JP2008108388A - 多層記録型光ディスク、多層記録型光ディスクの記録方法、および、多層記録型光ディスクの記録装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
多層光ディスク及び記録方法であってランダムアクセス可能で、記録層に対し上位層に記録済みの箇所と未記録の箇所がランダムに発生することが予想される場合に最適な記録パワーで記録できるようにする。
【解決手段】
各層にデータ記録領域と複数の小領域に分割された試し書き領域とを持ち、試し書き領域の小領域は、ＯＰＣを行う層のＯＰＣを行う小領域に対して他の各層が予め記録済み、未記録の組合せができるように記録をおこなっておくこと。また、他の各層の記録、未記録の組合せが異なる各小領域に対してＯＰＣを実行し、各ＯＰＣの結果の平均値もしくはばらつきの中心値を最適パワーと求める。
【選択図】 図１

Description

本発明は、多層記録型光ディスクに関し、特に多層記録型光ディスクに記録するレーザーパワーの最適値を求める方法に関するものである。

追記又は書き換え可能な多層構造を持つ光ディスクに情報の記録を行なう場合、情報を書き込む層のデータ領域に対して記録時のレーザ出力を最適な記録パワー値に調整する方法（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ、以下「ＯＰＣ」）として特許文献１の方法が知られている。

特開２０００−３１１３４６号公報

多層記録型光ディスクにレーザー光を照射することで情報を記録するとき、レーザー光の入射面に近い上位層が記録済みであるか未記録であるかによって上位層の透過率に差がでるため、同じパワーのレーザー光を出射した場合であっても入射面から遠い下位層に与えられるレーザー光のパワーは異なる。また、他の記録層に記録されている情報からのクロストークの影響により最適な記録パワーが変動する場合もある。

特許文献１では、ランダムパターン記録済みの「上位層の試し書き領域」を通過したレーザー光で「下位層の試し書き領域」でのＯＰＣを行っている。しかし、このようにして求めた「最適な記録パワー値」は、未記録の「上位層のデータ領域」を通過したレーザー光で「下位層のデータ領域」への記録を行うときには適したものではない。

近年、多層記録型光ディスクの任意の層にデータを記録できる光ディスクが登場してきている。このような光ディスクの上位層のデータ領域では、データが記録されている領域とデータが記録されていない領域が混在する場合がある。このため、下位層にデータを記録するときには、未記録の「上位層のデータ領域」を通過したレーザー光で「下位層のデータ領域」へ記録する場合と、記録済の「上位層のデータ領域」を通過したレーザー光で「下位層のデータ領域」へ記録する場合がある。しかし、特許文献１のＯＰＣで求めた「最適な記録パワー値」は、一方に対する最適値であるため、他方に対しては有効ではなく、何れかの状況においてデータの記録品質の向上に寄与しないという問題があった。

上記課題は特許請求の範囲に記載の発明により解決される。

多層ディスクに対してランダムに記録が行われて、各層の記録済み箇所、未記録箇所がランダムに分布して透過率がばらばらになっても、良好なパワーで書き込みを行い、データの記録品質を向上させることができる。

図１を用いて、４層構造の記録型光ディスクを例に、本発明の第１の実施例である多層記録型光ディスクを説明する。

図１は、片面から記録または再生が可能な多層記録型光ディスクの断面図であり、右側が光ディスクの内周側、左側が光ディスクの外周側である。この光ディスクの各層を記録または再生するためのレーザー光は上方向から入射される。以下では、レーザー光の入射面から近い順に、第１層、第２層、第３層、第４層と呼ぶこととする。

各層は記録可能な領域として、ＯＰＣを行い最適パワーを求めるための試し書き領域ＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ）と、ユーザーデータを書き込むデータ記録エリアを持つ。つまり、図１では、第１層用ＰＣＡ、第２層用ＰＣＡ、第３層用ＰＣＡ、第４層用ＰＣＡの４つのＰＣＡが存在することとなる。各層のＰＣＡは、内周から順にａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，…のように半径方向に複数の小領域（エリア）に細分化されている。なお、本実施例では各層のＰＣＡが螺旋状に設けられているものとして説明するが、ＰＣＡを同心円状に設ける構成としても良い。

図１に示すように、第４層用ＰＣＡのエリアａ〜ｈは全て未記録の状態であるが、第１層用ＰＣＡ、第２層用ＰＣＡ、第３層用ＰＣＡには表１のようにランダムパターンが記録されている。

表１に従って第１層から第３層のＰＣＡにランダムパターンを記録することで、第１層用ＰＣＡから第３層用ＰＣＡの記録済／未記録について、全ての組合せを用意することができる。

第４層用ＰＣＡのエリアａ〜ｈの８エリアに対しＯＰＣを行えば、ランダム記録が許容される光ディスクの第４層のデータ記録エリアを記録するときに発生する第１層から第３層の記録済／未記録の全ての組合せでの記録パワーの最適値を知ることができる。そして、各組合せでの最適な記録パワーの平均値を用いて第４層を記録することで、第４層のデータ記録エリアに対して適正な記録パワーで記録を行うことが容易となる。

同様に、第１層のＰＣＡ中に第２層〜第４層の記録済／未記録の組合せに対応する８エリアを用意し、第２層のＰＣＡ中に第１層、第３層、第４層の記録済／未記録の組合せに対応する８エリアを用意し、第３層のＰＣＡ中に第１層〜第３層の記録済／未記録の組合せに対応する８エリアを用意し、各々のエリアに記録済／未記録を適切に配置することで、第１層から第３層のいずれについても他層の記録済／未記録の全ての組合せを準備することができる。

このように、ＰＣＡを３２エリア（４×２^４−１）に細分化すれば、４層の記録型光ディスクの任意記録層を記録するときに生じうる他３層の記録層の記録済／未記録の全ての組合せを備えた光ディスクを提供できる。なお、これを一般化すれば、ｍ層の光ディスクの場合には、ｍ×２^ｍ−１エリアを用意しておけばよいことが分かる。

以上では、レーザー光の入射面から遠い下位の記録層の記録済／未記録の組合せも考慮したため、ＰＣＡを３２エリアに細分化した。しかし、下位記録層からのクロストークが上位の記録層の記録時に与える影響は小さいため、上位の記録層の記録済／未記録のみを考慮してＰＣＡを細分化しても良い。すなわち、第２層用に第１層を考慮した２エリア、第３層用に第１層〜第２層を考慮した４エリア、第４層用に第１層〜第３層を考慮した８エリアの合計１４エリアを用意し、各々のエリアに記録済／未記録を適切に配置する構成としてもよい。

このように、ＰＣＡを１４エリアに細分化すれば４層の記録型光ディスクの任意記録層を記録するときに生じうる上位層の記録済／未記録の全ての組合せを備えた光ディスクを提供できる。

なお、以上では、４層構造の光ディスクを例に説明を行ったが、本発明の適用対象はこれに限られず、任意の記録層数を有する光ディスクに対しても本発明を適用することができる。

例えば、記録層の総数がｍのときに、第１層から第（ｍ−１）層までの各ＰＣＡを２^ｍ−１に細分化すれば、第ｍ層記録時に発生しうる、上位の第１層から第（ｍ−１）層までの記録済／未記録の全ての組合せを用意することができる。また、第１層から第（ｍ−２）層までの各層のＰＣＡを２^ｍ−２に細分化すれば、第（ｍ−１）層の記録時に発生しうる、上位の第１層から第（ｍ−２）層までの記録済／未記録の全ての組合せを用意することができる。同様に、第１層のＰＣＡを２^１に細分化すれば、上位の第２層の記録時に発生しうる、記録済／未記録の全ての組合せを用意することができる。

つまり、記録層数がｍのとき、各層のＰＣＡを２^ｍ−１＋２^ｍ−２＋・・・＋２^２＋２^１に細分化すれば、任意の記録層を記録するときに生じうる、上位の記録層の記録／未記録の全ての組合せを予め用意しておくことができる。

以上で説明した第１の実施例によれば、任意の記録層に記録するときにその記録層に至るまでにレーザー光が通過する記録層にて取りうる記録済／未記録の全ての組合せを予め備えた光ディスクを提供することができる。そして、この光ディスクを用いれば、後述する記録パワー制御を容易に行うことができ、上位層の透過率の変化や隣接層からのクロストークに起因する最適記録パワーの変動に適切に対応した記録パワー制御を求めるのに適した多層記録型光ディスクを提供することができる。

なお、本実施例では予め記録済みとする箇所にはランダムパターンを記録する例を示したが、特定のパターンを記録する構成としてもよい。この構成によれば、光ディスクの製造時にランダムな記録パターンを生成する処理を省略することができる。

また、本実施例ではデータ記録エリアの内周側にＰＣＡが位置する例を示したが、ＰＣＡは外周側に位置してもよいし、両側にあってもよい。この構成によれば、外周側に設けられたＰＣＡを用いることで内周側での試し書きと異なる記録速度での試し書きを行うことができる多層記録型光ディスクを提供できる。

さらに、本実施例では上位層の記録済／未記録に対して全ての組合せを保持する光ディスクを説明したが、上位層のＰＣＡが全て「記録済」である組合せと、上位層のＰＣＡが全て「未記録」である組合せのみを有する光ディスクとしても良い。この光ディスクを用いれば、最も透過率が高い状況での最適記録パワーと、最も透過率が低い状況での最適記録パワーを簡易に求めることができ、両者の平均値についても簡易に求めることができる。

図２は第１の実施例として説明した多層記録型光ディスクの製造方法である第２の実施例を示すフローチャートである。本フローチャートは製造工程の内、通常の製造工程でライト可能エリアとして製造された後、ＯＰＣのためＰＣＡをイニシャルする部分を示す。

２０１はＰＣＡを各層用にｙ分割するステップである。第１の実施例で示した４層構造の光ディスクの場合ではｙは４となる。

２０２はｙ分割したＰＣＡを各層（第ｍ層）用にＸ個に再分割するステップである。第１の実施例で示した４層構造の光ディスクで記録、未記録の全組合せを設ける場合はＸ＝８となる。

２０３は、第ｍ層用にＸ分割された各領域に対し各領域の各層の記録、未記録の組合せを互いに異なるようにランダムパターンをライトするステップである。第１の実施例で示した４層構造の光ディスクの場合、例えば第４層用のＰＣＡのａ〜ｈの領域に対し領域ａから順番にランダムパターンをライトするのが対応する。

２０４は、全ての層用のＰＣＡに対し、全てステップ２０３の処理が終了したかを判定し、未終了の場合はステップ２０３を再度実施し、終了の場合はＰＣＡ領域の作成処理を終了させるステップである。第１の実施例で示した４層構造の光ディスクの場合、第４層用のＰＣＡ、第３層用のＰＣＡ、第２層用のＰＣＡ、第１層用のＰＣＡ全てについて各層の記録、未記録の組合せが全て作成されたか判定する。

本実施例によれば、多層ディスクで層間を含めたランダムアクセスをすることによって、他の層が記録済みか未記録かによって透過率の差が出たり、クロストークの影響などが受けることが考えられる場合も、各ケースに対応したＯＰＣが可能なので、ランダムアクセスを許可するディスクにおいても適正な記録パワーで記録することが可能となるディスクが製造できる。また、本実施例では、エリアごとに全層に対して選択的にランダムパターンのライトを行なう例を示したが、一層ごとにエリアに対して選択的にランダムパターンのライトを行なう順序で行なっても構わない。

図３は第１の実施例として説明した多層記録型光ディスクの記録方法である第３の実施例を示すフローチャートである。

ステップ３０１は、第ｍ層用のＰＣＡのｎ番目のエリアにピックの位置を合わせる。第１の実施例で言えば、まずエリアａにピックの位置を合わせる。

ステップ３０２はＯＰＣの実行である。具体的に言えば、順次記録パワーを変化させて記録を行ない、記録を行なったエリアを再生して、最も再生品質が良くなる記録パワーを最適記録パワーとして選択する。再生品質の判定はエラーレート、ジッタ、波形等（例えばβ）などを用いて判断される。

ステップ３０３はエリアを変更するためｎ＝ｎ＋１を行なう。つまり、ステップ３０１と組み合わせるとエリアを順次変えていくことになる。ステップ３０１とステップ３０３をあわせると、第１の実施例で言えば，エリアａ、ｂ、ｃ…の順にピックの位置を変えていくことになる。

ステップ３０４は第ｍ層用の全組み合わせについてＯＰＣを実行したか判定し、未終了ならステップ３０１に戻って継続、終了ならば次のステップ３０５に進む。第１の実施例で言えば、エリアａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ全てにおいてＯＰＣが実行済みか判定することになる。

ステップ３０５は、第ｍ層に対する他層の記録済みもしくは未記録の全組合せに対するＯＰＣ結果の平均値を計算する。第１の実施例ではエリアａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ全てに対するＯＰＣの結果の平均値を計算する。

ステップ３０６はステップ３０５で求められた平均値を第ｍ層の最適記録パワーとして登録する。

本実施例によれば、多層記録型光ディスクにおいて、層間も含めたランダムアクセスを許可した場合でも、最適な記録パワーが求めることができる。具体的には、このようにＯＰＣを行うことで、所望の記録層に記録するときに生じうる全ての組合せについて適正なレーザーパワーを求めることができ、任意の記録層にランダムに記録を行うときであっても、ＯＰＣにより求めた適正なレーザーパワーを用いて記録を行うことができる。

なお、本実施例では第ｍ層のＯＰＣについて説明したが別の層についても同様である。又、本実施例では、第ｍ層用のＰＣＡに対し、他層の記録済み、未記録の全組合せエリアを設け全てに対しＯＰＣを行い平均値を求めたが、透過率の観点に立って、第ｍ層用のＰＣＡに対し上層の記録済み、未記録の全組合せもしくは、選択的に選んだ組合せエリアを設けＯＰＣを行い平均値を求めてもよい。又、本実施例では各組合せに対し最適パワーの調整を行なったが、更に記録波形の調整を行なっても良い。また、本実施例では平均値である最適記録パワーを第ｍ層の最適記録パワーとして採用する構成を示したが、平均値を用いる代わりに最適値のばらつきの中心値を用いる構成としても良い。

図４は第１の実施例として説明した多層記録型光ディスクの記録方法である第４の実施例を示すフローチャートである。図４においてステップ３０１、ステップ３０２、ステップ３０３、ステップ３０４は第３の実施例と同等であるため説明を省略する。本実施例では、第ｍ層用のＰＣＡに対し、他層の記録済み、未記録の全組合せエリアを設け全てに対しＯＰＣを行う。以下で詳細に説明する。

ステップ４０１は、第ｍ層に対する他層の記録済みもしくは未記録の全組合せに対するＯＰＣ結果の最大値と最小値を求める。

ステップ４０２は最大値と最小値の平均を求める。

ステップ３０６は第３の実施例と同様に求められた平均値を第ｍ層の最適記録パワーとして登録する。

以上、本実施例によれば、多層記録光ディスクにおいて、層間も含めたランダムアクセスを許可した場合でも、最適な記録パワーが求めることができる。なお、本実施例では第ｍ層のＯＰＣについて説明したが別の層についても同様である。又、本実施例においても、第ｍ層用のＰＣＡに対し、他層の記録済み、未記録の全組合せエリアを設け全てに対しＯＰＣを行っていたが、第３の実施例と同様に、第ｍ層用のＰＣＡに対し上層の記録済み、未記録の全組合せもしくは、選択的に選んだ組合せエリアを設けＯＰＣを行なっても良い。又、記録済み、未記録の組合せのうち透過率から考慮して最大値を取るエリアと最小値をとるエリアに対してだけＯＰＣを行なうことも可能である。又、本実施例では各組合せに対し最適パワーの調整を行なったが、更に記録波形の調整を行なっても良い。

図５は本発明の多層記録型光ディスクの記録装置である第５の実施例を示すブロック図である。

図５において、５０１は光ディスク、５０２は光ディスク５０１を回転させるディスクモーター、５０３は光ディスク５０１の読み書きのために発光するレーザー、５０４はレーザー５０３を搭載し、光ディスクにレーザー光の焦点を合わせるためのレンズ、光信号を電気信号に変換するＯＥＩＣなどを更に搭載してなる光ピックアップ、５０５は信号再生処理回路で、光ピックアップ５０４で検出された信号に対し波形等化を行い、同期クロックを再生する。更には各エッジのジッタを検出する。

５０６は試し書き再生信号処理回路で、信号再生処理回路５０５で検出されたジッタを基に第３の実施例のステップ３に示す処理、即ち定められたエリアに対する最適記録パワーを導出する。５０７は最適パワー記憶回路であり試し書き再生信号処理回路５０６で導出された各エリアに対する最適記録パワーを記憶する。５０８は平均演算回路であり、最適パワー記憶回路５０７に記憶された各エリアに対する最適パワーの平均を求めて、目的とする層の最適記録パワーとする。なお、本実施例では、最適記録パワー記憶回路５０７と平均演算回路５０８は最適記録パワー演算回路５１５の内部に設けられる構成とする。

５０９はサーボ制御回路であり、ディスクモーターの回転制御や光ビームのフォーカスやトラッキングの制御を行なう。５１０はレーザービーム制御回路であり、レーザー５０３の発光強度の制御を行なう。５１１は試し書き記録信号処理回路であり、ＰＣＡに試し書きを行うための信号パターンを生成する。本実施例では一例としてランダムパターンを生成する。なお、本実施例では試し書き記録信号処理回路５１１は試し書き再生信号処理回路５０６と共に試し書き処理回路５１４の内部に設けられる構成とする。５１２は記録信号処理回路であり、データ記録エリアにユーザーデータを書き込む場合に誤り訂正符号の付加や変調処理を行なう。５１３はＣＰＵであり信号再生処理回路５０５、試し書き再生信号処理回路５０６、サーボ制御回路５０９、レーザービーム制御回路５１０、試し書き記録信号処理回路５１１、記録信号処理回路５１２の制御を行なう他、平均演算回路５０８の出力をレーザービーム制御回路５１０の制御に用いる。

以下では、本実施例の記録装置が、第１の実施例の光ディスクに対し、第３の実施例の記録方法で記録を行なう場合の動作を説明する。

まず、第３の実施例のステップ３０１に対応して、サーボ制御回路５０９の制御により、第ｍ層のエリアａにピックを移動する。

次に、ステップ３０２に対応して、ライトとリードの２処理を行う。まずライト処理はこのエリア内で試し書き記録信号処理回路５１１で生成されたランダムパターンをレーザービーム制御回路５１０でレーザー５０３の発光パワーを逐次変更させながら記録を行う。次に行うリードの処理は、記録された信号を光ピックアップ５０３で再生して検出された信号から、信号再生処理回路５０５で各発光パワーに対するジッターを検出する。試し書き再生信号処理回路５０６はジッターを最小とする発光パワーを最適記録パワーとし、結果を最適パワー記憶回路５０７に蓄積する。ステップ３０３からステップ３０４を介してステップ３０１へ戻る制御は、サーボ制御回路５０９が、第１の実施例のエリアｂ，ｃ，ｄ，…，にピックを順次移動させることで実現される。

ステップ３０４に対応して、ＣＰＵが全組合せでのＯＰＣが終了したと判定したとき、すなわち、エリアａ〜ｈでのＯＰＣが完了したとき、ステップ３０５に対応して、平均演算回路５０８は、最適パワー記憶回路５０７に記憶されたエリアａからエリアｈの結果の平均を求める。

その後、ステップ３０６に対応して、平均値演算回路５０８で求められた平均値は当該第ｍ層の最適記録パワーとしてＣＰＵ５１３に送られ、当該第ｍ層のデータ記録エリアにユーザーデータを記録する場合は、ＣＰＵ５１３に送られた最適パワーに基づいてレーザービーム制御回路を制御する。

以上、本実施例によれば、層間も含めたランダムアクセスを許可した多層記録光ディスクに対して、各層における最適な記録パワーを求めることが可能な記録装置を提供できる。

なお、本実施例においては試し書きした信号の再生品質の評価をジッターを用いて行なう場合について説明したが、βなどの波形情報を用いて行なう場合は、βの検出は信号再生処理回路５０５で行われ、試し書き再生信号処理回路５０６では目標β値を与える発光パワーを最適記録パワーとする。又、本実施例では最適パワーの調整を行なったが、更に記録波形の調整を行なっても良い。この場合、記録波形は、レーザービーム制御回路５０９で制御される。

本発明の多層記録型光ディスクである第１の実施例を示す図。 本発明の多層記録型光ディスクの製造方法である第２の実施例を示す図。 本発明の多層記録型光ディスクの記録方法である第３の実施例を示す図。 本発明の多層記録型光ディスクの記録方法である第４の実施例を示す図。 本発明の多層記録型光ディスクの記録装置である第５の実施例を示す図。

符号の説明

５０１…光ディスク、５０２…ディスクモーター、５０３…レーザー、５０４…光ピックアップ、５０５…信号再生処理回路、５０６…試し書き再生信号処理回路、５０７…最適パワー記憶回路、５０８…平均演算回路、５０９…サーボ制御回路、５１０…レーザービーム制御回路、５１１…試し書き記録信号処理回路、５１２…記録信号処理回路、５１４…試し書き処理回路、５１５…最適記録パワー演算回路

Claims (12)

1. 試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をｍ層（ｍは２以上の整数）備えた多層記録型光ディスクであって、
   らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第１の小領域からに第ｎの小領域（ｎは２以上の整数）に分割されており、
   所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せが、他の半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せと異なることを特徴とする多層記録型光ディスク。
2. 請求項１に記載の多層記録型光ディスクにおいて、
   各試し書き領域は、ｍ×２^ｍ−１の小領域に分割されていることを特徴とする多層記録型光ディスク。
3. 請求項１に記載の多層記録型光ディスクにおいて、
   前記組合せとして、全ての小領域がデータ記録済みである組合せと、全ての小領域がデータ未記録である組合せを有することを特徴とする多層記録型光ディスク。
4. 試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をｍ層（ｍは２以上の整数）備えた多層記録型光ディスクであって、
   らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第１の小領域からに第ｎの小領域（ｎは２以上の整数）に分割されており、
   第ａの記録層（ａはｍ以下の整数）の未記録小領域に対し、第ａの記録層よりもレーザー光の入射面に近い他の（ａ−１）層の同じ半径位置の（ａ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せが、他の半径位置の（ａ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せと異なることを特徴とする多層記録型光ディスク。
5. 請求項４に記載の多層記録型光ディスクにおいて、
   各試し書き領域は、少なくとも２^ｍ−１＋２^ｍ−２＋・・・＋２^２＋２^１の小領域に分割されていることを特徴とする多層記録型光ディスク。
6. 請求項４に記載の多層記録型光ディスクにおいて、
   前記組合せとして、全ての小領域がデータ記録済みである組合せと、全ての小領域がデータ未記録である組合せを有することを特徴とする多層記録型光ディスク。
7. 試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をｍ層（ｍは２以上の整数）備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第１の小領域からに第ｎの小領域（ｎは２以上の整数）に分割され、所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せが、他の半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せと異なる試し書き領域を備えた光ディスクに対する多層記録型光ディスクの記録方法であって、
   所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める処理と、
   求められた各小領域における最適記録パワーから、当該層の最適記録パワーを求める処理を行うことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。
8. 請求項７に記載の多層記録型光ディスクの記録方法において、
   前記当該層の最適記録パワーを求める処理は、各小領域の最適記録パワーの平均値を求める処理であることを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。
9. 請求項７に記載の多層記録型光ディスクの記録方法において、
   前記当該層の最適記録パワーを求める処理は、各小領域の最適記録パワーのばらつきの中心値を求める処理であることを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。
10. 試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をｍ層（ｍは２以上の整数）備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第１の小領域からに第ｎの小領域（ｎは２以上の整数）に分割された多層記録型光ディスクの記録方法であって、
    所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せが、他の半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せと異なるように、試し書き領域に記録を行う処理と、
    所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める処理と、
    求められた各小領域における最適記録パワーから、当該層の最適記録パワーを求める処理を行うことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。
11. 試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をｍ層（ｍは２以上の整数）備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第１の小領域からに第ｎの小領域（ｎは２以上の整数）に分割され、所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せが、他の半径位置の（ｍ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せと異なる多層記録型光ディスクの記録装置であって、
    前記光ディスクにレーザービームを照射するレーザーと、
    前記レーザーを制御するレーザービーム制御回路と、
    所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める試し書き処理回路と、
    求めた各最適記録パワーに基づいて当該層の最適記録パワーを求める最適記録パワー演算手段と、
    を具備したことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録装置。
12. 試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をｍ層（ｍは２以上の整数）備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第１の小領域からに第ｎの小領域（ｎは２以上の整数）に分割され、第ａの記録層（ａはｍ以下の整数）の未記録小領域に対し、第ａの記録層よりもレーザー光の入射面に近い他の（ａ−１）層の同じ半径位置の（ａ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せが、他の半径位置の（ａ−１）個の小領域におけるデータの記録済／未記録の組合せと異なる多層記録型光ディスクの記録装置であって、
    前記光ディスクにレーザービームを照射するレーザーと、
    前記レーザーを制御するレーザービーム制御回路と、
    所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める試し書き処理回路と、
    求めた各最適記録パワーに基づいて当該層の最適記録パワーを求める最適記録パワー演算手段と、
    を具備したことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録装置。
    

Images