JP2012522390A5 - - Google Patents

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Claims (10)

  1. 窒化物材料系をベースとするオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)であって、
    前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)は少なくとも1つの活性量子井戸(2)を有し、
    動作中、前記活性量子井戸(2)において電磁波が生成され、
    前記活性量子井戸(2)は、前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)の成長方向zに対して平行な方向に、相互に重なったN個のゾーン(A)を有し、ただし、Nは以上の自然数であり、
    前記ゾーン(A)のうち少なくとも2つのゾーンの平均インジウム含有率cは相互に異なり、
    前記活性量子井戸(2)は、条件
    Figure 2012522390
    を満たし、ただし、前記成長方向zに対して平行な方向に順に前記ゾーン(A)に連続番号を付与すると、c はi番目の前記ゾーン(A)の平均インジウム含有率であり、w は前記i番目のゾーン(A)の幅であり、
    前記少なくとも1つの活性量子井戸(2)の前記ゾーン(A)の各インジウム含有率cは一定であり、
    ここで、前記インジウム含有率cは無次元で、単位%で表されており、zは無次元で、単位nmで表されており、
    前記成長方向zに対して平行に前記半導体チップ(1)のp端子側(p)からn端子側(n)に向かう方向における前記ゾーン(A)のうち少なくとも3つの連続するゾーンの平均インジウム含有率に、
    <c i+1 かつc i+1 >c i+2
    が適用される、オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)において、
    <c i+2 であることを特徴とする、オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  2. 記成長方向zに平行に、前記半導体チップ(1)のp端子側(p)からn端子側(n)に向かう方向に順に前記ゾーン(A)に連続番号を付した場合、該成長方向zに対して平行に前記半導体チップ(1)のp端子側(p)からn端子側(n)に向かう方向における前記ゾーン(A)の少なくとも一部の平均インジウム含有率に、
    >c j+1 かつc j+2 >c j+1 かつc >c j+2
    が適用される
    ただし、iおよびjは自然数であり、かつi≠jである、請求項1記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  3. Nは3〜10であり、
    前記活性量子井戸(2)の全幅(W)は0.25nm〜12nmである、請求項1または2記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  4. 前記活性量子井戸(2)は、前記成長方向zに対して平行な方向に2〜5個である、請求項1からまでのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  5. 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)は少なくとも2つの非活性量子井戸(3)を有し、
    前記非活性量子井戸(3)の各インジウム含有率は、前記少なくとも1つの活性量子井戸(2)の最大インジウム含有率より小さい、請求項1からまでのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  6. 少なくとも2つの隣接する前記活性量子井戸(2)間に、前記非活性量子井戸(3)が少なくとも1つ設けられている、請求項および記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  7. 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)は少なくとも2つの導波層(4)を含み、前記少なくとも1つの活性量子井戸(2)は該導波層(4)間に設けられており、
    前記導波層(4)のうち少なくとも1つの導波層は、少なくとも1つのキャリア障壁層(5)を含む、請求項1からまでのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  8. 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)はレーザ光を生成するために構成されている、請求項1からまでのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  9. 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)は、430nm〜540nmの電磁波を生成するために構成されている、請求項1からまでのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
  10. 窒化物材料系をベースとするオプトエレクトロニクス半導体チップ(1)であって、
    前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)は少なくとも1つの活性量子井戸(2)を有し、
    動作中、前記活性量子井戸(2)において電磁波が生成され、
    前記活性量子井戸(2)は、前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)の成長方向zに対して平行な方向に、相互に重なったN個のゾーン(A)を有し、ただし、Nは2以上の自然数であり、
    前記ゾーン(A)には、前記成長方向zに対して平行な方向に順に連続番号が付されており、
    前記ゾーン(A)のうち少なくとも2つのゾーンの平均アルミニウム含有率kは相互に異なり、
    前記活性量子井戸(2)は、
    Figure 2012522390
    を満たすことを特徴とする、オプトエレクトロニクス半導体チップ(1)
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