JP2012521081A - ポリシラザンをベースとするバリア層を備えた太陽電池 - Google Patents

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Abstract

薄層太陽電池(10)は、金属製またはガラス製の基板(1)と、ポリシラザンをベースとする誘電性バリア層(2)と、硫化銅インジウム(CIS)またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGSe)タイプの光起電性層構造(4)とを含む。

Description

本発明は、基板と、光起電性層構造と、基板と光起電性層構造の間にある誘電性バリア層を含むカルコパイライト系太陽電池に関する。基板と光起電性層構造との間に配置されている誘電性バリア層は、電気絶縁性であり、光起電性層構造を、基板から拡散し太陽電池の効率に悪影響を及ぼし得る外来原子から保護する。詳細には、本発明の太陽電池では、硫化銅インジウム(CIS)またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGSe)タイプの光起電性層構造を備えた薄層太陽電池を扱う。
さらに、本発明は、カルコパイライト系をベースとする太陽電池の製法に関する。この方法の枠内で、100〜3000nmの範囲の厚さを有するバリア層は、20〜1000℃、特に80〜200℃の範囲の温度でポリシラザンおよび添加剤の溶液を硬化させることによって作製される。
化石資源の欠乏に鑑みて、光電池は、再生可能で環境に優しいエネルギー源として大きな重要性を有するようになっている。太陽電池は、太陽光を電流に変換する。太陽電池では主に、結晶質または非晶質ケイ素が光吸収半導体として使用されている。ケイ素の使用は、高いコストと結びついている。これに対して、硫化銅インジウム(CIS)またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGSe)などのカルコパイライト系材料からなる吸収材を備えた薄層太陽電池は、かなり低いコストで製造することができる。
非常に一般的なことであるが、光起電性エネルギー生成のコストパフォーマンスを改善することが、光電池の迅速な普及には必要である。そのためには、一方では太陽電池の効率を上げ、また他方では、製造コストを下げることが望ましい。
モノリシック相互接続によって、カルコパイライト系ソーラーモジュールの効率を高めることができる。モノリシック相互接続を有するソーラーモジュールは、基板上に隣り合って配置されている多数の別々の太陽電池からなり、これらが電気的に直列に互いに接続されている。モノリシック相互接続のために、一方では背面接点を、他方では光起電性層構造を、所定のパターンに従って通常はストリップの形状に分割する。背面接点の構造化、いわゆるP1パターニングには、電気絶縁基板が必要である。好ましくは、背面接点を所定の分離線に沿って、集束レーザー光線によって気化させることで、P1パターニングを行う。
カルコパイライト系太陽電池のための担体材料として、ガラスまたは金属製もしくはポリイミド製の基板フィルムが使用される。ここでガラスは、有利であることが判明している。これは、電気絶縁性であり、平滑表面を有し、カルコパイライト系吸収材層の製造中にナトリウムを提供し、このナトリウムが、ガラスから吸収材層中に拡散し、ドーピング物質として吸収材層の特性を改善するからである。ガラスの欠点は、その重量が重いこと、柔軟性が無いことである。特に、ガラス基板は、その剛性によって、安価なロールツーロール法で被覆することができない。
ガラスのさらなる欠点は、太陽電池を後で使用する際にも、なおナトリウムがカルコパイライト系吸収材層に拡散し、長期間にわたって蓄積した濃度が、特に引き続く結晶成長によってカルコパイライト系吸収材層を損なう値に達し得ることにある。
金属製またはプラスチック製のフィルム状基板は、ガラスよりも軽く、特に柔軟であるので、安価なロールツーロール法によって太陽電池を製造するのに適している。もちろん、金属フィルムまたはプラスチックフィルムは、その性質に応じて、カルコパイライト系層複合材料の特性に不利な影響を及ぼすことがあり、それに加えて、吸収材ドーピングのためにナトリウムデポを利用することができない。カルコパイライト系太陽電池の製造中に基板が高温(場合によっては500℃を超える)にさらされるので、好ましくは、スチール製またはチタン製の金属フィルムが使用される。
チタン基板またはスチール基板上で太陽電池をモノリシックに相互接続するためには、基板と光起電性吸収材との間に電気絶縁層を施与する必要がある。加えて、この絶縁層は、拡散障壁としても作用して、吸収材層に害を及ぼし得る金属イオンの基板からの拡散を妨げるはずである。例えば、スチールから拡散した鉄原子は、カルコパイライト系吸収材層中の電荷担体(電子および正孔)の再結合率を高め、それによって、光電流を減少させる。
非晶質または微結晶ケイ素からなる数多くのケイ素ベースの電子部品および太陽電池において、酸化ケイ素(SiO)が絶縁層または誘電層のための材料として使用されている。そのようなSiO層は気相または液相から、シリコンウェハなどの基板上に堆積される。堆積は好ましくは、CVD、マイクロ波プラズマ支援CVD(MWPECVD)、PVD(マグネトロンスパッタリング)またはゾル−ゲル法によって行われる。
CVDおよびPVD法は、コストのかかる真空技術装置によって、高いコストと結びついており、その際、一部の基板材料上に、特に金属上に作製されたSiO層は、低い付着力および低い機械的強度を有する。これに加えて、気相堆積は、SiH、CH、H、NHなどの高可燃性および/または毒性ガスの使用を必要とする。
ゾル−ゲル法によって製造されたSiO層も、金属基板に対して低い付着力を有する。これに加えて、ゾル−ゲル材料の付着性は非常に低いので、短期間の貯蔵ですら、特徴的な材料特性が大きく変化しかねず、それを用いて製造された層の品質が著しく低下してしまう。
さらに、従来技術では、ポリシラザンから作製され、不活性化のために、またはカプセル化のために太陽電池において使用されるSiO層が公知である。
米国特許第7,396,563号(特許文献1)は、PA−CVDによる誘電性および不活性化ポリシラザン層の堆積をこのように開示しており、その際、ポリシランが、CVD前駆体として使用される。
米国特許第4,751,191号(特許文献2)は、PA−CVDによる太陽電池のためのポリシラザン層の堆積を教示している。得られたポリシラザン層は、フォトリソグラフィーにより構造化され、金属接点のマスキング用に、かつ反射防止層として役立つ。
米国特許第7,396,563号 米国特許第4,751,191号
従来技術を鑑みて、本発明は、本質的にSiOからなる誘電性バリア層を備えたカルコパイライト系太陽電池および安価なその製法を提供するという課題を有する。特に、本発明によるバリア層は、高い拡散遮断作用および電気絶縁を有し、それと関連しガラスまたは金属製もしくはプラスチック製の柔軟な基板に対する良好な付着を有し、そして、穴および亀裂などの欠陥の低い密度を有するものである。
この課題は、基板、光起電性層構造、および、基板と光起電性層構造の間にあり、ポリシラザンをベースとする誘電性バリア層とを含むカルコパイライト系太陽電池により解決される。
以下、本発明を図を参照して詳細に説明する。
基板1と、バリア層2と、光起電性層構造4とを備えた、本発明による太陽電池10の透視断面図である。
太陽電池10は好ましくは、薄層太陽電池として構成されており、硫化銅インジウム(CIS)またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGSe)タイプの光起電性層構造4を有する。
本発明による太陽電池10の実施形態は、以下のことを特徴とする。
−光起電性層構造4が、モリブデンからなる背面接点41と、組成CuInSe、CuInS、CuGaSe、CuIn1−xGaSe(ただし、0<x≦0.5)またはCu(InGa)(Se1−y(ただし、0<y≦1)の吸収材42と、CdSからなる緩衝材43と、ZnOまたはZnO:Alからなる窓層44と、Alまたは銀からなる前面接点45とを含む。
−基板1が、金属、金属合金、ガラス、セラミックまたはプラスチックを含有する材料からなる。
−基板1が、フィルムとして、特に、スチールフィルムまたはチタンフィルムとして形成されている。
−バリア層2が、好ましくはジブチルエーテルである溶剤中のポリシラザンおよび添加剤の硬化溶液からなる。
−バリア層2が、ナトリウムを含有するか、またはナトリウム含有前駆体層21を含む。
−バリア層2が、100〜3000nm、好ましくは200〜2500nm、特に300〜2000nmの厚さを有する。
−バリア層2が、DIN IEC 60093に従って測定して1・10MΩ・cmより大きい、好ましくは1・1010MΩ・cmより大きい、特に1・1011MΩ・cmより大きい比抵抗(spezifischen Durchgangswiderstand)を有する。
−基板1上の、特にスチールフィルムおよびチタンフィルム上のバリア層2が、DIN−EN−ISO2409に従って20mmの接着テープ幅を用いて測定して5Nより大きい、好ましくは7Nより大きい、特に10Nより大きい付着強度を有する。
−太陽電池10が、溶剤中のポリシラザンおよび添加剤の硬化溶液からなるカプセル化層を含む。
−バリア層2および場合によってはカプセル化層5が一般構造式(I)のポリシラザンから作製される。
−(SiR’R”−NR’”)n− (I)
[式中、R’、R”、R’”は同じか、または異なり、互いに独立に、水素または場合によっては置換されたアルキル−、アリール、ビニルまたは(トリアルコキシシリル)アルキル基を表し、nは整数であり、nは、ポリシラザンが150〜150000g/mol、好ましくは50000〜150000g/mol、特に100000〜150000g/molの数平均分子量を有するように算定されている]
−少なくとも1種のポリシラザンが、R’、R”およびR’”=Hであるペルヒドロポリシラザンの群から選択されている。
本発明による太陽電池の製造方法は、以下のステップa)からg)を含む。
a)金属、金属合金、ガラス、セラミックまたはプラスチックからなる基板を少なくとも1種の一般式(I)のポリシラザンを含有する溶液でコーティングするステップ、
−(SiR’R”−NR’”)n− (I)
[式中、R’、R”、R’”は同じか、または異なり、互いに独立に、水素または場合によっては置換されたアルキル−、アリール、ビニルまたは(トリアルコキシシリル)アルキル基を表し、nは整数であり、ポリシラザンが150〜150000g/mol、好ましくは50000〜150000g/mol、特に100000〜150000g/molの数平均分子量を有するように、nが算定されている]
b)蒸発によって溶剤を除去するステップであって、100〜3000nm、好ましくは200〜2500nm、特に300〜2000nmの厚さを有するポリシラザン層を基板上に得るステップ、
c)場合によっては、ステップa)およびb)を1回または複数回繰り返すステップ、
d)i)20〜1000℃、特に80〜200℃の範囲の温度に加熱し、かつ/またはii)180〜230nmの範囲の波長成分のUV光を照射し、この加熱および/または照射を1分から14時間、好ましくは1分から60分間、特に1分から30分間にわたって、好ましくは水蒸気含有空気または窒素からなる雰囲気中で行うことによって、ポリシラザン層を硬化させるステップ、
e)場合によっては、20〜1000℃、好ましくは60〜130℃の温度で、60〜90%の相対湿度を有する空気中で、1分から2時間、好ましくは30分から1時間の期間にわたって、ポリシラザン層を後硬化させるステップ。
f)光起電性層構造をカルコパイライト系ベースに施与するステップ、
g)場合によっては、カプセル化層を、ステップa)からe)による光起電性層構造上に施与するステップ。
本発明による方法の有利な形態は、コーティングのために使用されるポリシラザン溶液が、以下に挙げる成分のうちの1種または複数を含有することを特徴とする。
−R’、R”、R’”=Hである少なくとも1種のペルヒドロポリシラザン;
−触媒および場合によってはさらなる添加剤;
−好ましくは酢酸ナトリウムまたは四ホウ酸ナトリウムの形態の、ナトリウム。
ナトリウム化合物をポリシラザン溶液に加える代わりに、方法ステップd)または場合によっては、e)の後に、即ち、ステップf)で光起電性層構造を施与する前に、ナトリウム含有前駆体層をポリシラザン層上に、好ましくはフッ化ナトリウムの蒸着によって堆積させる。
本発明では、カルコパイライト系太陽電池をロールツーロール法で製造することを可能にする、柔軟なウェブとして形成された基板が好ましい。
本発明によるバリア層を製造するために使用されるポリシラザン溶液において、ポリシラザンの割合は、溶液の全重量に対して、1〜80重量%、好ましくは2〜50重量%、特に5〜20重量%である。
溶剤としては、水を含有しない、ヒドロキシル基またはアミノ基などの反応性基を含有しない、ポリシラザンに対して不活性な、特に有機の、好ましくは非プロトン性の溶剤が適している。
その例は、芳香族または脂肪族炭化水素およびその混合物である。例えば、脂肪族もしくは芳香族炭化水素、ハロ炭化水素、酢酸エチルもしくは酢酸ブチルなどのエステル、アセトンもしくはメチルエチルケトンなどのケトン、テトラヒドロフランもしくはジブチルエーテルなどのエーテル、ならびにモノ−およびポリアルキレングリコールジアルキルエーテル(グリム)またはこれらの溶剤の混合物が該当する。
ポリシラザン溶液の追加成分は、層形成プロセスを促進する、例えば有機アミン、酸および金属もしくは金属塩またはこれらの化合物の混合物などの触媒であってよい。アミン触媒として、特にN,N−ジエチルエタノールアミン、N,N−ジメチルエタノールアミン、N,N−ジメチルプロパノールアミン、トリエチルアミン、トリエタノールアミンおよび3−モルホリノプロピルアミンが適している。触媒を好ましくは、ポリシラザンの重量に対して0.001〜10重量%、特に0.01〜6重量%、特に好ましくは0.1〜5重量%の量で使用する。
さらなる成分は、基板の濡れおよび塗膜形成のための添加剤、ならびにSiO、TiO、ZnO、ZrOまたはAlなどの酸化物からなる無機ナノ粒子であってよい。
本発明によるバリア層を製造するために、既に記載した組成のポリシラザン溶液を従来のコーティング法で、例えば、噴霧ノズルまたは浸漬浴によって基板上に、好ましくはスチールフィルム上に施与し、場合によっては、基板上での均一な厚さ分布または材料被覆を確保するために、弾性ドクターナイフで平滑にする。ロールツーロールコーティングに適した金属製またはプラスチック製フィルムなどの柔軟な基板の場合には、スリットノズルも、非常に薄くて均一な層を達成するための施与システムとして使用することができる。続いて、溶剤を蒸発させる。これは、室温で、または高温、好ましくは40〜60℃で適切な乾燥機を使用して、ロールツーロール法で>1m/分の速度で行うことができる。
100〜3000nmの全厚を有する乾燥しているが未硬化(「未処理」)のポリシラザン層を得るために、ポリシラザン溶液をコーティングし、続いて溶剤を蒸発させるステップシークエンスを場合によっては、1回、2回またはそれ以上の回数繰り返す。。コーティングおよび乾燥からなるステップシークエンスを複数回経ることによって、未処理ポリシラザン層中の溶剤含有量が著しく低減されるか、または除去される。この処置によって、スチールフィルムまたはチタンフィルムに対する硬化ポリシラザンフィルムの付着力を改善することができる。複数回のコーティングおよび乾燥のさらなる利点は、個々の層中に場合によっては存在する穴または亀裂が十分に覆われ閉じられて、スチールフィルムまたはチタンフィルムなどの導電性基板上での電気絶縁欠陥の数が著しく低下することにある。電気絶縁欠陥は、主に、薄い(単層)ポリシラザン層を貫通し得るローラーマーク(Walzspuren)や付着性で角のある粒子など、スチールフィルムまたはチタンフィルムの表面上の機械的欠陥によって引き起こされる。
乾燥された未処理のポリシラザン層を100〜180℃の範囲の温度で0.5〜1時間にわたって硬化させることによって、透明なセラミック相に変える。濾過し水蒸気で加湿した空気を用いて、または窒素を用いて運転される熱対流炉で、硬化を行う。温度、期間および炉の雰囲気(水蒸気含有空気または窒素)に応じて、セラミック相は異なる組成を有する。硬化を例えば水蒸気含有空気中で行うと、組成SiN(式中、x>v;v<1;0<x<1.3;0≦w≦2.5およびy<0.5)の相が得られる。これに対して、窒素雰囲気中で硬化させると、組成SiN(式中、v<1.3;x<0.1;0≦w≦2.5およびy<0.2)の相が生じる。
こうして作製されたポリシラザン層は、0.01cm−2未満、好ましくは0.005cm−2未満、特に0.002cm−2未満の電気的欠陥密度を有する。この場合、本発明によるポリシラザン層を備えるスチールフィルム(Hamilton Stahl Typ SS420)上に、1〜3μm厚のアルミニウムフィルムを蒸着またはスパッタリングすることによって、電気的欠陥密度を決定する。次いで、レーザーパターニング装置によって、それぞれ寸法約10×10cmのアルミニウムフィルム面10枚を、それぞれ1×1cmの面積を有する、隣接する、電気的に互いに絶縁された正方形の測定フィールド(Messfelder)100個に区分し、スチールフィルムと、アルミニウムフィルム内の全部で1000個の測定フィールドそれぞれとの間の電気抵抗をオーム計によって決定する。ある1個の測定フィールドで測定された抵抗が100KΩ未満である場合に、該当する測定フィールドを、電気欠陥を伴っているとみなし、1cm−2の欠陥密度と評価する。全部で1000個の測定フィールド全体での平均値を出すことによって、電気的欠陥密度を算出する。
カルコパイライト系ベース上での光起電性層構造の製造は、公知の方法に従って行う。このために、本発明によるポリシラザンからなるバリア層の上に、まず、約1μm厚のモリブデン層からなる背面接点を、DCマグネトロンスパッタリングによって堆積させ、好ましくは、モノリシック相互接続のために構造化する(P1パターニング)。このために必要なストリップへのモリブデン層の分割は、レーザーパターニング装置で行う。冒頭で論じた通り、カルコパイライト系太陽電池の効率は、モノリシック相互接続によってかなり高めることができる。
カルコパイライト系吸収材層は、従来の方法では、CVD、PVDおよび急速熱プロセシング(RTP)などの方法によって堆積されるが、その際、太陽電池の温度は、450〜600℃の値になる。この場合に時折、ポリシラザン層と、モリブデンからなる背面接点との間に、または背面接点とカルコパイライト系吸収材層との間に、層間剥離が生じることがある。本発明では、カルコパイライト系吸収材層の堆積中に、太陽電池の温度を360〜最大400℃の範囲に保持することによって、熱応力に起因するこの層間剥離を回避する。好ましくは、吸収材層の調製を、約3・10−6mbarの圧力での3段階PVDプロセスで行う。PVDプロセスの全期間は、約1.5時間であり、その際、基板は最大温度が400℃以下になる。
さらに、モリブデン背面接点の堆積前にポリシラザン層をもう一度硬化させることによって、層間剥離に対抗することができる。この「後硬化」を、特に約85℃の温度、相対湿度85%の空気中で1時間にわたって行う。分光分析によって、後硬化がポリシラザン層の窒素含有量をかなり低下させることが示されている。
CdS緩衝層の堆積は、湿式化学的に約60℃の温度で行う。i−ZnOとアルミニウムドーピングされたZnOとからなる窓層を、DCマグネトロンスパッタリングによって堆積させる。
本発明の特に好ましい一実施形態では、ナトリウムデポを備えたバリア層を付与する。好ましくは、バリア層を製造するために使用されるポリシラザン溶液に、酢酸ナトリウムを加える。さらに別の実施形態では、モリブデン背面接点を堆積する前に、硬化ポリシラザン層に、フッ化ナトリウムからなる5〜20nmの厚さの層を蒸着させる。ナトリウムでドーピングすることによって、これは、下記の試験結果の対比によって示されるように、本発明による太陽電池の効率は、従来のカルコパイライト系参照電池に対して60%よりも大きく高まる。
Figure 2012521081
上記の表において、VOCは開路電圧を、ISCは短絡電流を、jSCは短絡電流密度を、FFは曲線因子を、ηは効率を意味する。表に示されている数値は、それぞれ8個の太陽電池を用いた一連の試験の平均値を表しており、24個全ての太陽電池のカルコパイライト系吸収材層は同じ方法に従って製造されている。
前記の記載、特許請求の範囲、および図面中に開示されている本発明の特徴は、個別でも、それぞれ任意の組み合わせでも、その様々な実施形態で本発明を実現するために重要であり得る。

Claims (20)

  1. 基板(1)、光起電性層構造(4)、および基板と光起電性層構造の間にあり、ポリシラザンをベースとする誘電性バリア層(2)とを含むカルコパイライト系太陽電池(10)。
  2. 薄層太陽電池として構成されており、硫化銅インジウム(CIS)またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGSe)タイプの光起電性層構造(4)を有することを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池(10)。
  3. 前記光起電性層構造(4)が、モリブデンからなる背面接点(41)と、組成CuInSe、CuInS、CuGaSe、CuIn1−xGaSe(式中、0<x≦0.5)またはCu(InGa)(Se1−y(式中、0<y≦1)の吸収材(42)と、CdSからなる緩衝材(43)と、ZnOまたはZnO:Alからなる窓層(44)と、Alまたは銀からなる前面接点(45)とを含むことを特徴とする、請求項1または2に記載の太陽電池(10)。
  4. 前記基板(1)が、金属、金属合金、ガラス、セラミックまたはプラスチックを含有する材料からなることを特徴とする、請求項1、2または3に記載の太陽電池(10)。
  5. 前記基板(1)がフィルムとして、特に、スチールフィルムまたはチタンフィルムとして形成されていることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  6. 前記バリア層(2)が、好ましくはジブチルエーテルである溶剤中のポリシラザンおよび添加剤の硬化溶液からなることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  7. 前記バリア層(2)がナトリウムを含有するか、またはナトリウム含有前駆体層(21)を含むことを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  8. 前記バリア層(2)が、100〜3000nm、好ましくは200〜2500nm、特に300〜2000nmの厚さを有することを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  9. 前記バリア層(2)が、DIN IEC 60093に従って測定して1・10MΩ・cmより大きい、好ましくは1・1010MΩ・cmより大きい、特に1・1011MΩ・cmより大きい比抵抗を有することを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  10. 前記基板(1)上の前記バリア層(2)が、DIN−EN−ISO2409に従って20mmの接着テープ幅を用いて測定して5Nより大きい、好ましくは7Nより大きい、特に10Nより大きい付着強度を有することを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  11. 溶剤中のポリシラザンおよび添加剤の硬化溶液からなるカプセル化層(5)を含むことを特徴とする、請求項1〜10のいずれか一つに記載の太陽電池(10)。
  12. 前記バリア層(2)および場合によっては前記カプセル化層(5)が一般構造式(I)
    −(SiR’R”−NR’”)n− (I)
    のポリシラザンから作製されることを特徴とする、請求項1〜11のいずれか一つに記載の太陽電池(10)
    [式中、R’、R”、R’”は同じか、または異なり、互いに独立に、水素または場合によっては置換されたアルキル−、アリール、ビニルまたは(トリアルコキシシリル)アルキル基を表し、nは整数であり、nは、前記ポリシラザンが150〜150000g/mol、好ましくは50000〜150000g/mol、特に100000〜150000g/molの数平均分子量を有するように算定されている]。
  13. 少なくとも1種のポリシラザンが、R’、R”およびR’”=Hであるペルヒドロポリシラザンの群から選択されていることを特徴とする、請求項12に記載の太陽電池(10)。
  14. カルコパイライト系太陽電池を製造する方法であって、
    a)金属、金属合金、ガラス、セラミックまたはプラスチックからなる基板を少なくとも1種の一般式(I)のポリシラザンを含有する溶液でコーティングするステップと、
    −(SiR’R”−NR’”)n− (I)
    [式中、R’、R”、R’”は同じか、または異なり、互いに独立に、水素または場合によっては置換されたアルキル−、アリール、ビニルまたは(トリアルコキシシリル)アルキル基を表し、nは整数であり、前記ポリシラザンが150〜150000g/mol、好ましくは50000〜150000g/mol、特に100000〜150000g/molの数平均分子量を有するように、nが算定されている]
    b)蒸発によって溶剤を除去するステップであって、100〜3000nm、好ましくは200〜2500nm、特に300〜2000nmの厚さを有するポリシラザン層を前記基板上に得るステップと、
    c)場合によっては、前記ステップb)およびc)を1回または複数回繰り返すステップと、
    d)i)20〜1000℃、特に80〜200℃の範囲の温度に加熱し、かつ/またはii)180〜230nmの範囲の波長成分のUV光を照射し、前記加熱および/または照射を1分から14時間、好ましくは1分から60分間、特に1分から30分間にわたって、好ましくは水蒸気含有空気または窒素からなる雰囲気中で行うことによって、前記ポリシラザン層を硬化させるステップと、
    e)場合によっては、20〜1000℃、好ましくは60〜130℃の温度で、60〜90%の相対湿度を有する空気中で、1分から2時間、好ましくは30分から1時間にわたって、前記ポリシラザン層を後硬化させるステップと、
    f)光起電性層構造をカルコパイライト系ベース上に施与するステップと、
    g)場合によっては、カプセル化層を、前記ステップa)からe)による光起電性層構造上に施与するステップと
    を含む方法。
  15. 前記ポリシラザン溶液が、R’、R”、R’”=Hである少なくとも1種のペルヒドロポリシラザンを含有することを特徴とする、請求項14に記載の方法。
  16. 前記ポリシラザン溶液が、触媒および場合によってはさらなる添加剤を含有することを特徴とする、請求項14または15に記載の方法。
  17. 前記ポリシラザン溶液が、好ましくは酢酸ナトリウムまたは四ホウ酸ナトリウムの形態のナトリウムを含有することを特徴とする、請求項14、15または16に記載の方法。
  18. ステップd)またはe)に続いて、ナトリウム含有前駆体層を前記ポリシラザン層上に、好ましくはフッ化ナトリウムの蒸着によって堆積させることを特徴とする、請求項14〜17のいずれか一つに記載の方法。
  19. 前記カルコパイライト系太陽電池が、柔軟なウェブ状基板上にロールツーロール法で製造されることを特徴とする、請求項14〜18のいずれか一つに記載の方法。
  20. 硫化銅インジウム(CIS)またはセレン化銅インジウムガリウム(CIGSe)タイプのカルコパイライト系薄層太陽電池用のバリア層を製造するための、少なくとも1種の一般式(I)のポリシラザンを含有するポリシラザン溶液の使用
    −(SiR’R”−NR’”)n− (I)
    [式中、R’、R”、R’”は同じか、または異なり、互いに独立に、水素または場合によっては置換されたアルキル−、アリール、ビニルまたは(トリアルコキシシリル)アルキル基を表し、nは整数であり、前記ポリシラザンが150〜150000g/molの数平均分子量を有するように、nが算定されている]。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2628188A1 (de) * 2010-10-12 2013-08-21 Saint-Gobain Glass France Dünnschichtsolarmodul mit verbundscheibenstruktur
JP6109074B2 (ja) * 2010-11-17 2017-04-05 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 銀のエレクトロマイグレーションの低減方法及びそれによって製造される物品
US9209322B2 (en) 2011-08-10 2015-12-08 Ascent Solar Technologies, Inc. Multilayer thin-film back contact system for flexible photovoltaic devices on polymer substrates
KR20140081789A (ko) 2011-08-10 2014-07-01 어센트 솔라 테크놀로지스, 인크. 폴리머 기판 상의 가요성 광전 소자를 위한 다중층 박막 후면 전극 시스템
US9780242B2 (en) 2011-08-10 2017-10-03 Ascent Solar Technologies, Inc. Multilayer thin-film back contact system for flexible photovoltaic devices on polymer substrates
KR20130105325A (ko) * 2012-03-12 2013-09-25 한국에너지기술연구원 Na 무함유 기판을 이용한 CIGS계 박막 태양전지의 제조방법 및 이에 따라 제조된 태양전지
WO2015138728A1 (en) * 2014-03-13 2015-09-17 Ascent Solar Technologies, Inc. Multilayer thin-film back contact system for flexible photovoltaic devices on polymer substrates
KR101497500B1 (ko) * 2014-06-16 2015-03-03 한국과학기술연구원 파장변환층을 구비하는 태양전지 및 그의 제조 방법
CN106661272B (zh) 2014-07-29 2020-01-10 Az电子材料(卢森堡)责任有限公司 用作光电组件中的涂覆试剂的杂化材料
CN104993018A (zh) * 2015-06-29 2015-10-21 福建铂阳精工设备有限公司 控制cigs薄膜中钠含量的方法、太阳能电池及结构
WO2020205917A1 (en) * 2019-04-01 2020-10-08 First Solar, Inc. Photovoltaic devices with encapsulation layers and systems and methods for forming the same
CN113896543B (zh) * 2021-10-11 2023-03-14 西北工业大学 一种具有层状结构吸波硅碳氮陶瓷及制备方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001111076A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Tdk Corp コーティング体および太陽電池モジュール
JP2001339081A (ja) * 2000-03-23 2001-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池およびその製造方法
JP2004047860A (ja) * 2002-07-15 2004-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜太陽電池およびその製造方法
JP2004179328A (ja) * 2002-11-26 2004-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池およびその製造方法
JP2006080370A (ja) * 2004-09-10 2006-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池
JP2006140414A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池用基板及びこれを用いた太陽電池
JP2007502536A (ja) * 2003-08-12 2007-02-08 サンドビック インテレクチュアル プロパティー アクティエボラーグ 新規な金属ストリップ
WO2008127449A2 (en) * 2006-12-08 2008-10-23 Solopower, Inc. Doping techniques for group ibiiiavia compound layers

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4751191A (en) 1987-07-08 1988-06-14 Mobil Solar Energy Corporation Method of fabricating solar cells with silicon nitride coating
TW447143B (en) * 1999-03-30 2001-07-21 Seiko Epson Corp Method of manufacturing solar cell
JP4408994B2 (ja) 1999-07-13 2010-02-03 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 低誘電率多孔質シリカ質膜、半導体装置およびコーティング組成物
TW555690B (en) 2001-08-14 2003-10-01 Jsr Corp Silane composition, silicon film forming method and solar cell production method
US7396563B2 (en) 2002-05-23 2008-07-08 Sixtron Advanced Materials, Inc. Ceramic thin film on various substrates, and process for producing same
US7560641B2 (en) 2002-06-17 2009-07-14 Shalini Menezes Thin film solar cell configuration and fabrication method
DE10259472B4 (de) 2002-12-19 2006-04-20 Solarion Gmbh Flexible Dünnschichtsolarzelle mit flexibler Schutzschicht
JP2005033063A (ja) 2003-07-08 2005-02-03 Sharp Corp 太陽電池用反射防止膜およびその作製方法
DE102004011212A1 (de) * 2004-03-04 2005-09-29 Clariant International Limited Perhydropolysilazane enthaltende Beschichtungen für Metall- und Polymeroberflächen
JP4969785B2 (ja) * 2005-02-16 2012-07-04 本田技研工業株式会社 カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法
DE102005034817A1 (de) 2005-07-26 2007-02-01 Clariant International Limited Verfahren zur Herstellung einer dünnen glasartigen Beschichtung auf Substraten zur Verringerung der Gaspermeation
DE102005042944A1 (de) * 2005-09-08 2007-03-22 Clariant International Limited Polysilazane enthaltende Beschichtungen für Metall- und Polymeroberflächen
MX2008011846A (es) 2006-03-17 2008-09-29 Akzo Nobel Nv Procedimiento para preparar una composicion de caucho, composicion de caucho obtenida del mismo, y uso del mismo.
KR20090107882A (ko) 2008-04-10 2009-10-14 삼성전자주식회사 고정층을 포함하는 경사 조성 봉지 박막 및 그의 제조방법
DE102008020324A1 (de) * 2008-04-23 2009-10-29 Clariant International Limited Polysilazane enthaltende Beschichtungen zur Erhöhung der Lichtausbeute von verkapselten Solarzellen
DE102009013904A1 (de) 2009-03-19 2010-09-23 Clariant International Limited Solarzellen mit einer Verkapselungsschicht auf Basis von Polysilazan

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001111076A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Tdk Corp コーティング体および太陽電池モジュール
JP2001339081A (ja) * 2000-03-23 2001-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池およびその製造方法
JP2004047860A (ja) * 2002-07-15 2004-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜太陽電池およびその製造方法
JP2004179328A (ja) * 2002-11-26 2004-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池およびその製造方法
JP2007502536A (ja) * 2003-08-12 2007-02-08 サンドビック インテレクチュアル プロパティー アクティエボラーグ 新規な金属ストリップ
JP2006080370A (ja) * 2004-09-10 2006-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池
JP2006140414A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池用基板及びこれを用いた太陽電池
WO2008127449A2 (en) * 2006-12-08 2008-10-23 Solopower, Inc. Doping techniques for group ibiiiavia compound layers

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