JP5746477B2 - モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム - Google Patents
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Description
計測対象物体の位置及び姿勢の計測に際して実施される位置姿勢算出処理に用いられる3次元幾何モデルを生成するモデル生成装置であって、
前記計測対象物体を複数の異なる視点から観測した複数の視点画像を生成する視点画像生成手段と、
前記複数の視点画像各々から前記計測対象物体の画像特徴を検出する検出手段と、
前記3次元幾何モデルにおける幾何特徴各々に対して前記検出された前記計測対象物体の画像特徴を対応付け、その対応付け結果に基づいて前記3次元幾何モデルにおける幾何特徴各々の信頼度を算出する信頼度算出手段と、
前記幾何特徴各々の信頼度を前記3次元幾何モデルの当該幾何特徴に付与することにより信頼度付きモデルを生成する生成手段と
を具備することを特徴とする。
図1は、本発明の一実施の形態に係わる3次元計測装置の構成の一例を示す図である。
この処理が開始すると、3次元計測装置100は、視点画像生成部120において、計測対象物体を複数の異なる視点から観測した複数の視点画像をシミュレーションにより生成する。
3次元計測装置100は、エッジ検出部130において、各視点画像からエッジ(線分)を検出する。エッジの検出には、例えば、canny又はsobelのエッジフィルタを用いればよい。エッジ検出部130及びエッジ検出部170は、同じエッジ検出方法を採用するのが望ましい。なお、本実施形態においては、検出したエッジを画像上で等間隔に分割し、制御点を設定する。そして、画像上における制御点の座標とエッジ方向を示す2次元ベクトルとを用いて各エッジ(以下、2次元エッジと呼ぶ場合もある)を表現する。
3次元計測装置100は、信頼度算出部140において、S102の処理で検出された各2次元エッジと、3次元幾何モデルの座標系との対応を求める。本実施形態においては、3次元幾何モデルに対して所定の大きさの三角形パッチモデルを生成し、3次元幾何モデル上で隣接する2つの三角形において法線のなす角が一定値以上のものを3次元幾何モデル上でのエッジとみなす。そして、2つの隣接する三角形における共通線分の中点の3次元座標と、線分の方向を示す3次元ベクトルとに基づいてエッジを3次元空間で表現する。以下、このエッジを3次元エッジと呼ぶ場合もある。
3次元計測装置100は、信頼度算出部140において、S103の処理で得られたエッジリストデータ(異なる視点画像での観測回数(カウント値)をエッジ毎に保持したデータ)を用いて、各3次元エッジの信頼度を算出する。全エッジ中の最大カウント値をCmax、最小カウント値をCmin、制御点番号iのエッジのカウント値をCiとした場合、エッジの信頼度riは、「数1」により算出できる。
3次元計測装置100は、モデル生成部190において、モデル保持部110に保持された3次元幾何モデルにおける各エッジに対して、S105の処理で算出された信頼度を付与する。これにより、信頼度付きモデルが生成される。
3次元計測装置100は、まず、図3のS107の処理で生成された信頼度付きモデルをモデル保持部110から取得する。また、3次元計測装置100は、概略値取得部150において、3次元計測装置100に対する物体の位置及び姿勢の概略値を取得する。
次に、3次元計測装置100は、撮像部160において、計測対象物体の画像を撮像するとともに、エッジ検出部170において、当該撮像された画像から画像特徴としてエッジを検出する。
3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、S204の処理で検出されたエッジ群を用いて、計測対象物体の位置及び姿勢を算出(計測)する。なお、この処理の詳細については後述するが、この処理は、3次元幾何モデルの各エッジの持つ信頼度に応じて当該各エッジを重み付けすることにより、位置姿勢算出処理への各エッジの寄与度を変更して行なわれる。
3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、まず、初期化処理を行なう。この初期化処理では、例えば、図7のS202の処理で得られた計測対象物体の位置及び姿勢の概略値を取得する。
3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、エッジの対応付けを行なう。具体的には、図7のS203の処理で撮像された計測対象物体の画像(2次元画像)に対して、計測対象物体の位置及び姿勢の概略値に基づいて3次元幾何モデルを投影する。これにより、3次元幾何モデルのエッジと、2次元画像上における計測対象物体のエッジとを対応付ける。
3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、線形連立方程式を解くための係数行列と、誤差ベクトルの算出を行なう。ここで、係数行列の各要素は、S301の処理で取得した概略値の微小変化に対する一次の偏微分係数である。エッジについては、画像座標の偏微分係数を算出する。なお、誤差ベクトルは、2次元投影エッジと、画像から検出された2次元エッジとの画像上における距離を示す。
続いて、3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、「数6」をもとに、行列Jの一般化逆行列(JT・J)−1・JTを用いて補正値Δsを求める。
W=W1・W2 (数10)
WJΔs=WE (数11)
Δs=(JTWJ)−1JTWE (数12)
3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、S304の処理で算出された補正値Δsにより、S301の処理で得られた位置及び姿勢の概略値を補正する。これにより、計測対象物体の位置及び姿勢を求める。
3次元計測装置100は、位置姿勢算出部180において、計測対象物体の位置及び姿勢の計測値が収束しているか否かの判定を行なう。収束していれば、この処理は終了し、そうでなければ、再度、S302の処理に戻る。なお、収束しているか否かは、補正値Δsがほぼ0である場合や、誤差ベクトルの二乗和の補正前と補正後の差がほぼ0である場合に収束したと判定する。
上述した実施形態1では、3次元幾何モデルにおける各エッジの信頼度を用いて「数9」の重み行列を定義し、この重み行列により位置姿勢算処理に対する各エッジの寄与度を変更していたが、これ以外の方法で寄与度を変更してもよい。
W=W1 (数13)
上述した実施形態1では、写実的レンダリングの利用して複数の視点画像を生成する場合について説明したが、これに限られず、撮像部160により撮像される撮像画像と類似した画像を生成できるのであれば、別の手法を用いてもよい。例えば、ロボットアームの先端にカメラを取り付け、所望の位置及び姿勢にカメラを動かすことにより対象物体を撮像した画像を複数の視点画像としてもよい。この場合、撮像するカメラの内部パラメータ(焦点距離、主点位置、レンズ歪みパラメータ)は、撮像部160の内部パラメータと同様に、例えば、「Z. Zhang, “A flexible new technique for camera calibration," IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, vol.22, no.11, pp.1330-1334, 2000」に開示される手法を用いて、事前に校正しておけばよい。
次に、実施形態2について説明する。実施形態2においては、各視点画像から検出されたエッジの信頼度を加味した信頼度付きモデルを生成する場合について説明する。
この処理が開始すると、3次元計測装置100は、視点画像生成部120において、計測対象物体を複数の異なる視点から観測した複数の視点画像をシミュレーションにより生成する。この処理は、実施形態1と同様であるため、その詳細な説明については省略する。
3次元計測装置100は、エッジ検出部130において、S401の処理で生成された各視点画像からエッジ(2次元エッジ)を検出する。そして、信頼度算出部140において、当該検出した2次元エッジの信頼度を算出する。
次に、3次元計測装置100は、信頼度算出部140において、実施形態1と同様(S103)にして、3次元幾何モデルにおける3次元エッジに対して、S402で検出された2次元エッジを対応付ける。
3次元計測装置100は、信頼度算出部140において、図12に示すエッジリストデータにおけるエッジ毎に、視点別信頼度の総和をカウント値で除算して平均化する。これにより、3次元幾何モデルにおける各エッジの信頼度を算出する。なお、位置姿勢算出処理においては、実施形態1と同様に、3次元幾何モデルの各エッジの持つ信頼度に応じて当該各エッジを重み付けすることにより、位置姿勢算出処理への各エッジの寄与度を変更して行なわれる。
次に、実施形態3について説明する。実施形態3においては、信頼度付きモデルの生成において、視点画像における各エッジの信頼度を算出する。そして、視点画像における各エッジと3次元幾何モデルにおける各エッジを対応付ける。これにより、信頼度付きモデルにおける各エッジは、複数の視点画像各々に応じた信頼度を持つ。すなわち、実施形態3に係わる3次元幾何モデルは、視点別に各エッジの信頼度を持つことになる。
S503の処理において、2次元エッジの信頼度を算出し、S504の処理において、3次元幾何モデルにおける3次元エッジに対して、S502で検出された2次元エッジに対応付けられる。S505で、3次元計測装置100は、信頼度算出部140において、2次元エッジと対応付けられた3次元エッジに対して、2次元エッジの保持する信頼度を付与する。S506において、未処理の視点画像があれば、S501に戻って次の視点画像に対して同様の処理を行う。S501〜S506の処理により、各3次元エッジに対して視点毎に異なる信頼度を付与する。
上述した実施形態3では、各視点画像を生成した視点の中から、その視点ベクトルと、概略値における視点ベクトルとのなす角度が最小のものを選択することにより、視点別に保持された信頼度の中からいずれかの信頼度を取得していたが、これに限られない。
上述した実施形態3では、3次元エッジの制御点に対して制御点番号を割り当て、2次元エッジがどの3次元エッジに該当するかを探索することにより、2次元エッジと3次元エッジとを対応付けていたが、これ以外の方法で対応付けを行なってもよい。例えば、各視点画像から検出された2次元エッジに対して検出番号を割り当て、この2次元エッジに対して3次元エッジを対応付けてもよい。そして、2次元エッジに対応付けられた3次元エッジに対して2次元エッジの信頼度を付与する。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給する。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU、GPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (16)
- 計測対象物体の位置及び姿勢の計測に際して実施される位置姿勢算出処理に用いられる3次元幾何モデルを生成するモデル生成装置であって、
前記計測対象物体を複数の異なる視点から観測した複数の視点画像を生成する視点画像生成手段と、
前記複数の視点画像各々から前記計測対象物体の画像特徴を検出する検出手段と、
前記3次元幾何モデルにおける幾何特徴各々に対して前記検出された前記計測対象物体の画像特徴を対応付け、その対応付け結果に基づいて前記3次元幾何モデルにおける幾何特徴各々の信頼度を算出する信頼度算出手段と、
前記幾何特徴各々の信頼度を前記3次元幾何モデルの当該幾何特徴に付与することにより信頼度付きモデルを生成する生成手段と
を具備することを特徴とするモデル生成装置。 - 前記信頼度算出手段は、
前記幾何特徴各々に対して前記画像特徴が対応付けられた回数をカウントするカウント手段
を具備し、
前記カウント手段によるカウント値に基づいて前記幾何特徴各々の信頼度を算出する
ことを特徴とする請求項1記載のモデル生成装置。 - 前記信頼度算出手段は、
前記画像特徴各々の信頼度を算出する算出手段と、
前記幾何特徴各々に対して前記画像特徴が対応付けられた回数をカウントするカウント手段と、
前記幾何特徴に対して前記画像特徴が対応付けられた際に、前記画像特徴に対して算出された信頼度を当該対応付けられた前記幾何特徴に加算することにより前記幾何特徴毎に信頼度の総和を算出する信頼度総和算出手段と
を具備し、
前記カウント手段によるカウント値で前記信頼度総和算出手段により算出された信頼度の総和を除算することにより、前記幾何特徴各々の信頼度を算出する
ことを特徴とする請求項1記載のモデル生成装置。 - 前記信頼度算出手段は、前記画像特徴各々の信頼度を算出する第2の信頼度算出手段を有し、
該第2の信頼度算出手段により、前記画像特徴の検出元である前記視点画像に基づいて前記画像特徴各々の信頼度を視点別に算出し、
前記生成手段は、
前記幾何特徴に対して前記画像特徴が対応付けられた際に、前記画像特徴に対して算出された前記視点別の信頼度を当該対応付けられた前記幾何特徴に対して付与することにより、前記視点別の信頼度が付与された前記信頼度付きモデルを生成する
ことを特徴とする請求項1記載のモデル生成装置。 - 前記計測対象物体の概略の位置及び姿勢を示す概略値を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記概略値に基づいて前記信頼度付きモデルにおける前記幾何特徴各々に付与された前記視点別に付与された信頼度からいずれかの視点の信頼度を選択し、該選択した視点の信頼度に基づいて当該幾何特徴各々を重み付けする重み付け手段と、
を更に具備することを特徴とする請求項4記載のモデル生成装置。 - 前記信頼度算出手段は、
前記画像特徴における輝度勾配に基づいて信頼度を算出する
ことを特徴とする請求項3から5のいずれか1項に記載のモデル生成装置。 - 前記信頼度算出手段は、
前記画像特徴の検出元である前記視点画像における前記画像特徴の密度に基づいて信頼度を算出する
ことを特徴とする請求項3から5のいずれか1項に記載のモデル生成装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載のモデル生成装置によって生成された信頼度付きモデルであって、計測対象物体の形状を複数の幾何特徴を用いて定義し且つ当該幾何特徴各々に対して信頼度を付与した信頼度付きモデルを保持する保持手段と、
前記計測対象物体が撮像された撮像画像から画像特徴を検出する検出手段と、
前記検出された画像特徴と、前記保持手段に保持された前記信頼度付きモデルにおける幾何特徴とを対応付け、該対応付け結果に基づいて位置姿勢算出処理を実施する位置姿勢算出手段と
を具備することを特徴とする3次元計測装置。 - 前記信頼度付きモデルにおける前記幾何特徴各々に付与された前記信頼度に基づいて当該幾何特徴各々を重み付けする重み付け手段を更に具備し、
前記位置姿勢算出手段は、
前記検出された画像特徴と、前記重みづけされた幾何特徴とを対応付けることを特徴とする請求項8に記載の3次元計測装置。 - 前記幾何特徴は、エッジまたは点であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のモデル生成装置。
- 前記幾何特徴は、エッジまたは点であることを特徴とする請求項9に記載の3次元計測装置。
- 計測対象物体の形状を複数の幾何特徴を用いて定義する3次元幾何モデルを保持し、該3次元幾何モデルを用いて位置姿勢算出処理を実施することにより該計測対象物体の位置及び姿勢を計測する3次元計測装置であって、
前記計測対象物体を複数の異なる視点から観測した複数の視点画像を生成する視点画像生成手段と、
前記複数の視点画像各々から前記計測対象物体の幾何特徴に対応する画像特徴として検出する検出手段と、
前記幾何特徴各々に対して前記画像特徴を対応付け、その対応付け結果に基づいて前記幾何特徴各々の信頼度を算出する信頼度算出手段と、
前記算出された信頼度に基づいて、前記計測対象物体を撮像した撮像画像から検出された画像特徴と、前記幾何特徴とを対応付けることにより、該対応付け結果に基づいて前記位置姿勢算出処理を実施する位置姿勢算出手段と
を具備することを特徴とする3次元計測装置。 - 計測対象物体の位置及び姿勢の計測に際して実施される位置姿勢算出処理に用いられる3次元幾何モデルを生成するモデル生成装置の制御方法であって、
視点画像生成手段が、前記計測対象物体を複数の異なる視点から観測した複数の視点画像を生成する工程と、
検出手段が、前記複数の視点画像各々から前記計測対象物体の画像特徴を検出する工程と、
信頼度算出手段が、前記3次元幾何モデルにおける幾何特徴各々に対して前記検出された前記計測対象物体の画像特徴を対応付け、その対応付け結果に基づいて前記3次元幾何モデルにおける幾何特徴各々の信頼度を算出する工程と、
生成手段が、前記幾何特徴各々の信頼度を前記3次元幾何モデルの当該幾何特徴に付与することにより信頼度付きモデルを生成する工程と
を含むことを特徴とするモデル生成装置の制御方法。 - 請求項13に記載のモデル生成装置の制御方法によって生成された信頼度付きモデルであって、計測対象物体の形状を複数の幾何特徴を用いて定義し且つ当該幾何特徴各々に対して信頼度を付与した信頼度付きモデルを保持する保持手段を備える3次元計測装置の制御方法であって、
検出手段が、前記計測対象物体が撮像された撮像画像から画像特徴を検出する工程と、
位置姿勢算出手段が、前記検出された画像特徴と、前記保持手段に保持された前記信頼度付きモデルにおける幾何特徴とを対応付け、該対応付け結果に基づいて位置姿勢算出処理を実施する工程と
を含むことを特徴とする3次元計測装置の制御方法。 - 請求項13に記載のモデル生成装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項14に記載の3次元計測装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010043060A JP5746477B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム |
US13/517,293 US9355453B2 (en) | 2010-02-26 | 2011-02-23 | Three-dimensional measurement apparatus, model generation apparatus, processing method thereof, and non-transitory computer-readable storage medium |
PCT/JP2011/054678 WO2011105616A1 (en) | 2010-02-26 | 2011-02-23 | Three-dimensional measurement apparatus, model generation apparatus, processing method thereof, and non-transitory computer-readable storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010043060A JP5746477B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011179908A JP2011179908A (ja) | 2011-09-15 |
JP5746477B2 true JP5746477B2 (ja) | 2015-07-08 |
Family
ID=44507007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010043060A Active JP5746477B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9355453B2 (ja) |
JP (1) | JP5746477B2 (ja) |
WO (1) | WO2011105616A1 (ja) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5297403B2 (ja) | 2010-02-26 | 2013-09-25 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラムおよび記憶媒体 |
JP5430456B2 (ja) | 2010-03-16 | 2014-02-26 | キヤノン株式会社 | 幾何特徴抽出装置、幾何特徴抽出方法、及びプログラム、三次元計測装置、物体認識装置 |
JP5612916B2 (ja) | 2010-06-18 | 2014-10-22 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、その処理方法、プログラム、ロボットシステム |
JP5671281B2 (ja) | 2010-08-20 | 2015-02-18 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測装置の制御方法及びプログラム |
JP5938201B2 (ja) * | 2011-12-06 | 2016-06-22 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、その処理方法及びプログラム |
JP6004809B2 (ja) * | 2012-03-13 | 2016-10-12 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢推定装置、情報処理装置、情報処理方法 |
JP6045178B2 (ja) * | 2012-04-13 | 2016-12-14 | キヤノン株式会社 | 計測装置、計測方法及びプログラム |
JP6323993B2 (ja) | 2012-08-28 | 2018-05-16 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム |
KR102056664B1 (ko) * | 2012-10-04 | 2019-12-17 | 한국전자통신연구원 | 센서를 이용한 작업 방법 및 이를 수행하는 작업 시스템 |
CN104871236B (zh) * | 2012-12-21 | 2018-02-02 | 索尼公司 | 显示控制设备和方法 |
US9025823B2 (en) | 2013-03-12 | 2015-05-05 | Qualcomm Incorporated | Tracking texture rich objects using rank order filtering |
JP6429450B2 (ja) | 2013-10-31 | 2018-11-28 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法 |
JP6253368B2 (ja) | 2013-11-25 | 2017-12-27 | キヤノン株式会社 | 三次元形状計測装置およびその制御方法 |
JP6351243B2 (ja) * | 2013-11-28 | 2018-07-04 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法 |
US9305345B2 (en) * | 2014-04-24 | 2016-04-05 | General Electric Company | System and method for image based inspection of an object |
JP6317618B2 (ja) * | 2014-05-01 | 2018-04-25 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置およびその方法、計測装置、並びに、作業装置 |
JP6562197B2 (ja) * | 2014-06-20 | 2019-08-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 画像処理方法および画像処理システム |
JP6374812B2 (ja) * | 2015-03-12 | 2018-08-15 | セコム株式会社 | 三次元モデル処理装置およびカメラ校正システム |
JP6352208B2 (ja) * | 2015-03-12 | 2018-07-04 | セコム株式会社 | 三次元モデル処理装置およびカメラ校正システム |
JP6452508B2 (ja) * | 2015-03-17 | 2019-01-16 | オリンパス株式会社 | 3次元形状測定装置 |
JP6584139B2 (ja) * | 2015-05-25 | 2019-10-02 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
JP6380685B2 (ja) * | 2015-10-01 | 2018-08-29 | 三菱電機株式会社 | 寸法計測装置 |
US10154179B2 (en) | 2015-12-14 | 2018-12-11 | Bocam Llc | System, method, and apparatus for discretely recording an event from the perspective of an event participant |
JP6677522B2 (ja) * | 2016-02-15 | 2020-04-08 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法およびプログラム |
JP6740033B2 (ja) * | 2016-06-28 | 2020-08-12 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、計測システム、情報処理方法及びプログラム |
JP6938201B2 (ja) * | 2017-04-26 | 2021-09-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム |
US10788830B2 (en) * | 2017-07-28 | 2020-09-29 | Qualcomm Incorporated | Systems and methods for determining a vehicle position |
FI129042B (en) * | 2017-12-15 | 2021-05-31 | Oy Mapvision Ltd | Computer vision system with a computer-generated virtual reference object |
US10957072B2 (en) | 2018-02-21 | 2021-03-23 | Cognex Corporation | System and method for simultaneous consideration of edges and normals in image features by a vision system |
JP7119606B2 (ja) * | 2018-06-11 | 2022-08-17 | オムロン株式会社 | 計測システムおよび計測方法 |
CN109166175A (zh) * | 2018-08-22 | 2019-01-08 | 重庆环漫科技有限公司 | 一种3d开发的边缘融合程序中平均分布控制点的方法 |
JP7180283B2 (ja) * | 2018-10-30 | 2022-11-30 | 富士通株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
US11389965B2 (en) * | 2019-07-26 | 2022-07-19 | Mujin, Inc. | Post-detection refinement based on edges and multi-dimensional corners |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0454409A (ja) * | 1990-06-25 | 1992-02-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 物体の姿勢推定方法およびその装置 |
JPH0486957A (ja) * | 1990-07-31 | 1992-03-19 | Fuji Facom Corp | 立体物外観形状データの入力方法 |
JPH06194138A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 物体の姿勢推定方法およびその装置 |
JPH0814860A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-19 | Toshiba Corp | モデル作成装置 |
JP3526616B2 (ja) | 1994-06-20 | 2004-05-17 | 沖電気工業株式会社 | データ検索装置 |
JPH085333A (ja) * | 1994-06-21 | 1996-01-12 | Kobe Steel Ltd | 3次元位置姿勢認識装置 |
JP2000003447A (ja) * | 1998-06-15 | 2000-01-07 | Ricoh Co Ltd | 物体形状及びカメラ・パラメータの推定方法、三次元データ入力装置、並びに、記録媒体 |
JP2002063567A (ja) * | 2000-08-23 | 2002-02-28 | Nec Corp | 物体位置姿勢推定装置及びその方法並びそれを用いた特徴点位置抽出方法及び画像照合方法 |
JP3796449B2 (ja) | 2002-01-31 | 2006-07-12 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢決定方法および装置並びにコンピュータプログラム |
JP4136859B2 (ja) | 2003-01-10 | 2008-08-20 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測方法 |
JP4599184B2 (ja) | 2005-02-02 | 2010-12-15 | キヤノン株式会社 | 指標配置計測方法、指標配置計測装置 |
JP4727327B2 (ja) | 2005-07-14 | 2011-07-20 | 新明和エンジニアリング株式会社 | 可動ガラリおよびこれを備えた消火対象区画の消火システム |
JP4914039B2 (ja) | 2005-07-27 | 2012-04-11 | キヤノン株式会社 | 情報処理方法および装置 |
JP5063023B2 (ja) | 2006-03-31 | 2012-10-31 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢補正装置、位置姿勢補正方法 |
JP2007098567A (ja) * | 2006-09-25 | 2007-04-19 | Hitachi Ltd | 自律制御型ロボットおよびその制御装置 |
JP5403861B2 (ja) * | 2006-11-06 | 2014-01-29 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法 |
JP4898464B2 (ja) * | 2007-01-17 | 2012-03-14 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置および方法 |
JP5248806B2 (ja) * | 2007-04-25 | 2013-07-31 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法 |
JP4960754B2 (ja) * | 2007-04-25 | 2012-06-27 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法 |
JP5013961B2 (ja) * | 2007-05-21 | 2012-08-29 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置及びその制御方法 |
JP5058686B2 (ja) * | 2007-06-14 | 2012-10-24 | キヤノン株式会社 | 情報処理方法及び情報処理装置 |
JP5083715B2 (ja) * | 2008-03-10 | 2012-11-28 | 株式会社Ihi | 三次元位置姿勢計測方法および装置 |
JP5111210B2 (ja) | 2008-04-09 | 2013-01-09 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法 |
JP2010134649A (ja) | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Canon Inc | 情報処理装置、その処理方法及びプログラム |
JP5290864B2 (ja) | 2009-05-18 | 2013-09-18 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢推定装置及び方法 |
JP5247590B2 (ja) | 2009-05-21 | 2013-07-24 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及びキャリブレーション処理方法 |
JP5548482B2 (ja) | 2010-02-26 | 2014-07-16 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体 |
JP5496008B2 (ja) | 2010-08-06 | 2014-05-21 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム |
-
2010
- 2010-02-26 JP JP2010043060A patent/JP5746477B2/ja active Active
-
2011
- 2011-02-23 WO PCT/JP2011/054678 patent/WO2011105616A1/en active Application Filing
- 2011-02-23 US US13/517,293 patent/US9355453B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120262455A1 (en) | 2012-10-18 |
US9355453B2 (en) | 2016-05-31 |
JP2011179908A (ja) | 2011-09-15 |
WO2011105616A1 (en) | 2011-09-01 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130221 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140331 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140520 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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