JP2012511821A - 投影露光装置内の光学素子のための重力補償器 - Google Patents
投影露光装置内の光学素子のための重力補償器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012511821A JP2012511821A JP2011540118A JP2011540118A JP2012511821A JP 2012511821 A JP2012511821 A JP 2012511821A JP 2011540118 A JP2011540118 A JP 2011540118A JP 2011540118 A JP2011540118 A JP 2011540118A JP 2012511821 A JP2012511821 A JP 2012511821A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- force
- magnetic
- compensator
- compensating
- characteristic curve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 102
- 230000005484 gravity Effects 0.000 title abstract description 112
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 182
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 47
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 26
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 26
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 26
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 13
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims description 8
- 230000005483 Hooke's law Effects 0.000 claims description 6
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 claims description 6
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 4
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 claims 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 27
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 14
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 11
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 11
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] Chemical compound N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 4
- 230000001447 compensatory effect Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 3
- 238000001900 extreme ultraviolet lithography Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000000418 atomic force spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009919 sequestration Effects 0.000 description 1
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70758—Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70825—Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
- G02B13/14—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation
- G02B13/143—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation for use with ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
- G02B13/16—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use in conjunction with image converters or intensifiers, or for use with projectors, e.g. objectives for projection TV
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/001—Counterbalanced structures, e.g. surgical microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
Abstract
Description
−補償されるべき重量による力が200N以上又は300N以上の場合のための補償素子、
−前記光学素子の位置を500μm以上から3mmまで変化することを可能にする補償素子、
−磁気補償素子
−磁気補償素子の少なくとも1つは、重量による力を補償するための補償器の付近に存する雰囲気から、例えば気密エンキャプスレーション及び/又は気密コーティング及び/又はガスパージング等によって隔離された態様で配置されるものである磁気補償素子、
−少なくとも1つの磁場に影響を及ぼす可換調整素子を有する磁気補償素子、
−異なる力対距離特性曲線を有し、直列及び/又は並列に配列される少なくとも2つの磁気補償素子
−非磁性のリジッドカップリングによって連結される第1及び第2の磁気補償素子を伴う補償素子、
−少なくとも1つの磁束ガイド素子又は強磁性磁束ガイド素子を伴う磁気補償素子、
−少なくとも2つの内側磁石を有する磁気補償素子であって、前記内側磁石の少なくとも1つは他方の前記内側磁石との関係で空間的配置及び/又はその磁力を調整することができるように変更できるもの、
−フックの法則に従う機械的な補償器、
−力対距離特性曲線において略一定の力が得られる範囲を持つ機械的なスプリング素子、
−アクチュエータを備える補償素子、
−スプリング素子、
−バックリングバー、
−少なくとも1つのカウンタウェイトを有する補償素子であって、少なくとも1つの偏向素子を介してマウントされるべき光学素子に連結されている補償素子、
−少なくとも1つのカウンタウェイトを有する補償素子であって、ケーブルプル又はローラ等の少なくとも1つの偏向素子を介してマウントされるべき光学素子に連結されている補償素子、
−少なくとも1つの位置出し素子を有する補償素子であって、マウントされるべき光学素子に対して、補償素子とは独立な位置変化を可能にする補償素子、
を含む群である。したがって、上述された重力補償器の実施態様について説明された利点は、重量による力を補償するための追加的な補償器に関しても得ることができる。
−磁気ガイド手段、
−磁気ガイド手段の少なくとも1つは、重量による力を補償するための補償器の付近に存する雰囲気から、例えば気密エンキャプスレーション及び/又は気密コーティング及び/又はガスパージング等によって隔離された態様で配置されるものである磁気ガイド手段、
−少なくとも1つの磁場に影響を及ぼす可換調整素子を有する磁気ガイド手段、
−異なる力対距離特性曲線を有し、直列及び/又は並列に配列される少なくとも2つの磁気ガイド手段、
−少なくとも2つの内側磁石を有する磁気ガイド手段であって、前記内側磁石の少なくとも1つは他方の前記内側磁石との関係で空間的配置及び/又はその磁力を調整することができるように変更できるもの、
−フックの法則に従う機械的なガイド手段、
−力対距離特性曲線において略一定の力が得られる範囲を持つ機械的なスプリング素子、
−アクチュエータを備えるガイド手段、
−スプリング素子、
−バックリングバー、
−メンブレン、
−力によって機械的にプリストレスされているスプリング素子又はバックリングバー又はメンブレン、
−マウントされるべき光学素子の位置変化を可能にする少なくとも1つの位置出し素子を含むガイド手段、
を含む群である。
Claims (12)
- 光学素子をマウントするため及びz方向において作用し、かつ、マイクロリソグラフィのための投影露光装置内の力点に加えられる力Fを補償するための重量による力を補償するための補償器であって、
−補償素子のアーマチュアと、
−前記補償素子の前記アーマチュアをガイドするためのガイド手段
とを備え、
−前記アーマチュアは、前記力Fの向かう前記z方向において可動であり、かつ、前記力点を包囲し、
−前記補償素子は、前記力Fの向かう前記z方向に関して第1の力対距離特性曲線を持ち、また、前記力Fを有する第1の力区間ΔF1における最大の力と最小の力との差たるΔFF1を第1の距離区間Δz1の絶対値で除算した商として求められ、かつ、前記第1の力対距離特性曲線によって前記第1の力区間ΔF1に割り当てられ、かつ、前記第1の力対距離特性曲線によって前記力Fが対応付けられる第1の点z0の周辺に関する、第1のベアリング剛性S1を持ち、
−前記ガイド手段は、前記力Fの向かう方向に関しての第2の力対距離特性曲線を持ち、また、第2の力区間ΔF2における最大の力と最小の力との差たるΔFF2を第1の距離区間Δz1の絶対値で除算した商として求められ、かつ、前記第1の点z0の周辺の前記第1の距離区間Δz1における前記第2の力対距離特性曲線によって割り当てられる、第2のベアリング剛性S2を持ち、
−前記力を補償するための補償器の力は、前記第1及び前記第2の力対距離特性曲線から求められる力の合算により求められ、
−前記合算により生じる力対距離特性曲線は、前記力Fを有する少なくとも1つの第3の力区間ΔF3における最大の力と最小の力との差たるΔFF3を少なくとも1つの点z0*の周辺の前記第1の距離区間Δz1の絶対値で除算した商として求められる第3のベアリング剛性S3を持ち、
−前記少なくとも1つの第3の力区間ΔF3は、前記少なくとも1つの点z0*の周辺の前記第1の距離区間Δz1においての前記生じる力対距離特性曲線によって定義され、
−前記少なくとも1つの点z0*は、前記生じる力対距離特性曲線によって前記力Fに対応付けられ、
−前記ベアリング剛性S3は、前記ベアリング剛性S1以下であり、及び/又は前記生じる力対距離特性曲線は、互いに前記第1の距離区間Δz1より大きな距離で離隔された少なくとも2つの点z0*を有し、及び/又は前記生じる力対距離特性曲線における前記力Fの周辺の前記差たるΔFF1はΔz1より大なる距離区間に割り当てられる、重量による力を補償するための補償器。 - 前記アーマチュアは、前記点z0*周辺の第1の距離区間Δz1の範囲で、前記力の前記方向において可動である、請求項1に記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記距離区間Δz1は、3mm未満である、請求項1から請求項2のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記第3のベアリング剛性は、2N/mm未満である、請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記アーマチュアの前記力Fと直交方向への運動が、前記力の方向への前記アーマチュアの前記運動の絶対値の10%未満に、前記力Fの方向に直交する方向に働く前記ガイド手段により発生される横方向の力によって制限される、請求項1から請求項4のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記光学素子は前記アーマチュアの前記力点にて、直接又は間接に支持デバイスにより支持される、請求項1から請求項5のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記光学素子は、リソグラフィ用EUV投影露光装置のミラーであり、前記力Fは、前記ミラーの重量による力又は前記ミラーの重量による力の一部である、請求項6に記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記支持デバイスは、前記ガイド手段よりも低い前記力Fの方向に直交な方向における剛性を有する、請求項6又は請求項7に記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記支持デバイスは、前記ガイド手段よりも高い前記力Fの方向に直交な方向における剛性を有する、請求項6又は請求項7に記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記支持デバイスは、前記差たるΔFF3の100倍よりも高い前記力Fの方向における剛性を有する、請求項6から請求項9のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。
- 前記補償素子は、
−補償されるべき重量による力が200N以上又は300N以上の場合のための補償素子、
−前記光学素子の位置を500μm以上から3mmまで変化することを可能にする補償素子、
−磁気補償素子
−磁気補償素子の少なくとも1つは、重量による力を補償するための補償器の付近に存する雰囲気から隔離された態様で配置されるものである磁気補償素子、
−磁気補償素子の少なくとも1つは、重量による力を補償するための補償器の付近に存する雰囲気から、気密エンキャプスレーション及び/又は気密コーティング及び/又はガスパージングによって隔離された態様で配置されるものである磁気補償素子、
−少なくとも1つの磁場に影響を及ぼす可換調整素子を有する磁気補償素子、
−異なる力対距離特性曲線を有し、直列及び/又は並列に配列される少なくとも2つの磁気補償素子
−非磁性のリジッドカップリングによって連結される第1及び第2の磁気補償素子を伴う補償素子、
−少なくとも1つの磁束ガイド素子又は強磁性磁束ガイド素子を伴う磁気補償素子、
−少なくとも2つの内側磁石を有する磁気補償素子であって、前記内側磁石の少なくとも1つは他方の前記内側磁石との関係で空間的配置及び/又はその磁力を調整することができるように変更できるもの、
−フックの法則に従う機械的な補償器、
−力対距離特性曲線において略一定の力が得られる範囲を持つ機械的なスプリング素子、
−アクチュエータを備える補償素子、
−スプリング素子、
−バックリングバー、
−少なくとも1つのカウンタウェイトを有する補償素子であって、少なくとも1つの偏向素子を介してマウントされるべき光学素子に連結されている補償素子、
−少なくとも1つのカウンタウェイトを有する補償素子であって、ケーブルプル又はローラを介してマウントされるべき光学素子に連結されている補償素子、
−少なくとも1つの位置出し素子を有する補償素子であって、マウントされるべき光学素子に対して、補償素子とは独立な位置変化を可能にする補償素子、
を含む第1の群の素子の少なくとも1つを含む、請求項1から請求項10のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。 - 前記ガイド手段は、
−磁気ガイド手段、
−磁気ガイド手段の少なくとも1つは、重量による力を補償するための補償器の付近に存する雰囲気から隔離された態様で配置されるものである磁気ガイド手段、
−磁気ガイド手段の少なくとも1つは、重量による力を補償するための補償器の付近に存する雰囲気から、気密エンキャプスレーション及び/又は気密コーティング及び/又はガスパージングによって隔離された態様で配置されるものである磁気ガイド手段、
−少なくとも1つの磁場に影響を及ぼす可換調整素子を有する磁気ガイド手段、
−異なる力対距離特性曲線を有し、直列及び/又は並列に配列される少なくとも2つの磁気ガイド手段、
−少なくとも2つの内側磁石を有する磁気ガイド手段であって、前記内側磁石の少なくとも1つは他方の前記内側磁石との関係で空間的配置及び/又はその磁力を調整することができるように変更できるもの、
−フックの法則に従う機械的なガイド手段、
−力対距離特性曲線において略一定の力が得られる範囲を持つ機械的なスプリング素子、
−アクチュエータを備えるガイド手段、
−スプリング素子、
−バックリングバー、
−メンブレン、
−力によって機械的にプリストレスされているスプリング素子又はバックリングバー又はメンブレン、
−マウントされるべき光学素子の位置変化を可能にする少なくとも1つの位置出し素子を含むガイド手段、
を含む第2の群の素子の少なくとも1つを含む、請求項1から請求項10のいずれか1つに記載の重量による力を補償するための補償器。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008054550 | 2008-12-11 | ||
DE102008054550.3 | 2008-12-11 | ||
PCT/EP2009/066917 WO2010066873A1 (de) | 2008-12-11 | 2009-12-11 | Gravitationskompensation für optische elemente in projektionsbelichtungsanlagen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012511821A true JP2012511821A (ja) | 2012-05-24 |
JP5612595B2 JP5612595B2 (ja) | 2014-10-22 |
Family
ID=41559606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011540118A Active JP5612595B2 (ja) | 2008-12-11 | 2009-12-11 | 投影露光装置内の光学素子のための重力補償器 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8854603B2 (ja) |
JP (1) | JP5612595B2 (ja) |
KR (1) | KR101702145B1 (ja) |
CN (1) | CN102265219B (ja) |
DE (1) | DE102009054549A1 (ja) |
WO (1) | WO2010066873A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150036273A (ko) * | 2012-07-12 | 2015-04-07 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 이동가능 요소를 위한 지지대, 지지대 시스템, 리소그래피 장치, 이동가능 요소를 지지하는 방법, 및 디바이스 제조 방법 |
JP2016500838A (ja) * | 2012-10-15 | 2016-01-14 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 作動機構、光学装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法 |
JP2016503519A (ja) * | 2012-11-29 | 2016-02-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学系の少なくとも1つの光学素子を作動させる機構 |
JP2016157103A (ja) * | 2015-01-26 | 2016-09-01 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 構成体及び構成体を備えたリソグラフィ装置 |
KR20170105578A (ko) * | 2015-01-22 | 2017-09-19 | 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 | 리소그래피 시스템 내에 구성요소를 유지하기 위한 조립체 및 리소그래피 시스템 |
US11915863B2 (en) | 2019-02-01 | 2024-02-27 | Zaber Technologies Inc. | Adjustable magnetic counterbalance |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5612595B2 (ja) | 2008-12-11 | 2014-10-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影露光装置内の光学素子のための重力補償器 |
DE102009008209A1 (de) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | Carl Zeiss Smt Ag | Aktuator mit mindestens einem Magneten für eine Projektionsbelichtungsanlage sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einem Magneten und Herstellungsverfahren hierfür |
WO2010131490A1 (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-18 | 株式会社ニコン | 露光装置及びデバイス製造方法 |
DE102011088735A1 (de) * | 2010-12-20 | 2012-06-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung zur Halterung eines optischen Elementes, insbesondere in einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
US9083227B2 (en) * | 2011-09-09 | 2015-07-14 | Asml Holding N.V. | Linear motor and lithography arrangement including linear motor |
WO2014012729A1 (en) | 2012-07-18 | 2014-01-23 | Asml Netherlands B.V. | Magnetic device and lithographic apparatus |
CN102929301B (zh) * | 2012-11-26 | 2015-02-18 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 光测设备望远系统的动平衡控制装置 |
BR112015023752B1 (pt) | 2013-03-15 | 2023-11-14 | Zyngenia, Inc. | Domínio de reconhecimento modular (mrd), complexo compreendendo mrd e cetuximabe, usos do complexo para inibir a angiogênese e tratar câncer e composição farmacêutica compreendendo o dito complexo |
KR101523366B1 (ko) * | 2013-05-14 | 2015-05-29 | 한국표준과학연구원 | 광학거울의 공압시스템에 적용되는 중력보상장치, 중력보상방법 및 그 중력보상장치가 구비된 광학거울의 공압시스템 |
DE102013209028A1 (de) | 2013-05-15 | 2014-05-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014218969A1 (de) * | 2014-09-22 | 2016-04-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014224217A1 (de) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit Aktuatorseilen |
US10471610B2 (en) | 2015-06-16 | 2019-11-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Robot arm having weight compensation mechanism |
DE102015225537B4 (de) | 2015-12-17 | 2019-11-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Ausrichtung eines Bauteils, Betätigungseinrichtung und Projektionsbelichtungsanlage |
ES2603655B1 (es) * | 2016-04-21 | 2017-09-25 | Consorci Per A La Construcció, Equipament I Explotació Del Laboratori De Llum De Sincrotró | Dispositivo y método de aplicación de fuerza en un objeto |
DE102016214785A1 (de) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul mit einer Antikollisionseinrichtung für Modulkomponenten |
CN107885039B (zh) * | 2016-09-30 | 2019-07-23 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 可变磁浮力重力补偿器 |
DE102017207433A1 (de) * | 2017-05-03 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen Elements |
DE102017209794B4 (de) | 2017-06-09 | 2023-05-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ausrichtung eines optischen Elements, sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102017217946B4 (de) * | 2017-10-09 | 2019-08-01 | Universität Stuttgart | Aktuatorvorrichtung zur leistungslosen Gewichtskraftkompensation |
CN108168669B (zh) * | 2018-02-12 | 2023-11-03 | 西南交通大学 | 一种货车货物的称重装置 |
DE102018202694A1 (de) | 2018-02-22 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
CN111868631A (zh) * | 2018-03-09 | 2020-10-30 | Asml荷兰有限公司 | 用于光刻设备的定位系统 |
DE102018207949A1 (de) | 2018-05-22 | 2019-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanalge |
DE102018208373A1 (de) * | 2018-05-28 | 2019-06-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element zur Strahlführung von Abbildungslicht bei der Projektionslithographie |
RU2691622C2 (ru) * | 2018-08-01 | 2019-06-17 | Олег Всеволодович Карагиоз | Способ определения гравитационной постоянной с учётом вклада кареток в моменты притяжения |
DE102019202868A1 (de) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Aktuatoreinrichtung und Verfahren zur Ausrichtung eines optischen Elements, optische Baugruppe sowie Projektionsbelichtungsanlage |
RU2714518C2 (ru) * | 2019-07-01 | 2020-02-18 | Олег Всеволодович Карагиоз | Способ определения гравитационной постоянной с добавлением периода колебаний при отсутствии кареток |
FR3108692B1 (fr) * | 2020-03-24 | 2022-06-24 | Skf Magnetic Mechatronics | Système de compensation des efforts appliqués sur un palier supportant un arbre de rotor d’une machine tournante |
WO2024061736A1 (en) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Asml Netherlands B.V. | Positioning system for an optical element of a metrology apparatus |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09275069A (ja) * | 1996-04-04 | 1997-10-21 | Nikon Corp | ステージ装置及びこれを用いた露光装置 |
JP2000306981A (ja) * | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Nikon Corp | 反力キャンセラー及び重量キャンセラー |
JP2001284438A (ja) * | 2000-04-03 | 2001-10-12 | Canon Inc | 磁気支持機構、位置決め装置、露光装置、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法 |
JP2003203860A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-18 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
JP2004281654A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Canon Inc | 駆動機構及びそれを用いた露光装置、デバイスの製造方法 |
JP2004319682A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Canon Inc | 露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2005140185A (ja) * | 2003-11-05 | 2005-06-02 | Nikon Corp | パラレルリンク機構、ステージ装置及び露光装置 |
WO2006120927A1 (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-16 | Nikon Corporation | 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
JP2009545152A (ja) * | 2006-07-25 | 2009-12-17 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 光学要素のための支持体 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5560719A (en) | 1978-10-27 | 1980-05-08 | Toshiba Corp | Magnetic bearing |
JPS58137618A (ja) | 1982-02-10 | 1983-08-16 | Natl Aerospace Lab | 磁気軸受 |
US5780943A (en) * | 1996-04-04 | 1998-07-14 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and method |
SE9701959D0 (sv) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | Global Hemostasis Inst Mgr Ab | Bearing device |
TW509823B (en) * | 2000-04-17 | 2002-11-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby |
KR100775796B1 (ko) | 2000-08-18 | 2007-11-12 | 가부시키가이샤 니콘 | 광학소자 유지장치 |
DE10053899A1 (de) | 2000-10-31 | 2002-05-08 | Zeiss Carl | Vorrichtung zur Lagerung eines optischen Elementes |
EP1265105B1 (en) * | 2001-05-31 | 2009-04-22 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
DE10140608A1 (de) | 2001-08-18 | 2003-03-06 | Zeiss Carl | Vorrichtung zur Justage eines optischen Elements |
JP4574206B2 (ja) | 2003-04-25 | 2010-11-04 | キヤノン株式会社 | 駆動装置、それを用いた露光装置、デバイスの製造方法 |
EP1475669A1 (en) | 2003-05-06 | 2004-11-10 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby |
JP4649136B2 (ja) | 2003-07-31 | 2011-03-09 | キヤノン株式会社 | アクチュエータ、露光装置及びデバイス製造方法 |
DE10339362A1 (de) | 2003-08-27 | 2005-03-24 | Carl Zeiss Smt Ag | Vorrichtung zur Verhinderung des Kriechens eines optischen Elementes |
US7259832B2 (en) * | 2003-09-26 | 2007-08-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US7604359B2 (en) | 2004-05-04 | 2009-10-20 | Carl Zeiss Smt Ag | High positioning reproducible low torque mirror-actuator interface |
JP2006040927A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Nikon Corp | 支持装置、ステージ装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
FR2882203B1 (fr) | 2005-02-15 | 2007-06-22 | Levisys Sarl | Procede de stabilisation d'un objet en suspension dans un champ magnetique |
WO2007010011A2 (en) | 2005-07-19 | 2007-01-25 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical element module |
DE102005057860A1 (de) | 2005-12-03 | 2007-06-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Objektiv, insbesondere Projektionsobjektiv für die Halbleiterlithographie |
DE102006038455A1 (de) | 2006-08-16 | 2008-02-21 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches System für die Halbleiterlithographie |
US8416386B2 (en) * | 2007-03-13 | 2013-04-09 | Nikon Corporation | Conforming seats for clamps used in mounting an optical element, and optical systems comprising same |
WO2008122313A1 (en) | 2007-04-05 | 2008-10-16 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical element module with imaging error and position correction |
NL2001216C2 (nl) | 2008-01-25 | 2009-07-30 | Dams Beheer B V J | Magnetische actuator. |
JP5612595B2 (ja) | 2008-12-11 | 2014-10-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影露光装置内の光学素子のための重力補償器 |
-
2009
- 2009-12-11 JP JP2011540118A patent/JP5612595B2/ja active Active
- 2009-12-11 DE DE102009054549A patent/DE102009054549A1/de not_active Withdrawn
- 2009-12-11 WO PCT/EP2009/066917 patent/WO2010066873A1/de active Application Filing
- 2009-12-11 CN CN200980149514.0A patent/CN102265219B/zh active Active
- 2009-12-11 KR KR1020117013184A patent/KR101702145B1/ko active IP Right Grant
-
2011
- 2011-05-19 US US13/111,492 patent/US8854603B2/en active Active
-
2014
- 2014-09-12 US US14/484,696 patent/US9341807B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09275069A (ja) * | 1996-04-04 | 1997-10-21 | Nikon Corp | ステージ装置及びこれを用いた露光装置 |
JP2000306981A (ja) * | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Nikon Corp | 反力キャンセラー及び重量キャンセラー |
JP2001284438A (ja) * | 2000-04-03 | 2001-10-12 | Canon Inc | 磁気支持機構、位置決め装置、露光装置、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法 |
JP2003203860A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-18 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
JP2004281654A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Canon Inc | 駆動機構及びそれを用いた露光装置、デバイスの製造方法 |
JP2004319682A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Canon Inc | 露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2005140185A (ja) * | 2003-11-05 | 2005-06-02 | Nikon Corp | パラレルリンク機構、ステージ装置及び露光装置 |
WO2006120927A1 (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-16 | Nikon Corporation | 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
JP2009545152A (ja) * | 2006-07-25 | 2009-12-17 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 光学要素のための支持体 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101688906B1 (ko) | 2012-07-12 | 2016-12-22 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 이동가능 요소를 위한 지지대, 지지대 시스템, 리소그래피 장치, 이동가능 요소를 지지하는 방법, 및 디바이스 제조 방법 |
JP2015523601A (ja) * | 2012-07-12 | 2015-08-13 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 可動要素のための支持部、露光装置、及びデバイス製造方法 |
KR20150036273A (ko) * | 2012-07-12 | 2015-04-07 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 이동가능 요소를 위한 지지대, 지지대 시스템, 리소그래피 장치, 이동가능 요소를 지지하는 방법, 및 디바이스 제조 방법 |
US9535340B2 (en) | 2012-07-12 | 2017-01-03 | Asml Netherlands B.V. | Support for a movable element and lithography apparatus |
JP2016500838A (ja) * | 2012-10-15 | 2016-01-14 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 作動機構、光学装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法 |
JP2016503519A (ja) * | 2012-11-29 | 2016-02-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学系の少なくとも1つの光学素子を作動させる機構 |
US9665011B2 (en) | 2012-11-29 | 2017-05-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement for actuating at least one optical element in an optical system |
US10303065B2 (en) | 2012-11-29 | 2019-05-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement for actuating at least one optical element in an optical system |
KR20170105578A (ko) * | 2015-01-22 | 2017-09-19 | 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 | 리소그래피 시스템 내에 구성요소를 유지하기 위한 조립체 및 리소그래피 시스템 |
KR102609748B1 (ko) | 2015-01-22 | 2023-12-06 | 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 | 리소그래피 시스템 내에 구성요소를 유지하기 위한 조립체 및 리소그래피 시스템 |
JP2016157103A (ja) * | 2015-01-26 | 2016-09-01 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 構成体及び構成体を備えたリソグラフィ装置 |
US9632421B2 (en) | 2015-01-26 | 2017-04-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement and lithography apparatus with arrangement |
US11915863B2 (en) | 2019-02-01 | 2024-02-27 | Zaber Technologies Inc. | Adjustable magnetic counterbalance |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5612595B2 (ja) | 2014-10-22 |
US20110267596A1 (en) | 2011-11-03 |
DE102009054549A1 (de) | 2010-06-17 |
CN102265219B (zh) | 2014-07-16 |
US20150009557A1 (en) | 2015-01-08 |
KR101702145B1 (ko) | 2017-02-03 |
KR20110098734A (ko) | 2011-09-01 |
CN102265219A (zh) | 2011-11-30 |
WO2010066873A1 (de) | 2010-06-17 |
US9341807B2 (en) | 2016-05-17 |
US8854603B2 (en) | 2014-10-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5612595B2 (ja) | 投影露光装置内の光学素子のための重力補償器 | |
JP6309765B2 (ja) | 光学素子を取り付ける配置構成 | |
JP6053081B2 (ja) | 光学系の少なくとも1つの光学素子を作動させる機構 | |
US11537052B2 (en) | Weight-force compensation device | |
JPH0980550A (ja) | 像ブレ補正装置 | |
KR20120105355A (ko) | 중력을 보상하는 수직 액츄에이터 구동장치 | |
US11385456B2 (en) | Device and method for positioning a moveable member, and a steerable mirror unit including such device | |
US20210389681A1 (en) | Actuator device and method for aligning an optical element, optical assembly and projection exposure apparatus | |
CN107209462B (zh) | 保持光刻系统中的部件的组合件和光刻系统 | |
JP6231587B2 (ja) | 構成体及び構成体を備えたリソグラフィ装置 | |
EP4007136A1 (en) | Magnetic levitation stage device, and charged particle beam device or vacuum device in which magnetic levitation stage device is used | |
JP4287781B2 (ja) | 測定システム用基準フレームを有する位置決め装置 | |
JP2011192889A (ja) | カウンタマス装置およびステージ装置 | |
KR20180094032A (ko) | 리소그래피 장치용 광학 디바이스 및 리소그래피 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140324 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140826 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140904 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5612595 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |