JP2012252744A - 磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジ - Google Patents

磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジ Download PDF

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Abstract

【課題】巻き取られた磁気テープに巻き緩みが生じることを抑えられる磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジを提供する。
【解決手段】磁気テープを巻き取る巻取方法は、磁気テープを走行させ、走行する磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御、又は、走行している磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する。
【選択図】図4

Description

本発明は、磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、及び磁気テープカートリッジに関する。
コンピュータのデータバックアップ等を行う記録媒体としては、磁気テープが使用されている。磁気テープは、例えば、ベースフィルム上に下塗層と磁性層とを積層し、また、ベースフィルムにおける磁性層を形成した側と反対側にはバックコート層を形成した構成のものがある。
磁気テープは磁気テープカートリッジに収容されて使用される。磁気テープカートリッジは、例えば、磁気テープを巻き取ったテープリールと、このテープリールを収容するカートリッジ筐体とを備える構成である。
磁気テープカートリッジの組み立てでは、先に製造された磁気テープ用の原反ロールをスリットし、スリットされた磁気テープが巻取装置によって磁気テープカートリッジのテープリールに巻き取られる。
巻取装置によって磁気テープをテープリールに巻き取ったとき、テープリールに巻き重ねられた磁気テープ同士の間に、空気層(所謂、エアフィルム)が介在することがある。空気層は、巻き取り時に走行する磁気テープ近傍の空気が混入することで形成される。空気層が存在する場合には、テープリールに磁気テープを巻き取った後、巻き取りの際に磁気テープに加えられていたテンションを開放すると、巻き取られた磁気テープの巻き締めが緩むことがある。磁気テープに巻き締めの緩みが生じると、磁気テープカートリッジをドライブ装置に挿入した際に、磁気テープカートリッジから磁気テープをドライブ装置側に引き込むローディング動作やドライブ装置の磁気記録再生を行なう動作において、エラーが生じることがある。
特許文献1に示す巻取装置は、磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープ表面を押圧機構によってテープリールの内周側に押圧することで、走行する磁気テープに同伴して空気が巻き込まれることを抑えている。
特開2004−307091号公報 特許4037292号公報
ところで、近年、磁気テープの高記録容量化及び高記録密度化が図られ、磁気テープの磁性層の薄層化やバックコート層の表面の平滑化が進んでいる。すると、巻き取られた磁気テープの一方の面に形成された磁性層と、その上に巻き回された磁気テープの他方の面に形成されたバックコート層との間に生じる空気層の影響が大きくなる。つまり、平滑な表面の突起のサイズが小さいために磁性層とバックコート層とが接触しづらくなり、摩擦力が低減することで、磁気テープの巻き緩みが生じることが懸念されている。
特許文献1は、磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープ表面を押圧機構によってテープリールの内周側に押圧することで、磁気テープに同伴する空気を排除することが記載されている。しかし、磁気テープの平滑化が進むと、押圧機構のみによって空気の巻き込みを防止しようとすると、巻芯の変形など他の弊害が発生する。また、フランジを有する巻取りでは、押圧機構を設けることが事実上困難である。
本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、巻き取られた磁気テープの巻き緩みが生じることを抑えられる磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジを提供する。
(1)磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
巻き取った前記磁気テープの、該磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御を有する巻取方法。
(2)磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
走行している前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
(3)上記の巻取方法によって磁気テープを巻き取ったテープリールを、カートリッジに組み込む、又は予めカートリッジに組み込まれたテープリールに上記の巻取方法によって磁気テープを巻き取る磁気テープカートリッジの製造方法。
(4)磁気テープを備える磁気テープカートリッジであって、
カートリッジ筐体と、
前記カートリッジ筐体に収容され、前記磁気テープを巻き取るためのテープリールと、
前記カートリッジ筐体に設けられ、無線通信可能な記憶部と、を備え、
前記記憶部には、上記の巻取装置によって読み出し可能であって、前記磁気テープの種類を示す情報が記憶されている磁気テープカートリッジ。
本発明によれば、巻き取られた磁気テープに巻き緩みが生じることを抑えられる磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジを提供できる。
磁気テープの構成を示す模式的な断面図である。 巻き取られた磁気テープを示す図である。 磁気テープの巻取装置の構成を概略的に示した図である。 磁気テープを巻き取るときの手順を示すフローチャートである。 図3の巻取装置を使用して磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープの速度を制御する手順を示すフローチャートである。 磁気テープカートリッジの構成を示す斜視図である。
図1は、磁気テープの構成を示す模式的な断面図である。
図1に示す、磁気テープMTは、例えばコンピュータのバックアップ用の記録媒体として使用されるものである。磁気テープMTは、非磁性のベースフィルム(非磁性支持体)2と、ベースフィルム2の一方の面に形成された下塗層3と、下塗層3の上に形成された磁性層4と、ベースフィルム2の他方の面に形成されたバックコート層5とを有する。
ベースフィルム2は、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)やポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル類、ポリオレフィン類、セルローストリアセテート、ポリカーボネート、ポリアミド(特に好ましくは芳香族ポリアミド)、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスルフォン、アラミド、ポリフェニルスルホン、PBO(ポリベンゾオキサゾール)等からなる公知のフィルムが使用できる。
下塗層3は、ベースフィルム2と磁性層4の間に形成され、ベースフィルム2と磁性層4との間の密着性を向上させる役割を有する。この下塗層3は、結合剤、カーボンブラック、酸化チタン、酸化鉄、アルミナ等の非磁性粒子などを用いて形成される。
磁性層4は、磁性粉末と結合剤とを必須成分として形成され、磁気的変化としてデータ信号を記録し、また、その磁気的変化を再生ヘッドによって読み取ってデータ信号を再生することができるものである。
磁性層4の構成成分である磁性粉末は、高密度記録を可能とするため、強磁性金属粉末または六方晶フェライト磁性粉末が好ましい。強磁性金属粉末は、例えば、Feを主体とした針状粉末であり、Co、Mn、Ni、Sm、Nb等が含まれる合金粉末が用いられる。
バックコート層5は、磁気テープMTの走行耐久性向上のために、磁性層4が設けられた側と反対側のベースフィルム2上に形成される。このバックコート層5は、結合剤、及びカーボンブラックを含有するものであることが好ましい。
バックコート層5は、その表面Sに、微小な突起が形成されている。この突起は、主にカーボンブラックによって形成される。
なお、磁気テープMTには、上述した下塗層3、磁性層4、バックコート層5以外の層が含まれていても良い。例えば、第2の磁性層、クッション層、オーバーコート層、接着層、保護層を有していても良い。
磁気テープMTの製造方法の一例としては、製造目標とする磁気テープMTの幅寸法よりも大きい幅寸法のベースフィルム2を用意し、このベースフィルム2に、上述の層を塗布工程で形成したウエブを巻き取り、原反ロールを製造する。そして、この原反ロールをスリット工程で所定の幅寸法にスリットすることで得られる。スリットされた磁気テープは、サーボ工程において、磁性層4にサーボ信号が記録される。なお、磁気テープMTの製造方法は、この例のものに限定されず、公知のものを採用することができる。
次に、巻取工程として、磁気テープMTは、後述する巻取装置を使用して、所定の速度で走行させ、走行させる磁気テープMTに所定のテンションを加えつつ、テープリール等の巻取部に巻き取られる。磁気テープMTは、該磁気テープMTの幅方向両端の位置を揃えて重ねられた状態で、巻き取られる。
次に、巻き取られた磁気テープに生じる空気層と、バックコート層の表面との関係について説明する。
図2は、巻き取られた磁気テープを示す図である。図2(a)は、巻き取られた磁気テープMTを示し、図2(b)及び図2(c)はそれぞれ概略的な断面図であり、磁気テープMTの一方の面に形成されている磁性層4と、該磁性層4の上に巻き重ねられた磁気テープMTの他方の面に形成されているバックコート層5を示している。
図2(b)に示す磁気テープMTは、バックコート層5の表面が粗く、図2(c)に示す磁気テープMTのバックコート層5に比べて、バックコート層5の表面に形成される突起6の寸法が平均的に大きい。このため、図2(b)に示す磁気テープMTは、図2(a)のように巻き取ったとき、磁性層4の表面に接触する突起6の個数が多くなる。
一方、図2(c)に示す磁気テープMTは、バックコート層5の表面が平滑であり、図2(b)に示す磁気テープMTのバックコート層5に比べて、バックコート層5の表面に形成される突起6の寸法が平均的に小さい。このため、図2(c)に示す磁気テープMTは、図2(a)のように巻き取ったとき、磁性層4の表面に接触する突起6の個数が少なくなる。図2(c)に示す磁気テープMTは、磁性層4の表面とバックコート層5との間では、突起6が磁性層4に接触する部分では、この部分が隙間となる。
図2(b)及び図2(c)に示す磁気テープMTは、バックコート層5の表面が平滑であるほど、表面に形成される突起6の寸法が平均的に小さくなり、また、その突起6が所定の面積あたりに存在する個数や存在する割合も小さくなる。
したがって、磁性層4とバックコート層5の間の摩擦力が小さくなり、巻き取り後に磁気テープMTのテンションを開放したとき、この空気層AFの存在に起因して巻き取られた磁気テープMTに緩みが生じるものと推察されている。
また、磁気テープMTの緩みは、巻き取られた磁気テープMTの巻き径の外周側において特に発生し易いことがわかっている。これは、本発明者の推察によれば、巻き径の内周側に形成された空気層AFは、磁気テープMTを巻き取っている際に、時間経過とともに巻き込まれた空気が抜け出たことによることと、外周部に巻かれた磁気テープMTによる圧力により空気が排除されたことで、摩擦力が働くに十分な空気層厚になったからだと考えられる。
巻き取った磁気テープMTに空気層AFが、どの程度の層厚みで生じているかを検出する方法としては、巻き取った磁気テープの巻き径を測定し、この巻き径から該磁気テープMTの厚みに巻き数を乗じた数値を減算することで全ての空気層を合わせた厚みを検出する。そして、全ての空気層を合わせた厚みを磁気テープMT同士の間隔の数(つまり、巻き数−1)で割ることで、空気層AFの厚みを検出することができる。なお、摩擦力が働くに十分なエアフイルムの厚さになる条件で巻いた磁気テープMTの上に、摩擦力が働くに十分ではないエアフイルムの厚みになる条件で磁気テープMTを巻いた場合、エアフイルムの厚さに影響するのは、後者の磁気テープMTの巻き数となる。
図3は、磁気テープの巻取装置の構成を概略的に示した図である。
巻取装置10は、磁気テープの製造工程において、スリットされた磁気テープを、巻取リール13に巻き取るものであって、ワインダともいう。ここで、巻取リール13は、磁気テープカートリッジに収容されているテープリールに相当する。
巻取装置10は、送出リール11と、巻取リール13と、テンション調整部14と、検尺ローラ15と、テープ端処理部16と、を備えている。
送出リール11は、スリットされた磁気テープを巻き付けた状態で保持し、磁気テープMTを巻取リール13側に送り出す。
巻取リール13は、送出リール11から送り出された磁気テープMTを巻き取る。巻取リール13は、磁気テープMTを巻き取った後、磁気テープカートリッジ51のカートリッジ筐体に収容されるテープリールとして機能する。
巻取装置10は、磁気テープMTが巻きつけられていないテープリールを収容する磁気テープカートリッジ51を先に製造し、この磁気テープカートリッジ51のテープリールを巻取リール13として使用して磁気テープMTを巻き取るものである。しかし、磁気テープMTを巻取リール13に巻き取った後で、この巻取リール13をテープリールとして磁気テープカートリッジの筐体に収容してから磁気テープカートリッジ51を組み立てても良い。
磁気テープMTは、送出リール11から巻取リール13に向かって走行する間、巻取装置10に配置された複数のガイドローラ12のそれぞれに案内される。
テンション調整部14は、走行する磁気テープMTに所定の量のテンションを加える動作、及び、加えているテンションを開放する動作を実行する。テンション調整部14は、回転自在に保持されたローラ14aと、このローラ14aを走行する磁気テープMTの面に摺接する位置とこの面から離れる位置との間で移動させるアーム部14bとを備える。テンション調整部14は、アーム部14bの移動により、ローラ14aを磁気テープMTの表面に押圧させることによって磁気テープMTに加わるテンションを調整する。なお、テンション調整部14の構成はこれに限定されず、磁気テープMTに所定の量のテンションをかけたり、テンションを開放したりすることができれば、構成の変更は可能である。
検尺ローラ15は、回転自在な円筒形状を有し、その外周面が走行する磁気テープMTと接触して、磁気テープMTの走行に応じて、回転する構成である。巻取装置10、この検尺ローラ15の回転量を、図示しない回転量検出部で検出することで、磁気テープMTの走行量を測定する。測定された磁気テープMTの走行量は後述する制御部20にデータとして出力される。
テープ端処理部16は、磁気テープMTを巻取リール13に予め定められた巻取量を巻き取ったときに、磁気テープMTを切断する。また、テープ端処理部16は、切断した磁気テープMTのテープ端を吸引して保持する機構や、切断した磁気テープMTの端部に後述するリーダ部を形成する機構や、保持したテープ端を巻取リール13に送り込む機構を備えていてもよい。
また、巻取装置10は、駆動部21、22、23と、記憶部24と、入力部25と、制御部20とを備える。
駆動部21は、送出リール11を駆動し、該送出リール11を回転させることによって送出リール11に磁気テープMTの送り出しを実行させる。
駆動部22は、テンション調整部14のアーム部を駆動することによって、テンション調整部14に磁気テープMTにかかるテンションを加える動作、及び、テンションを開放する動作を実行させる。
駆動部23は、巻取リール13を駆動し、巻取リール13を回転させることによって巻取リール13に磁気テープMTの巻き取りを実行させる。
記憶部24は、磁気テープMTの種類などの巻き取りの処理に必要な情報がデータとして記憶されている。記憶部24に記憶される磁気テープMTの情報については、後述する。
入力部25は、使用者が、巻取装置10に所望の処理を実行させる際に、直接入力を行うためのものである。例えば、使用者は、磁気テープMTの巻き取りの開始を入力部25によって指示することができる。
制御部20は、駆動部21、22、23、記憶部24、入力部25を統括的に制御する。制御部20は、テンション調整部14を制御することにより、磁気テープMTのテンションを制御する。また、制御部20は、巻き取りの際に、駆動部21、駆動部23を制御することで、走行している磁気テープMTの速度を制御する。また、制御部20が、巻き取り終了時に、テープ端処理部16によって磁気テープMTを切断する処理や、切断された磁気テープMTの端部を、巻取リール13を収容している磁気テープカートリッジ51内に収容する処理を制御する構成としても良い。
次に、図3に示す巻取装置10を使用して磁気テープMTを巻き取る場合の手順を説明する。
図4は、磁気テープを巻き取るときの手順を示すフローチャートである。
最初に、巻取装置10に先にスリットされた磁気テープMTを巻き取った状態の送出リール11をセットする。そして、送出リール11から磁気テープMTの走行方向の先端部を引き出し、巻取リール13に固定する。このとき、磁気テープMTを複数のガイドローラ12それぞれに架け渡し、テンション調整部14を初期位置にセットする。その後、送出リール11及び巻取リール13をそれぞれ回動させて、磁気テープMTの走行を開始する(ステップS10)。ここで、磁気テープMTにかかるテンションは、制御部20によって所定の値に制御される。
制御部20は、検尺ローラ15の出力に基づいて、磁気テープMTの巻取量を判定する(ステップS12)。そして、ステップS12において、所定の巻取量に達したと判断すると、駆動部21、23の駆動を停止させて、送出リール11及び巻取リール13の回転を停止させ、磁気テープMTの走行を停止する(ステップS14)。
磁気テープMTの走行を停止した後、制御部20は、テンション調整部14を制御して、走行が停止している磁気テープMTに加えられているテンションを、予め定めた時間だけ保持する制御を行う。この制御をテンション制御とする。このテンション制御によって、巻き取られた磁気テープMTに発生している空気層は、空気が抜け出すことにより摩擦力が働く程度まで薄くなる。
ここで、予め定めた時間とは、空気層が摩擦力が働く程度まで薄くなるのに十分な時間である。空気層が摩擦力が働く程度まで薄くなるのに十分な時間は、巻取りを行なう磁気テープMTのバックコート層5の表面の粗さと、走行する磁気テープMTの走行方向に対する速さと、磁気テープMTに加えるテンションの大きさとによって予め測定される。予め行なわれる測定では、磁気テープMTの粗さごとに、速さとテンションとを変えた場合において、空気層の厚さと、発生した空気層が摩擦力が働く程度まで薄くなるまでの時間を測定し、この測定結果からデータを作成する。
制御部20は、予め定めた時間が経過したかを判定し(ステップS18)、所定時間が経過したと判断した場合には、テープ端処理部16によって磁気テープMTを切断し、磁気テープMTに加わるテンションを開放し、テンションをゼロにする(ステップS20)。
テンションを開放した後、切断された磁気テープMTの端部が巻取リール13に回収される(ステップS22)。こうして、磁気テープMTを巻き取る手順が終了する。
上述の手順によれば、磁気テープMTを巻き取った後で、直ぐにテンションを開放することなく、空気層を無くすためにテンションを保持する制御を行うことにより、テンションが開放されたときに空気層が発生している部分の磁気テープMTに緩みが生じることを抑えられる。例えば、バックコート層5の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ100nm以下の突起を有し、該バックコート層5の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された25nm以上、100nm以下の突起密度が90μm角あたり23個以上1000個以下であることを特徴とする、磁気テープMTの巻取りでは、5秒を境にして、巻き緩みの発生確率が40%から5%に急峻に変化するため、5秒以上テンションを保持する時間を設けることが好ましい。この例よりも粗いバックコート層5を用いた場合も、5秒以上のテンション保持時間を設けることによって、巻き緩みを抑制できると考えられる。なお、よりバックコート層5が平滑な磁気テープMTについては、より長い保持時間が必要であると想定される。
上述の手順では、磁気テープMTの巻き取りが完了した時点から予め定めた時間だけテンション制御を行った。しかし、巻き取りを行っている間のある時点で検出される磁気テープMTの速度と、該時点での磁気テープMTに加わるテンションとを検出し、この検出した値と、上述のように予め測定で得られた値とを比較することで、該時点に巻き取られた磁気テープMTに空気層が発生しているか否かを判断しても良い。つまり、テンション制御は、巻き取りが終了した時点を制御の開始のための起点とする必要はなく、巻き取り中のある時点を起点として、上述の予め定めた時間だけ制御を行なってもよい。例えば、ある時点で巻かれた磁気テープMTの位置については、その時点からテンションを維持すべき時間がわかるため、磁気テープMTの全ての位置についてテンションを維持すべき時間を求め、その時間だけテンション制御を行うことによって、磁気テープMTの全ての位置について、巻き緩みの発生を抑えることができる。この場合、テンション制御を行うべき時間において、磁気テープMTの巻き込みは停止されている必要はなく、磁気テープMTが巻き込まれている間にテンションを維持すべき時間が経過するようにしてもよい。
制御部20は、巻き取り中の磁気テープMTの速度を、検尺ローラ15からの出力を用いて測定することができる。また、制御部20は、巻き取り中の磁気テープMTに加わるテンションを、テンション調整部14のアーム部14bの位置を図示しないポテンショメータ等を用いて検出し、その出力から測定することができる。なお、磁気テープMTの速度やテンションが所定の規則に従って制御されている場合は、その規則から値を想定してもよい。
また、巻取装置10は、記憶部24に、予め測定で得られた、磁気テープMTの速度と、テンションと、テンション制御を行う時間との関係とを示すデータを記憶させておくことができる。制御部20は、検出した速度及びテンションのデータと、記憶部24から読み出した予め測定で得られたデータとを比較することで、テンション制御を行う時間を設定することができる。磁気テープMTの種類が変更された場合には、後述するように、タグ60から磁気テープMTの情報を得て、その磁気テープMTに適したテンション制御を行うようにしてもよい。そうすることによって、テンション制御時間を必要最小限に抑えることができる。
次に、巻き取られる磁気テープの速度を制御することによって、巻き取られた磁気テープに緩みが生じることを抑える手段について説明する。
先ず、巻き取るときの磁気テープの速度と、巻き取られた磁気テープの緩みとの関係を説明する。
巻き取るときの磁気テープMTの速度は、巻き取られる磁気テープMTに発生する空気層に影響がある。具体的には、巻き取る速度が高い場合には走行する磁気テープMTに同伴する空気の量も多くなるため、厚い空気層が発生しやすくなる傾向がある。一方で、巻き取る速度が低い場合には、空気層が発生したとしても、速度が高い場合に比べて空気層の厚みは薄くなる傾向がある。
そして、磁気テープMTのバックコート層5の表面の粗さを一定にしたとき、磁気テープMTを巻き取った後でテンションを解放すると、空気層が厚いほど磁気テープMTの重なり合う面の境界(つまり、磁性層4表面とバックコート層5表面との境界)で滑りが生じ、これに起因して巻き取られた磁気テープMTの緩みが発生しやすくなる。
つまり、磁気テープMTのバックコート層5の表面の粗さを一定としたとき、巻き取り時の磁気テープMTの走行する速度がある程度高くなると磁気テープMTの緩みが発生し、ある程度低くなると磁気テープMTの緩みは発生しない現象がある。以下では、磁気テープMTの緩みが発生するかどうかの基準となる、巻き取り時の走行する磁気テープMTの速度の値を、速度の閾値とする。
そこで、磁気テープMTを実際に巻き取る前に、速度の閾値を、実験的に測定する。速度の閾値の測定方法としては、同じ磁気テープMTを、走行する速度を変えて、複数回巻き取る試験を行う。そして、巻き取り後にテンションを開放して、巻き取られた磁気テープMTに緩みが発生したかを確認する。こうすることで、巻き取り後に緩みが生じない速度の閾値を測定することができる。磁気テープMTは種類によって、バックコート層5の表面の平滑性、つまり、突起の高さやその分布が異なるため、磁気テープMTの種類ごとに上の試験を行い、それぞれの磁気テープMTの種類に応じた速度の閾値を測定する。この測定された速度の閾値はデータとして、図3の巻取装置10の記憶部24に記憶しておくことが好ましい。または、測定された速度の閾値はデータを、後述する磁気テープカートリッジ50の無線通信可能なタグ60に記憶してもよい。
次に、上述した巻取装置を使用して磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープの速度を制御する手順を、図5を用いて説明する。なお、以下で説明する手順において、巻取装置は、図3に示す構成と同じである。
最初に、図4の手順のステップS10と同じように、磁気テープMTをセットし、磁気テープMTの走行を開始する(ステップS30)。ここで、磁気テープMTにかかるテンションは、制御部20によって一定の値に制御される。
制御部20は、磁気テープMTの巻き取りを行っている間、磁気テープMTの走行する方向の速度を検出する。そして、制御部20は、記憶部24から予め記憶されている磁気テープMTの速度の閾値を読み出し、検出した速度の値と、閾値より低いか否かを判定する(ステップS32)。
制御部20は、走行する磁気テープMTの速度が閾値以上であると判断した場合には、駆動部21、23を制御して、送出リール11と巻取リール13の回転速度を調整することで、磁気テープMTの速度を閾値未満となるように調整する(ステップS34)。そして、ステップS36の手順に進む。
ステップS36において、制御部20は、検尺ローラ15の出力に基づいて、磁気テープMTの巻取量を判定する。そして、ステップS36において、所定の巻取量に達したと判断すると、磁気テープMTの走行を停止する(ステップS38)。ステップS38で磁気テープMTの走行を停止した後、テープ端処理部16が磁気テープMTを所定の位置で切断する。そして、切断された磁気テープMTの端部が巻取リール13に回収される(ステップS40)。こうして、磁気テープMTを巻き取る手順が終了する。
ステップS36において、制御部20は、所定の巻取量に達していないと判断した場合には、磁気テープの巻き取りを継続し、ステップS32の、走行する磁気テープMTの速度の判定を行なう。
巻き取られた磁気テープMTの巻き径の外周側に緩みが発生しやすいことを鑑みて、磁気テープMTの速度制御を行うタイミングは、磁気テープMTの巻き取りを行なう期間の後半の所定の時間だけ行なっても良い。このとき、磁気テープMTを巻き取る時間を短縮する観点で、磁気テープMTの開始からある時点までは一定の速度で磁気テープMTを走行させ、ある時点から速度制御を実行し、速度が閾値未満となるように制御する。
なお、上述の巻取装置は、一例としてワインダの構成を用いて説明したが、巻取装置はワインダに限定されず、磁気テープMTをテープリール等に巻き取る機構を備える装置に適用することができる。
次に、上述した磁気テープMTを収容し、巻取装置を使用して磁気テープMTの巻き取りを行なうことが可能な磁気テープカートリッジの構成について説明する。
図6は、磁気テープカートリッジの構成を示す斜視図である。
磁気テープカートリッジ51は、カートリッジ筐体53と、このカートリッジ筐体53の内部に収容され、磁気テープMTが巻き取れた単一のテープリール55と、を備えている。カートリッジ筐体53は、シェルと呼ばれる一対の部材を、互いに接合することで構成される。
テープリール55は、円筒形状のハブ55aと、このハブ55aの両端部から同心円状に広がった2つのフランジ部55bとを有する。磁気テープMTは、ハブ55aの外周面に繰り返して巻き重ねることによって、テープリール55に巻き取られている。
磁気テープカートリッジ51は、図6の矢印方向にドライブ装置に装填されると、カートリッジ筐体53における該装填方向の先頭側に形成された窓部57が開放され、該窓部57から磁気テープMTの先端に設けられたリーダ部材59が、ドライブ装置のローディング部によって引き出される。そして、磁気テープMTがドライブ装置内で所定のテープ経路に沿って導かれ、磁気テープMTの磁性層に対して情報の読み書きが行われる。
磁気テープカートリッジ51のカートリッジ筐体53における矢印とは反対側の背面61には、カートリッジのラベルを添付するためのエリアがある。また、カートリッジ筐体53には、該カートリッジ筐体53の内部における背面61の近傍の位置に、タグ60が搭載されている。
タグ60は、無線通信アンテナにより構成されているRFID(Radio Frequency Identification)タグであり、磁気テープカートリッジ外部のリーダライタと、磁場または電磁波を使用して通信することができる。RFIDタグは、カートリッジ外部のリーダライタと無線通信して、情報の書き込み、読み取り、書き換え、さらには電力の供給を受けることができる。
タグ60には、磁気テープMTの仕様や諸元を示す種類や、該磁気テープMTの構成を示す情報が記憶されている。この情報には、磁気テープMTのバックコート層5の表面の粗さを示す情報が含まれる。バックコート層5の表面の粗さとは、例えば、バックコート層5の表面粗さや、バックコート層5の単位面積あたりに存在する所定の高さ以上の突起の数や、単位面積あたりに突起が形成されている面積の比率などを示す数値である。または、バックコート層5の表面の粗さは、バックコート層5の表面の粗さを、上述の数値の大小に基づいてランク等の分類記号で表される場合には、その分類記号でもよい。
磁気テープMTの種類とバックコート層5の表面の粗さとの関係を示すテーブルを巻き取り装置側に持っておき、巻き取り装置では、タグ60から読み出した磁気テープMTの種類に基づいてバックコート層5の表面の粗さを得て、その情報に基づいてテンション制御を行うようにしてもよい。
こうすれば、上述した巻取装置は、汎用のリーダライタ等の読み出し装置を設けることで、磁気テープをテープリールに巻き取る際に、該テープリールを収容するカートリッジ筐体に設けられたタグ60に記憶されている情報を、読み出し装置によって読み出すことができる。そして、制御部は、磁気テープMTを巻き取る際に、読み出した磁気テープMTの情報に応じて、予め測定によって定められているテンション制御を実行する時間や走行する磁気テープMTの速度の閾値を選択し、磁気テープMTの巻き取りを実行することができる。
本明細書は次の事項を開示する。
(1)磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
巻き取った前記磁気テープの、該磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御を有する巻取方法。
(2)(1)に記載の巻取方法であって、
前記磁気テープに加わるテンションを5秒以上保持させるテンション制御を有する巻取方法。
(3)(1)又は(2)に記載の巻取方法であって、
前記磁気テープのバックコート層の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ100nm以下の突起を有し、該バックコート層の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された25nm以上、100nm以下の突起密度が90μm角あたり23個以上1000個以下であることを特徴とする、磁気テープの巻取方法。
(4)磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
走行している前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
(5)(4)に記載の巻取り方法であって、
前記磁気テープを巻き取ったときの巻き径における外周部のみ前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
(6)(1)から(5)のいずれか1つに記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取ったテープリールを、カートリッジに組み込む、又は予めカートリッジに組み込まれたテープリールに請求項1から5のいずれか1項に記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取る磁気テープカートリッジの製造方法。
(7)磁気テープを巻き取る巻取装置であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻き取る巻取機構と、
巻き取った前記磁気テープについて前記磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御、又は、巻き取りの際に走行する前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する制御部と、を備える巻取装置。
(8)磁気テープを備える磁気テープカートリッジであって、
カートリッジ筐体と、
前記カートリッジ筐体に収容され、前記磁気テープを巻き取るためのテープリールと、
前記カートリッジ筐体に設けられ、無線通信可能な記憶部と、を備え、
前記記憶部には、(7)に記載の巻取装置によって読み出し可能であって、前記磁気テープの種類を示す情報が記憶されている磁気テープカートリッジ。
(9)(8)に記載の磁気テープカートリッジであって、
前記磁気テープは、少なくとも磁性層と、非磁性層と、バックコート層とを備えた積層構造を有し、
前記磁気テープの一方の面が前記磁性層の表面であって、他方の面が前記バックコート層の表面であり、
前記磁気テープの種類を示す情報は、前記バックコート層の表面の粗さを示す情報を含む磁気テープカートリッジ。
4 磁性層
5 バックコート層
6 (バックコート層の表面の)突起
10 巻取装置
11 巻取リール
13 送出リール
14 テンション調整部
20 制御部
51 磁気テープカートリッジ
60 タグ
MT 磁気テープ

Claims (9)

  1. 磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
    前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
    巻き取った前記磁気テープの、該磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御を有する巻取方法。
  2. 請求項1に記載の巻取方法であって、
    前記磁気テープに加わるテンションを5秒以上保持させるテンション制御を有する巻取方法。
  3. 請求項1又は2に記載の巻取方法であって、
    前記磁気テープのバックコート層の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ100nm以下の突起を有し、該バックコート層の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された25nm以上、100nm以下の突起密度が90μm角あたり23個以上1000個以下であることを特徴とする、磁気テープの巻取方法。
  4. 磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
    前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
    走行している前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
  5. 請求項4に記載の巻取方法であって、
    前記磁気テープを巻き取ったときの巻き径における外周部のみ前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
  6. 請求項1から5のいずれか1項に記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取ったテープリールを、カートリッジに組み込む、又は予めカートリッジに組み込まれたテープリールに請求項1から5のいずれか1項に記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取る磁気テープカートリッジの製造方法。
  7. 磁気テープを巻き取る巻取装置であって、
    前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻き取る巻取機構と、
    巻き取った前記磁気テープについて前記磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御、又は、巻き取りの際に走行する前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する制御部と、を備える巻取装置。
  8. 磁気テープを備える磁気テープカートリッジであって、
    カートリッジ筐体と、
    前記カートリッジ筐体に収容され、前記磁気テープを巻き取るためのテープリールと、
    前記カートリッジ筐体に設けられ、無線通信可能な記憶部と、を備え、
    前記記憶部には、上記請求項7に記載の巻取装置によって読み出し可能であって、前記磁気テープの種類を示す情報が記憶されている磁気テープカートリッジ。
  9. 請求項8に記載の磁気テープカートリッジであって、
    前記磁気テープは、少なくとも磁性層と、非磁性層と、バックコート層とを備えた積層構造を有し、
    前記磁気テープの一方の面が前記磁性層の表面であって、他方の面が前記バックコート層の表面であり、
    前記磁気テープの種類を示す情報は、前記バックコート層の表面の粗さを示す情報を含む磁気テープカートリッジ。
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