JP2011249879A - 弾性表面波発振器 - Google Patents

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Abstract

【課題】設計段階で所望の微小な差周波を得られるようにすることと、2つの弾性表面波素子の共振周波数を同程度に近づけることとの両立を図る。
【解決手段】第1、第2SAW共振子2、4の両者における櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極のピッチp1、p2を同一としつつ、両者における各電極の交差指幅L1、L2を異ならせる。第1、第2SAW共振子2、4をこのような構造とすることで、第1SAW共振子2を有する第1発振回路の発振周波数と、第2SAW共振子4を有する第2発振回路の発振周波数とを異ならせることができ、両方の発振周波数の差である差周波を微小な周波数に設定することが可能となる。
【選択図】図2

Description

本発明は、弾性表面波素子(SAW素子)を用いた弾性表面波発振器(SAW発振器)に関するものである。
従来、このSAW発振器を用いた周波数変化検出型センサがある(例えば、特許文献1、2参照)。この周波数変化検出型センサは、SAW素子と発振ループを構成する発振回路とから定まる発振周波数の変化を検出する。
この周波数変化検出型センサでは、SAW素子の共振周波数が数百MHzという高周波であるため、高周波の信号を処理しようとすると、高価なADコンバータを用いなければならない。そこで、高周波に対応していない安価なADコンバータで信号処理できるように、発信周波数を数十KHz等にダウンコンバートするのが一般的である。このダウンコンバートは、共振周波数の異なるSAW素子を用い、異なる発振周波数の発振器を形成して、両者の発振周波数の差(以下、差周波と呼ぶ)を得ることで可能となる。
ところで、SAW素子は圧電材料の表面上に形成された櫛歯電極および反射器を有している。櫛歯電極や反射器は、一般的に、圧電材料上にスパッタリング等によりAl等の金属薄膜を形成した後、この金属薄膜をフォトエッチング、すなわち、フォトリソグラフィおよびエッチングすることで、所望の電極パターンにて形成される。そして、この櫛歯電極および反射器を構成する電極同士の間隔(ピッチ)と共振周波数との間には一定の関係があるので、通常、狙いの共振周波数となるように、電極のピッチが設定される。
また、狙いの共振周波数となるようにSAW素子の共振周波数を調整する方法として、例えば、電極パターンを形成した後、共振周波数を測定しながら電極をマスクとした基板のドライエッチングを行い、電極の見かけ上の膜厚を厚くすることによって共振周波数を調整する方法が特許文献3に記載されている。また、他の方法として、電極パターンを形成した後、形成された櫛歯電極の側面を陽極酸化することで、櫛歯電極の質量を重くし、櫛歯電極の線幅を広げることによって共振周波数を調整する方法が特許文献4に記載されている。
特開昭61−234324号公報 特開平9−80035号公報 特開平6−224678号公報 特開2005−65042号公報
上述の周波数変化検出型センサの分解能を高めるためには、ジッタを小さく抑えるため、2つの発振器の差周波を、数十KHz等の500KHzよりも小さい範囲の微小な周波数に抑える必要がある。
このような微小な差周波を得るためには、共振周波数の異なるSAW素子を用いて、2つの発振器を形成した場合では、SAW素子の共振周波数を微小な単位で設計する必要がある。しかし、上述のように、SAW素子の設計段階において、狙いの共振周波数となるように電極のピッチを設定しようとしても、現在のフォトリソグラフィで制御可能な電極のピッチの値は0.1μmまでであり、例えば、LiNbO基板を用いた共振周波数が200MHzのSAW素子では、約1MHz程度までの単位でしか共振周波数を設計できない。このため、微小な差周波が得られるように、SAW素子の構造を設計することができない。
また、上述の特許文献3、4に記載の共振周波数の調整方法は、SAW素子の製造後での調整方法であって、SAW素子の設計段階で所望の共振周波数を得るためのものではない。SAW素子の製造後に、上述の特許文献3、4に記載の共振周波数の調整方法による調整工程を行うと、調整工程が複雑となるため、このような調整工程を行うことは好ましくない。
このように、現状では、2つの発振器において微小な差周波が得られるように、SAW素子の構造を設計する手法が存在しない。
また、従来の周波数変化検出型センサでは、共振周波数の異なるSAW素子を用いるため、検出結果に誤差が生じてしまうという問題があった。
ここで、図14に、2つの異なるSAW素子の共振周波数の温度特性を示す。SAW素子は、共振周波数に対して次式で表されるように温度特性を持っているため、温度が変わると、共振周波数が変化する。
f=f(1+αT)
そして、この温度特性は、基の共振周波数によって決まるため、2つのSAW素子が有する共振周波数が異なると、2つのSAW素子の温度特性も異なってしまう。温度特性が異なるとは、温度変化量に対する周波数変化量が異なるという意味である。このため、図14に示すように、2つのSAW素子の共振周波数差Δf(=f2−f1)は、温度によって変化し(Δf’=(f2−f1)(1+αT))、温度が高いほど差が広がってしまう。
このことから、実際には、入力信号に周波数変化が生じていない場合であっても、温度変化だけでも、2つのSAW素子の共振周波数差が変化してしまうので、検出結果に誤差が生じてしまう。そこで、検出結果に生じる温度変化による誤差を抑制するためには、2つのSAW素子の共振周波数を予め同程度に近づけることが必要となる。
本発明は上記点に鑑みて、設計段階で所望の微小な差周波を得られるようにすることと、2つの弾性表面波素子の共振周波数を同程度に近づけることとの両立を図ることを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、
第1弾性表面波素子(2)を構成要素とした発振ループを形成する第1発振回路部(3)と、第2弾性表面波素子(4)を構成要素とした発振ループを形成する第2発振回路部(5)とを備え、
第1、第2発振回路部(3、5)は、同一のアドミタンス特性を有し、
第1、第2弾性表面波素子(2、4)は、櫛歯電極(12、13)および反射器(14、15)を構成する各電極のピッチ(p1、p2)が同一であるとともに、周波数とアドミタンス値の関係を示すアドミタンス特性の波形の振幅が異なっており、
第1弾性表面波素子(2)のアドミタンス特性と第1発振回路部(3)のアドミタンス特性との発振条件を満たす第1交点(X1)と、第2弾性表面波素子(4)のアドミタンス特性と第2発振回路部(5)のアドミタンス特性との発振条件を満たす第2交点(X2)との位置が、異なる周波数であることを特徴としている。
ここで、発振回路の発振周波数は、弾性表面波素子と発振回路との組み合せによって定まり、周波数とアドミタンス値を座標軸としてアドミタンス特性を図示(グラフ化)したとき、弾性表面波素子が有するアドミタンス特性と発振回路が有するアドミタンス特性との交点で決まる。
そして、弾性表面波素子のアドミタンス特性の振幅を変えることで、その交点をずらすことができるので、発振回路の発振周波数を変えることができる。このとき、アドミタンス特性の振幅の変化量に対する発振回路の発振周波数の変化量は微小であるので、発振周波数の微小な調整が可能となる。
このため、本発明によれば、第1、第2弾性表面波素子のアドミタンス特性の振幅を、異ならせるとともに所定の大きさに設定することで、第1、第2発振回路部の発振周波数の差である差周波を、1〜500KHzの範囲の微小な周波数とすることができる。すなわち、設計段階で所望の微小な差周波に設定することができる。
また、本発明によれば、各電極のピッチを第1、第2弾性表面波素子間で同一としているので、第1、第2弾性表面波素子がそれぞれ有する共振周波数を同程度に近づけることができる。この結果、第1、第2弾性表面波素子の共振周波数の温度特性をほぼ同一にでき、周波数変化検出型センサとして用いた際に温度変化によって生じる検出結果の誤差を抑制できる。
請求項1に記載の発明においては、例えば、請求項2に記載のように、櫛歯電極(12、13)と反射器(14、15)とを構成する電極の少なくとも一部の公差指幅(L1、L2)を、第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異ならせることで、両者のアドミタンス特性の振幅を異ならせることができる。この場合、第1、第2弾性表面波素子の共振周波数を同一にすることができ、共振周波数の温度特性を同一にできる。すなわち、温度変化による共振周波数の変化量を同一にできるので、両者の共振周波数の差を取れば、温度変化による共振周波数の変化量をキャンセルできる。
また、他の例として、請求項3に記載のように、櫛歯電極(12、13)の対数を、第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異ならせることで、両者のアドミタンス特性の振幅を異ならせることができる。
また、例えば、請求項4に記載のように、反射器(14、15)を構成する電極の数を、第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異ならせることで、両者のアドミタンス特性の振幅を異ならせることができる。
また、例えば、請求項5に記載のように、バスバー(12b、13b)の長さを、第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異ならせることで、両者のアドミタンス特性の振幅を異ならせることができる。
また、例えば、請求項6に記載のように、櫛歯電極(12、13)と反射器(14、15)とを構成する電極の少なくとも一部のメタライゼーションレシオを、第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異ならせることで、両者のアドミタンス特性の振幅を異ならせることができる。
なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明の第1実施形態におけるSAW発振器の電気回路図である。 図1中の第1、第2SAW共振子の平面図である。 図2中のII−II線断面図である。 従来および本実施形態のSAW発振器における2つのSAW素子のアドミタンス特性を示す図である。 第1実施形態における第1、第2SAW共振子の具体例を示す図表である。 第2実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図である。 第2実施形態における第1、第2SAW共振子の具体例を示す図表である。 第3実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図である。 第4実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図である。 第5実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図である。 (a)、(b)は、図10中のXIa−XIa線断面図、XIb−XIb線断面図である。 他の実施形態における第1、第2SAW共振子の断面図である。 他の実施形態における第1、第2SAW共振子の断面図である。 共振周波数が異なる2つのSAW素子における共振周波数の温度特性を示す図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
図1に本実施形態におけるSAW発振器の電気回路図を示す。また、図2に、図1中のSAW共振子の平面図を示し、図3に図2中のII−II線断面図を示す。本実施形態のSAW発振器は、周波数変化検出型センサとして利用されるものである。
図1に示すように、SAW発振器1は、第1弾性表面波素子としての第1SAW共振子2を有する第1発振回路3と、第2弾性表面波素子としての第2SAW共振子4を有する第2発振回路5とを備えている。第1、第2発振回路3、5によって2つの発振器が形成されている。
第1、第2発振回路3、5は、同じ構成のものであり、一般的な回路構成が採用可能である。第1、第2発振回路3、5は、例えば、インバータI1、I2と、受動部品である抵抗R1および容量C1、C2と、出力ポートT1とを有し、それぞれ、第1、第2SAW共振子2、4を構成要素とする正帰還ループを構成している。正帰還ループにおいて、インバータI1、I2に入力される電気信号のうち、位相が360°×nで、利得が1以上となる条件を満たす信号のみが増幅され、この信号のみが出力ポートT1から出力される。
このSAW発振器を周波数変化検出型センサとして用いる場合、第1、第2SAW共振子2、4の一方をリファレンス用とし、他方を検出用として用いる。そして、検出用のSAW素子を有する発振回路の発振周波数が変化すると、第1、第2発振回路3、5からの出力信号の差周波が変化する。そこで、この差周波の変化を検出することで、検出用のSAW素子で生じた周波数変化が検出可能となる。
図2、3に示すように、第1、第2SAW共振子2、4は、圧電材料の単結晶で構成された圧電基板11と、この圧電基板11上に形成された櫛歯電極(IDT)12、13および反射器14、15を備えている。圧電材料としては、例えば、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム等を用いることができる。
櫛歯電極12、13は、圧電基板11に弾性表面波を励振させるものである。櫛歯電極12、13は、具体的には、図2に示すように、それぞれ、互いに平行であってX軸方向に延びている複数の櫛歯部12a、13aと複数の櫛歯部12a、13aを連結するバスバー12b、13bとを有している。そして、櫛歯電極12、13の櫛歯部12a、13aは同数であり、互いの櫛歯部12a、13aが一本ずつ交互に配置されている。この一対の櫛歯電極12、13によって、櫛歯部12a、13aの延伸方向に垂直な方向、すなわち、Y軸方向に、弾性表面波が伝搬する。
反射器14、15は、櫛歯電極12、13のY軸方向での両側に配置されており、櫛歯電極12、13から伝搬された弾性表面波を反射するものである。反射器14、15は、Y軸方向に並ぶ複数本の電極によって構成されている。一本の電極は櫛歯部12a、13aと平行に延びており、複数本の電極同士は互いに平行である。
本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、櫛歯電極12、13の対数、反射器14、15を構成する電極の本数、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極幅h1、h2、各電極のピッチp1、p2等については同じである。また、各電極幅h1、h2と各電極のピッチp1、p2とが同じであることから、メタライゼーションレシオ(Y軸方向における各電極の幅と自由表面の幅との比率)も同じである。ちなみに、櫛歯電極12、13の対数とは一対の櫛歯電極12、13がそれぞれ有する櫛歯部12a、13aの数であり、各電極のピッチp1、p2とは隣り合う電極における中心と中心との間隔である。
そして、第1、第2SAW共振子2、4は、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極の交差指幅L1、L2が異なっており、第2SAW共振子4の交差指幅L2が第1SAW共振子2の交差指幅L1よりも長くなっている。
これにより、第1SAW共振子2を有する第1発振回路3の発振周波数と、第2SAW共振子4を有する第2発振回路5の発振周波数とが異なり、両者の差である差周波は微小な周波数となっている。すなわち、本実施形態のSAW発振器1は、所望の微小な差周波に設定されている。
ここで、微小な差周波が得られる理由を説明する。図4(a)、(b)のそれぞれに従来および本実施形態のSAW発振器における2つのSAW素子のアドミタンス特性を示す。アドミタンス特性は、周波数とアドミタンス値との関係を示すものであり、図4(a)、(b)のように、横軸を周波数、縦軸をアドミタンス値としたときに波形の曲線となる。
周波数変化検出型センサとしての作用を考えた場合、必ずしも従来のようにSAW素子そのものの共振周波数を変える必要はなく、発振回路と組み合わせた場合の2つのSAW素子の発振周波数に差があれば良い。
すなわち、図4(a)に示すように、SAW素子と発振回路との組み合せによって定まる発振周波数は、SAW素子のアドミタンス特性と発振回路のアドミタンス特性の交点X1、X2で決まる。なお、交点は、低周波側と高周波側(図4中の左側と右側)の2つが存在するが、高周波側(図4中の右側)の交点X1、X2が発振条件を満たす交点である。
従来では、図4(a)に示すように、共振周波数が異なる2つのSAW素子(第1、第2SAW共振子)を用いることで、2つのSAW素子のアドミタンス特性と発振回路のアドミタンス特性の交点X1、X2を異ならせて差周波を得ていた。
これに対して、本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4の間で交差指幅L1、L2を異ならせることで、図4(b)に示すように、両素子のアドミタンス特性の波高値、すなわち、アドミタンス特性を示す波形の振幅A1、A2を異ならせている。ちなみに、第1発振回路3と第2発振回路5とは、回路構成が同じであり、アドミタンス特性も同じであるので、発振回路のアドミタンス特性を示す直線は1つである。
これにより、第1SAW共振子2のアドミタンス特性と第1発振回路3のアドミタンス特性との第1交点X1と、第2SAW共振子4のアドミタンス特性と第2発振回路5のアドミタンス特性との第2交点X2をわずかに異ならせることができ、従来よりも微小な差周波を得ることができる。
つまり、本実施形態では、2つのSAW素子のアドミタンス特性が同じであれば、2つのSAW素子のアドミタンス特性と発振回路のアドミタンス特性の交点X1、X2は一致し、それらの一方のアドミタンス特性を示す波形の振幅を変えると、その交点X1、X2がわずかにずれることを利用している。アドミタンスのピーク高さ(波高値)は交差指幅に敏感に変化するが、共振周波数は鈍感であるため、微小な発振周波数の調整が可能となる。
交差指幅の設定時においては、例えば、2つのSAW共振子の仮の交差指幅を設定した後、2つのSAW素子のアドミタンス特性と発振回路のアドミタンス特性との交点をシミュレーションにより求める。そして、その交点の差が所望の差周波に近づくように、2つの交差指幅の設定値を少しずつ変更することで、2つのSAW共振子の交差指幅を設定することができる。
このようにして、本実施形態によれば、1KHz〜500KHzの範囲であって、1KHz程度の単位で、所望の差周波が得られる。
図5に、本実施形態の第1、第2SAW共振子の一例を示す。具体的には、図5に示すように、第1SAW共振子2の公差指幅L1を20λ、第2SAW共振子4の公差指幅L2を40λとしたとき、第1、第2SAW共振子2、4の共振周波数は203.80MHzで同じであり、第1、第2SAW共振子2、4の発振回路と組み合わせた発振周波数は、204.47MHz、204.67MHzであり、得られた差周波は200KHzである。なお、第1、第2SAW共振子2、4は、ともに、櫛歯電極12、13の対数が10対であり、反射器14、15を構成する電極が70本である。
また、本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、各電極のピッチやメタライゼーションレシオが同じであるため、共振周波数も同じであり、このため、温度特性も同じであり、すなわち、温度変化による共振周波数の変化量も同じである。よって、本実施形態によれば、両者の共振周波数の差を取れば、温度変化による共振周波数の変化量はキャンセルされるので、周波数変化検出型センサの検出結果に誤差が生じないようにできる。
なお、本実施形態では、第2SAW共振子4は、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極の交差指幅L2が全て同じであったが、一部が異なっていても良い。例えば、第2SAW共振子4の櫛歯電極12、13の交差指幅L2を第1SAW共振子2と異ならせ、第2SAW共振子4の反射器14、15の交差指幅を第1SAW共振子2と同じとしても良い。また、櫛歯電極12、13のうち一部の櫛歯部12a、13aの交差指幅L2を第1SAW共振子2と異ならせ、他の櫛歯部および反射器の交差指幅を第1SAW共振子2と同じとしても良い。
(第2実施形態)
図6に本実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図を示す。
本実施形態では、櫛歯電極12、13の対数が、第1、第2SAW共振子2、4の間で異なっており、第1SAW共振子2がN対に対して、第2SAW共振子4が(N±α)対となっている。
なお、反射器14、15を構成する電極の本数、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極幅h1、h2、各電極のピッチp1、p2、各電極の交差指幅等の他の構成については、第1、第2SAW共振子2、4間で同じである。
これにより、第1、第2SAW共振子2、4は、アドミタンス特性を示す波形の振幅が異なっている。この結果、本実施形態においても、第1、第2SAW共振子2、4のアドミタンス特性と第1、第2発振回路3、5のアドミタンス特性の交点X1、X2をわずかに異ならせることができ、従来よりも微小な差周波を得ることができる。
ここで、図7に、本実施形態の第1、第2SAW共振子の一例を示す。
図7に示すように、第1SAW共振子2の櫛歯電極12、13の対数を10対、第2SAW共振子4の櫛歯電極12、13の対数を8対としたとき、第1、第2SAW共振子2、4と発振回路とを組み合わせた発振周波数は、それぞれ、204.47MHz、204.44MHzであり、得られた差周波は30KHzである。このとき、第1、第2SAW共振子2、4は、ともに、公差指幅が20λであり、反射器14、15を構成する電極が70本である。
また、本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、各電極のピッチp1、p2やメタライゼーションレシオも同じであるため、共振周波数の差異はほとんどなく、温度特性もほぼ同じとなる。
(第3実施形態)
図8に本実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図を示す。
本実施形態では、反射器14、15を構成する電極の数が、第1、第2SAW共振子2、4間で異なっている。図8では、第2SAW共振子4の方が第1SAW共振子2よりも、反射器14、15の電極数が少なくなっているが、反対に多くても良い。
なお、櫛歯電極12、13の対数、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極幅h1、h2、各電極のピッチp1、p2、各電極の交差指幅等の他の構成については、第1、第2SAW共振子2、4間で同じである。
これにより、第1、第2SAW共振子2、4は、アドミタンス特性を示す波形の振幅が異なっている。この結果、本実施形態においても、第1、第2SAW共振子2、4のアドミタンス特性と第1、第2発振回路3、5のアドミタンス特性の交点X1、X2をわずかに異ならせることができ、従来よりも微小な差周波を得ることができる。
また、本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、各電極のピッチp1、p2やメタライゼーションレシオも同じであるため、共振周波数の差異はほとんどなく、温度特性もほぼ同じとなる。
(第4実施形態)
図9に本実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図を示す。
本実施形態では、櫛歯電極12、13のバスバー12b、13bのY軸方向での長さが、第1、第2SAW共振子2、4間で異なっている。
具体的には、第2SAW共振子4は、第1SAW共振子2よりもバスバー12b、13bが長く、実装配線16との接続部であるパッド16aが、櫛歯部12a、13aから離れた位置に設けられている。このため、櫛歯部12a、13aからパッド16aまでのバスバー12bの長さが、第1、第2SAW共振子2、4間で異なっている。
なお、櫛歯電極12、13の対数、反射器14、15を構成する電極の本数、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極幅h1、h2、各電極のピッチp1、p2、各電極の交差指幅等の他の構成については、第1、第2SAW共振子2、4間で同じである。
本実施形態では、バスバー12b、13bでの寄生容量が、第1、第2SAW共振子2、4間で異なっているので、第1、第2SAW共振子2、4のアドミタンス特性を示す波形の振幅も異なっている。
このため、本実施形態においても、第1、第2SAW共振子2、4のアドミタンス特性と第1、第2発振回路3、5のアドミタンス特性の交点X1、X2をわずかに異ならせることができ、従来よりも微小な差周波を得ることができる。
また、本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、各電極のピッチp1、p2やメタライゼーションレシオも同じであるため、共振周波数の差異はほとんどなく、温度特性もほぼ同じとなる。
なお、本実施形態では、パッド16aの位置が第1、第2SAW共振子2、4間で異なっていたが、パッド16aの位置を第1、第2SAW共振子2、4間で同じとしても良い。バスバー12b、13bの長さが異なれば、寄生容量も異なるからである。
(第5実施形態)
図10に本実施形態における第1、第2SAW共振子の平面図を示し、図11(a)、(b)にそれぞれ図10中のXIa−XIa線断面図、XIb−XIb線断面図を示す。
本実施形態では、櫛歯電極12、13と反射器14、15とを構成する電極のメタライゼーションレシオが、第1、第2SAW共振子2、4間で異なっている。
すなわち、図10、11に示すように、第2SAW共振子4は、櫛歯電極12、13と反射器14、15とを構成する電極の全部において、電極のピッチp2が第1SAW共振子2のピッチh1と同一で、電極幅h2が第1SAW共振子2の電極幅h1よりも大きく、隣り合う電極間の空隙(自由表面)が小さくなっている。なお、第1、第2SAW共振子2、4のメタライゼーションレシオの大小関係を逆にしても良い。
櫛歯電極12、13の対数、反射器14、15を構成する電極の本数、櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極幅のピッチp1、p2、各電極の交差指幅等の他の構成については、第1、第2SAW共振子2、4間で同じである。
これにより、第1、第2SAW共振子2、4は、アドミタンス特性を示す波形の振幅が異なっている。この結果、本実施形態においても、第1、第2SAW共振子2、4のアドミタンス特性と第1、第2発振回路3、5のアドミタンス特性の交点X1、X2をわずかに異ならせることができ、従来よりも微小な差周波を得ることができる。
また、本実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、各電極のピッチp1、p2が同じであるため、ピッチを第1、第2SAW共振子2、4間で異ならせた場合よりも共振周波数の差異は小さい。このため、本実施形態によれば、第1、第2SAW共振子2、4の共振周波数を同程度に近づけることができ、第1、第2SAW共振子2、4の共振周波数の温度特性を近づけることができる。
なお、本実施形態では、第2SAW共振子4の各電極の全部のメタライゼーションレシオが、第1SAW共振子2と異なっていたが、各電極の一部を異ならせても良い。例えば、櫛歯電極12、13のメタライゼーションレシオを異ならせ、反射器14、15のメタライゼーションレシオを同じとしても良い。また、櫛歯電極12、13のうち一部の櫛歯部12a、13aのメタライゼーションレシオを異ならせ、他の櫛歯部および反射器のメタライゼーションレシオを同じとしても良い。
(他の実施形態)
(1)図12、13に第1、第2SAW共振子の断面図を示す。図12、13は、図3に対応している。
上述の各実施形態では、第1、第2SAW共振子2、4は、圧電材料の単結晶からなる圧電基板11の上に各電極を形成した構成であったが、図12、13に示すように、単結晶からなる圧電基板11の代わりに、圧電材料の薄膜で構成された圧電薄膜23の上に各電極を形成した構成としても良い。
ここで、図12に示す第1、第2SAW共振子2、4では、基板21上に下部酸化膜22、圧電薄膜23、上部酸化膜24が順に積層されており、上部酸化膜24上に櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極が形成されている。
また、図13に示す第1、第2SAW共振子2、4では、図12に示す構造に対して、基板21と下部酸化膜22の間に下部電極25を追加している。
(2)上述の各実施形態では、第1SAW共振子2を有する第1発振回路3と、第2SAW共振子4を有する第2発振回路5とを別々の発振回路としたが、1つの発振回路として構成しても良い。この場合、1つの発振回路は、第1SAW共振子2を構成要素とした発振ループを形成する第1発振回路部と、第2SAW共振子4を構成要素とした発振ループを形成する第2発振回路部とを備えていれば良い。
(3)上述の各実施形態を実施可能な範囲で組み合わせても良い。例えば、第1、第2実施形態とを組み合わせて、交差指幅と櫛歯電極の対数とを、第1、第2SAW共振子2、4間で異ならせても良い。さらに、第3実施形態を組み合わせて、交差指幅と櫛歯電極の対数と反射器を構成する電極の数とを、第1、第2SAW共振子2、4間で異ならせても良い。さらに、第4実施形態を組み合わせて、交差指幅と櫛歯電極の対数と反射器を構成する電極の数とバスバーの長さとを、第1、第2SAW共振子2、4間で異ならせても良い。
(4)上述の各実施形態では、本発明のSAW発振器を周波数変化検出型センサとして用いる場合を説明したが、本発明のSAW発振器を他の用途に用いても良い。
1 SAW発振器(弾性表面波発振器)
2 第1SAW共振子(第1弾性表面波素子)
3 第1発振回路(第1発振回路部)
4 第2SAW共振子(第2弾性表面波素子)
5 第2発振回路(第2発振回路部)
11 圧電基板
12、13 櫛歯電極
14、15 反射器

Claims (6)

  1. 圧電材料上に形成された櫛歯電極(12、13)および反射器(14、15)をそれぞれ有する第1、第2弾性表面波素子(2、4)と、
    前記第1弾性表面波素子(2)を構成要素とした発振ループを形成する第1発振回路部(3)と、
    前記第2弾性表面波素子(4)を構成要素とした発振ループを形成する第2発振回路部(5)とを備え、
    前記第1、第2発振回路部(3、5)は、同一のアドミタンス特性を有し、
    前記第1、第2弾性表面波素子(2、4)は、前記櫛歯電極(12、13)および前記反射器(14、15)を構成する各電極のピッチ(p1、p2)が同一であるとともに、周波数とアドミタンス値の関係を示すアドミタンス特性の波形の振幅が異なっており、
    前記第1弾性表面波素子(2)のアドミタンス特性と前記第1発振回路部(3)のアドミタンス特性との発振条件を満たす第1交点(X1)と、前記第2弾性表面波素子(4)のアドミタンス特性と前記第2発振回路部(5)のアドミタンス特性との発振条件を満たす第2交点(X2)との位置が、異なる周波数であることを特徴とする弾性表面波発振器。
  2. 前記櫛歯電極(12、13)と前記反射器(14、15)とを構成する電極の少なくとも一部の公差指幅(L1、L2)が、前記第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異なることを特徴とする請求項1に記載の弾性表面波発振器。
  3. 前記櫛歯電極(12、13)の対数が、前記第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異なることを特徴とする請求項1または2に記載の弾性表面波発振器。
  4. 前記反射器(14、15)を構成する電極の数が、前記第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異なることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載の弾性表面波発振器。
  5. 前記櫛歯電極(12、13)は、複数の櫛歯部(12a、13a)を連結するバスバー(12b、13b)を有しており、
    前記バスバー(12b、13b)の長さが、前記第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異なることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載の弾性表面波発振器。
  6. 前記櫛歯電極(12、13)と前記反射器(14、15)とを構成する電極の少なくとも一部のメタライゼーションレシオが、前記第1、第2弾性表面波素子(2、4)間で異なることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の弾性表面波発振器。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020034433A (ja) * 2018-08-30 2020-03-05 株式会社デンソー Sawセンサ

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2980550B1 (en) * 2014-07-28 2017-01-25 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) Differential temperature surface sensor

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61234324A (ja) * 1985-04-11 1986-10-18 Anritsu Corp 応力センサ
JPS6281104A (ja) * 1985-10-04 1987-04-14 Hitachi Ltd 電圧可変発振器
JPH02172312A (ja) * 1988-12-26 1990-07-03 Hitachi Ltd 弾性表面波フィルタ
JPH04373301A (ja) * 1991-06-24 1992-12-25 Japan Radio Co Ltd 遅延帰還型弾性表面波電圧制御発振器
JPH09294039A (ja) * 1996-04-26 1997-11-11 Murata Mfg Co Ltd 端面反射型表面波共振子及び表面波共振子の周波数調整方法
JP2000114923A (ja) * 1998-10-05 2000-04-21 Kyocera Corp 弾性表面波フィルタ
JP2004007093A (ja) * 2002-05-30 2004-01-08 Kyocera Corp 弾性表面波フィルタ
JP2005303359A (ja) * 2004-04-06 2005-10-27 Seiko Epson Corp 発振回路および電子機器
JP2006067120A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Seiko Epson Corp 受信機
JP2006101184A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Seiko Epson Corp 送信機、受信機、及び無線通信システム
JP2006279798A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Seiko Epson Corp 温度補償型発振器
JP2007208690A (ja) * 2006-02-02 2007-08-16 Epson Toyocom Corp 弾性表面波素子および発振器
JP2007228328A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス
JP2008311853A (ja) * 2007-06-13 2008-12-25 Seiko Epson Corp 弾性表面波素子および電子機器

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6192011A (ja) 1984-10-11 1986-05-10 Nec Kansai Ltd 弾性表面波素子の製造方法
JPH0689463B2 (ja) 1986-05-22 1994-11-09 日本電信電話株式会社 スパツタエツチングによる電子素子のトリミング方法
JP2925158B2 (ja) * 1988-07-29 1999-07-28 株式会社東芝 変調器および送信器
JPH06224678A (ja) 1993-01-21 1994-08-12 Daishinku Co 多段接続型弾性表面波フィルタの周波数調整方法
JP3488554B2 (ja) 1995-09-13 2004-01-19 富士工業株式会社 溶液センサシステム
JP4214470B2 (ja) * 2003-08-12 2009-01-28 セイコーエプソン株式会社 Saw発振器
JP3969368B2 (ja) 2003-08-18 2007-09-05 セイコーエプソン株式会社 Sawチップの製造方法およびsawチップ並びにsawデバイス
US7215214B1 (en) * 2003-09-26 2007-05-08 Cypress Semiconductor Corp. Resonator and amplifying oscillator circuit having a high resolution skew-compensated frequency synthesizer integrated on a single substrate
JP2005348070A (ja) 2004-06-02 2005-12-15 Seiko Epson Corp 弾性表面波素子の製造方法
JP4148225B2 (ja) 2004-06-09 2008-09-10 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波装置の周波数調整方法、弾性表面波装置および電子機器
DE102006027060B4 (de) * 2006-06-08 2010-04-01 Leibniz-Institut Für Festkörper- Und Werkstoffforschung Dresden E.V. Oszillatorkreis mit akustischen Eintor-Oberflächenwellenresonatoren
JP2008004977A (ja) 2006-06-20 2008-01-10 Seiko Npc Corp 発振回路
JP5145988B2 (ja) * 2007-02-27 2013-02-20 セイコーエプソン株式会社 発振回路、発振器

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61234324A (ja) * 1985-04-11 1986-10-18 Anritsu Corp 応力センサ
JPS6281104A (ja) * 1985-10-04 1987-04-14 Hitachi Ltd 電圧可変発振器
JPH02172312A (ja) * 1988-12-26 1990-07-03 Hitachi Ltd 弾性表面波フィルタ
JPH04373301A (ja) * 1991-06-24 1992-12-25 Japan Radio Co Ltd 遅延帰還型弾性表面波電圧制御発振器
JPH09294039A (ja) * 1996-04-26 1997-11-11 Murata Mfg Co Ltd 端面反射型表面波共振子及び表面波共振子の周波数調整方法
JP2000114923A (ja) * 1998-10-05 2000-04-21 Kyocera Corp 弾性表面波フィルタ
JP2004007093A (ja) * 2002-05-30 2004-01-08 Kyocera Corp 弾性表面波フィルタ
JP2005303359A (ja) * 2004-04-06 2005-10-27 Seiko Epson Corp 発振回路および電子機器
JP2006067120A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Seiko Epson Corp 受信機
JP2006101184A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Seiko Epson Corp 送信機、受信機、及び無線通信システム
JP2006279798A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Seiko Epson Corp 温度補償型発振器
JP2007208690A (ja) * 2006-02-02 2007-08-16 Epson Toyocom Corp 弾性表面波素子および発振器
JP2007228328A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス
JP2008311853A (ja) * 2007-06-13 2008-12-25 Seiko Epson Corp 弾性表面波素子および電子機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020034433A (ja) * 2018-08-30 2020-03-05 株式会社デンソー Sawセンサ
JP7091950B2 (ja) 2018-08-30 2022-06-28 株式会社デンソー Sawセンサ

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