JP2013076633A - 回路基板検査装置および回路基板検査方法 - Google Patents
回路基板検査装置および回路基板検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013076633A JP2013076633A JP2011216566A JP2011216566A JP2013076633A JP 2013076633 A JP2013076633 A JP 2013076633A JP 2011216566 A JP2011216566 A JP 2011216566A JP 2011216566 A JP2011216566 A JP 2011216566A JP 2013076633 A JP2013076633 A JP 2013076633A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- circuit board
- inspection
- inspection process
- determined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】導体パターンを有する基板に電子部品が搭載された回路基板100における複数の接触点に対してプロービングされたプローブ21を介して入出力する電気信号Sに基づいて電子部品の良否を判定する検査処理を実行すると共に、検査処理において電子部品が不良と判定したときにはプロービングの再実行後に検査処理を再実行する制御部18を備え、制御部18は、検査処理を再実行する際に、直前の検査処理において不良と判定したときの不良の内容が予め決められた特定の内容に該当する電子部品だけを対象として電子部品の良否を判定する。
【選択図】図1
Description
16 測定部
18 制御部
21 プローブ
60 検査処理
101 導体パターン
100 回路基板
102a,102b,102c,102d電子部品
P1,P2,P3,P4接触点
S 電気信号
Claims (8)
- 導体パターンを有する基板に電子部品が搭載された回路基板における複数の接触点に対してプロービングされたプローブを介して入出力する電気信号に基づいて当該電子部品の良否を判定する検査処理を実行すると共に、前記検査処理において前記電子部品が不良と判定したときには前記プロービングの再実行後に前記検査処理を再実行する検査部を備えた回路基板検査装置であって、
前記検査部は、前記検査処理を再実行する際に、直前の前記検査処理において不良と判定したときの当該不良の内容が予め決められた特定の内容に該当する電子部品だけを対象として当該電子部品の良否を判定する回路基板検査装置。 - 前記検査部は、前記検査処理において前記電気信号に基づいて前記電子部品の良否および前記導体パターンの導通状態の良否の双方を判定すると共に、前記検査処理において前記導体パターンの導通状態および前記電子部品の少なくとも一方が不良と判定したときに前記プロービングの再実行後に前記検査処理を再実行する請求項1記載の回路基板検査装置。
- 前記検査部は、直前の前記検査処理において前記電子部品が接続されている前記導体パターンの導通状態が良好と判定したときには、前記検査処理を再実行する際の良否を判定する対象から当該電子部品を除外する請求項2記載の回路基板検査装置。
- 前記検査部は、前記電気信号に基づいて測定された物理量の測定値と予め決められた当該物理量の基準値との大小関係が前記電子部品の種類毎に予め決められた再実行条件を満たすときに前記特定の内容に該当すると判定する請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査装置。
- 導体パターンを有する基板に電子部品が搭載された回路基板における複数の接触点に対してプロービングしたプローブを介して入出力する電気信号に基づいて当該電子部品の良否を判定する検査処理を実行すると共に、前記検査処理において前記電子部品が不良と判定したときには前記プロービングの再実行後に前記検査処理を再実行する回路基板検査方法であって、
前記検査処理を再実行する際に、直前の前記検査処理において不良と判定したときの当該不良の内容が予め決められた特定の内容に該当する電子部品だけを対象として当該電子部品の良否を判定する回路基板検査方法。 - 前記検査処理において前記電気信号に基づいて前記電子部品の良否および前記導体パターンの導通状態の良否の双方を判定すると共に、前記検査処理において前記導体パターンの導通状態および前記電子部品の少なくとも一方が不良と判定したときに前記プロービングの再実行後に前記検査処理を再実行する請求項5記載の回路基板検査方法。
- 直前の前記検査処理において前記電子部品が接続されている前記導体パターンの導通状態が良好と判定したときには、前記検査処理を再実行する際の良否を判定する対象から当該電子部品を除外する請求項6記載の回路基板検査方法。
- 前記電気信号に基づいて測定された物理量の測定値と予め決められた当該物理量の基準値との大小関係が前記電子部品の種類毎に予め決められた再実行条件を満たすときに前記特定の内容に該当すると判定する請求項5から7のいずれかに記載の回路基板検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011216566A JP5875815B2 (ja) | 2011-09-30 | 2011-09-30 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011216566A JP5875815B2 (ja) | 2011-09-30 | 2011-09-30 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013076633A true JP2013076633A (ja) | 2013-04-25 |
JP5875815B2 JP5875815B2 (ja) | 2016-03-02 |
Family
ID=48480209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011216566A Expired - Fee Related JP5875815B2 (ja) | 2011-09-30 | 2011-09-30 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5875815B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015045548A (ja) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | 日置電機株式会社 | 基板検査装置および基板検査方法 |
JP2018189495A (ja) * | 2017-05-08 | 2018-11-29 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
JP2018194377A (ja) * | 2017-05-16 | 2018-12-06 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05126891A (ja) * | 1991-11-07 | 1993-05-21 | Fujitsu Ltd | プリント板の試験方法 |
JP2007040864A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の特性測定・選別方法および装置 |
-
2011
- 2011-09-30 JP JP2011216566A patent/JP5875815B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05126891A (ja) * | 1991-11-07 | 1993-05-21 | Fujitsu Ltd | プリント板の試験方法 |
JP2007040864A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の特性測定・選別方法および装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015045548A (ja) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | 日置電機株式会社 | 基板検査装置および基板検査方法 |
JP2018189495A (ja) * | 2017-05-08 | 2018-11-29 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
JP2018194377A (ja) * | 2017-05-16 | 2018-12-06 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5875815B2 (ja) | 2016-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4532570B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5875815B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5507363B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5208787B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5191805B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JP5988557B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5420303B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5485012B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5944121B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5844096B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP2005326193A (ja) | 基板テスト方式 | |
JP5474392B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP2014020815A (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JPH10170585A (ja) | 回路基板検査方法 | |
JP5430892B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP2013117423A (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP6943648B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP2014219335A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JP5329160B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP6169435B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP2007178154A (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP2017101947A (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP6173836B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP4282589B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP5160331B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140919 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150610 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150616 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150806 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160119 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160120 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5875815 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |