JP2012182427A5 - - Google Patents
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本発明の一つの側面に係る半導体装置の製造方法は、第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分に複数の第2開口を、単位面積あたりに配される前記第1開口の数よりも単位面積あたりに配される前記第2開口の数が小さくなるように、形成する第1工程と、前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分であって、前記絶縁体の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、を含むことを特徴とする。
本発明の別の側面に係る半導体装置の製造方法は、第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分に複数の第2開口を、前記第1領域のうち前記複数の第1開口が配された領域が占める面積の割合より前記第2領域のうち前記複数の第2開口が配された領域が占める面積の割合が小さくなるように、形成する第1工程と、前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分であって、前記絶縁体の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、を含むことを特徴とする。
本発明の別の側面に係る半導体装置の製造方法は、第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分に複数の第2開口を、前記第1領域のうち前記複数の第1開口が配された領域が占める面積の割合より前記第2領域のうち前記複数の第2開口が配された領域が占める面積の割合が小さくなるように、形成する第1工程と、前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分であって、前記絶縁体の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、を含むことを特徴とする。
本発明の別の側面に係る半導体装置の製造方法は、第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を形成し、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分には開口を形成しない第1工程と、前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、を含むことを特徴とする。
本発明のさらに別の側面に係る半導体装置の製造方法は、複数の光電変換部が配された第1領域、及び前記複数の光電変換部からの信号を処理する回路が配された第2領域を含む半導体基板と、前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、前記絶縁体の前記複数の光電変換部の各々と重なる位置に複数の第1開口を形成する第1工程と、前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、を含むことを特徴とする。
Claims (14)
- 第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、
前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、
前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分に複数の第2開口を、単位面積あたりに配される前記第1開口の数よりも単位面積あたりに配される前記第2開口の数が小さくなるように、形成する第1工程と、
前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、
前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分であって、前記絶縁体の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、
前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、
前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、
前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分に複数の第2開口を、前記第1領域のうち前記複数の第1開口が配された領域が占める面積の割合より前記第2領域のうち前記複数の第2開口が配された領域が占める面積の割合が小さくなるように、形成する第1工程と、
前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、
前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分であって、前記絶縁体の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、
前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 第1領域及び第2領域を含む半導体基板と、
前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、
前記絶縁体の前記第1領域の上に配された部分に複数の第1開口を形成し、前記絶縁体の前記第2領域の上に配された部分には開口を形成しない第1工程と、
前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、
前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、
前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 複数の光電変換部が配された第1領域、及び前記複数の光電変換部からの信号を処理する回路が配された第2領域を含む半導体基板と、
前記半導体基板の前記第1領域の上、及び前記第2領域の上に配された絶縁体と、を備える半導体装置の製造方法であって、
前記絶縁体の前記複数の光電変換部の各々と重なる位置に複数の第1開口を形成する第1工程と、
前記第1工程の後に、前記複数の第1開口の各々の内部、前記絶縁体の前記第1領域の上に配された前記部分の上、及び前記絶縁体の前記第2領域の上に配された前記部分の上に第1部材を形成する第2工程と、
前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された部分の少なくとも一部を除去する第3工程と、
前記第3工程の後に、前記第1部材または前記第1部材の上に形成された第2部材を平坦化する第4工程と、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記第1工程において、前記絶縁体の前記第2領域に配された部分には開口が形成されないことを特徴とする請求項4に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第3工程と前記第4工程との間に、前記第1部材の上に前記第2部材を形成する第5工程をさらに含み、
前記第4工程において、前記第2部材が平坦化されることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記第4工程の後に、前記第1部材の前記第2領域の上に配された部分、及び前記第2部材の前記第2領域の上に配された部分を除去する第6工程をさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第4工程の後に、前記第2部材の前記第2領域の上に配された部分を除去する第6工程をさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第4工程の後に、前記第1部材の上に第2部材を形成する第5工程をさらに含み、
前記第4工程において前記第1部材が平坦化されることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記第5工程の後に、前記第1部材の前記第2領域の上に配された部分、及び前記第2部材の前記第2領域の上に配された部分を除去する第6工程をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第1部材及び前記第2部材が同じ材料で構成されることを特徴とする請求項6乃至請求項10のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第4工程の後に、前記第1部材の前記第2領域の上に配された部分を除去する第6工程をさらに含むことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記第3工程において、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された前記部分はエッチングによって除去され、
前記第3工程の後に、前記第1部材のうち前記第2領域の上に配された前記部分の一部が前記絶縁体の上に残ることを特徴とする請求項1乃至請求項12のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記絶縁体は複数の絶縁膜から形成され、
前記複数の第1開口は、前記複数の絶縁膜を貫通していることを特徴とする請求項1乃至請求項13のいずれか一項に記載の半導体装置の製造方法。
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