JP2012112951A - 検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板を検査するために、まず、基板上に測定領域を設定し、続いて、測定領域に対する基準データ及び測定データを取得する。次に、測定領域内の所定の形状を含むようにブロック単位の複数の特徴ブロックを設定し、特徴ブロックのうちオーバーラップされる特徴ブロックをマージして統合ブロックを設定する。続いて、統合ブロック以外の特徴ブロック及び/または統合ブロックに対応する基準データと測定データとを比較して歪曲量を取得し、歪曲量を補償してターゲット測定領域内の検査領域を設定する。これにより、歪曲を補償した正確な検査領域を設定することができる
【選択図】図1
Description
<数式1>
20 部品
22 ターミナル
30 回路パターン
40 サークル
42 ホール
FBI 第1特徴ブロック
FB2 第2特徴ブロック
MB1 第1統合ブロック
MB2 第2統合ブロック
PI 測定データ
RI 基準データ
Claims (10)
- 基板上に測定領域を設定し、
前記測定領域に関する基準データ及び測定データを取得し、
前記測定領域内の所定の形状を含むようにブロック単位で複数の特徴ブロックを設定し、
前記特徴ブロックのうちオーバーラップされる特徴ブロックをマージして統合ブロックを設定し、
前記統合ブロック以外の特徴ブロック及び/または前記統合ブロックに対応する基準データと測定データとを比較して歪曲量を取得し、
前記歪曲量を補償して前記ターゲット測定領域内の検査領域を設定すること、
を含むことを特徴とする検査方法。 - 前記測定領域内の所定の形状は、曲がったパターン及びホールパターンのうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1記載の検査方法。
- 前記測定領域内の所定の形状を含むようにブロックを単位として複数の特徴ブロックを設定することは、
前記所定の形状に対応する曲がった回路パターンの角部の位置を探し、
前記曲がった回路パターンの角部のマージン領域を設定して前記マージン領域によって定義される特徴ブロックを設定すること、を含むことを特徴とする請求項1記載の検査方法。 - 前記特徴ブロックのうちオーバーラップされる特徴ブロックをマージして統合ブロックを設定することは、
前記オーバーラップされる特徴ブロックのマージン領域をマージし、
前記マージされたマージン領域の最小四角形を抽出して前記統合ブロックを設定すること、を含むことを特徴とする請求項3記載の検査方法。 - 前記統合ブロック以外の特徴ブロック及び/または前記統合ブロックに対応する基準データと測定データとを比較して歪曲量を取得することは、
前記統合ブロック以外の特徴ブロック及び/または前記統合ブロックのうち比較用ブロックを抽出し、
前記抽出された比較用ブロックに対応する基準データと測定データとを比較して歪曲量を取得すること、を含むことを特徴とする請求項1記載の検査方法 - 前記比較用ブロックは複数で抽出され、
前記比較用ブロックは前記測定領域内に均等に分布するように抽出されることを特徴とする請求項5記載の検査方法。 - 前記比較用ブロックは複数で抽出され、
前記統合ブロック以外の特徴ブロック及び/または前記統合ブロックのうち、前記基準データと前記測定データとを比較して形状の違いが小さい程、特徴ブロックまたは前記統合ブロックに高いスコアが付与され、
前記比較用ブロックは前記スコアに基づいて抽出されることを特徴とする請求項5記載の検査方法 - 前記歪曲量は前記比較用ブロックに対応する前記基準データと前記測定データとの間の定量化された変換公式で取得され、
前記定量化された変換公式は、前記比較用ブロックに対する前記基準データと前記測定データとを比較して取得された位置変化、傾き変化、大きさ変化及び変形度のうち少なくとも一つ以上を利用して定義されることを特徴とする請求項5記載の検査方法。 - 前記マージされる特徴ブロックの個数が予め設定された基準個数以上である場合、前記マージされる特徴ブロックによる統合ブロックは前記比較用ブロックの抽出から除外されることを特徴とする請求項5記載の検査方法。
- 前記ブロック単位の複数の特徴ブロックの前記所定の形状は、周辺の形状による誤認の可能性が除去されるように2次元区分子を有することを特徴とする請求項1記載の検査方法。
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