JP2013118183A - 基板検査装置 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 149
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
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- Signal Processing (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Electroluminescent Light Sources (AREA)
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Abstract
【解決手段】内部に基板50を投入して検査するためのチャンバが形成されかつ上面に透明窓116が形成された本体110と、本体の内部に昇降自在に設けられかつ基板50を支持する支持板130と、本体の下側に設けられかつ支持板130を昇降させる昇降ユニット140と、互いに直交するX軸方向及びY軸方向に移動可能に本体110に設けられ、チャンバ内に投入された基板50を透明窓116を通して撮影する第1映像ユニット150とを含む基板検査装置。
【選択図】図1
Description
130 支持板
140 昇降ユニット
150 第1映像ユニット
160 支持フレーム
170 第2映像ユニット
Claims (15)
- 基板検査装置であって、
内部に基板を投入して検査するためのチャンバが形成されかつ上面に透明窓が形成された本体と、
前記本体の内部に昇降自在に設けられかつ前記基板を支持する支持板と、
前記本体の下側に設けられかつ前記支持板を昇降させる昇降ユニットと、
互いに直交するX軸方向及びY軸方向に移動可能に前記本体に設けられ、前記チャンバ内に投入された前記基板を前記透明窓を通して撮影する第1映像ユニットとを含むことを特徴とする基板検査装置。 - 前記本体が、
上面が開口したケースと、
前記ケースの上面に回転自在に結合され、前記ケースの前記開口した上面を開閉し、かつ前記透明窓が形成されたカバーとを含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。 - 前記ケースの1つの側面に、前記基板が投入される投入口が形成され、前記側面と対向する側面に、前記基板が取り出される取出口が形成されていることを特徴とする請求項2に記載の基板検査装置。
- 前記ケースに、前記投入口を開閉するドア及び前記取出口を開閉するドアがそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項3に記載の基板検査装置。
- 前記カバーに、前記基板に形成された電極ラインに接続することによって前記基板に電源を供給するプローブが設けられていることを特徴とする請求項2に記載の基板検査装置。
- 前記支持板と前記昇降ユニットとの間に、下側が前記昇降ユニットに連結され、上側が前記本体の下面を通過して前記支持板に連結され、かつ前記昇降ユニットによって昇降しながら前記支持板を昇降させる複数の昇降バーが設けられており、
前記支持板が、前記昇降バーに着脱自在に結合されるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。 - 前記本体の内部下面に、前記基板を撮影する第2映像ユニットが設けられており、
前記支持板において前記第2映像ユニットに対応する部位が、開口していることを特徴とする請求項6に記載の基板検査装置。 - 前記本体の内部に、支持フレームが設けられており、
前記支持板が前記支持フレームの下側に配置されたときに、前記基板の側方枠が前記支持フレームに支持されるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。 - 前記基板を搭載支持した状態で前記チャンバ内に投入するかまたは前記チャンバから取り出すための1対のロボットアームを有し、
前記1対のロボットアームのそれぞれの外側側面に、複数の突出片が形成され、
前記支持フレームの互いに対向する内側側面に、複数の貫通溝が形成され、前記ロボットアームが昇降する際に前記突出片が前記貫通溝を通過するようにしたことを特徴とする請求項8に記載の基板検査装置。 - 前記支持フレームに、前記支持フレームに支持された前記基板を整列するアライメント手段が設けられていることを特徴とする請求項9に記載の基板検査装置。
- 前記アライメント手段が、
前記支持フレームに設けられたシリンダと、
前記シリンダによって直線運動を行いながら、前記基板の外側面に接触して前記基板を移動させる接触パッドとを含むことを特徴とする請求項10に記載の基板検査装置。 - 前記シリンダが、前記支持フレームの隅部にそれぞれ設置され、
前記基板と対向する前記接触パッドの面に、前記基板の前記隅部に対応する形状の支持溝が形成されていることを特徴とする請求項11に記載の基板検査装置。 - 前記基板が前記支持フレームの所定位置に配置されたときに、前記支持板が上昇して前記基板を前記透明窓側に上昇させるようにし、
前記支持板の枠部材に、前記基板の外側面に接触することにより前記基板が前記支持板上で動くことを防止するストッパが形成されていることを特徴とする請求項12に記載の基板検査装置。 - 前記本体に、前記チャンバ内に雰囲気ガスを流入する流入管及び前記チャンバ内の雰囲気ガスを排出する排出管がそれぞれ連通して設けられていることを特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。
- 前記基板が、OLEDディスプレイであることを特徴とする請求項1ないし請求項14の何れか1項に記載の基板検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2011-0127690 | 2011-12-01 | ||
KR1020110127690A KR101298933B1 (ko) | 2011-12-01 | 2011-12-01 | 기판 검사 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013118183A true JP2013118183A (ja) | 2013-06-13 |
JP5555757B2 JP5555757B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=48497157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012256344A Expired - Fee Related JP5555757B2 (ja) | 2011-12-01 | 2012-11-22 | 基板検査装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5555757B2 (ja) |
KR (1) | KR101298933B1 (ja) |
CN (1) | CN103137514B (ja) |
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2011
- 2011-12-01 KR KR1020110127690A patent/KR101298933B1/ko active IP Right Grant
-
2012
- 2012-11-22 JP JP2012256344A patent/JP5555757B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-11-28 CN CN201210495223.0A patent/CN103137514B/zh active Active
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---|---|
JP5555757B2 (ja) | 2014-07-23 |
CN103137514A (zh) | 2013-06-05 |
CN103137514B (zh) | 2015-10-28 |
KR101298933B1 (ko) | 2013-08-22 |
KR20130061403A (ko) | 2013-06-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131111 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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