JP2011171436A - 電子部品内蔵モジュール及び電子部品内蔵モジュールの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電子部品内蔵モジュール1は、電子部品2と、電子部品2が実装された基板3と、電子部品2及び基板3を覆う第1樹脂10と、第1樹脂10の表面を覆う第2樹脂4とを含む。第1樹脂10は、空隙を有する樹脂で構成される。そして、第1樹脂10は、基板3の表面の電子部品2が実装されている部分の厚さよりも電子部品2が実装されていない部分の厚さの方が大きくなるように構成される。第2樹脂4は、第1樹脂10よりも空隙率が低い。
【選択図】図1
Description
(1)モジュール基板3の端子電極にはんだ6を含むはんだペーストを印刷する。
(2)実装装置(マウンタ)を用いて電子部品2をモジュール基板3に搭載する。
(3)電子部品2が搭載されたモジュール基板3をリフロー炉に入れて前記はんだペーストを加熱することにより、前記はんだペーストのはんだ6が溶融し、その後硬化することにより電子部品2の端子電極とモジュール基板3の端子電極とを接合する。
(4)電子部品2やモジュール基板3の表面に付着したフラックスを洗浄する。
上述した第1樹脂10を有する電子部品内蔵モジュール1(図1参照)を作製し、はんだの移動、及び第1樹脂10の強度を評価した。第1樹脂10を形成するために、エポキシ樹脂の溶液に各種の球状フィラーを配合し、溶剤で希釈した樹脂溶液を用意した。電子部品2を実装したモジュール基板3に前記樹脂溶液をディップ法で塗布し、室温で2時間乾燥、150℃で1時間熱硬化させて第1樹脂10で電子部品2及びモジュール基板3を被覆した。これに、第2樹脂4を構成する樹脂シートを真空熱プレスで圧着し、150℃で1時間熱硬化させることにより、第1樹脂10を介して電子部品2及びモジュール基板3を第2樹脂4で被覆した。このようにして、評価用の電子部品内蔵モジュール(以下、評価体という)を作製した。
平均直径が3μmの球状フィラーを用いて、空隙率の異なる第1樹脂10を有する評価体をそれぞれ作製した。評価結果を表1に示す。空隙率は、表1に示すように変化させた。なお、空隙の平均直径は0.7μmである。空隙の平均直径はD50の値である。第1評価例では、はんだの移動、第1樹脂10の強度を評価した。第1樹脂10の強度は、クラックの有無で評価した。第1樹脂10のクラックは、透過X線により観察した。表1から分かるように、空隙率が0.1%よりも小さくなると、はんだ6の移動を十分に抑制できない。また、空隙率が40%になると、第1樹脂10の強度が不足する。このことから、空隙率は、0.1%以上30%以下が好ましい。
平均直径が1μm、3μm、5μm、7μm、30μmのフィラーから一つ、又は少なくとも二つの配合比率を変更することにより、空隙の平均直径が異なる第1樹脂10を有する評価体をそれぞれ作製した。空隙の平均直径は、表2に示すように変化させた。空隙の平均直径はD50の値である。評価結果を表2に示す。表2から分かるように、空隙の平均直径が0.1μmよりも小さくなると、はんだ6の移動を抑制できない。また、空隙の平均直径が20μmになると、はんだ6の移動を十分に抑制できない。このことから、空隙の平均直径は、0.1μm以上10μm以下が好ましい。
平均直径が1μm、3μm、5μm、7μm、30μmのフィラーから一つ、又は少なくとも二つの配合比率を変更することにより、フィラーの平均直径が異なる第1樹脂10を有する評価体をそれぞれ作製した。フィラーの平均直径は、表3に示すように変化させた。フィラーの平均直径はD50の値である。評価結果を表3示す。表3から分かるように、フィラーの平均直径(D50)が1μmよりも小さくなると、はんだ6の移動を十分に抑制できない。また、フィラーの平均直径(D50)が15μmになると、第1樹脂10の強度が不足する。このことから、フィラーの平均直径(D50)は、1μm以上10μm以下が好ましい。
2 電子部品
2B 底面
2C コンデンサ
2R 抵抗
2S 側面
2ST 端面
2T 上面
2TB、2TS 部品端子電極
3 モジュール基板(基板)
3A モジュール素体
3B 封止体
3C モジュール集合体
3P 基板表面
3T 基板端子電極
4 第2樹脂
5 シールド層
6 はんだ
6f フィレット
7 モジュール端子電極
8 実装基板
9 実装基板端子電極
10 第1樹脂
10B 谷底部
10L 第1樹脂溶液
11 空隙
Claims (10)
- 電子部品と、
当該電子部品が実装された基板と、
空隙を有する樹脂で構成されて、前記電子部品及び前記基板を覆うとともに、前記電子部品の、前記基板と対向する側とは反対側における厚さよりも、前記基板表面の前記電子部品が実装されていない部分における厚さの方が大きい第1樹脂と、
当該第1樹脂の表面を覆う、当該第1樹脂よりも空隙率の低い第2樹脂と、
を含む電子部品内蔵モジュール。 - 前記電子部品は、はんだによって前記基板に実装される請求項1に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記第1樹脂は、前記電子部品が実装されていない部分で前記電子部品を前記基板に実装するはんだのフィレットを覆う請求項2に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記電子部品の前記基板に取り付けられる側とは反対側における前記第1樹脂の厚さは0である請求項1から3のいずれか1項に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記電子部品が実装されていない部分の前記第1樹脂は、前記基板に向かって前記電子部品の側面からの厚さが増加する請求項1から4のいずれか1項に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記第1樹脂が有する前記空隙の大きさは、平均直径(D50)が0.1μm以上10μm以下である請求項1から5のいずれか1項に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記空隙の大きさの分布は、前記第1樹脂の空隙率は、0.1%以上30%以下である請求項1から6のいずれか1項に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記第1樹脂は、平均直径(D50)が1μm以上10μm以下のフィラーを含む請求項1から7のいずれか1項に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 前記第2樹脂は、金属層で覆われる請求項1から8のいずれか1項に記載の電子部品内蔵モジュール。
- 基板上に電子部品をはんだによって実装する実装工程と、
フィラーが混入された第1樹脂の溶液を、前記基板に実装された電子部品及び前記基板に塗布する塗布工程と、
少なくとも、前記電子部品の前記基板に取り付けられる側とは反対側に塗布された前記第1樹脂の溶液の厚さを減少させる膜厚減少工程と、
前記第1樹脂を硬化させる第1硬化工程と、
硬化後の前記第1樹脂を第2樹脂で覆う被覆工程と、
前記第2樹脂を硬化させる第2硬化工程と、
を含む電子部品内蔵モジュールの製造方法。
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