JP2012533748A5 - - Google Patents

Claims (9)

1. レーザスキャナ（１０）を用いて物体（Ｏ）を光学的に走査および測定する方法であって、標的周波数（ω₀）で変調された発光ビーム（１８）が、発光器（１７）を用いて放射され、前記レーザスキャナ（１０）の周辺で物体（Ｏ）から何らかの形で反射され、または他の形で散乱された受光ビーム（２０）が、受光器（２１）を用いて多数のサンプルとして測定クロック（ｆ_M）とともに受け取られ、それぞれの場合、少なくとも前記物体（Ｏ）からの距離（ｄ）が、制御および評価デバイス（２２）を用いて、複数の測定点（Ｘ）に対する前記多数のサンプルの位相角（Φ）から判定され、前記距離（ｄ）を判定するために、時間的に隣接するサンプルの距離差（Δｄ）によって生じる位相シフト（ΔΦ）を補正して前記距離（ｄ）を補正するという手順によって行われることを特徴とする方法。
2. 請求項１に記載の方法であって、前記物体（Ｏ）の仮想速度（ｖ）を判定して前記位相シフト（ΔΦ）を補正することを特徴とする方法。
3. 請求項２に記載の方法であって、前記仮想速度（ｖ）が、２つの時間的に隣接するサンプルの距離（ｄ）間に存在する距離差（Δｄ）および前記測定クロック（ｆ_M）から判定されることを特徴とする方法。
4. 請求項２または３に記載の方法であって、近似された位相シフト（ΔΦ）が前記仮想速度（ｖ）から判定されることを特徴とする方法。
5. 請求項４に記載の方法であって、前記サンプルの補正された距離（ｄ）が、前記近似された位相シフト（ΔΦ）から判定されることを特徴とする方法。
6. 請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法であって、前記位相シフト（ΔΦ）の前記補正が繰り返し行われることを特徴とする方法。
7. 請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法であって、距離（ｄ）が補正された前記多数のサンプルをデータ低減によって組み合わせて、前記複数の測定点（Ｘ）を形成することを特徴とする方法。
8. 請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法を実施することを特徴とするレーザスキャナ（１０）。
9. 請求項８に記載のレーザスキャナであって、前記制御および評価デバイス（２２）が前記距離（ｄ）を補正することを特徴とするレーザスキャナ。