JP5223102B2 - フリップチップ型発光素子 - Google Patents

フリップチップ型発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP5223102B2
JP5223102B2 JP2007207258A JP2007207258A JP5223102B2 JP 5223102 B2 JP5223102 B2 JP 5223102B2 JP 2007207258 A JP2007207258 A JP 2007207258A JP 2007207258 A JP2007207258 A JP 2007207258A JP 5223102 B2 JP5223102 B2 JP 5223102B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrode
flip
light emitting
emitting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007207258A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009043934A (ja
Inventor
孝輔 矢羽田
直樹 中條
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyoda Gosei Co Ltd
Original Assignee
Toyoda Gosei Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyoda Gosei Co Ltd filed Critical Toyoda Gosei Co Ltd
Priority to JP2007207258A priority Critical patent/JP5223102B2/ja
Priority to US12/222,366 priority patent/US8148736B2/en
Priority to CN2008101349620A priority patent/CN101399307B/zh
Publication of JP2009043934A publication Critical patent/JP2009043934A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5223102B2 publication Critical patent/JP5223102B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/387Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape with a plurality of electrode regions in direct contact with the semiconductor body and being electrically interconnected by another electrode layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • H01L33/46Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector

Description

本発明は、III 族窒化物半導体で構成されたフリップチップ型発光素子に関するものであり、特に、電極の形状に特徴を有するものである。
近年、III 族窒化物半導体で構成されたフリップチップ型発光素子においては、発光層へ均一に電流を流して発光むらを抑制するためにさまざまな技術が取り入れられている。
たとえば、発光層への電流拡散性を向上させる技術として、n層を櫛歯状に露出させ、その露出部にn型コンタクト電極を設ける技術が特許文献1、2に示されている。また、p層表面の全面に透光性電極を設け、パッド電極からp層への電流を透光性電極によって拡散させる技術が特許文献2、3に示されている。また、p電極上に複数のパッド電極を設け、パッド電極からp電極への電流の拡散性を向上させる技術が特許文献1、3に示されている。
また、III 族窒化物半導体層表面を覆う絶縁性保護膜中に金属膜を設けて反射率を高める技術が特許文献4に示されている。
特開2001−203386 特表2003−524295 特開2005−197289 特開平11−340514
しかし、p層表面に透光性電極を有し、透光性電極上に複数のパッド電極を有したフリップチップ型発光素子では、パッド電極の面積が小さいために、パッド電極と透光性電極との接触部に電流が集中し、透光性電極を劣化させてしまうという問題がある。
そこで本発明の目的は、透光性電極の劣化が抑制されたフリップチップ型発光素子を実現することである。
第1の発明は、n層、p層、およびn層とp層の間に形成された活性層からなるIII 族窒化物半導体層と、櫛歯状に露出したn層と、n層上に設けられたn型コンタクト電極と、p層上に設けられた透光性電極と、透光性電極上に設けられた複数のパッド電極と、パッド電極の一部、透光性電極、およびn層の露出面を覆う絶縁性保護膜と、透光性電極の上部であって、絶縁性保護膜の中に設けられ、活性層から放射された光をn層側に反射する反射膜と、を有したフリップチップ型の発光素子において、各々のパッド電極は、絶縁性保護膜で覆われていない根元部と、該根元部から連続して突出してパッド電極の外周の長さを拡大させるよう形成され、絶縁性保護膜により覆われている枝部と、を有し、パッド電極の枝部は、反射膜の下方に延設されており、複数のパッド電極は、透光性電極上に枝部によって互いに接続されずに独立して平面的に配列され、フリップチップ型発光素子は、絶縁性保護膜上に設けられ、パッド電極に共通して接続し、各々のパッド電極に電流を流す接合電極をさらに有することを特徴とするフリップチップ型発光素子である。
III 族窒化物半導体とは、GaN、AlGaN、InGaN、AlGaInNなど、一般式Alx Gay In1-x-y N(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)で表されるものである。一般的には、主要な層はGaとNを必須成分とする半導体で構成されている。n型不純物としては、Siなどを用い、p型不純物としてはMgなどを用いる。n層、p層は単層であってもよいし、複層であってもよく、超格子層を含んでいてもよい。たとえば、n層はn型コンタクト層とn型クラッド層で構成され、p層はp型クラッド層とp型コンタクト層で構成される。活性層は、MQWやSQWなどの構造である。
透光性電極には、ITO、ZnOなどを用い、絶縁性保護膜にはSiO2 などを用いる。また、パッド電極は、複数の金属層からなる多層膜であってもよく、NiやNi合金を用いるのが望ましい。Niは透光性電極との接触性がよいためである。たとえば、パッド電極として、Ni/Au/Alなどを用いる。なお、ここで言う透光性とは、発光素子の発光波長を透過することを意味するものである。反射膜には、AgやAlなどの高反射な金属を用いることができる。
III 族窒化物半導体層は、サファイアなどの成長基板上にMOCVD法などによって形成するが、本発明のフリップチップ型発光素子においては、成長基板はあってもよいし、レーザーリフトオフなどによって成長基板が除去されていてもよい。
パッド電極の枝部の形状は、凹凸を有した形状であればどのような形状でもかまわないが、線対称性などの対称性を有した形状であるほうが形成が容易である。凹凸を有した形状は、たとえば、パッド電極の根元部から線状の枝が放射状や十字型に突出した形状などである。各パッド電極は、枝部によって互いに接続していてもよい。
第2の発明は、第1の発明において、枝部は、根元部から突出した線状形状に形成されていることを特徴とするフリップチップ型発光素子である。
第3の発明は、第2の発明において、枝部は、根元部から十字型に突出した線状形状に形成されていることを特徴とするフリップチップ型発光素子である。
第4の発明は、第2の発明または第3の発明において、枝部は、線状形状に対して、さらに、枝分かれした線状形状を有することを特徴とするフリップチップ型発光素子である。
突出した枝部すべてがさらに枝分かれしている必要はなく、たとえば、パッド電極同士を接続する枝部のみがさらに枝分かれした形状であってもよい。
第5の発明は、第1の発明から第4の発明において、透光性電極は、ITOからなることを特徴とするフリップチップ型発光素子である。
第6の発明は、第1の発明から第5の発明において、パッド電極と接合電極との間に、バリア層を有することを特徴とするフリップチップ型発光素子である。
フリップチップ型発光素子の動作時において、電流は、パッド電極と透光性電極との接合面全体に分散して流れるのではなく、接合面の外周である辺部分に集中して流れる。そこで第1の発明のように、パッド電極の平面形状を凹凸を有した形状とすることで、接合面の面積を、従来の円形のパッド電極の面積よりも大きくすることなく(つまり、発光素子の光度を減少させることなく)外周を長くすることができ、電流を分散させ、辺部分の電流密度を低減させることができる。その結果、従来と同様の光度を維持しつつ、透光性電極の劣化を防止することができる。また、透光性電極の劣化が防止されることにより、Vfの上昇を抑えることができる。
凹凸を有した形状としては、第2の発明のように根元部から突出した線状形状の枝部を有する形状や、第3の発明のように根元部から十字型に突出した線状形状の枝部を有する形状、を用いることができる。また、第4の発明のように、枝がさらに枝分かれした形状であると、外周がさらに長くなるため、より電流を分散させることができる。
また、第1の発明のように、パッド電極の枝部は絶縁性保護膜に覆われているため、パッド電極の枝部上方にまで反射膜を設けることができる。
また第5の発明のように、透光性電極としてITOを用いることができる。
以下、本発明の具体的な実施例を図を参照にしながら説明するが、本発明はそれらの実施例に限定されるものではない。
図1は、実施例1のフリップチップ型発光素子の構造を示す平面図である。また図2は、図1におけるA−A’の断面図である。また図3は、図2のB部を拡大した図である。
フリップチップ型発光素子は、主として、サファイア基板10上にバッファ層(図示しない)を介して形成されたIII 族窒化物半導体層(n層11、活性層12、p層13)と、それに接続する電極(n型コンタクト電極14、透光性電極15、パッド電極16)とにより構成されている。
III 族窒化物半導体層は、n層11、活性層12、p層13が順に積層された構造である。n層11は、GaNからなる高濃度にSiがドープされたn型コンタクト層、GaNからなるnクラッド層が順に積層された構造であり、p層13は、AlGaNからなるMgがドープされたpクラッド層、GaNからなるMgがドープされたpコンタクト層が順に積層された構造である。活性層12はGaNからなる障壁層とInGaNからなる井戸層が繰り返し積層されたMQW構造である。
活性層12およびp層13は一部がエッチングされていて、n層11のn型コンタクト層が櫛歯状に露出している。その露出したn層11上には、n型コンタクト電極14が形成されている。
p層13上面の全面にわたってITOからなる透光性電極15が形成され、透光性電極15上には所定の間隔で平面的に配列された20個のパッド電極16が形成されている。透光性電極15の膜厚は300nmである。この透光性電極15の面積は、フリップチップ型発光素子の面積の約58%である。パッド電極16はNi/Au/Alの3層構造であり、膜厚は、Niが40nm、Auが100nm、Alが10nmである。Niを用いるのはITOとの接触性がよいからである。
パッド電極16の平面形状は、円形の中心部16a(本発明の根元部)から十字型に突出した4本の枝16b(本発明の枝部)を有した形状であり、隣接するパッド電極16同士が枝16bによって互いに接続していて、全体としてはp層13の平面形状に沿って櫛歯状に接続している。また、パッド電極16同士を接続する枝16bは、その枝16bの中央部でさらに枝分かれして2本の枝16cを有している。パッド電極の円形の中心部16aの直径は28μmで、枝16b、cの幅は5μmである。パッド電極16全体の面積は、フリップチップ型発光素子の面積の約8%である。
III 族窒化物半導体層(n層11、活性層12、p層13)は、n型コンタクト電極14表面およびパッド電極16の円形の中心部16aを除いて、SiO2 からなる絶縁性保護膜17によって覆われている。絶縁性保護膜17中にはAlからなる反射膜18が形成されている。反射膜18は、反射率を高め、光取り出し効率を向上させるためのものである。反射膜18として、Alの他にはAgなどの高反射な金属も用いることができる。
このフリップチップ型発光素子は、パッド電極16、nコンタクト電極14上にTi/Niが2回繰り返して形成された多層膜であるバリア層19が形成され、バリア層19上にAu−Snからなる接合電極20が形成され、接合電極20を介して配線基板と接合する。
実施例1のフリップチップ型発光素子を動作させると、電流は接合電極20からパッド電極16、透光性電極15、p層13へと流れる。パッド電極16から透光性電極15へと電流が流れるとき、電流はパッド電極16の平面方向全体に分散して透光性電極15へと流れるのではなく、パッド電極16の外周である辺部分16dに集中して、パッド電極16と透光性電極15の接合面における輪郭線から透光性電極15へと流れる。ここでパッド電極16は4本の枝16b、2本の枝16cを有している。そのため、パッド電極16の外周である辺部分16dは、枝16b、cの突出により、単に同じ面積の円形のパッド電極の外周よりも長くなっている。したがって、パッド電極16の面積は、従来の円形パッド電極を用いた場合と同一の面積でありながら、外周は円形パッド電極よりも長くなり、透光性電極15へ流れ込む電流を分散させ、辺部分16dの電流密度を低減することができる。つまり、円形パッド電極を用いた場合と同様の光度を維持しつつ、電流の分散により透光性電極15の劣化を抑えることができる。また、透光性電極15の劣化が抑制されるために、Vfの上昇が抑制される。
また、パッド電極16の中心部16aの表面は、絶縁性保護膜17によって覆われないが、パッド電極16の枝16b、cの表面は絶縁性保護膜17によって覆われる。そのため、実施例1のフリップチップ型発光素子では、パッド電極16の枝16b、cの上方にも反射膜18を設置することができる。つまり、従来の、単に円形のパッド電極を用いた場合よりも、反射膜18の面積を広くとることができる。
以上のように、実施例1のフリップチップ型発光素子は、従来の円形パッド電極のフリップチップ型発光素子と同様の光度でありながら、透光性電極の劣化が抑制されたフリップチップ型発光素子である。
実施例では、パッド電極の平面形状は、円形の中心部から十字型に突出した枝を有した形状としているが、本発明はこのような形状に限るものではなく、根元部から連続して凹凸に形成された枝部を有した形状であればどのような形状でもかまわない。また、各パッド電極は枝によって互いに接続しているが、接続している必要はない。たとえば、図4のように、各パッド電極26は中心部26aから突出した4本の枝26bを有し、各パッド電極26は独立していて、パッド電極26同士は枝26bによっては接続していない形状であってもよい。また、図5のように、パッド電極36は中心部36aから放射状に突出した8本の枝36bを有し、各パッド電極36が独立した形状であってもよい。さらに、図6のように、パッド電極36同士が枝36bによって接続し、その接続する枝36b中心でさらに枝分かれして枝36cを有する形状であってもよい。
また、実施例では透光性電極としてITOを用いているが、ZnOなども用いることができる。
また、実施例のフリップチップ型発光素子は、成長基板であるサファイア基板を有しているが、レーザーリフトオフなどによって成長基板が除去されていてもよい。成長基板の除去によって露出するIII 族窒化物半導体層は、凹凸加工などによって光取り出し効率を上昇させることができる。
本発明は、照明装置などに用いることができる。
実施例1のフリップチップ型発光素子の平面図。 実施例1のフリップチップ型発光素子の断面図。 図2のB部を拡大した図。 本発明の他のパッド電極の形状を示す図。 本発明の他のパッド電極の形状を示す図。 本発明の他のパッド電極の形状を示す図。
10:サファイア基板
11:n層
12:活性層
13:p層
14:n型コンタクト電極
15:透光性電極
16、26、36:パッド電極
16a、26a、36a:パッド電極の円形の中心部
16b、16c、26b、36b、36c:パッド電極の枝
16d:パッド電極16の外周である辺部分
17:絶縁性保護膜
18:反射膜
19:バリア層
20:接合電極

Claims (6)

  1. n層、p層、およびn層とp層の間に形成された活性層からなるIII 族窒化物半導体層と、櫛歯状に露出した前記n層と、前記n層上に設けられたn型コンタクト電極と、前記p層上に設けられた透光性電極と、前記透光性電極上に設けられた複数のパッド電極と、前記パッド電極の一部、前記透光性電極、および前記n層の露出面を覆う絶縁性保護膜と、前記透光性電極の上部であって、前記絶縁性保護膜の中に設けられ、前記活性層から放射された光を前記n層側に反射する反射膜と、を有したフリップチップ型発光素子において、
    各々の前記パッド電極は、
    前記絶縁性保護膜で覆われていない根元部と、
    該根元部から連続して突出して前記パッド電極の外周の長さを拡大させるよう形成され、前記絶縁性保護膜により覆われている枝部と、を有し、
    前記パッド電極の枝部は、前記反射膜の下方に延設されており、
    複数の前記パッド電極は、前記透光性電極上に前記枝部によって互いに接続されずに独立して平面的に配列され、
    前記発光素子は、
    前記絶縁性保護膜上に設けられ、前記パッド電極に共通して接続し、各々の前記パッド電極に電流を流す接合電極をさらに有することを特徴とするフリップチップ型発光素子。
  2. 前記枝部は、前記根元部から突出した線状形状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のフリップチップ型発光素子。
  3. 前記枝部は、前記根元部から十字型に突出した線状形状に形成されていることを特徴とする請求項2に記載のフリップチップ型発光素子。
  4. 前記枝部は、前記線状形状に対して、さらに、枝分かれした線状形状を有することを特徴とする請求項2または請求項3に記載のフリップチップ型発光素子。
  5. 前記透光性電極は、ITOからなることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のフリップチップ型発光素子。
  6. 前記パッド電極と前記接合電極との間に、バリア層を有することを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載のフリップチップ型発光素子。
JP2007207258A 2007-08-08 2007-08-08 フリップチップ型発光素子 Expired - Fee Related JP5223102B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007207258A JP5223102B2 (ja) 2007-08-08 2007-08-08 フリップチップ型発光素子
US12/222,366 US8148736B2 (en) 2007-08-08 2008-08-07 Flip chip type light-emitting element
CN2008101349620A CN101399307B (zh) 2007-08-08 2008-08-07 倒装芯片型发光元件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007207258A JP5223102B2 (ja) 2007-08-08 2007-08-08 フリップチップ型発光素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009043934A JP2009043934A (ja) 2009-02-26
JP5223102B2 true JP5223102B2 (ja) 2013-06-26

Family

ID=40345628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007207258A Expired - Fee Related JP5223102B2 (ja) 2007-08-08 2007-08-08 フリップチップ型発光素子

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8148736B2 (ja)
JP (1) JP5223102B2 (ja)
CN (1) CN101399307B (ja)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110156002A1 (en) * 2008-09-04 2011-06-30 Leatherdale Catherine A Light source having light blocking components
TW201021240A (en) * 2008-11-24 2010-06-01 Harvatek Corp Wafer level LED package structure for increasing light-emitting efficiency
KR101014136B1 (ko) * 2009-02-17 2011-02-10 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법
CN101924116B (zh) * 2009-06-12 2014-04-23 刘胜 可扩展的超大尺寸发光二极管芯片及制造方法
KR101093120B1 (ko) * 2009-11-16 2011-12-13 서울옵토디바이스주식회사 전류분산을 위한 전극 연장부들을 갖는 발광 다이오드
KR101625125B1 (ko) * 2009-12-29 2016-05-27 서울바이오시스 주식회사 전극 연장부들을 갖는 발광 다이오드
KR101131084B1 (ko) * 2010-02-01 2012-03-30 우리엘에스티 주식회사 반도체 발광소자
JP5381853B2 (ja) 2010-03-26 2014-01-08 豊田合成株式会社 半導体発光素子
KR100988192B1 (ko) 2010-05-06 2010-10-18 (주)더리즈 발광 소자
KR100988193B1 (ko) 2010-05-06 2010-10-18 (주)더리즈 발광 소자
KR101138951B1 (ko) 2010-08-23 2012-04-25 서울옵토디바이스주식회사 발광다이오드
JP5737066B2 (ja) * 2010-08-26 2015-06-17 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子
US8664684B2 (en) 2010-08-31 2014-03-04 Micron Technology, Inc. Solid state lighting devices with improved contacts and associated methods of manufacturing
JP2012124321A (ja) * 2010-12-08 2012-06-28 Showa Denko Kk 半導体発光素子、ランプおよび半導体発光素子の製造方法
KR101204429B1 (ko) * 2010-12-31 2012-11-26 갤럭시아포토닉스 주식회사 반사층이 형성된 전극을 갖는 발광 다이오드와, 발광 다이오드 패키지 및 이의 제작 방법
JP5754173B2 (ja) * 2011-03-01 2015-07-29 ソニー株式会社 発光ユニットおよび表示装置
JP5541261B2 (ja) 2011-03-23 2014-07-09 豊田合成株式会社 Iii族窒化物半導体発光素子
JP2013120936A (ja) * 2011-12-07 2013-06-17 Ultratech Inc パターン効果を低減したGaNLEDのレーザーアニール
CN103946994B (zh) * 2012-01-13 2016-10-12 世迈克琉明有限公司 半导体发光器件
US20130285010A1 (en) * 2012-04-27 2013-10-31 Phostek, Inc. Stacked led device with posts in adhesive layer
US9530941B2 (en) 2012-07-18 2016-12-27 Semicon Light Co., Ltd. Semiconductor light emitting device
CN104471727B (zh) * 2013-04-30 2018-01-05 世迈克琉明有限公司 半导体发光器件
KR102070088B1 (ko) 2013-06-17 2020-01-29 삼성전자주식회사 반도체 발광소자
US20160155901A1 (en) * 2013-07-18 2016-06-02 Koninklijke Philips N.V. Highly reflective flip chip led die
JP6331906B2 (ja) * 2013-09-13 2018-05-30 日亜化学工業株式会社 発光素子
JP6458463B2 (ja) 2013-12-09 2019-01-30 日亜化学工業株式会社 発光素子
KR20160017905A (ko) 2014-08-07 2016-02-17 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 조명시스템
KR20170133347A (ko) * 2015-03-30 2017-12-05 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 발광 소자, 발광 유닛, 발광 패널 장치, 및 발광 패널 장치의 구동 방법
KR20160141063A (ko) * 2015-05-27 2016-12-08 삼성전자주식회사 발광소자 패키지, 그 제조 방법
CN108140699B (zh) * 2015-09-25 2020-09-25 Lg伊诺特有限公司 发光器件,发光元件封装和照明装置
DE102016106831A1 (de) 2016-04-13 2017-10-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip
US10396248B2 (en) * 2017-04-17 2019-08-27 Lumens Co., Ltd. Semiconductor light emitting diode
KR102603255B1 (ko) * 2019-05-31 2023-11-16 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 반도체 소자
WO2023210082A1 (ja) * 2022-04-26 2023-11-02 日亜化学工業株式会社 発光素子及び発光装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5740986A (en) * 1980-08-25 1982-03-06 Nec Corp Light-emitting element
JPH10256602A (ja) * 1997-03-12 1998-09-25 Sharp Corp 半導体発光素子
JP3531475B2 (ja) * 1998-05-22 2004-05-31 日亜化学工業株式会社 フリップチップ型光半導体素子
US6512248B1 (en) * 1999-10-19 2003-01-28 Showa Denko K.K. Semiconductor light-emitting device, electrode for the device, method for fabricating the electrode, LED lamp using the device, and light source using the LED lamp
US6614056B1 (en) 1999-12-01 2003-09-02 Cree Lighting Company Scalable led with improved current spreading structures
US6486499B1 (en) 1999-12-22 2002-11-26 Lumileds Lighting U.S., Llc III-nitride light-emitting device with increased light generating capability
US6791119B2 (en) * 2001-02-01 2004-09-14 Cree, Inc. Light emitting diodes including modifications for light extraction
JP4053926B2 (ja) * 2002-05-27 2008-02-27 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光素子とそれを用いた発光装置
US6828596B2 (en) * 2002-06-13 2004-12-07 Lumileds Lighting U.S., Llc Contacting scheme for large and small area semiconductor light emitting flip chip devices
US6958498B2 (en) * 2002-09-27 2005-10-25 Emcore Corporation Optimized contact design for flip-chip LED
EP1686629B1 (en) * 2003-11-19 2018-12-26 Nichia Corporation Nitride semiconductor light emitting diode and method for manufacturing the same
JP4604488B2 (ja) 2003-12-26 2011-01-05 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光素子およびその製造方法
JP2006066868A (ja) * 2004-03-23 2006-03-09 Toyoda Gosei Co Ltd 固体素子および固体素子デバイス
JP2006012916A (ja) * 2004-06-22 2006-01-12 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子
US20060001035A1 (en) 2004-06-22 2006-01-05 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting element and method of making same
US7417220B2 (en) * 2004-09-09 2008-08-26 Toyoda Gosei Co., Ltd. Solid state device and light-emitting element
TWI284430B (en) * 2005-10-13 2007-07-21 Advanced Optoelectronic Tech High power light emitting diodes
US7598531B2 (en) * 2005-11-18 2009-10-06 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
JP2007173269A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Showa Denko Kk フリップチップ型半導体発光素子、フリップチップ型半導体発光素子の製造方法、フリップチップ型半導体発光素子の実装構造及び発光ダイオードランプ
JP4655920B2 (ja) 2005-12-22 2011-03-23 日立電線株式会社 半導体発光素子
CN101320771A (zh) * 2007-06-04 2008-12-10 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 半导体发光元件

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009043934A (ja) 2009-02-26
CN101399307B (zh) 2010-06-09
US8148736B2 (en) 2012-04-03
US20090039374A1 (en) 2009-02-12
CN101399307A (zh) 2009-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5223102B2 (ja) フリップチップ型発光素子
JP5840744B2 (ja) 発光ダイオード
EP2339654B1 (en) Light emitting diode
KR100887139B1 (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법
JP2004071644A (ja) 窒化物半導体発光素子
JP5095785B2 (ja) 半導体発光素子及びその製造方法
JP2009059969A (ja) 半導体発光素子、発光装置、照明装置、表示装置及び半導体発光素子の製造方法
JP6149878B2 (ja) 発光素子
KR100601143B1 (ko) 반도체 발광 소자
JP5713650B2 (ja) 発光素子およびその製造方法
TW201644067A (zh) 半導體發光裝置
TWI653769B (zh) 點光源發光二極體
JP2006229187A (ja) 反射電極及びそれを備える化合物半導体の発光素子
JP5945736B2 (ja) 発光素子
JP2006237467A (ja) 半導体発光素子及びその製造方法
JP2013258177A (ja) Iii族窒化物半導体発光素子
JP2011049587A (ja) 発光ダイオードチップ
JP2009238931A (ja) 半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光素子の製造方法
JP5286641B2 (ja) 半導体発光素子及び半導体発光装置
JP2007081011A (ja) 半導体発光素子
US11276801B2 (en) Light-emitting element
KR20110109471A (ko) 고효율 발광 다이오드
KR101960611B1 (ko) Led 플립칩
KR101626905B1 (ko) 반도체 발광소자
JP5826693B2 (ja) 半導体発光素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090924

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111012

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111025

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120731

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130218

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5223102

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160322

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees