JP5688876B2 - レーザスキャナ測定システムの較正方法 - Google Patents

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Description

本発明は、GPS(Global Positioning System)を利用して3次元データを取得するレーザスキャナ及びレーザスキャナ測定システム及び該レーザスキャナ測定システムに用いられる較正用ターゲット及びレーザスキャナ測定システムの較正方法に関するものである。
近年、カーナビゲーション等の普及により地図データとして3次元位置データ、更に3次元画像データが要求され、斯かる3次元データを取得する測量装置として、GPS、IMUを利用したレーザスキャナ測定システムが用いられている。レーザスキャナは短時間で多量の3次元データの取得が可能であり、又レーザスキャナの位置をGPSにより、又レーザスキャナの姿勢をIMUにより測定することで、地表上の3次元絶対座標を取得することが可能となる。
例えば、都市空間に於ける、構築物、構造物の3次元データを取得する場合、車両等の移動体装置にレーザスキャナ、GPS、IMU、撮像装置等を搭載し、車両が道路を走行しつつレーザスキャナにより道路周辺の3次元距離データを取得し、更にGPSで車両の位置をリアルタイムで測定することで、3次元絶対座標が測定でき、更に並行して撮像装置により画像を取得し、画像と座標データとを関連付けることで、画像付の地図データを取得することができる。
上記した様に、レーザスキャナは簡便に大量の点群データ(3次元位置座標データの集合)を収集できるが、一方で測定した点を特定することが非常に困難である。
又、レーザスキャナは、製作誤差、取付け誤差等個体差を有しており、更に測定過程で温度変化等の環境の変化があった場合も、装置の熱膨張等により測定誤差を生じる。従って、測定したデータの検証及びシステムの精度点検が非常に困難である。特に、測定途中での測定したデータの検証及びシステムの精度点検は更に困難である。
尚、距離測定装置、GPS、IMU、撮像装置を搭載し、撮影機からの映像情報を、被撮影場所の位置情報及び/又は被撮影場所の路面情報と関連付け、道路の状況や沿道の様子を直感的に把握することができる様にした空間データ収集装置については、特許文献1に示されるものがあり、又、既知の形状の測定対象物をスキャナ装置により測定し、測定結果からスキャナのキャリブレーションを行うスキャナ装置のキャリブレーション方法については、特許文献2に示されるものがある。又、レーザスキャナを用いた測量システムが特許文献3に示されている。
特開2000−194983号公報
特開2005−55311号公報
特開2008−82707号公報
本発明は斯かる実情に鑑み、測定した点の特定や点検が容易に行え、又レーザスキャナ測定システムのキャリブレーションを簡単に実施できる様にするものである。
本発明は、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナであって、前記制御部は前記測距受光部が受光する反射パルスレーザ光線の光量のレベル検出により前記対象物の判別を行う様にしたレーザスキャナに係るものである。
又本発明は、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナと、既知の形状の高反射率を有する反射部を有する較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記反射部の中心位置を求める様にしたレーザスキャナ測定システムに係るものである。
又本発明は、前記較正用ターゲットを測定すべき位置に設置し、前記レーザスキャナにより、前記較正用ターゲットの中心位置を測定することで、前記測定すべき位置を測定する様にしたレーザスキャナ測定システムに係るものである。
又本発明は、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナと、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、既知の位置に設置された較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記反射部の中心位置を求め、求めた中心位置と前記既知の位置とに基づきレーザスキャナ測定システムの較正を行うレーザスキャナ測定システムの較正方法に係るものである。
又本発明は、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナと、該レーザスキャナが設置された移動体と、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、既知の位置に設置された少なくとも2つの較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記較正用ターゲットそれぞれの前記反射部の中心位置を求め、求めた中心位置に基づき2つの前記較正用ターゲット間の距離を演算し、演算した該較正用ターゲット間の距離と既知の前記較正用ターゲット間の距離との比較に基づきレーザスキャナ測定システムの較正を行うレーザスキャナ測定システムの較正方法に係るものである。
又本発明は、パルスレーザ光線を所定範囲に走査し、各パルス光の反射光を受光して点群データを取得するレーザスキャナに用いられるターゲットであって、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、該反射部は前記パルス光が前記反射部の相対向するエッジの各エッジの周辺に少なくとも3点が照射される様になっている較正用ターゲットに係るものである。
本発明によれば、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナであって、前記制御部は前記測距受光部が受光する反射パルスレーザ光線の光量のレベル検出により前記対象物の判別を行う様にしたので、簡単に対象物の判別が可能であり、又測距と対象物との関連付けを容易に行える。
又本発明によれば、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナと、既知の形状の高反射率を有する反射部を有する較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記反射部の中心位置を求める様にしたので、簡単に対象物の判別が可能であり、又測距と対象物との関連付けを容易に行える。
又本発明によれば、前記較正用ターゲットを測定すべき位置に設置し、前記レーザスキャナにより、前記較正用ターゲットの中心位置を測定することで、前記測定すべき位置を測定する様にしたので、従来のレーザスキャナでは、測定することができなかった特定点の測定が可能となる。
又本発明によれば、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナと、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、既知の位置に設置された較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記反射部の中心位置を求め、求めた中心位置と前記既知の位置とに基づきレーザスキャナ測定システムの較正を行うので、レーザスキャナ側には大きな変更を加えることなく、受光のレベル検出のみで簡単に反射部の特定、反射部の中心位置の検出ができ、更にレーザスキャナ測定システムの較正を行うことができる。
又本発明によれば、パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備するレーザスキャナと、該レーザスキャナが設置された移動体と、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、既知の位置に設置された少なくとも2つの較正用ターゲットとを備え、前記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線を光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記較正用ターゲットそれぞれの前記反射部の中心位置を求め、求めた中心位置に基づき2つの前記較正用ターゲット間の距離を演算し、演算した該較正用ターゲット間の距離と既知の前記較正用ターゲット間の距離との比較に基づきレーザスキャナ測定システムの較正を行うレーザスキャナ測定システムの較正方法なので、レーザスキャナ側には大きな変更を加えることなく、受光のレベル検出のみで簡単に反射部の特定、反射部の中心位置の検出ができ、更にレーザスキャナ測定システムの較正を行うことができ、更に較正用ターゲットを点群データの取得範囲内に設置しておけば、測定と較正の両方を並行して実行できる。
又本発明によれば、パルスレーザ光線を所定範囲に走査し、各パルス光の反射光を受光して点群データを取得するレーザスキャナに用いられるターゲットであって、既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、該反射部は前記パルス光が前記反射部の相対向するエッジの各エッジの周辺に少なくとも3点が照射される様になっているので、反射光の受光光量のレベル検出結果に基づき簡単に反射部の形状、及び反射部の中心位置が検出可能となる等の優れた効果を発揮する。
以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。
図1、図2は、本発明に係るレーザスキャナ測定システムの概略を示している。
1は車両等の移動装置であり、該移動装置1には全方位カメラ2、レーザスキャナ3、GPS4、慣性計測センサ5及び制御装置6等3次元データを取得するのに必要な装置が搭載されている。
前記全方位カメラ2は、前記移動装置1の走行に対して前方、側方の景色を撮像し、画像データとして出力するものであり、前記レーザスキャナ3は走行方向に対して直交する方向にパルスレーザ光線を照射し、又該パルスレーザ光線を上下方向にスキャンさせて点群データを取得するものであり、前記GPS4は衛星からの位置情報を取得し、前記移動装置1(レーザスキャナ3)の現在位置を測定するものであり、前記制御装置6は、前記全方位カメラ2、前記レーザスキャナ3、前記GPS4、前記慣性計測センサ5からのデータを基に3次元座標データ及び3次元画像データを演算作成するものである。
図3、図4は、前記移動装置1に搭載される前記レーザスキャナ3の一例を示すものである。
以下、該レーザスキャナ3について説明する。尚、図4は便宜上、図3に対して回転照射部9(後述)のみ側方から見た状態を示している。
本体部ケーシング11の内部に鏡筒12が設けられる。該鏡筒12は、前記本体部ケーシング11の中心線と同心であり、該中心線は鉛直方向に延び、前記本体部ケーシング11に所要の手段で取付けられる。例えば、前記鏡筒12の上端にフランジ13が形成され、該フランジ13が前記本体部ケーシング11の天井部に固着される。又前記本体部ケーシング11の内部の所要位置には前記レーザスキャナ3の作動を制御する制御部10が設けられている。
前記鏡筒12は前記中心線と合致する発光光軸14を有し、該発光光軸14上に光学的分離手段であるビームスプリッタ15が設けられる。該ビームスプリッタ15は、可視光を透過し、赤外光を反射するものであり、前記ビームスプリッタ15により、前記発光光軸14から反射光軸16と撮像光軸17に分離されている。
前記反射光軸16上に測距部20が設けられる。
前記反射光軸16上に発光素子18が設けられ、前記反射光軸16上に孔明きミラー19が配設されている。該孔明きミラー19は前記反射光軸16を分岐し、該分岐光軸上には測距受光部21が設けられている。
前記発光素子18からはパルスビームが発せられる。前記発光素子18は、例えば半導体レーザ等であり、測距光22としての赤外光のパルスレーザ光線を発し、前記制御部10によって所要の状態でパルスレーザ光線が発光される様に制御される。該パルスレーザ光線は前記孔明きミラー19を通過し、前記ビームスプリッタ15により高低回動ミラー23に向け反射され、該高低回動ミラー23を経て測定対象物に照射される様になっている。前記高低回動ミラー23は偏向光学部材であり、前記発光光軸14上に配設され、該発光光軸14には集光レンズ24が配設されている。前記高低回動ミラー23は鉛直方向の前記発光光軸14を水平方向の投光光軸25に偏向する。
前記測距受光部21には測定対象物からの反射測距光が前記高低回動ミラー23、前記孔明きミラー19を経て入射される。又、前記測距受光部21には、前記測距光22の分割された一部が内部参照光(図示せず)として入射する様になっており、反射測距光と内部参照光とに基づき測定対象物迄の距離を測定する様になっている。
前記発光素子18、前記孔明きミラー19、前記集光レンズ24、前記高低回動ミラー23、前記反射光軸16等は前記測距部20を構成する。
前記発光光軸14の前記ビームスプリッタ15を通過した部分は前記撮像光軸17であり、該撮像光軸17上には画像受光部26が設けられ、該画像受光部26は前記鏡筒12の底部に位置する。
前記画像受光部26は多数の画素が平面上に集合されたもの、例えばCCD、CMOSであり、各画素は前記分岐光軸を中心として位置が特定されている。又画素の位置の特定は、例えば前記画像受光部26の受光面上に光軸を原点としたX−Y座標が想定され、X座標、Y座標によって特定される。更に、前記測距受光部21に入射する光線の角度は前記画像受光部26の画素の位置によって特定され、画角として表される。
前記高低回動ミラー23、前記集光レンズ24、前記画像受光部26等は、撮像部27を構成する。
測定対象物からの撮像光は、前記投光光軸25と一致する前記撮像光軸17に沿って前記高低回動ミラー23に入射され、該高低回動ミラー23により反射された後、前記集光レンズ24、前記ビームスプリッタ15を透過して前記画像受光部26に受光され、画像が取得される。
前記本体部ケーシング11の上側に上部ケーシング28が設けられ、該上部ケーシング28の側壁の一部は投光窓29となっている。前記回転照射部9は前記上部ケーシング28の内部に収納される。
以下、前記回転照射部9について説明する。
前記フランジ13の上端にミラーホルダ30が設けられ、該ミラーホルダ30に回動軸31を介して前記高低回動ミラー23が回転自在に設けられ、該高低回動ミラー23の一方の軸端に高低回動ギア32が嵌着され、前記回動軸31の他方の軸端には高低角検出器33が設けられている。該高低角検出器33は前記高低回動ミラー23の回動角(回動位置)を検出し、前記制御部10に検出結果を送出する様になっている。
前記ミラーホルダ30には高低回動モータ34が取付けられ、該高低回動モータ34の出力軸に高低回動駆動ギア35が嵌着され、該高低回動駆動ギア35は前記高低回動ギア32に噛合している。
前記本体部ケーシング11の内部には、前記制御部10が設けられており、該制御部10によって前記発光素子18の発光タイミングが制御され、又前記高低回動モータ34の駆動が制御される。更に、前記高低角検出器33の検出角と同期して前記発光素子18のパルス発光が制御され、前記高低回動ミラー23を介して前記測距光22が前記投光窓29より照射される様になっている。又、前記高低回動モータ34により前記高低回動ミラー23を上下方向に往復回転させることで、前記測距光22は上下方向に定速で往復走査される。
又、前記測距光22の発光は、前記高低角検出器33の角度検出と同期されることから、最小の発光角度間隔(照射分解能)は、前記発光素子18の発光間隔(発光能力)、前記高低回動ミラー23の角速度、前記高低角検出器33の角度検出の応答性等によって決定され、例えば高低角1°ステップとなる。
次に、図5に於いて、前記レーザスキャナ3の制御系の構成について説明する。
前記制御部10には、前記レーザスキャナ3の傾斜を検出する傾斜センサ37、前記高低角検出器33からの信号が入力され、又前記測距部20からの測距データ、前記撮像部27からの画像データが入力される。操作部38からは、作業者が前記レーザスキャナ3の測定を開始するのに必要な条件、測定開始の指令等を入力できる様になっている。尚、前記操作部38は前記本体部ケーシング11等の筐体に設けられても、或は別途独立して設けられたものであっても、或はPCのキーボードであってもよい。
前記制御部10は前記発光素子18、前記高低回動モータ34を駆動すると共に作業状況、測定結果等を表示部39に表示する。尚、該表示部39は、前記本体部ケーシング11に設けられたものであってもよく、或は前記PCのディスプレイであってもよい。
前記制御部10の概略を説明する。
該制御部10は、CPUで代表される演算部41と、測距、高低角の検出、水平角の検出をする為に必要な測量データを得る為、前記発光素子18の発光を制御し、前記高低回動モータ34等を制御するシーケンスプログラム、得られたデータを演算し、距離、3次元データを求める等する演算プログラム、距離データを処理する距離データプログラム、反射測距光の受光レベルから較正用ターゲットの検出、該較正用ターゲットの中心検出を行うターゲット検出プログラム、データを前記表示部39に表示させる為の画像表示プログラム等のプログラム、或はこれらプログラムを統合管理するプログラム等を格納し、更に測定データ、画像データ等のデータを格納する記憶部42と、前記高低回動モータ34を駆動制御する為の高低駆動部43と、前記発光素子18の発光を制御する発光駆動部44及び前記測距部20により得られた距離データを処理する為の距離データ処理部45と、前記撮像部27により得られた画像データを処理する画像データ処理部46等を具備している。
前記演算部41は、前記シーケンスプログラム、前記演算プログラム、前記距離データプログラム、前記画像処理プログラム、前記画像表示プログラム、前記ターゲット検出プログラムに基づき、必要な処理を実行する。
尚、前記距離データ処理部45、前記画像データ処理部46の機能を前記演算部41に実行させてもよく、この場合前記距離データ処理部45と前記画像データ処理部46は省略できる。又、前記距離データ処理部45、前記画像データ処理部46を個別に具備することで、距離データ処理と、画像データ処理とを並行して実行でき、高速処理が可能となる。
而して、前記発光素子18よりパルスレーザ光線が照射され、各パルスレーザ光線毎に測距が行われる。又、前記高低回動ミラー23が上下方向に往復回転され、前記パルスレーザ光線を上下方向に往復又は回転走査し、更に前記移動装置1が所定の速度で進行することで、進行方向に対して両側沿道の測距データ群(点群データ)が得られる。又、点群データの1つ1つの測距データについて前記高低角検出器33によって高低角が検出され、更に発光時間(測距した時点の時間)が取得され、又、各測距データの測距時の精度機械の中心の絶対座標値が検出され、1つ1つの測距データは高低角と絶対座標測定時間とが関連付けられて前記記憶部42に記憶される。
前記測距データの上下(高低)方向のピッチは、前記高低回動ミラー23の回転速度と前記発光素子18の照射時間間隔によって決定され、前記測距データの水平方向のピッチは前記高低回動ミラー23の往復回転の回転周期と前記移動装置1の移動速度によって決定される。
尚、上下方向のピッチは、例えば1°角度ピッチとすると10m先で約20cmとなり、回転周波数は75Hzとして前記移動装置1の移動速度を5km/hとすると、水平ピッチは約2cmとなる。
又、測距と同期して所定時間間隔で、前記画像受光部26により沿道に沿った画像を取得し、取得した画像を前記測距データと、測定時間と関連付けて前記記憶部42、又は前記制御装置6に記憶させる。
尚、図3、図4の如く前記投光光軸25と前記撮像光軸17とが合致していると、測距データと画像とのマッチングが容易である。尚、図1に示した様に、前記撮像部27を前記全方位カメラ2として独立して設けてもよい。
図6に於いて較正用ターゲット48の一例を説明する。
所要形状のボード49に既知の直径Aを有する円形の反射部50を形成する。該反射部50の反射率は前記ボード49或は他の自然物の表面(例えば建築物の壁面)の反射率に比べ著しく大きくなっており、例えば前記自然物の表面の反射率が〜50%であるのに対して、前記反射部50の反射率は80%とする。
又、該反射部50に使用される材質としては、微小なプリズムが表面に分布された再帰性反射シートが用いられる。尚、該再帰性反射シートの反射率は、70%〜90%である。
図7は他の較正用ターゲット51を示しており、該較正用ターゲット51では、円形のボード52に反射部53(53a,53b,53c)が同心多重円状に形成されたものである。尚、該反射部53についても、高反射率を有する材質、例えば、前記較正用ターゲット48に用いられた再帰性反射シートが用いられる。又、それぞれの円の直径は既知となっている。
図8を参照してレーザスキャナ、レーザスキャナ測定システムの作用について説明する。
先ず既知の直径Aの反射部50を有する較正用ターゲット48a、較正用ターゲット48bを前記移動装置1の進行方向に沿って既知の位置、既知の間隔Dで設置する。
前記測距光22を上下方向に往復又は回転走査しながら、前記移動装置1が所定速度で進行する。
前記測距光22が、前記較正用ターゲット48aを走査した時の該較正用ターゲット48aと反射測距光との関係を図9(A)、図9(B)に示す。図9(A)に示される黒点、白点はそれぞれ反射測距光22a′,22b′を示しており、前述した様に上下方向のピッチPVは、射出パルスの高低方向の角度ピッチで決定され、水平方向のピッチPHは、前記高低回動ミラー23の回転周期と前記移動装置1の移動速度で決定される。
前記測距光22が前記反射部50以外で反射された場合と、該反射部50で反射された場合では、図9(B)に示される様に前記反射測距光22a′,22b′の光量に著しい差異がある。尚、図9(B)は、図9(A)の最下段の受光信号を示している。
従って、前記測距受光部21からの受光検出信号に対して検出レベルLを前記反射測距光22b′の受光レベル及び自然物の表面からの反射光受光レベルより充分大きく設定すると、前記反射部50からの反射信号のみを抽出できる。即ち、前記較正用ターゲット48aからの反射信号のみを検出することができる。
更に、前記反射測距光22a′の反射点は左右各半円に対して3点、計6点あることが好ましい。従って、前記反射部50の直径は、計6点が得られる様に、前記移動装置1が通過した場合の該移動装置1迄の距離、該移動装置1の移動速度、高低方向の角度ピッチ等の測定条件を勘案して設定される。
前記反射部50の周縁に沿った3点の反射光を受光することで、水平方向の前記較正用ターゲット48aに対する前記測距光22の移動速度、或は上下方向の移動速度が既知とすると、測距点の位置、測距データに基づき、前記反射部50の円弧の位置(形状)が演算できる。即ち、前記反射測距光22a′の測距位置と前記反射部50の円弧(円周)との距離Gは、例えば水平方向で、G<┃PH┃又求められる点が直径Aの円弧状にある等の条件から円の中心位置が演算できる。
従って、前記較正用ターゲット48aの前記反射部50の中心位置データO1 (3次元位置データ)が演算により求められる。
同様にして、前記較正用ターゲット48bの反射部50の中心位置データO2 (3次元位置データ)が演算により求められる。
更に、前記中心位置データO1 と前記中心位置データO2 の3次元位置データより、前記較正用ターゲット48aと前記較正用ターゲット48bの中心位置間隔Daが演算により求められる。
ここで、求められた前記中心位置データO1 、前記中心位置データO2 はレーザスキャナ測定システムが持っている個体誤差を含んでいる。従って、前記中心位置データO1 、前記中心位置データO2 と既知の位置と比較することで、或は求められた中心位置間隔Daと既知の間隔Dとを比較することで、前記レーザスキャナ測定システムが持っている個体誤差を検出することができ、検出した誤差に基づき前記レーザスキャナ測定システムを較正することができる。
尚、前記反射部50の中心位置の検出結果は、前記全方位カメラ2で撮像した画像と測定データとの関連付けに用いてもよい。
前記較正用ターゲット51を用いた場合も同様であり(図10参照)、該較正用ターゲット51を用いた場合、受光した反射光をレベル検出することで、前記反射部53(53a,53b,53c)が直接検出される。
該反射部53(53a,53b,53c)が検出されることで該反射部53の中心位置が検出でき、上記したと同様に前記レーザスキャナ測定システムの較正を行うことができる。
尚、前記較正用ターゲット48を用いて前記レーザスキャナ測定システムの較正のみを行ってもよく、或は測定範囲に予め、前記較正用ターゲット48を設置し、測定途中に該較正用ターゲット48からの反射光を受光できる様にし、測定途中に、前記較正用ターゲット48を用いた較正工程を組込み、測定しながら測定データの較正を行ってもよい。
又、前記発光素子18がRGBも検出できる様にすると、光量レベルによる判定で前記較正用ターゲット48の検出ではなく、色相、色彩判断による前記較正用ターゲット48の検出が可能となる。
尚、前記反射部50の形状は、円に限らず、楕円、或は正方形等既知の形状であればよい。又、前記反射部50の大きさは、レーザ光線のスキャンピッチとの関係に於いて、前記反射部50のエッジの形状を検出できる様、相対向するエッジの各エッジの周辺に少なくとも3点が照射される様になっていればよい。
又、上記説明では沿道の一方の側のみの測定について説明したが、前記レーザスキャナ3が左右両側を同時に測定できるものを用いれば、沿道の両側の点群データを同時に測定することができる。尚、前記較正用ターゲット48は3以上適宜位置に設け、適宜較正をしながら点群データを取得する様にしてもよい。
又、前記反射部50の中心を測定したい点と合致させて前記較正用ターゲット48を設置することで、従来のレーザスキャナ測定システムでは測定できなかった、或は直接には測定できなかった特定点の測定が可能となる。
更に上述したレーザスキャナ3を鉛直軸心を中心に全周回転可能とすると全周囲についての点群データを取得することができる。
本発明の実施の形態に係るレーザスキャナ測定システムに用いられる移動装置の正面図である。 本発明の実施の形態に係るレーザスキャナ測定システムに用いられる移動装置の側面図である。 該レーザスキャナ測定システムに用いられるレーザスキャナの一例を示すレーザスキャナの断面図である。 該レーザスキャナ測定システムに用いられるレーザスキャナの一例を示すレーザスキャナの断面図である。 該レーザスキャナの制御系を示すブロック図である。 本発明の実施の形態に係るレーザスキャナ測定システムに用いられる較正用ターゲットの正面図である。 本発明の実施の形態に係るレーザスキャナ測定システムに用いられる他の較正用ターゲットの正面図である。 本発明の実施の形態に係るレーザスキャナ測定システムの概略を示す斜視図である。 前記較正用ターゲットを用いた場合の反射光の状態を示す説明図である。 前記他の較正用ターゲットを用いた場合の反射光の状態を示す説明図である。
符号の説明
1 移動装置
2 全方位カメラ
3 レーザスキャナ
4 GPS
5 慣性計測センサ
9 回転照射部
10 制御部
14 発光光軸
17 撮像光軸
18 発光素子
20 測距部
21 測距受光部
22 測距光
27 撮像部
41 演算部
42 記憶部
48 較正用ターゲット
49 ボード
50 反射部
51 較正用ターゲット
52 ボード
53 反射部

Claims (2)

  1. 移動装置に設けられ、該移動装置の進行方向に対して直交する方向にパルスレーザ光線を照射し、上下に走査し、点群データを取得するレーザスキャナと、
    前記移動装置に設けられ前記レーザスキャナの位置の3次元座標を測定するGPSと、
    前記移動装置に設けられ前記レーザスキャナの姿勢を検出する慣性計測センサと、
    前記移動装置の進行方向に沿って、既知の位置に設置され既知の形状の高反射率を有する反射部を有し、該反射部の中心の3次元座標が既知である較正用ターゲットとを備え、
    前記レーザスキャナは、前記パルスレーザ光線を発する発光素子と、前記パルスレーザ光線を走査する回転照射部と、測距受光部を有し、対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光素子、前記測距部を駆動制御する制御部を具備したレーザスキャナ測定システムに於いて、
    前記移動装置により移動しつつ前記レーザスキャナにより進行方向の側方の点群データを取得するステップと、
    取得した点群データについて反射パルスレーザ光線の光量レベルによる判別で前記較正用ターゲットを検出し、判別結果に基づき該較正用ターゲットの中心を検出するステップと、
    前記較正用ターゲットを測距するステップと
    めた中心位置と前記GPSが測定した前記レーザスキャナの3次元座標と、
    前記慣性計測センサにより求めた前記レーザスキャナの姿勢と、
    前記較正用ターゲットの測距結果とに基づき、
    前記求めた中心位置の3次元座標を演算するステップと、
    演算で求めた中心位置の3次元座標と前記既知の中心位置の3次元座標との偏差を求め、
    該偏差に基づき前記点群データの較正を行うステップとを有することを特徴とするレーザスキャナ測定システムの較正方法。
  2. 記制御部は前記測距受光部が受光する前記反射部からの反射パルスレーザ光線と前記反射部以外からの前記反射パルスレーザ光線とを光量のレベル検出により判別し、判別結果に基づき前記反射部の形状を演算し、該形状から前記反射部の中心位置を求める様にした請求項1のレーザスキャナ測定システムの較正方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10670697B2 (en) 2015-09-30 2020-06-02 Sony Corporation Signal processing apparatus, signal processing method, and object detection system

Families Citing this family (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006031580A1 (de) 2006-07-03 2008-01-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen eines Raumbereichs
USRE46672E1 (en) 2006-07-13 2018-01-16 Velodyne Lidar, Inc. High definition LiDAR system
JP5081014B2 (ja) * 2008-02-28 2012-11-21 株式会社トプコン ターゲット及びこれを用いた三次元形状測定装置
JP5688876B2 (ja) 2008-12-25 2015-03-25 株式会社トプコン レーザスキャナ測定システムの較正方法
DE102009010465B3 (de) 2009-02-13 2010-05-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Laserscanner
US9551575B2 (en) 2009-03-25 2017-01-24 Faro Technologies, Inc. Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver
DE102009015920B4 (de) 2009-03-25 2014-11-20 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009035337A1 (de) 2009-07-22 2011-01-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen eines Objekts
DE102009038964A1 (de) * 2009-08-20 2011-02-24 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
GB2473668B (en) * 2009-09-22 2011-08-31 Guidance Ip Ltd A position reference sensor
DE102009057101A1 (de) 2009-11-20 2011-05-26 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009055989B4 (de) 2009-11-20 2017-02-16 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9210288B2 (en) 2009-11-20 2015-12-08 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals
US9529083B2 (en) 2009-11-20 2016-12-27 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector
US9113023B2 (en) 2009-11-20 2015-08-18 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector
DE102009055988B3 (de) 2009-11-20 2011-03-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9879976B2 (en) 2010-01-20 2018-01-30 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features
CN102597895A (zh) 2010-01-20 2012-07-18 法罗技术股份有限公司 便携式关节臂坐标测量机以及集成环境记录器
US9628775B2 (en) 2010-01-20 2017-04-18 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US9607239B2 (en) 2010-01-20 2017-03-28 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US9163922B2 (en) 2010-01-20 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machine with distance meter and camera to determine dimensions within camera images
DE102010020925B4 (de) 2010-05-10 2014-02-27 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
WO2012010839A1 (en) * 2010-07-22 2012-01-26 Renishaw Plc Laser scanning apparatus and method of use
DE102010032725B4 (de) 2010-07-26 2012-04-26 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032723B3 (de) 2010-07-26 2011-11-24 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032726B3 (de) 2010-07-26 2011-11-24 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010033561B3 (de) 2010-07-29 2011-12-15 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9168654B2 (en) 2010-11-16 2015-10-27 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring machines with dual layer arm
CN102313557B (zh) * 2011-04-11 2013-09-25 广东省计量科学研究院 手持式激光测距仪检校仪
US8711222B2 (en) 2011-04-27 2014-04-29 Georgetown Rail Equipment Company Method and system for calibrating laser profiling systems
EP2518709B1 (de) * 2011-04-28 2013-06-12 Sick Ag Diebstahlabsicherungsvorrichtung und Verfahren zur Erkennung von unberechtigten Eingriffen und Zutritten
DE102011053212B3 (de) * 2011-09-02 2012-10-04 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich
US10360315B2 (en) * 2011-10-03 2019-07-23 Hitachi, Ltd. Construction field management method and construction field management device
US20150009486A1 (en) * 2011-10-11 2015-01-08 Alexander Potemkin Imaging System
DE102012100609A1 (de) 2012-01-25 2013-07-25 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102012102651B3 (de) * 2012-03-27 2013-07-18 Jenoptik Robot Gmbh Prüfvorrichtung und Prüfverfahren für ein Verkehrsüberwachungsgerät mit einem Laserscanner
JP6111618B2 (ja) * 2012-06-29 2017-04-12 株式会社リコー レーザ装置の光軸調整装置及び光軸調整方法
JP6264718B2 (ja) * 2012-06-29 2018-01-24 株式会社リコー レーザレーダの調整方法
US8997362B2 (en) 2012-07-17 2015-04-07 Faro Technologies, Inc. Portable articulated arm coordinate measuring machine with optical communications bus
JP2014020978A (ja) * 2012-07-20 2014-02-03 Fujitsu Ltd 照射装置、距離測定装置、照射装置のキャリブレーションプログラム及びキャリブレーション方法
KR101380888B1 (ko) * 2012-07-24 2014-04-02 현대모비스 주식회사 차간 거리 산출 장치 및 방법
DE102012107544B3 (de) 2012-08-17 2013-05-23 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9551784B2 (en) * 2012-09-04 2017-01-24 Honeywell International Inc. Intrusion detection
DE102012109481A1 (de) 2012-10-05 2014-04-10 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9513107B2 (en) 2012-10-05 2016-12-06 Faro Technologies, Inc. Registration calculation between three-dimensional (3D) scans based on two-dimensional (2D) scan data from a 3D scanner
US10067231B2 (en) 2012-10-05 2018-09-04 Faro Technologies, Inc. Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner
JP6069628B2 (ja) * 2012-12-03 2017-02-01 北陽電機株式会社 偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置
JP6181388B2 (ja) * 2013-03-08 2017-08-16 株式会社トプコン 計測装置
FI124723B (en) * 2014-02-11 2014-12-31 Suokas Avionics Oy An airplane security procedure and a method to identify the type of landing platform
US9233568B1 (en) 2014-06-25 2016-01-12 Xerox Corporation Cross-process direction uniformity for wide format printers
JP6073944B2 (ja) * 2015-02-24 2017-02-01 株式会社パスコ レーザ計測システム、反射ターゲット体及びレーザ計測方法
JP6484512B2 (ja) 2015-06-26 2019-03-13 株式会社トプコン レーザスキャナ制御装置、レーザスキャナ制御方法およびレーザスキャナ制御用プログラム
EP3358368A4 (en) 2015-09-30 2019-03-13 Sony Corporation SIGNAL PROCESSING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING METHOD, AND PROGRAM
TWI557393B (zh) 2015-10-08 2016-11-11 微星科技股份有限公司 雷射測距校正方法與應用此方法的裝置
DE102015122844A1 (de) 2015-12-27 2017-06-29 Faro Technologies, Inc. 3D-Messvorrichtung mit Batteriepack
US10627490B2 (en) 2016-01-31 2020-04-21 Velodyne Lidar, Inc. Multiple pulse, LIDAR based 3-D imaging
WO2017149813A1 (ja) * 2016-02-29 2017-09-08 株式会社日立製作所 センサキャリブレーションシステム
CN105825050B (zh) * 2016-03-11 2018-04-06 四川川大智胜软件股份有限公司 一种实现自行高炮多轴线一致性检查的方法
WO2017164989A1 (en) 2016-03-19 2017-09-28 Velodyne Lidar, Inc. Integrated illumination and detection for lidar based 3-d imaging
KR101880593B1 (ko) * 2016-05-03 2018-07-20 국방과학연구소 무인차량의 자율주행을 위한 라이다센서 장치
KR102384875B1 (ko) * 2016-05-11 2022-04-08 삼성전자주식회사 거리 센서의 칼리브레이션 방법, 장치 및 시스템
CA3024510C (en) 2016-06-01 2022-10-04 Velodyne Lidar, Inc. Multiple pixel scanning lidar
JP2018004401A (ja) * 2016-06-30 2018-01-11 株式会社トプコン レーザスキャナ及びレーザスキャナシステム及び点群データのレジストレーション方法
JP6773503B2 (ja) * 2016-09-27 2020-10-21 株式会社トプコン レーザスキャナシステム及び点群データのレジストレーション方法
KR101872620B1 (ko) * 2016-12-05 2018-06-28 정지성 속도 적응형 장애물 감지장치
US10359507B2 (en) * 2016-12-30 2019-07-23 Panosense Inc. Lidar sensor assembly calibration based on reference surface
JP6910820B2 (ja) 2017-03-02 2021-07-28 株式会社トプコン 点群データ処理装置、点群データ処理方法、点群データ処理用プログラム
JP7290571B2 (ja) 2017-03-31 2023-06-13 ベロダイン ライダー ユーエスエー,インコーポレイテッド 統合化されたlidar照明出力制御
CN110809704B (zh) 2017-05-08 2022-11-01 威力登激光雷达美国有限公司 Lidar数据获取与控制
CN109387850A (zh) * 2017-08-02 2019-02-26 松下知识产权经营株式会社 距离测定装置
CA3026667C (en) * 2017-08-25 2020-09-15 Beijing Didi Infinity Technology And Development Co., Ltd. Methods and systems for detecting environmental information of a vehicle
JP7025156B2 (ja) 2017-09-19 2022-02-24 株式会社トプコン データ処理装置、データ処理方法およびデータ処理用プログラム
JP7109174B2 (ja) 2017-10-03 2022-07-29 株式会社トプコン 経路選定装置、無人航空機、データ処理装置、経路選定処理方法および経路選定処理用プログラム
JP7022559B2 (ja) 2017-10-17 2022-02-18 株式会社トプコン 無人航空機の制御方法および無人航空機の制御用プログラム
JP2019086332A (ja) 2017-11-02 2019-06-06 株式会社トプコン 反射プリズム、反射プリズムを備える測定対象物、測量機器、座標比較部、測量方法および測量処理用プログラム
JP2019090653A (ja) 2017-11-13 2019-06-13 株式会社トプコン 測量装置、測量装置の校正確認方法および測量装置の校正確認用プログラム
JP7007167B2 (ja) 2017-12-05 2022-01-24 株式会社トプコン 測量装置、測量装置の校正方法および測量装置の校正用プログラム
US11294041B2 (en) 2017-12-08 2022-04-05 Velodyne Lidar Usa, Inc. Systems and methods for improving detection of a return signal in a light ranging and detection system
JP2019100995A (ja) 2017-12-08 2019-06-24 株式会社トプコン 測量画像表示制御装置、測量画像表示制御方法および測量画像表示制御用プログラム
CN109917194A (zh) * 2017-12-13 2019-06-21 清华四川能源互联网研究院 一种用于无线充电测试系统的自动激光距离校准套件
JP7077013B2 (ja) 2017-12-27 2022-05-30 株式会社トプコン 三次元情報処理部、三次元情報処理部を備える装置、無人航空機、報知装置、三次元情報処理部を用いた移動体制御方法および移動体制御処理用プログラム
JP7022601B2 (ja) 2018-01-23 2022-02-18 株式会社トプコン 測量装置および測量方法
JP7097709B2 (ja) * 2018-02-01 2022-07-08 株式会社トプコン 測量システム
CN108759862B (zh) * 2018-04-16 2023-11-14 西安微普光电技术有限公司 一种多光轴自动校准系统及方法
JP7173762B2 (ja) 2018-06-19 2022-11-16 株式会社トプコン 反射体位置算出装置、反射体位置算出方法および反射体位置算出用プログラム
FI128636B (en) * 2018-06-28 2020-09-15 Angular Velocity Oy METHOD AND SYSTEM FOR CALIBRATION OF THE SENSOR
JP7163085B2 (ja) 2018-07-06 2022-10-31 株式会社トプコン 測量方法、測量装置およびプログラム
JP6717887B2 (ja) 2018-07-12 2020-07-08 ファナック株式会社 距離補正機能を有する測距装置
TWI734932B (zh) * 2018-09-17 2021-08-01 為昇科科技股份有限公司 雷達偵測角度校正系統及其方法
US10712434B2 (en) 2018-09-18 2020-07-14 Velodyne Lidar, Inc. Multi-channel LIDAR illumination driver
US10877155B2 (en) 2018-09-25 2020-12-29 Topcon Corporation Survey data processing device, survey data processing method, and survey data processing program
US11048964B2 (en) 2018-09-28 2021-06-29 Topcon Corporation Survey data processing device, survey data processing method, and survey data processing program
WO2020071167A1 (ja) * 2018-10-01 2020-04-09 パイオニア株式会社 光軸調整用装置
US11536845B2 (en) * 2018-10-31 2022-12-27 Waymo Llc LIDAR systems with multi-faceted mirrors
US11082010B2 (en) 2018-11-06 2021-08-03 Velodyne Lidar Usa, Inc. Systems and methods for TIA base current detection and compensation
US11885958B2 (en) 2019-01-07 2024-01-30 Velodyne Lidar Usa, Inc. Systems and methods for a dual axis resonant scanning mirror
CN109737988B (zh) * 2019-01-23 2020-07-28 华晟(青岛)智能装备科技有限公司 一种自动导引运输车的激光导航仪一致性校准方法
US10613203B1 (en) 2019-07-01 2020-04-07 Velodyne Lidar, Inc. Interference mitigation for light detection and ranging
JP7300915B2 (ja) 2019-07-16 2023-06-30 株式会社トプコン 測量装置
JP7313955B2 (ja) 2019-07-30 2023-07-25 株式会社トプコン 測量装置、測量方法および測量用プログラム
CN110412613B (zh) * 2019-08-02 2021-08-10 上海智蕙林医疗科技有限公司 基于激光的测量方法、移动装置、计算机设备和存储介质
DE102019122654A1 (de) * 2019-08-22 2021-02-25 M & H Inprocess Messtechnik Gmbh Vorrichtung zur Kalibrierung einer Geschwindigkeit einer Bewegungsachse einer Maschine
JP7300930B2 (ja) 2019-08-26 2023-06-30 株式会社トプコン 測量データ処理装置、測量データ処理方法および測量データ処理用プログラム
JP7313998B2 (ja) 2019-09-18 2023-07-25 株式会社トプコン 測量データ処理装置、測量データ処理方法および測量データ処理用プログラム
CN111238533A (zh) * 2020-01-09 2020-06-05 广东博智林机器人有限公司 智能校准系统、方法、装置、电子设备及存储介质
DE102020117428A1 (de) 2020-07-02 2022-01-05 Sick Ag Sensorvorrichtung und Ausrichtverfahren
DE202020103821U1 (de) 2020-07-02 2021-10-06 Sick Ag Sensorvorrichtung
DE102020005762B4 (de) * 2020-09-21 2023-10-12 Daimler Truck AG Verfahren zum Kalibrieren einer Beleuchtungseinrichtung und eines optischen Sensors, Steuereinrichtung zur Durchführung eines solchen Verfahrens, Kalibrierungsvorrichtung mit einer solchen Steuereinrichtung sowie Kraftfahrzeug mit einer solchen Kalibrierungsvorrichtung
CN112379386B (zh) * 2020-09-30 2024-01-02 中国人民解放军陆军炮兵防空兵学院 一种无人蜂群目标空间位置分布探测系统及方法
CN113419251B (zh) * 2021-05-17 2023-07-18 重庆大学 基于激光反射的姿态识别、编解码及通信方法
CN114485482B (zh) * 2022-03-04 2023-06-16 南京铖联激光科技有限公司 一种振镜扫描系统的校准模块

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5455669A (en) 1992-12-08 1995-10-03 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik Laser range finding apparatus
JPH08145668A (ja) * 1994-11-16 1996-06-07 Nec Corp 走査型レーザ測量装置
JP3908297B2 (ja) * 1996-03-19 2007-04-25 株式会社トプコン レーザ測量機
US5831719A (en) * 1996-04-12 1998-11-03 Holometrics, Inc. Laser scanning system
US5988862A (en) 1996-04-24 1999-11-23 Cyra Technologies, Inc. Integrated system for quickly and accurately imaging and modeling three dimensional objects
US5770864A (en) * 1996-12-31 1998-06-23 Pitney Bowes Inc. Apparatus and method for dimensional weighing utilizing a laser scanner or sensor
JP3848431B2 (ja) * 1997-04-28 2006-11-22 本田技研工業株式会社 車両位置推定装置と車両位置推定方法、および、走行車線維持装置と走行車線維持方法
JPH10308598A (ja) 1997-05-06 1998-11-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd スキャン型センサのキャリブレーション方法
JP2000194983A (ja) 1998-12-28 2000-07-14 Nichireki Co Ltd 路面沿道撮影車
JP2000329853A (ja) * 1999-05-21 2000-11-30 Nissan Motor Co Ltd レーダ送信方向ずれ検出装置
FI112402B (fi) 1999-10-28 2003-11-28 Diware Oy Menetelmä puustotunnusten määrittämiseksi sekä tietokoneohjelma menetelmän suorittamiseksi
JP4486737B2 (ja) 2000-07-14 2010-06-23 アジア航測株式会社 モービルマッピング用空間情報生成装置
US6608913B1 (en) 2000-07-17 2003-08-19 Inco Limited Self-contained mapping and positioning system utilizing point cloud data
JP2002055718A (ja) * 2000-08-11 2002-02-20 Meidensha Corp 無人車位置検出方式
DE10124433A1 (de) * 2001-05-18 2002-11-21 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
JP3814201B2 (ja) * 2002-01-18 2006-08-23 オムロン株式会社 測距装置の軸調整用ターゲット及び軸調整方法
US6759979B2 (en) 2002-01-22 2004-07-06 E-Businesscontrols Corp. GPS-enhanced system and method for automatically capturing and co-registering virtual models of a site
JP3937154B2 (ja) 2002-06-28 2007-06-27 株式会社トプコン 位置検出装置
JP4247371B2 (ja) 2002-07-05 2009-04-02 財団法人生産技術研究奨励会 三次元データ取得装置
CN100578525C (zh) 2002-07-10 2010-01-06 哈曼贝克自动系统股份有限公司 生成物体三维电子模型的系统和方法
EP1662228A1 (en) 2004-11-19 2006-05-31 Harman Becker Automotive Systems GmbH Scanning of three-dimensional objects
JP2004163292A (ja) 2002-11-13 2004-06-10 Topcon Corp 測量装置と電子的記憶媒体
JP2004317237A (ja) 2003-04-15 2004-11-11 Topcon Corp 測量装置
JP2004361315A (ja) 2003-06-06 2004-12-24 Nissan Motor Co Ltd レーダ装置
JP2005055311A (ja) 2003-08-05 2005-03-03 Yaskawa Electric Corp スキャナ装置のキャリブレーション方法
US8050491B2 (en) 2003-12-17 2011-11-01 United Technologies Corporation CAD modeling system and method
JP4102324B2 (ja) 2004-03-29 2008-06-18 株式会社トプコン 測量データ処理システム、測量データ処理プログラム及び電子地図表示装置
US7804498B1 (en) 2004-09-15 2010-09-28 Lewis N Graham Visualization and storage algorithms associated with processing point cloud data
US7228230B2 (en) 2004-11-12 2007-06-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha System for autonomous vehicle navigation with carrier phase DGPS and laser-scanner augmentation
JP4890924B2 (ja) * 2006-04-27 2012-03-07 オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 レーダ装置
JP5073256B2 (ja) 2006-09-22 2012-11-14 株式会社トプコン 位置測定装置及び位置測定方法及び位置測定プログラム
JP5057734B2 (ja) 2006-09-25 2012-10-24 株式会社トプコン 測量方法及び測量システム及び測量データ処理プログラム
JP5466807B2 (ja) * 2006-09-26 2014-04-09 株式会社トプコン レーザスキャナ
JP5187805B2 (ja) * 2006-10-03 2013-04-24 独立行政法人産業技術総合研究所 移動物体の指標位置への相対角度及び位置計測方法及び、それを利用した駐車支援方法及びシステム
JP5688876B2 (ja) 2008-12-25 2015-03-25 株式会社トプコン レーザスキャナ測定システムの較正方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10670697B2 (en) 2015-09-30 2020-06-02 Sony Corporation Signal processing apparatus, signal processing method, and object detection system
US11061111B2 (en) 2015-09-30 2021-07-13 Sony Corporation Signal processing apparatus, signal processing method, and object detection system

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US8310653B2 (en) 2012-11-13
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