
図1は、第1の実施形態の分光特性取得装置1の構成例を示す概略図である。
分光特性取得装置1は、光照射手段としてのライン照明光源101、第1結像光学系102、領域分割手段としての開口アレイ103、第2結像光学系104、分光手段としての回折素子105、検出手段としてのリニアセンサ106を含む分光器100と、変換行列算出部108、分光特性取得部109を含む演算手段107を有する。
光照射手段としてのライン照明光源101は、例えば紙等の表面に画像が形成された測定対象物10に、幅方向に広がりのあるライン状の光を照射する。ライン照明光源101は、可視光のほぼ全域において強度を有する白色のLED(Light Emitting Diode:発光ダイオード)アレイであるが、例えば冷陰極管等の蛍光灯やランプ光源等を用いることもできる。但し、ライン照明光源101は、分光に必要な波長領域の光を発するものであって、かつ測定領域全体に渡って均質に照明可能なものであることが好ましい。
第1結像光学系102は、セルフォック(登録商標)レンズアレイであり、測定対象物10からの反射光を開口アレイ103に結像する。第1結像光学系102には、例えばマイクロレンズアレイ等を用いることもできる。
開口アレイ103は、一列に形成された複数の開口部を有し、測定対象物10に近接して配置されている。開口アレイ103は、開口部以外の部分は光を遮る遮光部であり、ライン照明光源101によって照射され、測定対象物10からの反射光を開口部により領域分割する。開口アレイ103は、例えばピンホールアレイやスリットアレイであり、金属や黒色樹脂材料に開口部を形成したもの、ガラスや透明樹脂等に金属膜や黒色樹脂等をパターニングして塗布したもの等を用いることができる。開口部の形状は、円形、矩形に限るものではなく、楕円等その他の形状であっても良い。
第2結像光学系104は、複数枚のレンズで構成され、開口アレイ103を通過した反射光を、回折素子105を介してリニアセンサ106の受光面に結像する結像手段としての機能を有する。光学系104としては、例えば一般的なスキャナ光学系に用いられるレンズや、工業的に用いられているリニアセンサ用レンズを使用できる。図1に示す破線は、測定対象物10に照射された光が拡散反射した後の代表的な光路を模式的に示している。
リニアセンサ106は、N個の素子で構成される分光センサが複数併設されたマルチバンド分光センサであり、回折素子105を介して入射する反射光から所定の波長帯ごとの光量を取得する受光手段として機能し、取得した光量を電気信号に変換する。リニアセンサ106としては、例えばMOS(Metal Oxide Semiconductor Device)、CMOS(Complimentary Metal Oxide Semiconductor Device)、CCD(Charge Coupled Device)、PDA(Photo Diode Array)等を用いることができる。
<分光特性取得装置の機能ブロック>
図2に、第1の実施形態の分光特性取得装置1の機能ブロック図の一例を示し、各部の機能について説明する。
分光特性取得装置1のリニアセンサ106が取得した測定対象物10からの拡散反射光の光量は、演算手段107が備えるセンサ応答入力部110に送信され、センサ応答入力部110から変換行列算出部108及び分光特性取得部109に送られる。
演算手段107は、例えばCPU,ROM,メインメモリ等を含み、演算手段107に含まれる各種機能は、ROM等に記録されたプログラムがメインメモリに読み出されてCPUにより実行されることで実現できる。ただし、演算手段107の一部又は全部は、ハードウェアのみにより実現されても良く、物理的に複数の装置により構成されても良い。
≪変換行列の算出≫
変換行列算出部108では、分光反射率が既知である複数色の標準サンプルの測定結果から、式(5)に基づいて変換行列を算出する。
図3に、標準サンプルの分光反射率の例を示す。図3は、125色の異なる色の標準サンプルについて、高精度な分光器を用いて波長400nm〜700nmの間を10nm間隔で分光反射率を測定した例であり、分光特性取得装置1は予めこの様な標準サンプルの分光反射率の測定結果を記憶部111が保持している。
次に、図4に、分光特性取得装置1による標準サンプルのセンサ出力例を示す。
分光特性取得装置1のリニアセンサ106は、可視光領域の光を11画素で取得する分光センサで構成されており、バンドNoが小さい画素で可視光の短波長帯の光を、バンドNoの大きい画素で長波長帯の光を検出している。
変換行列算出部108では、図3に示す既知の分光反射率から式(2)に示す行列R1と、図4に示す標準サンプルのセンサ出力値から式(3)に示す行列V1とを作成し、式(5)に基づいて第1変換行列である変換行列G1を算出する。
この様にして算出した変換行列G1を用いて、標準サンプルのセンサ出力値から分光反射率の推定を行い、図3に示す標準サンプルの既知の分光反射率との差分を誤差として求めた結果の例を図5に示す。図5に示す様に、約450nm以下の短波長領域及び約670nm以上の長波長領域における誤差が大きい。これは、図22に示した様に分光器における分光積が小さい波長帯に相当し、SN比が小さい波長帯におけるノイズ成分が拡大したために推定精度が低下したことによる。
そこで、変換行列算出部108では、例えば標準サンプルの既知の分光反射率から、変換行列G1を用いた推定結果(1次推定結果)において誤差が大きかった波長帯400nm〜440nmの値を抽出して式(2)に示す行列R2を作成する。また、変換行列G1を用いた推定結果において誤差が小さかった450nm,550nm,650nmにおける標準サンプルの既知の分光反射率の値から式(3)に示す行列V2を作成し、式(5)に基づいて第2変換行列である変換行列G2を算出する。
図6に、変換行列G2を用いて、標準サンプルの450nm,550nm,650nmにおける1次推定値から波長帯400nm〜440nmの分光反射率の推定を行い、図3に示す既知の分光反射率との差分を誤差として求めた結果の例を示す。図6に示す様に、変換行列G2を用いることで、短波長領域(400nm〜450nm)の誤差が減少し、分光反射率の推定精度が向上していることが分かる。また、図6に示した例では、標準サンプルの波長帯670nm〜700nmにおける分光反射率の値からR2'を、標準サンプルの630nm,650nmにおける分光反射率の値から式(3)に示す行列V2'を作成し、式(5)に基づいて変換行列G2'を求め、変換行列G2'を用いた1次推定値から波長帯670nm〜700nmの分光反射率の推定を行うことで、長波長領域(670nm〜700nm)における誤差も減少している。
この様に、変換行列算出部108では、測定対象物10の分光反射率を推定するために第1変換行列G1及び第2変換行列G2を算出する。図7に示す変換行列算出処理のフローチャートの例に沿って、変換行列算出部108の処理を説明する。
まず、ステップS1にて、標準サンプルのセンサ出力をセンサ応答入力部110から取得する。次に、取得したセンサ出力及び記憶部111が保持する標準サンプルの既知の分光反射率から変換行列G1を算出する(ステップS2)。続いて、第1波長帯(例えば450nm,550nm,650nm)及び第2波長帯(例えば400nm〜440nm)における標準サンプルの分光反射率から、変換行列G2を算出する(ステップS3)。算出した変換行列G1及び変換行列G2を記憶部111に保存し、変換行列算出処理を終了する。
なお、変換行列G2の算出に使用する波長帯は上記に限るものではなく、例えば、必要とされる測色値がXYZやCIELabの場合には、推定誤差として色差ΔEが最小となる波長帯の組み合わせを選択することが好ましい。また、上記した例では短波長帯4つの波長(目的変数)の推定に3つの波長(説明変数)を用いているが、一般的には説明変数の数を目的変数の数よりも多くすることで、推定精度を向上できる。さらに、変換行列G2を算出する際に、説明変数を二乗項、交互作用項に拡張することでも推定精度を向上できる。
≪分光反射率の推定≫
測定対象物10の分光反射率は、リニアセンサ106のセンサ出力と変換行列算出部108によって算出された変換行列G1及び変換行列G2とを用いて推定により求められる。
以下において、分光特性取得部109が分光反射率の推定を行う例について説明する。
まず、分光器100のリニアセンサ106で測定サンプルの波長帯ごとの光量を取得し、取得された光量がセンサ出力としてセンサ応答入力部110に入力される。分光特性取得部109では、測定サンプルのセンサ出力から行列V1'を作成し、記憶部111に保存された変換行列G1を用いて式(1)により分光反射率R1'の1次推定を行う。
図8に、分光特性取得部109による1次推定結果と測定サンプルの分光反射率の例を示す。以下の図では、測定サンプルの分光反射率をリファレンスとして表示した。
図8に示す様に、変換行列G1を用いた1次推定結果は、約400nm〜450nmの短波長帯と、約670nm以上の長波長帯における推定結果の誤差が大きい。
次に、分光特性取得部109は、変換行列G2と1次推定値を用いて測定サンプルの分光反射率の2次推定を行う。図9は、分光特性取得部109による2次推定結果と測定サンプルの分光反射率の例である。変換行列G2を用いることで、約400〜450nmの短波長帯と、約670nm以上の長波長帯における誤差が低減されている。
最後に、分光反射率取得部109は、1次推定結果と2次推定結果とを合成することで、測定サンプルの分光反射率として取得する。
ここで、1次推定結果と2次推定結果の合成は、1次推定結果及び2次推定結果のうち少なくとも一方に重み付けをして合成する。図10に、1次推定結果と2次推定結果の合成例を示す。図10に示す例では、波長400〜430nmの4点について、1次推定結果と2次推定結果とをそれぞれ所定の重みを付与して合計して反射率を求めた結果である。
1次推定結果と2次推定結果とを単純に置換することで合成しても良いが、スペクトルの連続性が失われる場合がある。そこで、1次推定結果と2次推定結果に重み付けをした上で合成することで、スペクトルの不連続性を低減することができる。なお、1次推定結果及び2次推定結果の合成は、例えばスプライン補間等の補間方法を用いることでも、連続性を保つ様に合成することができる。
図11は、分光特性取得装置1が1次推定結果と2次推定結果とを合成して求めた分光反射率の推定結果と測定サンプルの分光反射率の例である。図11に示す様に、第1変換行列を用いた1次推定結果及び第2変換行列を用いた2次推定結果に重みを付与して合成することで、測定サンプルの分光反射率を全ての波長領域において精度良く得られていることが分かる。
分光特性取得部109における分光特性の取得処理を、図12に示すフローチャートの例に沿って説明する。
分光特性取得部109において分光反射率の推定を行う際には、まず、ステップS11にて、測定サンプルのセンサ出力から変換行列G1を用いて分光反射率の1次推定を行う。次に、ステップS12では、第2波長帯(例えば400〜440nm)における分光反射率と閾値r1(例えば25%)とを比較し、分光反射率が所定の値r1以上の場合には、ステップS17において1次推定結果を測定サンプルの分光反射率として取得し、処理を終了する。この様に、1次推定結果が十分な精度で推定されていると判断される場合には、1次推定結果を測定サンプルの分光反射率とすることもできる。
ステップS12にて第2波長帯の分光反射率がr1以下の場合には、次に測定サンプルの1次推定結果から変換行列G2を用いて分光反射率の2次推定を行い(ステップS13)、続いて1次推定結果及び2次推定結果に重みを付与する(ステップS14)。重みは、1次推定結果及び2次推定結果のどちらか一方に付与しても良く、両方に付与する様にしても良い。
次に、ステップS15にて1次推定結果と2次推定結果とを合成し、ステップS16にて合成した推定結果を測定サンプルの分光反射率として取得して処理を終了する。
以上で説明した様に、第1の実施形態の分光特性取得装置によれば、特別な光源やセンサ等を用いることなく低コストで、変換行列G1,G2を用いて求められる1次推定結果及び2次推定結果を合成することで、測定対象物の分光反射率を高精度且つ高速に取得することが可能である。
[第2の実施形態]
第2の実施形態の分光特性取得装置2は、2次推定を行うための変換行列を複数用意しておき、1次推定結果に基づいて2次推定を行う変換行列を選択して用いることで、より精度良く測定対象物の分光反射率を推定できる。
分光特性取得装置2は、図1に示す第1の実施形態と同様の構成であり、光照射手段としてのライン照明光源101、第1結像光学系102、領域分割手段としての開口アレイ103、第2結像光学系104、分光手段としての回折素子105、検出手段としてのリニアセンサ106を含む分光器100と、変換行列算出部108、分光特性取得部109を含む演算手段107を有する。
図13に、第2の実施形態の分光特性取得装置2の機能ブロックの一例を示し、変換行列算出部111による変換行列算出処理について、図14に例示するフローチャートに沿って説明する。
まず、ステップS21にて、分光器100のリニアセンサ106から複数色の標準サンプルのセンサ出力を取得し、ステップS22にて取得したセンサ出力及び標準サンプルの既知の分光反射率から変換行列G1を算出する。
ここで、例えばC(シアン)、M(マゼンタ)、Y(イエロー)がそれぞれ0,25,50,75,100%の組み合わせからなる125色の標準サンプルを用い、標準サンプルの分光反射率は、予め高精度な分光器を用いた分光反射率の測定結果を記憶部111に保存しておく。
次にステップS22にて、標準サンプルの既知の分光反射率から、式(2)に示す行列R1と、標準サンプルのセンサ出力から式(3)に示す行列V1とを作成し、式(5)に基づいて第1変換行列である変換行列G1を算出する。
また、ステップS23にて、標準サンプルの所定の色の分光反射率から、変換行列G2,G3を算出する。
変換行列G2は、Y濃度が75%,100%の標準サンプルの波長400〜440nm(第2波長帯)の分光反射率から式(2)に示す行列R2と、Y濃度が75%,100%の標準サンプルの450nm,550nm,650nm(第1波長帯)における分光反射率から、式(3)に示す行列V2とを作成し、式(5)に基づいて算出する。
変換行列G3は、Y濃度が50%,75%の標準サンプルの波長400〜440nm(第2波長帯)の分光反射率から式(2)に示す行列R3と、Y濃度が50%,75%の標準サンプルの450nm,550nm,650nm(第1波長帯)における分光反射率から、式(3)に示す行列V3とを作成し、式(5)に基づいて算出する。
最後にステップS24にて、算出した変換行列G1,G2,G3を記憶部111に保存して処理を終了する。
次に、分光特性取得部112が、記憶部111に保存された変換行列G1,G2,G3を用いて測定対象物の分光反射率の推定を行う。分光特性取得部112による測定サンプルの分光特性の推定処理について、図15に例示するフローチャートに沿って説明する。
まず、ステップS31にて、測定サンプルのセンサ出力及び変換行列G1から、式(1)により分光反射率の1次推定を行う。
続くステップS32にて、分光反射率の1次推定結果における波長450nm(第2波長帯)の分光反射率が閾値r2(例えば25%)以上である場合には、ステップS33にて1次推定結果を測定サンプルの分光反射率として取得し、処理を終了する。
次にステップS34にて、分光反射率の1次推定結果における波長450nmの分光反射率が閾値r3(例えば10%)以上であった場合には、ステップS35にて、第2変換行列として変換行列G2を選択し、測定サンプルの1次推定結果から変換行列G2を用いて式(1)により分光反射率の2次推定を行う。ステップS34にて、分光反射率の1次推定結果における波長450nmの分光反射率がr3未満であった場合には、第2変換行列として変換行列G3を選択し、測定サンプルのセンサ出力及び変換行列G3を用いて式(1)により分光反射率の2次推定を行う(ステップS36)。
続いてステップS37にて、1次推定結果及び2次推定結果の何れか一方又は両方に重みを付与し、ステップS38にて1次推定結果と2次推定結果とを合成する。最後にステップS39にて、合成した推定結果を測定サンプルの分光反射率として取得し、処理を終了する。
ここで、図16に3つの等色関数を、図17に等色関数と白色LED光源の分光分布との比の例を示す。
図17に示す様に、波長400nm〜450nmで等色関数と白色LED光源の分光分布の比が大きく、特に等色関数zの重みが大きい。リニアセンサ106においてこの波長に対応する画素のSN比が小さいと誤差が拡大され、分光反射率の推定精度が大きく低下してしまう。
図22に示すように、白色LEDの波長分布および分光積の最大ピークは460nm近傍であり、等色関数zのピークは約450nmであることから、最大のダイナミックレンジを示す約450nmの分光反射率が小さい場合には推定精度が低いことを表している。また、上記波長帯で分光反射率が小さく、約450nm近傍で分光反射率が小さくなるのは、C,M,Yで構成された色のうちY濃度が高い色であることが知られている。
そこで、変換行列算出部108においてY濃度が高い標準サンプルを用いて変換行列G2,G3の算出を行い、分光特性取得部109では約450nmの分光反射率の値に応じて第2変換行列を変換行列G2,G3から選択して分光反射率の推定を行うことで、高精度な分光反射率の推定を実現している。
上記した標準サンプルについて推定した分光反射率からCIELabを算出し、予め測色された結果との色差ΔEで評価した結果を図18に示す。図18は、分光特性取得部109による1次推定結果及び上記した処理によって得られた最終的な推定結果の各標準サンプルの色差ΔEを示している。
図18に示す1次推定結果において、色差ΔEが大きいのは主にY濃度が75%〜100%の色であるが、上記した処理により2次推定を行って1次推定結果と合成することで、推定精度が向上し、色差ΔEが大幅に低減されていることが分かる。
この様に、第2の実施形態では、変換行列算出部108が複数の変換行列を算出し、分光特性取得部109が1次推定結果に基づいて第2変換行列を複数の変換行列の中から選択して用いることで、分光特性を高精度に推定できる。
なお、1次推定結果における分光反射率の閾値は上記に限るものではなく、適宜設定することができる。また、上記例では400nm〜440nmの短波長側を対象として変換行列を算出しているが、例えば670nm〜700nmの長波長側を対象に複数の変換行列を算出し、長波長側の1次推定結果に基づいて場合分けして変換行列を選択して分光特性を推定しても良い。さらに、2次推定を行うか否かの判断を分光反射率の1次推定結果に基づいて行っているが、これに限るものではなく、例えば分光積の値やセンサ出力値に基づいて行っても良く、閾値をプリントや測定目的に応じて可変に制御しても良い。
<変換行列の算出例>
上記した例では、変換行列算出部108が第2変換行列として用いられる2つの変換行列G2,G3を算出したが、さらに複数の変換行列を算出しても良い。
例えば、変換行列の算出に以下に示す色の標準サンプルを用いて、複数の変換行列G2〜G6を算出する。
G2:Y=75%,100%の標準サンプル
G3:Y=25%(M=75%〜100%),50%(M=50%〜100%),75%の標準サンプル
G4:Y=0%(M=75%〜100%),25%(M=50%〜100%),50%(M=0%〜75%)の標準サンプル
G5:Y=0%(M=25%〜75%),25%(M=0%〜50%)の標準サンプル
G6:Y=0%(M=0%〜25%)の標準サンプル
それぞれ上記の標準サンプルを用いて波長400〜440nm(第2波長帯)の分光反射率、標準サンプルの450nm,550nm,650nm(第1波長帯)における分光反射率から、変換行列G2〜G6を算出する。
この様にして変換行列算出部108が算出した変換行列を用いて、分光反射率取得部109では、1次推定結果における分光反射率の値に応じて、第2変換行列を変換行列G2〜G6の中から選択して2次推定を行う。
第2変換行列を選択する際の分光反射率の閾値は、例えば10%未満,10%〜20%,20%〜35%,35%〜55%,55%以上の5段階に設定する。そこで、例えば波長450nmの分光反射率の値が10%未満では変換行列G2、10%〜20%では変換行列G3、20%〜35%では変換行列G4、35%〜55%では変換行列G5、55%以上では変換行列G6を用いて分光反射率の推定を行う。
この様にして算出された変換行列を用いて、標準サンプルの分光反射率の推定結果からCIELabを算出した場合の色差ΔEで評価した結果を図19に示す。図19は、分光特性取得部109による1次推定結果及び上記した処理によって得られた最終的な推定結果の各標準サンプルの色差ΔEを示している。
図19に示す様に、1次推定結果に応じて第2変換行列を変換行列G2〜G6の中から選択して用いて2次推定を行い、1次推定結果と2次推定結果とを合成することで、色差ΔEが減少し、さらに高精度に分光特性を推定できていることが分かる。
[第3の実施形態]
第3の実施形態では、分光特性取得装置を用いて画像評価装置を構成する例を示す。図20は、第3の実施形態の画像評価装置3の構成例を示す図である。
画像評価装置3は、例えば電子写真方式の画像形成装置等によって測定対象物である記録媒体10上に形成された画像を全幅に渡って評価する。画像評価装置3は、第1の実施形態の分光特性取得装置1を1つ又は測定対象物10の幅方向に複数並列して構成される。
画像評価装置3は、画像評価手段301と、記録媒体10を搬送する不図示の搬送手段とを有する。搬送手段は、図20において矢印方向に記録媒体10を搬送する。なお、画像評価装置3では、記録媒体10を移動させる様に構成しているが、画像評価装置3を測定対象物10に対して相対的に移動する様に構成しても良い。また、搬送手段としては、例えば搬送ローラ、搬送ベルト等を用いることができる。
画像評価手段301は、分光特性取得手段109によって取得された分光特性からXYZやL*a*b*等の測色データを算出し、記録媒体10上に複数色で形成された画像の色を評価する機能を有する。画像評価手段301では、既知の、若しくは記録媒体搬送機構に装着されるエンコーダセンサからの速度情報を元に、記録媒体10の画像形成部全面に渡る分光画像データを算出できる。
また、画像評価装置3は、画像評価手段301において、ラインセンサ106によって得られた測色結果とマスタ画像とを比較し、マスタ画像との差を抽出して表示することが好ましい。これによって、作業者が簡単にマスタ画像との比較を実行できる。さらに、マスタ画像としてはデジタルマスタ画像を外部から入力出来る様に構成しても良く、画像評価装置3によって測定したある記録媒体10の測定結果をマスタ画像として設定しても良い。
なお、画像評価装置3において、第1の実施形態の分光特性取得装置1に代えて、第2の実施形態の分光特性取得装置2を用いることもできる。
この様に、第3の実施形態によれば、分光特性取得装置を用いて画像評価装置を構成することで、搬送される記録媒体上に形成された画像等の対象物の色の評価を高速に行うことが可能な画像評価装置を実現できる。
[第4の実施形態]
第4の実施形態では、第3の実施形態の画像評価装置3を有する画像形成装置4の例を示す。図21は、第4の実施形態の画像形成装置4の構成例を示す図である。
図21に示す様に、画像形成装置4は、第3の実施形態の画像評価装置3と、給紙カセット401a,401bと、給紙ローラ402と、コントローラ403と、走査光学系404と、感光体405と、中間転写体406と、定着ローラ407と、排紙ローラ408とを有し、記録媒体10の表面に画像を形成する。
画像形成装置4では、給紙カセット401a,401bから図示しないガイド及び給紙ローラ402により記録媒体10を搬送する。記録媒体10の搬送に合わせて、走査光学系404が感光体405に静電潜像を形成し、静電潜像にトナーが付与されることで現像が行われる。現像されたトナー像は、中間転写体406上に1次転写され、ついで中間転写体406から搬送される記録媒体10上に2次転写される。
記録媒体10上に転写された画像は、定着ローラ407により定着され、画像が定着された記録媒体10は排紙ローラ408により排紙される。画像評価装置3は、記録媒体10に画像が形成された状態で評価を行うために、定着ローラ407の後段に設置されている。
画像形成装置4は、画像評価装置3による画像評価結果に応じ、現像、転写、定着等の各画像形成プロセス条件を適宜変更することで、常に色変動等の無い高品質画像を継続して出力することが可能になる。
なお、画像形成装置4が電子写真方式によって画像を形成する例について説明したが、インクジェット方式等の他の画像形成方式を用いた画像形成装置に画像評価装置200を設けることでも、同様の効果を得ることが可能である。
また、実施形態に係る分光特性取得装置及び画像評価装置は紙以外の例えばプラスチック等に印刷した画像等から分光特性を取得して画像を評価することが可能であり、例えば紙幣やクレジットカードの真偽や種類を評価する評価装置に応用することも可能である。
以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態に挙げた構成等に、その他の要素との組み合わせなど、ここで示した構成に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更することが可能であり、その応用形態に応じて適切に定めることができる。
1、2 分光特性取得装置
3 画像評価装置
4 画像形成装置
10 測定対象物
101 光照射手段
105 回折素子(分光手段)
106 リニアセンサ(検出手段)
108 変換行列算出部(変換行列算出手段)
109 分光特性取得部(分光特性取得手段)
301 画像評価手段
特開2009−219006号公報
津村徳道、羽石秀昭、三宅洋一、「重回帰分析によるマルチバンド画像からの分光反射率の推定」、光学、日本光学会、1998年、第27巻、第7号、P.384〜391

Claims (6)

  1. 測定対象物からの反射光を分光して得られる複数の波長帯の光量から、変換行列を用いた推定により前記測定対象物の分光特性を取得する分光特性取得装置であって、
    分光特性が既知の標準対象物から得られる前記複数の波長帯の光量及び前記既知の分光特性から第1変換行列を算出し、前記標準対象物から得られる第1波長帯及び前記第1波長帯とは異なる第2波長帯の前記既知の分光特性から第2変換行列を算出する変換行列算出手段と、
    前記測定対象物の分光特性を、前記複数の波長帯の光量から前記第1変換行列を用いて推定した1次推定結果と、前記第1波長帯の前記1次推定結果から前記第2変換行列を用いて推定した前記第2波長帯の2次推定結果とを合成することにより取得する分光特性取得手段と、
    を備えることを特徴とする分光特性取得装置。
  2. 前記分光特性取得手段は、前記1次推定結果及び前記2次推定結果のうち少なくとも一方に重みを付与して合成する
    ことを特徴とする請求項1に記載の分光特性取得装置。
  3. 前記変換行列算出手段は、色が異なる前記標準対象物から得られる前記第1波長帯の光量及び前記第2波長帯の前記既知の分光特性から複数の変換行列を算出し、
    前記分光特性取得手段は、前記第2波長帯の前記1次推定結果に基づいて前記複数の変換行列から前記第2変換行列を選択して用いる
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の分光特性取得装置。
  4. 請求項1から3の何れか一項に記載の分光特性取得装置を備えることを特徴とする画像評価装置。
  5. 請求項4に記載の画像評価装置を備えることを特徴とする画像形成装置。
  6. 測定対象物からの反射光を分光して得られる複数の波長帯の光量から、変換行列を用いた推定により前記測定対象物の分光特性を取得する分光特性取得方法であって、
    分光特性が既知の標準対象物から得られる前記複数の波長帯の光量及び前記既知の分光特性から第1変換行列を算出し、前記標準対象物から得られる第1波長帯及び前記第1波長帯とは異なる第2波長帯の前記既知の分光特性から第2変換行列を算出する変換行列算出ステップと、
    前記測定対象物の分光特性を、前記複数の波長帯の光量から前記第1変換行列を用いて推定した1次推定結果と、前記第1波長帯の前記1次推定結果から前記第2変換行列を用いて推定した前記第2波長帯の2次推定結果とを合成することにより取得する分光特性取得ステップと、
    を備えることを特徴とする分光特性取得方法。
JP2012007293A 2012-01-17 2012-01-17 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法 Active JP5834938B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012007293A JP5834938B2 (ja) 2012-01-17 2012-01-17 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法
US13/741,513 US8908176B2 (en) 2012-01-17 2013-01-15 Apparatus and method for obtaining spectral characteristics
EP20130151324 EP2618120B1 (en) 2012-01-17 2013-01-15 Apparatus and method for obtaining spectral characteristics

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012007293A JP5834938B2 (ja) 2012-01-17 2012-01-17 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013148386A true JP2013148386A (ja) 2013-08-01
JP5834938B2 JP5834938B2 (ja) 2015-12-24

Family

ID=47749612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012007293A Active JP5834938B2 (ja) 2012-01-17 2012-01-17 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8908176B2 (ja)
EP (1) EP2618120B1 (ja)
JP (1) JP5834938B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015166701A (ja) * 2014-03-04 2015-09-24 武藤工業株式会社 分光光度計を使用した紫外線硬化型インクの硬化度測定装置及びそれを使用した印刷装置
WO2016181750A1 (ja) * 2015-05-14 2016-11-17 コニカミノルタ株式会社 分光測色装置、および変換ルール設定方法
JP2018538513A (ja) * 2015-09-30 2018-12-27 カラー・グレイル・リサーチColor Grail Research 物体の反射率を決定するための方法及び関連するデバイス
JP2019138883A (ja) * 2018-02-15 2019-08-22 株式会社リコー 分光特性取得装置、画像形成装置、画像形成システム、画像形成装置の管理システム、及び画像形成装置の管理方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201000835D0 (en) * 2010-01-19 2010-03-03 Akzo Nobel Coatings Int Bv Method and system for determining colour from an image
CN103954357B (zh) * 2014-04-22 2016-04-13 中国科学院上海光学精密机械研究所 压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法
JP6641883B2 (ja) * 2015-10-28 2020-02-05 セイコーエプソン株式会社 測定装置、電子機器、及び測定方法
JP6988512B2 (ja) 2018-01-24 2022-01-05 株式会社リコー 分光特性取得装置、画像形成装置、画像形成システム
US10444074B1 (en) * 2018-03-28 2019-10-15 Datacolor Inc. Spectrum recovery in a sample
JP7087735B2 (ja) 2018-06-29 2022-06-21 株式会社リコー 分光特性取得装置、画像形成装置、及び画像形成装置の管理システム
JP2020153814A (ja) 2019-03-20 2020-09-24 株式会社リコー 分光特性取得装置
WO2020254438A1 (en) * 2019-06-18 2020-12-24 ams Sensors Germany GmbH Spectral reconstruction of detector sensitivity
US11774290B2 (en) * 2020-06-08 2023-10-03 Datacolor Inc. Compensate surface gloss in spectrum recovery
US11340156B2 (en) * 2020-09-28 2022-05-24 Datacolor Inc. Spectrum recovery in a sample
CN112033542B (zh) * 2020-11-06 2021-01-29 武汉精测电子集团股份有限公司 亮度色度测量方法、装置、设备及可读存储介质

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2002222272A1 (en) 2000-12-21 2002-07-01 Cambridge Consultants Limited Optical sensor device and method for spectral analysis
US6539323B2 (en) * 2001-05-04 2003-03-25 Electronics For Imaging, Inc. Methods and apparatus for correcting spectral color measurements
JP5181746B2 (ja) 2008-03-12 2013-04-10 凸版印刷株式会社 分光反射率導出装置、分光反射率導出方法及び分光反射率導出プログラム
JP5440110B2 (ja) 2009-03-30 2014-03-12 株式会社リコー 分光特性取得装置、分光特性取得方法、画像評価装置、及び画像形成装置
JP5655437B2 (ja) 2009-09-14 2015-01-21 株式会社リコー 分光特性取得装置
JP5609068B2 (ja) 2009-11-04 2014-10-22 株式会社リコー 分光測定装置、画像評価装置及び画像形成装置
JP5609611B2 (ja) * 2010-03-11 2014-10-22 株式会社リコー 分光特性取得装置、画像評価装置、及び画像形成装置
JP5605687B2 (ja) * 2010-06-29 2014-10-15 株式会社リコー 分光特性測定方法、分光特性測定装置及びこれを備えた画像形成装置
US20120010842A1 (en) * 2010-07-08 2012-01-12 Ofs Fitel, Llc Self-Calibration Procedure For Optical Polarimeters

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015166701A (ja) * 2014-03-04 2015-09-24 武藤工業株式会社 分光光度計を使用した紫外線硬化型インクの硬化度測定装置及びそれを使用した印刷装置
WO2016181750A1 (ja) * 2015-05-14 2016-11-17 コニカミノルタ株式会社 分光測色装置、および変換ルール設定方法
JPWO2016181750A1 (ja) * 2015-05-14 2018-03-08 コニカミノルタ株式会社 分光測色装置、および変換ルール設定方法
US10514300B2 (en) 2015-05-14 2019-12-24 Konica Minolta, Inc. Spectrocolorimetric device and conversation rule setting method
JP2018538513A (ja) * 2015-09-30 2018-12-27 カラー・グレイル・リサーチColor Grail Research 物体の反射率を決定するための方法及び関連するデバイス
JP2019138883A (ja) * 2018-02-15 2019-08-22 株式会社リコー 分光特性取得装置、画像形成装置、画像形成システム、画像形成装置の管理システム、及び画像形成装置の管理方法
JP7095304B2 (ja) 2018-02-15 2022-07-05 株式会社リコー 分光特性取得装置、画像形成装置、画像形成システム、画像形成装置の管理システム、及び画像形成装置の管理方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2618120B1 (en) 2014-05-14
EP2618120A1 (en) 2013-07-24
JP5834938B2 (ja) 2015-12-24
US20130182256A1 (en) 2013-07-18
US8908176B2 (en) 2014-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5834938B2 (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置及び分光特性取得方法
JP5605687B2 (ja) 分光特性測定方法、分光特性測定装置及びこれを備えた画像形成装置
JP6550743B2 (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置及び画像形成装置
JP5609068B2 (ja) 分光測定装置、画像評価装置及び画像形成装置
US8879057B2 (en) Spectral characteristic acquiring apparatus, spectral characteristic acquiring method and image evaluating apparatus
JP6232831B2 (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置及び画像形成装置
JP2010210456A (ja) 光学特性測定装置、分光測色装置及び画像形成装置
US10564038B2 (en) Spectral characteristic acquiring apparatus, image forming apparatus, image forming system, image forming apparatus management system, and image forming apparatus management method
US20110032553A1 (en) Color material amount determination table forming method and color material amount measurement apparatus
KR20080052262A (ko) 화상 처리 장치, 화상 판독 장치, 화상 형성 장치, 및이들의 제어 방법
CN107707783A (zh) 图像形成系统、图像读取装置及图像形成装置
JP2013061175A (ja) 分光特性取得装置及び分光特性取得方法、画像評価装置、並びに画像形成装置
JP2014048271A (ja) 演算装置及び演算方法、分光反射率取得装置、画像評価装置、並びに画像形成装置
JP5493364B2 (ja) 画像濃度計測方法及び画像濃度計測装置並びに画像形成装置
JP5499767B2 (ja) 画像特性計測方法、画像特性計測装置、画像評価装置、及び画像形成装置
JP2016102679A (ja) 分光計測装置
JP5644296B2 (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置、及び画像形成装置
US10382655B2 (en) System and method for calibrating a linear array using a calibration standard and a calibration piece with dark and light response measurements
JP2004101358A (ja) 色彩計測装置及びこれを用いた画像形成装置
JP5923979B2 (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置及び画像形成装置
JP6197318B2 (ja) 分光特性計測方法、分光特性計測装置、画像評価装置及び画像形成装置
JP3029918B2 (ja) 複写装置の露光量決定方法及び装置
JP2840503B2 (ja) 複写装置の露光量決定装置
JP2015036659A (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置及び画像形成装置
JP2013142595A (ja) 分光特性取得装置、画像評価装置及び画像形成装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141217

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150918

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151006

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151019

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5834938

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151