JP2012038925A - 素子実装基板の組み立て方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】素子実装基板1は、基板本体2と、基板本体2にベアチップ実装されたスイッチング素子7と、基板本体2に配置されスイッチング素子7と並列に接続された並列接続部26と、を備える。素子実装基板1の組み立て方法は、基板本体2にスイッチング素子7をベアチップ実装する実装工程と、ベアチップ実装されたスイッチング素子7を検査する検査工程と、検査工程で検査されたスイッチング素子7に並列接続部26を電気的に接続する接続工程と、を含む。
【選択図】図1
Description
この場合、ボンディングワイヤが接合された第1電極の導通状態を精度良く検出できる。ワイヤボンディングは、電極に押圧したボンディングワイヤを超音波振動させることで電極とボンディングワイヤとを接合する接合方法である。したがって、超音波振動に起因して第1電極が損傷する可能性があるけれども、そのような第1電極の損傷に起因するスイッチング素子の導通不良を確実に検出できる。
この場合、接続工程において、ボンディングワイヤを直接スイッチング素子の電極に接合する構成ではない。したがって、スイッチング素子を検査した後に、スイッチング素子にワイヤボンディングを行う必要がない。これにより、検査工程の後で、ワイヤボンディングに起因するスイッチング素子の導通不良が生じることを確実に抑制できる。
図1(A)は、本発明の一実施形態に係る製造方法で製造された素子実装基板1の主要部の模式的な平面図である。図1(B)は、素子実装基板1の主要部の回路図である。
図1(A)および図1(B)を参照して、素子実装基板1は、例えば、電動パワーステアリング装置のブラシレスモータからなる操舵補助用モータを駆動するパワー基板である。素子実装基板1は、基板本体2と、基板本体2に実装された金属板(ヒートスプレッダ)3、スイッチング素子7、コンデンサ5および第1抵抗6とを含んでいる。
ドレイン電極9は、スイッチング素子7の裏面に露出している。ドレイン電極9と金属板3とは、図示しない半田部材(図示せず)によって半田接合されている。これにより、ドレイン電極9と第1パッド11とは、電気的に接続されている。ドレイン電極9は、金属板3および第1パッド11を介して第5パッド15に接続されている。
素子実装基板1は、スイッチング素子7の保護回路としてのスナバ回路24を含んでいる。具体的には、スイッチング素子7のドレイン電極9とソース電極8との間の電極間経路25と並列接続される並列接続部26が、基板本体2に設けられている。
第4パッド14には、第3ボンディングワイヤ23の一端が接合されている。第3ボンディングワイヤ23の他端は、基板本体2の表面に形成された第5パッド15に接合されている。第5パッド15は、第1パッド11に接続されている。
上記の構成により、並列接続部26の一端としての第4パッド14は、第3ボンディングワイヤ23、第5パッド15、第1パッド11および金属板3を介してドレイン電極9に接続されている。また、第1抵抗6に接続された端子28は、並列接続部26の他端として設けられており、第2パッド12および第1ボンディングワイヤ21を介してソース電極8に接続されている。
素子実装基板1の製造時には、図2(A)および図2(B)に示すように、第1製造用中間体31および第2製造用中間体32を用意する。第1製造用中間体31は、基板本体2に、金属板3、コンデンサ5、第1抵抗6,スイッチング素子7および第1〜第3ボンディングワイヤ21〜23が取り付けられていない点以外は、素子実装基板1と同じ構成である。第2製造用中間体32は、スイッチング素子7のドレイン電極9に金属板3が半田接合等により接合されたものである。
例えば、スイッチング素子7を実装するときに、並列接続部26のコンデンサ5および第1抵抗6を基板本体2に実装する方法を説明したけれども、これに限定されない。スイッチング素子7を基板本体2に実装する前またはスイッチング素子7を基板本体2に実装した後に、コンデンサ5および第1抵抗6を基板本体2に実装してもよい。
さらに、スイッチング素子としてMOSFETを例示したけれども、他のFET等、一般のスイッチング素子を用いてもよい。
また、スイッチング素子7のドレイン電極9を、金属板3を介して第1パッド11に接合する構成を説明したけれども、これに限定されない。ドレイン電極9を、直接第1パッド11に接合してもよいし、ボンディングワイヤを介して第1パッド11に接合してもよい。
Claims (4)
- 基板本体と、前記基板本体にベアチップ実装されたスイッチング素子と、前記基板本体に配置され前記スイッチング素子と並列に接続された並列接続部と、を備える素子実装基板の組み立て方法において、
前記基板本体に前記スイッチング素子をベアチップ実装する実装工程と、
前記ベアチップ実装された前記スイッチング素子を検査する検査工程と、
前記検査工程で検査された前記スイッチング素子に前記並列接続部を電気的に接続する接続工程と、を含むことを特徴とする素子実装基板の組み立て方法。 - 請求項1において、前記スイッチング素子は、ドレイン電極と、ソース電極と、ゲート電極とを含み、
前記並列接続部の一端および他端は、それぞれ、前記ドレイン電極および前記ソース電極に接続されるように構成されており、
前記検査工程では、前記ドレイン電極とソース電極との間の導通状態が検査されることを特徴とする素子実装基板の組み立て方法。 - 請求項1または2において、前記スイッチング素子は、前記基板本体にボンディングワイヤを介して接続される第1電極を含み、
前記実装工程では、前記第1電極と前記基板本体とを、前記ボンディングワイヤによって接続し、
前記検査工程では、前記第1電極の導通状態を検査することを特徴とする素子実装基板の組み立て方法。 - 請求項1〜3の何れか1項において、前記基板本体は、前記実装工程において前記スイッチング素子の第2電極に接続されたパッドを含み、
前記並列接続部は、パッドを含み、
前記接続工程では、各前記パッドがボンディングワイヤで互いに接続されることを特徴とする素子実装基板の組み立て方法。
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