JP2012109297A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012109297A5
JP2012109297A5 JP2010254870A JP2010254870A JP2012109297A5 JP 2012109297 A5 JP2012109297 A5 JP 2012109297A5 JP 2010254870 A JP2010254870 A JP 2010254870A JP 2010254870 A JP2010254870 A JP 2010254870A JP 2012109297 A5 JP2012109297 A5 JP 2012109297A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
recess
hole
support
exposed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010254870A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5636265B2 (ja
JP2012109297A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010254870A priority Critical patent/JP5636265B2/ja
Priority claimed from JP2010254870A external-priority patent/JP5636265B2/ja
Priority to US13/295,158 priority patent/US20120119391A1/en
Publication of JP2012109297A publication Critical patent/JP2012109297A/ja
Publication of JP2012109297A5 publication Critical patent/JP2012109297A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5636265B2 publication Critical patent/JP5636265B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本半導体パッケージの一の形態は、一方の面に凹部が形成された支持体と、回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容された半導体チップと、前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体と、を有し、前記支持体は、貫通孔を有する第1部材及び平板状の第2部材を備え、前記第1部材を前記第2部材の表面に直接接合してなり、前記凹部は、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により形成されており、前記第1部材は硼珪酸ガラスからなり、前記第2部材はシリコン又は金属からなり、前記第1部材と前記第2部材とが陽極接合されていることを要件とする。
又、本半導体パッケージの他の形態は、一方の面に凹部が形成された支持体と、回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容された半導体チップと、前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体と、を有し、前記支持体は、貫通孔を有する第1部材及び平板状の第2部材を備え、前記第1部材を前記第2部材の表面に直接接合してなり、前記凹部は、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により形成されており、前記第1部材はシリコンからなり、前記第2部材は硼珪酸ガラスからなり、前記第1部材と前記第2部材とが陽極接合されていることを要件とする。
又、本半導体パッケージの更に他の形態は、一方の面に凹部が形成された支持体と、回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容された半導体チップと、前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体と、を有し、前記支持体は、貫通孔を有する第1部材及び平板状の第2部材を備え、前記第1部材を前記第2部材の表面に直接接合してなり、前記凹部は、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により形成されており、前記第1部材はシリコン又は硼珪酸ガラスからなり、前記第2部材はシリコン、硼珪酸ガラス、又は金属からなり、前記第1部材と前記第2部材とがプラズマ接合されていることを要件とする。
本半導体パッケージの製造方法は、一方の面に凹部が形成された支持体を作製する第1工程と、半導体チップを、回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容する第2工程と、前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体を形成する第3工程と、を有し、前記支持体の前記一方の面を含む部分の材料は、シリコン又は硼珪酸ガラスであり、前記第1工程では、シリコン又は硼珪酸ガラスからなる第1部材に貫通孔を設け、前記第1部材を平板状の第2部材の表面に直接接合して前記支持体を形成し、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により前記凹部を形成することを要件とする。

Claims (10)

  1. 一方の面に凹部が形成された支持体と、
    回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容された半導体チップと、
    前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体と、を有し、
    前記支持体は、貫通孔を有する第1部材及び平板状の第2部材を備え、前記第1部材を前記第2部材の表面に直接接合してなり、
    前記凹部は、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により形成されており、
    前記第1部材は硼珪酸ガラスからなり、前記第2部材はシリコン又は金属からなり、前記第1部材と前記第2部材とが陽極接合されている半導体パッケージ。
  2. 一方の面に凹部が形成された支持体と、
    回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容された半導体チップと、
    前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体と、を有し、
    前記支持体は、貫通孔を有する第1部材及び平板状の第2部材を備え、前記第1部材を前記第2部材の表面に直接接合してなり、
    前記凹部は、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により形成されており、
    前記第1部材はシリコンからなり、前記第2部材は硼珪酸ガラスからなり、前記第1部材と前記第2部材とが陽極接合されている半導体パッケージ。
  3. 一方の面に凹部が形成された支持体と、
    回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容された半導体チップと、
    前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体と、を有し、
    前記支持体は、貫通孔を有する第1部材及び平板状の第2部材を備え、前記第1部材を前記第2部材の表面に直接接合してなり、
    前記凹部は、前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により形成されており、
    前記第1部材はシリコン又は硼珪酸ガラスからなり、前記第2部材はシリコン、硼珪酸ガラス、又は金属からなり、前記第1部材と前記第2部材とがプラズマ接合されている半導体パッケージ。
  4. 前記配線構造体は、前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に形成された絶縁層を有し、
    前記配線層は前記絶縁層上に形成され、前記絶縁層上に設けられたビアにより、前記半導体チップの電極パッドと電気的に接続されている請求項1乃至3の何れか一項記載の半導体パッケージ。
  5. 前記半導体チップの側面と前記凹部の内側面との間に樹脂部が設けられている請求項1乃至4の何れか一項記載の半導体パッケージ。
  6. 前記凹部の内側面は、前記凹部の内底面側から開口端側に向かって広がるテーパ状である請求項1乃至5の何れか一項記載の半導体パッケージ。
  7. 一方の面に凹部が形成された支持体を作製する第1工程と、
    半導体チップを、回路形成面が前記一方の面側に露出するように前記凹部に収容する第2工程と、
    前記半導体チップの前記回路形成面上及び前記支持体の前記一方の面上に、前記半導体チップと電気的に接続される配線層を含む配線構造体を形成する第3工程と、を有し、
    前記支持体の前記一方の面を含む部分の材料は、シリコン又は硼珪酸ガラスであり、
    前記第1工程では、シリコン又は硼珪酸ガラスからなる第1部材に貫通孔を設け、前記第1部材を平板状の第2部材の表面に直接接合して前記支持体を形成し、
    前記貫通孔の内側面及び前記貫通孔内に露出する前記第2部材の表面により前記凹部を形成する半導体パッケージの製造方法。
  8. 前記第1工程では、内側面が内底面側から開口端側に向かって広がるテーパ状の凹部を形成する請求項記載の半導体パッケージの製造方法。
  9. 前記第1部材と前記第2部材の何れか一方は硼珪酸ガラスであり、
    前記第1工程では、前記第1部材と前記第2部材とを陽極接合する請求項7又は8記載の半導体パッケージの製造方法。
  10. 前記第1工程では、前記第1部材と前記第2部材とをプラズマ接合する請求項7又は8記載の半導体パッケージの製造方法。
JP2010254870A 2010-11-15 2010-11-15 半導体パッケージ及びその製造方法 Active JP5636265B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010254870A JP5636265B2 (ja) 2010-11-15 2010-11-15 半導体パッケージ及びその製造方法
US13/295,158 US20120119391A1 (en) 2010-11-15 2011-11-14 Semiconductor package and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010254870A JP5636265B2 (ja) 2010-11-15 2010-11-15 半導体パッケージ及びその製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012109297A JP2012109297A (ja) 2012-06-07
JP2012109297A5 true JP2012109297A5 (ja) 2013-10-31
JP5636265B2 JP5636265B2 (ja) 2014-12-03

Family

ID=46047063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010254870A Active JP5636265B2 (ja) 2010-11-15 2010-11-15 半導体パッケージ及びその製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20120119391A1 (ja)
JP (1) JP5636265B2 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140048950A1 (en) * 2012-08-14 2014-02-20 Bridge Semiconductor Corporation Thermally enhanced semiconductor assembly with embedded semiconductor device and built-in stopper and method of making the same
US8901435B2 (en) 2012-08-14 2014-12-02 Bridge Semiconductor Corporation Hybrid wiring board with built-in stopper, interposer and build-up circuitry
US20140048955A1 (en) * 2012-08-14 2014-02-20 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor assembly board with back-to-back embedded semiconductor devices and built-in stoppers
US9087847B2 (en) 2012-08-14 2015-07-21 Bridge Semiconductor Corporation Thermally enhanced interconnect substrate with embedded semiconductor device and built-in stopper and method of making the same
CN103811475A (zh) * 2012-11-02 2014-05-21 钰桥半导体股份有限公司 具有背对背内嵌半导体元件及内建定位件的半导体组体板
CN105428327B (zh) * 2014-08-28 2018-03-23 联华电子股份有限公司 扇出型晶片级封装结构
TWI581387B (zh) * 2014-09-11 2017-05-01 矽品精密工業股份有限公司 封裝結構及其製法
KR102065943B1 (ko) * 2015-04-17 2020-01-14 삼성전자주식회사 팬-아웃 반도체 패키지 및 그 제조 방법
US9929100B2 (en) * 2015-04-17 2018-03-27 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic component package and method of manufacturing the same
TWI550783B (zh) * 2015-04-24 2016-09-21 矽品精密工業股份有限公司 電子封裝件之製法及電子封裝結構
CN105023900A (zh) * 2015-08-11 2015-11-04 华天科技(昆山)电子有限公司 埋入硅基板扇出型封装结构及其制造方法
US10083888B2 (en) * 2015-11-19 2018-09-25 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device package
JP6761592B2 (ja) * 2016-03-31 2020-09-30 大日本印刷株式会社 電子デバイス及びその製造方法
KR101942746B1 (ko) * 2017-11-29 2019-01-28 삼성전기 주식회사 팬-아웃 반도체 패키지
US10340249B1 (en) * 2018-06-25 2019-07-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor device and method
JP7410898B2 (ja) * 2021-03-11 2024-01-10 アオイ電子株式会社 半導体装置の製造方法および半導体装置
CN117672981A (zh) * 2022-08-16 2024-03-08 华为技术有限公司 芯片封装结构、封装方法、电子设备

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60254697A (ja) * 1984-05-31 1985-12-16 富士通株式会社 多層セラミック回路基板および製法
US4803450A (en) * 1987-12-14 1989-02-07 General Electric Company Multilayer circuit board fabricated from silicon
JP3921320B2 (ja) * 2000-01-31 2007-05-30 日本電気株式会社 熱型赤外線検出器およびその製造方法
US6309912B1 (en) * 2000-06-20 2001-10-30 Motorola, Inc. Method of interconnecting an embedded integrated circuit
JP2002016173A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US20020070443A1 (en) * 2000-12-08 2002-06-13 Xiao-Chun Mu Microelectronic package having an integrated heat sink and build-up layers
US6680529B2 (en) * 2002-02-15 2004-01-20 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor build-up package
US6925710B1 (en) * 2002-03-27 2005-08-09 Analog Devices, Inc. Method for manufacturing microelectromechanical combdrive device
JP4028749B2 (ja) * 2002-04-15 2007-12-26 日本特殊陶業株式会社 配線基板
JP4184701B2 (ja) * 2002-04-19 2008-11-19 エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 放射線検出器
JP3888267B2 (ja) * 2002-08-30 2007-02-28 カシオ計算機株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP3617647B2 (ja) * 2002-11-08 2005-02-09 沖電気工業株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP4390541B2 (ja) * 2003-02-03 2009-12-24 Necエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びその製造方法
US7744830B2 (en) * 2004-04-29 2010-06-29 Lawrence Livermore National Security, Llc Catalyst for microelectromechanical systems microreactors
US7413846B2 (en) * 2004-11-15 2008-08-19 Microchips, Inc. Fabrication methods and structures for micro-reservoir devices
TWI255518B (en) * 2005-01-19 2006-05-21 Via Tech Inc Chip package
JP2007027279A (ja) * 2005-07-13 2007-02-01 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP4828559B2 (ja) * 2008-03-24 2011-11-30 新光電気工業株式会社 配線基板の製造方法及び電子装置の製造方法
KR20110006722A (ko) * 2008-05-09 2011-01-20 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. 광자 가이딩 시스템 구성 방법
JP5367616B2 (ja) * 2009-02-23 2013-12-11 新光電気工業株式会社 配線基板及びその製造方法
US7754519B1 (en) * 2009-05-13 2010-07-13 Twin Creeks Technologies, Inc. Methods of forming a photovoltaic cell

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012109297A5 (ja)
JP2015226056A5 (ja)
JP2013004881A5 (ja)
JP2015207754A5 (ja)
JP2006339559A5 (ja)
JP2013232546A5 (ja)
JP2013247293A5 (ja)
JP2008160160A5 (ja)
JP2011134956A5 (ja)
JP2013243340A5 (ja)
US8866273B2 (en) Lead frame and semiconductor package structure thereof
JP2011009514A5 (ja)
JP2016096292A5 (ja)
JP2020522117A5 (ja)
JP2014187081A5 (ja)
JP2013098209A5 (ja)
JP2012015504A5 (ja)
JP2010147955A5 (ja)
JP2009294449A5 (ja)
JP2016207743A5 (ja)
JP2015153823A5 (ja)
JP2013197258A5 (ja)
TW201528389A (zh) 半導體封裝件及其製法
JP2013162295A5 (ja)
JP2015106663A5 (ja)