JP2011179910A5 - 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 - Google Patents
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Description
上記の目的を達成する本発明に係る位置姿勢計測装置は、
対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する取得手段と、
前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する推定手段と、
前記対象物体の概略位置姿勢を取得する第2の取得手段と、
前記推定手段にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する選択手段と、
前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択手段にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける対応付け手段と、
前記対応付け手段における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する導出手段と、
を備えることを特徴とする。
対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する取得手段と、
前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する推定手段と、
前記対象物体の概略位置姿勢を取得する第2の取得手段と、
前記推定手段にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する選択手段と、
前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択手段にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける対応付け手段と、
前記対応付け手段における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する導出手段と、
を備えることを特徴とする。
Claims (15)
- 対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する取得手段と、
前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する推定手段と、
前記対象物体の概略位置姿勢を取得する第2の取得手段と、
前記推定手段にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する選択手段と、
前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択手段にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける対応付け手段と、
前記対応付け手段における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する導出手段と、
を備えることを特徴とする位置姿勢計測装置。 - 前記推定手段は、前記形状モデル上の所定領域に対応する、前記距離画像における領域の前記距離値のばらつきの程度を示すばらつき値を前記計測誤差として導出し、 前記選択手段は、前記計測誤差が小さい程、前記サンプル点の数が少なくなるように、前記形状モデル上の所定領域ごとにサンプル点を選択することを特徴とする請求項1に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、撮像装置と前記対象物体との位置関係、前記対象物体の形状、前記物体の光学特性のうち、少なくともいずれか1つに基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1または2に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、撮像装置の撮影方向に対する前記対象物体の面の傾きに基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記対象物体の内部散乱率に基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記対象物体の表面の反射率に基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記形状モデル上の所定領域に対応する距離画像上の領域における計測された距離値と、該それぞれの距離値に相当する形状モデル上の位置の撮像装置からの距離との差の分散を導出することを特徴とする請求項1または2に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記形状モデル上の所定領域に対応する、前記距離画像における領域の前記距離値に含まれる計測誤差を示すオフセット値を、前記計測誤差として、導出し、
前記計測誤差が大きい程、前記サンプル点の数が少なくなるように、前記形状モデル上の所定領域ごとに当該所定領域からサンプル点を選択することを特徴とする請求項1に記載の位置姿勢計測装置。 - 前記推定手段は、光源と前記対象物体との位置関係、前記対象物体の形状のうち、少なくともいずれか1つに基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1または8に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、投影光の1次反射位置と2次反射位置との距離に基づいて前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1、8または9のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記形状モデル上の所定の領域に対応する距離画像上の領域における計測された距離値と、該それぞれの距離値に相当する形状モデル上の撮像装置からの距離の差の平均値を、前記計測誤差として導出することを特徴とする請求項1、8または9のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記対応付け手段は、前記概略位置姿勢に基づいて前記サンプル点を前記距離画像上に投影し、該投影された投影点と、該投影された投影点に対応する前記距離画像上の計測点とを対応づけることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 取得手段と、推定手段と、第2の取得手段と、選択手段と、対応付け手段と、導出手段とを備える位置姿勢計測装置における位置姿勢計測方法であって、
前記取得手段が、対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する工程と、
前記推定手段が、前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する工程と、
前記第2の取得手段が、前記対象物体の概略位置姿勢を取得する工程と、
前記選択手段が、前記推定する工程にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する工程と、
前記対応付け手段が、前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択する工程にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける工程と、
前記導出手段が、前記対応付ける工程における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する工程と、
を有することを特徴とする位置姿勢計測方法。 - 請求項13に記載の位置姿勢計測方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項14に記載のプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010043064A JP5548482B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 |
US13/033,952 US8711214B2 (en) | 2010-02-26 | 2011-02-24 | Position and orientation measurement apparatus, position and orientation measurement method, and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010043064A JP5548482B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011179910A JP2011179910A (ja) | 2011-09-15 |
JP2011179910A5 true JP2011179910A5 (ja) | 2013-04-11 |
JP5548482B2 JP5548482B2 (ja) | 2014-07-16 |
Family
ID=44505077
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010043064A Active JP5548482B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8711214B2 (ja) |
JP (1) | JP5548482B2 (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5393318B2 (ja) * | 2009-07-28 | 2014-01-22 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測方法及び装置 |
JP5746477B2 (ja) | 2010-02-26 | 2015-07-08 | キヤノン株式会社 | モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム |
JP5297403B2 (ja) | 2010-02-26 | 2013-09-25 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラムおよび記憶媒体 |
JP5612916B2 (ja) | 2010-06-18 | 2014-10-22 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、その処理方法、プログラム、ロボットシステム |
JP5671281B2 (ja) | 2010-08-20 | 2015-02-18 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測装置の制御方法及びプログラム |
JP5839929B2 (ja) * | 2010-11-19 | 2016-01-06 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及びプログラム |
CN102692185B (zh) * | 2012-06-13 | 2015-04-29 | 东南大学 | 高铁无砟轨道板快速检测方法 |
KR101371384B1 (ko) | 2013-01-10 | 2014-03-07 | 경북대학교 산학협력단 | 트랙킹 시스템 및 이를 이용한 트랙킹 방법 |
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KR101822505B1 (ko) | 2017-09-22 | 2018-01-26 | 성균관대학교 산학협력단 | 위치 정보 기반의 수확 장치 및 방법 |
JP7050476B2 (ja) * | 2017-12-07 | 2022-04-08 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | 形状情報操作システム |
US10785422B2 (en) | 2018-05-29 | 2020-09-22 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Face recognition using depth and multi-spectral camera |
US11245875B2 (en) | 2019-01-15 | 2022-02-08 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Monitoring activity with depth and multi-spectral camera |
EP4249847A3 (de) * | 2019-04-08 | 2023-11-15 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH | Verfahren und computereinrichtung zum auswählen einer messreihenfolge für ein koordinatenmessgerät |
JP7316134B2 (ja) * | 2019-07-22 | 2023-07-27 | ファナック株式会社 | 位置姿勢特定装置、位置姿勢特定方法及び位置姿勢特定プログラム |
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CN111563861B (zh) * | 2020-07-14 | 2020-11-20 | 武汉数字化设计与制造创新中心有限公司 | 一种基于三维测量点云数据的工件余量快速求取方法 |
CN112102398B (zh) * | 2020-09-10 | 2022-07-29 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种定位方法、装置、设备及存储介质 |
CN116592795B (zh) * | 2023-07-14 | 2023-09-26 | 浙江至格科技有限公司 | 一种ar镜片平行度测量方法及系统 |
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JP4739002B2 (ja) | 2005-06-30 | 2011-08-03 | キヤノン株式会社 | 画像処理方法、画像処理装置 |
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2010
- 2010-02-26 JP JP2010043064A patent/JP5548482B2/ja active Active
-
2011
- 2011-02-24 US US13/033,952 patent/US8711214B2/en active Active
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