JP2013130519A - 電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット - Google Patents
電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013130519A JP2013130519A JP2011281467A JP2011281467A JP2013130519A JP 2013130519 A JP2013130519 A JP 2013130519A JP 2011281467 A JP2011281467 A JP 2011281467A JP 2011281467 A JP2011281467 A JP 2011281467A JP 2013130519 A JP2013130519 A JP 2013130519A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bump
- sensor element
- solder bump
- electrode
- solder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2817—Environmental-, stress-, or burn-in tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/70—Testing of connections between components and printed circuit boards
- G01R31/71—Testing of solder joints
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
【解決手段】寿命測定ユニット1は、センサ素子11、インターポーザ12、マザー基板13を備えている。インターポーザ12には、センサ素子11およびマザー基板13が接合され、電気的に接続される。センサ素子11とインターポーザ12は、線膨張係数が異なるため、接続箇所であるはんだバンプに応力が発生する。センサ素子11の短手方向の端部に配置された第2はんだバンプ53および54間の距離よりも、第2はんだバンプ53または54と第1はんだバンプ51との距離は長いため、第1はんだバンプ51に応力が集中する。第1はんだバンプ51が予め想定した温度サイクルで破断するように設定しておくことで、予め想定した温度サイクルが経過したことを検知でき、機器の寿命を測定することができる。
【選択図】図3
Description
2…インタフェース
3…制御部
11…センサ素子
12…インターポーザ
13…マザー基板
51…第1はんだバンプ
53,54…第2はんだバンプ
61,62,63,64…第3はんだバンプ
55…導通部
Claims (9)
- 第1部材と、第2部材と、判断部と、からなる電子装置であって、
前記第1部材には、導通部が設けられ、
前記第1部材の一方の端部付近には、前記導通部の一端部と電気的に接続された第1電極が設けられ、
前記第1部材の他方の端部付近には、前記導通部の他端部と電気的に接続された第2電極が設けられ、
前記第1電極には、当該電極に接続された第1バンプが設けられ、
前記第2電極には、当該電極に接続された第2バンプが設けられ、
前記第1部材は第1バンプおよび第2バンプによって前記第2部材に接着され、
前記第2バンプによって接着された部位の接着力は、前記第1バンプによって接着された部位の接着力より相対的に強く、
前記第1部材と前記第2部材は、温度に対する変形率が互いに異なり、
前記判断部は、導通が断絶したことを判断することを特徴とする電子装置。 - 前記第2バンプによって接着された部位の周囲に、接着用部材をさらに設けていることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
- 前記第2バンプを複数設け、
前記複数の第2バンプのうち隣接する任意の2つの第2バンプ間の距離よりも、前記第2バンプのうち任意の1つの第2バンプと前記第1バンプとの距離が長いことを特徴とする請求項1に記載の電子装置。 - 前記第1部材は、胴部および複数の脚部に区分され、
前記第1電極は、前記複数の脚部のそれぞれに設けられ、前記第2電極は、前記胴部に設けられ、
前記複数の脚部には、前記第1電極に接続された第1バンプが設けられ、
前記胴部には、前記第2電極に接続された第2バンプが設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。 - 前記第2部材は、第3バンプを備え、前記第3バンプを介して第3部材に電気的に接続されることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
- 前記第1部材が複数、前記第2部材に設置されることを特徴とする請求項5に記載の電子装置。
- 前記判断部の検知結果を外部に出力するインタフェースをさらに備えたことを特徴とする、請求項1から6のいずれかに記載の電子装置。
- 請求項1から7のいずれかに記載の電子装置を電源ライン上に配置し、
前記第1バンプが1つ以上の所定個数破断した場合、電源供給を停止させることを特徴とする電源制御システム。 - 電気回路を備えた基板の所定の位置に設置される部材と、前記部材に設けられた導通部と、
前記部材の一方の端部付近に設けられ、前記導通部と電気的に接続された第1電極と、前記部材の他方の端部付近に設けられ、前記導通部と電気的に接続された第2電極とを備え、
前記第1電極には、当該電極に接続された第1バンプが設けられ、
前記第2電極には、当該電極に接続された第2バンプが設けられ、
前記第2バンプによって接着された部位の接着力は、前記第1バンプによって接着された部位の接着力より相対的に強く、
前記部材と前記基板は、温度に対する変形率が互いに異なることを特徴とする寿命測定ユニット。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011281467A JP5764761B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | 電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット |
PCT/JP2012/083045 WO2013094678A1 (ja) | 2011-12-22 | 2012-12-20 | 電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011281467A JP5764761B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | 電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013130519A true JP2013130519A (ja) | 2013-07-04 |
JP5764761B2 JP5764761B2 (ja) | 2015-08-19 |
Family
ID=48668558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011281467A Expired - Fee Related JP5764761B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | 電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5764761B2 (ja) |
WO (1) | WO2013094678A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016100361A (ja) * | 2014-11-18 | 2016-05-30 | 株式会社日立製作所 | 寿命予測機能を備えた回路基板及びはんだ接続寿命予測方法 |
WO2018116611A1 (ja) * | 2016-12-20 | 2018-06-28 | 三菱電機株式会社 | 故障予測素子及びこれを用いた回路基板 |
JP2019138843A (ja) * | 2018-02-14 | 2019-08-22 | リンテック株式会社 | 歪み検出デバイス |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3092644B2 (ja) * | 1993-05-19 | 2000-09-25 | 東芝ライテック株式会社 | 電源装置 |
JP2010205821A (ja) * | 2009-03-02 | 2010-09-16 | Toshiba Corp | 電子機器および、電子機器を用いた電子部品の接続不良検出方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003101215A (ja) * | 2001-09-19 | 2003-04-04 | Ricoh Co Ltd | ハンダ接合部余命予測装置およびハンダ接合部余命予測システム |
JP4179234B2 (ja) * | 2004-06-17 | 2008-11-12 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
JP4825235B2 (ja) * | 2008-04-25 | 2011-11-30 | 三菱電機株式会社 | 接続異常検知装置およびその装置を用いた車載用電子機器 |
-
2011
- 2011-12-22 JP JP2011281467A patent/JP5764761B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-12-20 WO PCT/JP2012/083045 patent/WO2013094678A1/ja active Application Filing
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3092644B2 (ja) * | 1993-05-19 | 2000-09-25 | 東芝ライテック株式会社 | 電源装置 |
JP2010205821A (ja) * | 2009-03-02 | 2010-09-16 | Toshiba Corp | 電子機器および、電子機器を用いた電子部品の接続不良検出方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016100361A (ja) * | 2014-11-18 | 2016-05-30 | 株式会社日立製作所 | 寿命予測機能を備えた回路基板及びはんだ接続寿命予測方法 |
WO2018116611A1 (ja) * | 2016-12-20 | 2018-06-28 | 三菱電機株式会社 | 故障予測素子及びこれを用いた回路基板 |
JPWO2018116611A1 (ja) * | 2016-12-20 | 2019-04-04 | 三菱電機株式会社 | 故障予測素子及びこれを用いた回路基板 |
CN110089203A (zh) * | 2016-12-20 | 2019-08-02 | 三菱电机株式会社 | 故障预测元件及使用该故障预测元件的电路基板 |
US10837997B2 (en) | 2016-12-20 | 2020-11-17 | Mitsubishi Electric Corporation | Failure prediction device and circuit board using the same |
CN110089203B (zh) * | 2016-12-20 | 2022-03-29 | 三菱电机株式会社 | 故障预测元件及使用该故障预测元件的电路基板 |
JP2019138843A (ja) * | 2018-02-14 | 2019-08-22 | リンテック株式会社 | 歪み検出デバイス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013094678A1 (ja) | 2013-06-27 |
JP5764761B2 (ja) | 2015-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6174172B2 (ja) | コンタクトプローブ | |
JP5032213B2 (ja) | 電子機器 | |
JP5779662B2 (ja) | 力学量測定装置 | |
TWI517326B (zh) | 具有引線之基板 | |
KR102240208B1 (ko) | 검사 지그, 및 검사 장치 | |
KR101711751B1 (ko) | 프로브 카드 | |
JP5764761B2 (ja) | 電子装置、電源制御システム、および寿命測定ユニット | |
JP5343555B2 (ja) | 半導体装置、及び、はんだ接合部破壊の検出方法 | |
KR101130425B1 (ko) | 기판 구조 | |
JP5259659B2 (ja) | 電子機器 | |
JP5092054B2 (ja) | 実装基板及び故障予測方法 | |
US7311528B2 (en) | IC socket | |
WO2011152151A1 (ja) | 素子寿命予測方法及び素子寿命予測機能を備えた回路基板 | |
JP2010153672A (ja) | 半導体装置の製造装置およびその製造方法 | |
TWI518340B (zh) | 半導體晶片測試插座 | |
JP5355149B2 (ja) | 電子機器および、電子機器を用いた電子部品の接続不良検出方法 | |
US10837997B2 (en) | Failure prediction device and circuit board using the same | |
US8344521B2 (en) | Semiconductor device, semiconductor package and wiring structure | |
US20110001232A1 (en) | Flip-Chip Module and Method for the Production Thereof | |
JP2015072182A (ja) | プローブカード | |
JP2006523013A (ja) | 基板素子における電子構成素子 | |
JP2016100361A (ja) | 寿命予測機能を備えた回路基板及びはんだ接続寿命予測方法 | |
JP2010060310A (ja) | 基板検査治具及びその電極部 | |
JP2007180357A (ja) | 半導体チップ搭載用基板 | |
JPH11108989A (ja) | 半導体装置の測定方法および測定用ソケット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20130927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141202 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150202 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150310 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150401 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5764761 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |