JP2011014213A - 多層光ディスクの記録方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1の記録層と、第1の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第2の記録層を少なくとも有し、第1の記録層には複数の小領域よりなる第1のテスト領域を、第2の記録層は複数の小領域よりなる第2のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用い、複数の層間の半径位置の相対精度と光スポット径に対応した所定の半径距離Lをあらかじめ定め、第2のテスト領域中の任意の小領域がテスト記録済みの場合には、第2のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Lの範囲にある第1のテスト領域中の小領域を、テスト記録を行わない小領域とした。
【効果】テスト領域の半径位置が重なっている場合においても、精度よく光パワー学習を行える。
【選択図】図1
Description
2×d×(NA/n)/(1−(NA/n)2)1/2
となる。例えばdが8μm、NAが0.85の場合には光束径は約10μmとなり、波長λが400nmの時の目的層での光スポット32の径 λ/NA=470nmと比べて直径で20倍以上、面積で400倍以上となる。このようにして、他の層の影響なく、複数の記録層を有する光記録媒体上に記録再生を行う条件に関しては、特開平5−101398号公報(特許文献1)に詳細が記載されている。
(1)3層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第1の記録層と、第1の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第2の記録層を少なくとも有し、第1の記録層には複数の小領域(セグメント)よりなる第1のテスト領域を、第2の記録層は複数の小領域よりなる第2のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、所定の半径距離Lをあらかじめ定め、前記第2のテスト領域中の任意の小領域(セグメント)がテスト記録済みの場合には、第2のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Lの範囲にある第1のテスト領域中の小領域(セグメント)を、テスト記録を行わない小領域(セグメント)とした。
テスト領域の任意のアドレスが記録済みか未記録であるかはドライブでアクセスして信号レベルを調べることにより簡単に知ることができるため、記録可能領域のディスク半径範囲の判別が容易になる。
これにより、確実に他層での記録の有無の影響を回避することが可能になる。
これにより、記録領域の分類が最小限に抑えられているため、ドライブでの処理が簡略化される。
これにより、最も無駄なくテスト領域を使用することが可能となる。
これにより使用不可能領域の判別が不要になる。
これにより使用不可能領域の判別が容易になる。
これにより、複数の記録層を持つ光ディスクの実質的な記録容量損なうことなく十分な量のテスト領域を確保することが可能になる。
前記第2のテスト領域中の任意の記録単位ブロック(RUB)がテスト記録済みの場合には、第2のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Lの範囲にある第1のテスト領域中の記録単位ブロック(RUB)を、テスト記録を行わない記録単位ブロック(RUB)とした。
これにより、確実に他層での記録の有無の影響を回避することが可能になる。
図6は本発明の多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域11と記録パワーなどの記録再生条件を学習・調整するためのテスト領域12の配置の仕方の概略を示したものである。本実施例では、テスト領域12は、ユーザデータ領域11よりも内周側に配置されている。
[2d×(NA/n)/{1−(NA/n)2}1/2]≒25μm
となる。これにディスクの製造時の層間の半径交差の最大値(100μm)と層間の相対偏心の最大値(75μm)を加えた値(200μm)が、ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Lである。したがって、この半径範囲にある第1の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第2の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第1の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。
次に、各種光ディスクを、図4に示した記録再生装置により再生評価する例を示す。ヘッド3の一部であるレーザ光源34(本実施例では波長約405nm)から出射された光はコリメータレンズ331を通してほぼ平行な光ビームへとコリメートされる。コリメートされた光ビームはビームスプリッタ36を透過し収差補正素子37及び対物レンズ30を通して光ディスク1上に収束光31として照射され、スポット32を形成する。
実施例2に記載の装置を用いて、3層追記型光ディスクの再生信号品質をジッタとして評価した例を図9に示す。この例では、手前側に位置する2つの層が記録状態の場合と未記録状態の場合とで、目的とする奥の層の記録特性(記録マージンカーブ)が異なっている。この原因は、再生特性ではなく、多層光ディスクにおいて、光入射側から見て奥の層に記録する場合に、手前の層上の未記録領域を通して奥の層に記録する場合と、手前の層上の記録済み領域を通して記録する場合では、手前の層の実効的な透過率の違いのために、奥の層に到達するレーザパワーが異なってしまうためである。すなわち実効的に記録感度が異なり、実効的な記録パワーが変化してしまうことが、記録特性変化の原因である。
実施例2に記載の装置を用いて、実施例1に記載の追記型5層光ディスクにおいて、一番奥の層(第0層)のユーザデータ領域へ記録した記録情報のアシンメトリを評価した例を図14に示す。手前の層に1層でも記録してあるとアシンメトリが低下する。すなわち最適記録パワーが相対的に高い側にシフトし、実効的な記録感度が低下する。この変化は手前の4つの層全てに記録した場合に最大となり、パワーにして最大12%変化する。
本実施例では、テスト領域の使用方法は先の実施例で図1(c)と実質的に同じである。すなわち、第n層の記録済みブロックから、半径距離Lの範囲にある、第m層の記録ブロックを使用不適ブロックとする。その際、半径範囲Lは動的に定めるものとする。
[d×(NA/n)/{1−(NA/n)2}1/2]
で表されるため、層間隔の最大値が50μmである本実施例のディスクでは、スポット径は25μmである。したがって、ディスクの物理仕様値範囲で定まる半径誤差、偏芯、光ビーム半径の和は、L=100μm+75μm+31μm=206μmとなる。これに対し、本実施例ではLとしてこの206μmという値をそのまま用いるのではなく、光ディスクドライブによって実際に検出した偏芯値および層間距離を用いる。
[2d×(NA/n)/{1−(NA/n)2}1/2]≒25μm
となる。これにディスクの製造時の層間の半径公差の最大値(100μm)と層間の相対偏心の最大値(75μm)を加えた値(200μm)が、ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Lである。したがって、この半径範囲にある第1の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第2の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第1の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。
[d×(NA/n)/{1−(NA/n)2}1/2]
で表されるため、層間隔の最大値が50μmである本実施例のディスクでは、スポット径は31μmである。したがって、ディスクの物理仕様値範囲で定まる半径誤差、偏芯、光ビーム半径の和は、L=100μm+75μm+31μm=206μmとなる。これに対し、本実施例ではLとしてこの206μmという値をそのまま用いるのではなく、光ディスクドライブによって実際に検出した偏芯値および層間距離を用いる。
Claims (12)
- 3層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第1の記録層と、第1の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第2の記録層を少なくとも有し、第1の記録層には複数の小領域よりなる第1のテスト領域を、第2の記録層は複数の小領域よりなる第2のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
所定の半径距離Lをあらかじめ定め、
前記第2のテスト領域中の任意の小領域がテスト記録済みの場合には、第2のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Lの範囲にある第1のテスト領域中の小領域を、テスト記録を行わない小領域としたことを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。 - 請求項1に記載の多層光ディスクの記録方法において、所定の半径位置範囲であるかどうかの判定は、小領域のアドレスを比較することによって行うことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項1に記載の多層光ディスクの記録方法において、所定の半径位置範囲Lを、複数の層の半径位置の相対誤差、偏心量及び光ビーム径の和に相当する距離に定めたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項1に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記小領域は前記第1の記録領域および第2の記録領域を略2分したものであることを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項1に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記小領域の大きさは記録単位ブロックサイズと等しいことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項1に記載の、テスト記録を行わない小領域の少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録することを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項1に記載の多層光ディスクの記録方法において、第1のテスト領域のうち、それぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を特定領域を記録するステップ有することを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 3層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第1の記録層と、第1の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第2の記録層を少なくとも有し、第1の記録層には複数の小領域よりなる第1のテスト領域を、第2の記録層は複数の小領域よりなる第2のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクであって、
第1のテストそれぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を記録するための特定領域を有することを特徴とする、複数のテスト領域を有する多層光ディスク。 - 3層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第1の記録層と、第1の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第2の記録層を少なくとも有し、第1の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる第1のテスト領域を、第2の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる第2のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
半径距離Lを定め、
前記第2のテスト領域中の任意の記録単位ブロックがテスト記録済みの場合には、第2のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Lの範囲にある第1のテスト領域中の記録単位ブロックを、テスト記録を行わない記録単位ブロックとしたことを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。 - 請求項9に記載の多層光ディスクの記録方法において、上記半径距離Lは、複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径との和に相当する距離に定めたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項10に記載の多層光ディスクの記録方法において、上記複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値として、予め定められたディスクの物理仕様範囲によって定まる値を用いたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
- 請求項10に記載の多層光ディスクの記録方法において、上記複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値は、ディスクの物理仕様範囲によって定まる値と、実際のディスクの状態を実際に検出することによって求めた値の両者のいずれかを用いて定めることを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
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