JP5548482B2 - 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 - Google Patents
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Description
対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する取得手段と、
前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する推定手段と、
前記対象物体の概略位置姿勢を取得する第2の取得手段と、
前記推定手段にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する選択手段と、
前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択手段にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける対応付け手段と、
前記対応付け手段における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する導出手段と、
を備えることを特徴とする。
以下、対象物体のモデル上から距離画像と対応付ける局所領域を距離計測誤差の特性と大きさに応じてサンプリングすることにより、位置姿勢推定精度を保ちつつ、対応付けの処理負荷を軽減する方法を説明する。距離画像とは、対象物体までの距離情報が画素値として保持された画像である
本実施形態では、距離計測の計測値に偶然誤差(距離計測値のばらつき)が含まれる場合を説明する。ここでは、距離計測値の系統誤差(真値からのオフセット)は微小であるとする。
上記の説明では、対象物体の概略位置姿勢の算出処理(ステップS303)、距離計測の誤差推定処理(ステップS304)、局所領域の選択処理(ステップS305)、局所領域と距離画像の対応付け処理(ステップS306)、対象物体の位置姿勢推定処理(ステップS307)の各処理ステップを1回ずつ行っている。しかし、必ずしも1回ずつに限定するものではなく、これらの処理を繰り返し行って、漸近的に位置及び姿勢の推定精度を高めてもよい。このとき、ステップS307における対象物体の位置姿勢推定処理の終了後に繰り返し回数が所定回数に達したか否か判定し、所定回数に達していれば処理全体を終了し、達していなければステップS303に戻ってもよい。あるいは、ステップS307における処理の終了後に、モデルの当て嵌め誤差を算出して所定の閾値との大小関係を比較し、誤差が閾値未満であれば処理全体を終了し、閾値以上であればステップS303に戻ってもよい。ここで、モデルの当て嵌め誤差とは、例えば対応点対間の距離を全ての対応点対について足した値とする。上記フローの1回の繰り返しで推定された対象物体の位置姿勢を、次の繰り返しのステップS303において物体の概略位置姿勢として用いればよい。
計測対象物体の概略位置姿勢を算出する方法として、前述の説明では特許文献2に開示される方法を用いたが、これに限るものではない。
物体の3次元形状モデルは三角形ポリゴンのみから構成されるとしているが、これに限らず、他の形状のポリゴンのみから構成されてもよい。さらに、複数種類の形状のポリゴンが混在して構成されてもよい。また、3次元形状モデルは平面パッチではなく、パラメトリック曲面パッチから構成されてもよい。さらに、平面パッチと曲面パッチが混在して構成されてもよい。ただし、曲面パッチを用いる場合は、1つのパッチの中で距離計測装置の計測方向とモデル表面との傾きが一様でない。そこで、曲面パッチを小領域に分割して、それぞれの小領域に対して距離計測の誤差を推定して、サンプル点を選択すればよい。
上記の説明では物体モデル表面上の単位領域を同一面積の小領域に分割して、それぞれの小領域からサンプル点を同一個数選択する方法を説明した(ステップS305)が、サンプル点を決定する方法はこれに限られない。例えば、物体モデル表面上の単位領域をランダムにサンプリングしてもよい。
上記の説明では、標準サンプル数は、サンプル点を距離画像上に投影した際の密度が画素密度と同等になるように設定している。しかし、標準サンプル数をさらに少なく設定することも可能である。ただし、標準サンプル数を少なくするに従って、サンプル点の数が減少して処理速度が向上するが、一般的な傾向としては位置姿勢推定の精度は低下する。
上記の説明では、距離計測値のばらつき度を計測対象物体の面の傾きにより評価した。しかし、ばらつき度の評価方法はこれに限るものではない。
上記の説明では、ステップS305で計測対象物体のモデルから選択する局所領域は点であった。しかし、本発明の方法は点に限らず、他の種類の局所領域を選択する場合にも適用できる。
第1実施形態乃至第8実施形態では、距離計測の計測値に偶然誤差(計測値のばらつき)が含まれる場合を考慮した。そして、モデル上から距離画像と対応付ける局所領域を距離計測誤差の特性とその大きさに応じてサンプリングすることにより、位置姿勢推定精度を保ちつつ、対応付けの処理負荷を軽減する方法を説明した。
第1実施形態の変形例である第2実施形態乃至第8実施形態で説明した内容は、本実施形態にも適用できる。
上記の説明では、それぞれの三角形ポリゴンに関する距離計測のオフセット度を各三角形ポリゴンの重心位置で評価している。しかし、誤差の評価に用いる点の位置はこれに限るものではない。また、評価に用いる点の数も1点に限らず、複数の点であってもよい。このとき、複数の点で算出されたオフセット度を平均するなどして、三角形ポリゴン1つにつき1つのオフセット度を算出してもよい。あるいは、1つの三角形ポリゴンを複数の小領域に分割し、それぞれの小領域についてオフセット度を算出して、小領域ごとにサンプル数を決定してもよい。
上記の説明では、2次反射したスポット光による誤差の大きさを推定しているが、さらに他の要因による誤差を評価してもよい。
上記の説明では、距離画像計測がスポット光方式によるものであるとしている。しかし、距離計測方式はこれに限るものではない。光切断方式など他のアクティブ方式であってもよい。また、アクティブ方式に限らず、ステレオ方式などパッシブ方式であってもよい。パッシブ方式の場合、例えば計測対象物体上に繰り返し模様があることによって2つの画像間の対応点探索を誤ることを原因として想定し、模様の繰り返し間隔に基づいて距離計測値のオフセット度を評価することができる。
第1実施形態および第9実施形態では、距離計測の誤差(ばらつきやオフセット)をシミュレーションによって求めた。しかし、誤差を推定する方法はこれに限るものではなく、実際に対象物体を計測した距離データに基づいて決定することができる。
第1実施形態の変形例である第2実施形態乃至第8実施形態は、本実施形態にも適用できる。
上記の説明では、距離計測のオフセット誤差を実測の距離画像から推定する方法を述べたが、ばらつき誤差を推定することも可能である。具体的には、実測と真値の距離値の差について、ポリゴンパッチごとに求めた標本分散をもって、当該ポリゴンのばらつき誤差とすればよい。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (15)
- 対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する取得手段と、
前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する推定手段と、
前記対象物体の概略位置姿勢を取得する第2の取得手段と、
前記推定手段にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する選択手段と、
前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択手段にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける対応付け手段と、
前記対応付け手段における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する導出手段と、
を備えることを特徴とする位置姿勢計測装置。 - 前記推定手段は、前記形状モデル上の所定領域に対応する、前記距離画像における領域の前記距離値のばらつきの程度を示すばらつき値を前記計測誤差として導出し、前記選択手段は、前記計測誤差が小さい程、前記サンプル点の数が少なくなるように、前記形状モデル上の所定領域ごとにサンプル点を選択することを特徴とする請求項1に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、撮像装置と前記対象物体との相対位置姿勢および前記対象物体の形状と、前記対象物体の光学特性とのうち、少なくともいずれか一方に基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1または2に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、撮像装置の撮影方向に対する前記対象物体の面の傾きに基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記対象物体の内部散乱率に基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記対象物体の表面の反射率に基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記形状モデル上の所定領域に対応する距離画像上の領域における計測された距離値と、該それぞれの距離値に相当する形状モデル上の位置の撮像装置からの距離との差の分散を導出することを特徴とする請求項1または2に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、前記形状モデル上の所定領域に対応する、前記距離画像における領域の前記距離値に含まれる計測誤差を示すオフセット値を、前記計測誤差として、導出し、
前記計測誤差が大きい程、前記サンプル点の数が少なくなるように、前記形状モデル上の所定領域ごとに当該所定領域からサンプル点を選択することを特徴とする請求項1に記載の位置姿勢計測装置。 - 前記推定手段は、撮像装置と光源との相対位置姿勢、および、前記撮像装置と前記対象物体との相対位置姿勢に基づいて、前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1または8に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記推定手段は、投影光の1次反射位置と2次反射位置との距離に基づいて前記計測誤差を導出することを特徴とする請求項1、8または9のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記形状モデル上の所定の領域に対応する距離画像上の領域における計測された距離値と、該それぞれの距離値に相当する形状モデル上の撮像装置からの距離の差の平均値を、前記計測誤差として導出することを特徴とする請求項1、8または9のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 前記対応付け手段は、前記概略位置姿勢に基づいて前記サンプル点を前記距離画像上に投影し、該投影された投影点と、該投影された投影点に対応する前記距離画像上の計測点とを対応づけることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の位置姿勢計測装置。
- 取得手段と、推定手段と、第2の取得手段と、選択手段と、対応付け手段と、導出手段とを備える位置姿勢計測装置における位置姿勢計測方法であって、
前記取得手段が、対象物体までの距離値を示す距離画像を取得する工程と、
前記推定手段が、前記距離画像における距離値の計測誤差を推定する工程と、
前記第2の取得手段が、前記対象物体の概略位置姿勢を取得する工程と、
前記選択手段が、前記推定する工程にて推定した計測誤差に基づいて、前記対象物体の形状モデル表面上からサンプル点を選択する工程と、
前記対応付け手段が、前記概略位置姿勢に基づいて、前記選択する工程にて選択したサンプル点と、前記距離画像における計測点とを対応付ける工程と、
前記導出手段が、前記対応付ける工程における対応付け結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する工程と、
を有することを特徴とする位置姿勢計測方法。 - 請求項13に記載の位置姿勢計測方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項14に記載のプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
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JP5839929B2 (ja) * | 2010-11-19 | 2016-01-06 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及びプログラム |
CN102692185B (zh) * | 2012-06-13 | 2015-04-29 | 东南大学 | 高铁无砟轨道板快速检测方法 |
KR101371384B1 (ko) * | 2013-01-10 | 2014-03-07 | 경북대학교 산학협력단 | 트랙킹 시스템 및 이를 이용한 트랙킹 방법 |
JP6370038B2 (ja) * | 2013-02-07 | 2018-08-08 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置及び方法 |
JP6548789B2 (ja) * | 2013-02-07 | 2019-07-24 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置及び方法 |
JP6217198B2 (ja) * | 2013-07-12 | 2017-10-25 | 株式会社Ihi | 模擬データ生成方法および模擬データ生成装置 |
JP6271953B2 (ja) * | 2013-11-05 | 2018-01-31 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法 |
JP6338421B2 (ja) * | 2014-03-31 | 2018-06-06 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、把持システムおよびプログラム |
JP6086099B2 (ja) * | 2014-07-10 | 2017-03-01 | Jfeスチール株式会社 | 表面形状測定装置及びその方法 |
JP6350082B2 (ja) * | 2014-08-01 | 2018-07-04 | 株式会社デンソー | 画像処理装置 |
US10281264B2 (en) * | 2014-12-01 | 2019-05-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Three-dimensional measurement apparatus and control method for the same |
US9958383B2 (en) * | 2014-12-18 | 2018-05-01 | Microsoft Technology Licensing, Llc. | Range camera |
GB2536493B (en) * | 2015-03-20 | 2020-11-18 | Toshiba Europe Ltd | Object pose recognition |
FI127606B (fi) * | 2015-04-01 | 2018-10-15 | Konecranes Oyj | Menetelmä, kuormankäsittelylaite, tietokoneohjelma ja tietokoneohjelmatuote tartuntavälineiden paikantamiseksi |
JP6635690B2 (ja) * | 2015-06-23 | 2020-01-29 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
US9880075B2 (en) * | 2016-02-11 | 2018-01-30 | Caterpillar Inc. | Wear measurement system using a computer model |
US9875535B2 (en) * | 2016-02-11 | 2018-01-23 | Caterpillar Inc. | Wear measurement system using computer vision |
US9868212B1 (en) * | 2016-02-18 | 2018-01-16 | X Development Llc | Methods and apparatus for determining the pose of an object based on point cloud data |
EP3258211B1 (en) | 2016-06-17 | 2023-12-13 | Hexagon Technology Center GmbH | Determining object reflection properties with respect to particular optical measurement |
JP2018091656A (ja) * | 2016-11-30 | 2018-06-14 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、計測装置、システム、算出方法、プログラムおよび物品の製造方法 |
JP7330159B2 (ja) * | 2017-07-20 | 2023-08-21 | 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント | 情報処理装置および位置情報取得方法 |
KR101822505B1 (ko) | 2017-09-22 | 2018-01-26 | 성균관대학교 산학협력단 | 위치 정보 기반의 수확 장치 및 방법 |
JP7050476B2 (ja) * | 2017-12-07 | 2022-04-08 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | 形状情報操作システム |
US10785422B2 (en) | 2018-05-29 | 2020-09-22 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Face recognition using depth and multi-spectral camera |
CN110705333A (zh) * | 2018-07-09 | 2020-01-17 | 清研讯科(北京)科技有限公司 | 身份判断方法及装置、定位系统 |
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EP4249847A3 (de) * | 2019-04-08 | 2023-11-15 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH | Verfahren und computereinrichtung zum auswählen einer messreihenfolge für ein koordinatenmessgerät |
JP7316134B2 (ja) * | 2019-07-22 | 2023-07-27 | ファナック株式会社 | 位置姿勢特定装置、位置姿勢特定方法及び位置姿勢特定プログラム |
JP7317732B2 (ja) * | 2020-01-20 | 2023-07-31 | 株式会社東芝 | 推定装置、物体搬送システム、推定方法、およびプログラム |
CN111563861B (zh) * | 2020-07-14 | 2020-11-20 | 武汉数字化设计与制造创新中心有限公司 | 一种基于三维测量点云数据的工件余量快速求取方法 |
CN112102398B (zh) * | 2020-09-10 | 2022-07-29 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种定位方法、装置、设备及存储介质 |
CN116592795B (zh) * | 2023-07-14 | 2023-09-26 | 浙江至格科技有限公司 | 一种ar镜片平行度测量方法及系统 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0749935B2 (ja) * | 1987-07-01 | 1995-05-31 | キヤノン株式会社 | 物体認識装置 |
US5621807A (en) * | 1993-06-21 | 1997-04-15 | Dornier Gmbh | Intelligent range image camera for object measurement |
US6504957B2 (en) * | 1997-07-07 | 2003-01-07 | General Electric Company | Method and apparatus for image registration |
JPH1163920A (ja) * | 1997-08-26 | 1999-03-05 | Matsushita Electric Works Ltd | 光走査式変位測定装置 |
JP4065507B2 (ja) * | 2002-07-31 | 2008-03-26 | キヤノン株式会社 | 情報提示装置および情報処理方法 |
JP4383230B2 (ja) * | 2004-04-01 | 2009-12-16 | 三菱電機株式会社 | 3次元物体照合装置 |
JP2006039872A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Canon Inc | 情報処理方法及び情報処理装置 |
JP4739002B2 (ja) * | 2005-06-30 | 2011-08-03 | キヤノン株式会社 | 画像処理方法、画像処理装置 |
JP5104248B2 (ja) * | 2007-11-22 | 2012-12-19 | 株式会社Ihi | 物体認識装置およびロボット装置 |
JP4900204B2 (ja) * | 2007-11-22 | 2012-03-21 | 株式会社Ihi | 物体認識方法 |
JP5247590B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-07-24 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及びキャリブレーション処理方法 |
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