JP2009134785A - 記録方法及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ライト準備を格段的に短縮化させ得る記録方法及び光ディスク装置を提案する。
【解決手段】多層光ディスクの各記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各記録層のうちの一部の記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、記録パワー調整処理の処理結果及びシフト試書き処理の処理結果に基づいて、シフト試書き処理を実行していない各記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて記録パルスのパルス状態を調整しながら、多層光ディスクの対応する記録層に情報を記録するようにした。
【選択図】図６

Description

本発明は、記録方法及び光ディスク装置に関し、特に、記録層が複数設けられた多層光ディスクに対応した光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置では、光ディスクにデータを記録する際、ＯＰＣ（Optimum Power Calibration）と呼ばれる記録パワーの調整処理（記録パワー調整処理）が行なわれている。ＯＰＣでは、光ディスクの最内周や最外周に設けられた試書き領域に所定のデータを試書きし、その試書きしたデータの再生波形に基づいて最適な記録パワー（以下、これを単に最適記録パワーと呼ぶ）を検出する。

ただし、かかるＯＰＣは、データの記録開始前に行なわれるため、記録開始後の環境変化や光ディスク上の記録位置の変化に伴う最適記録パワーの変化には対応できない。そこで、このような最適記録パワーの変化に対応する記録パワー制御方法として、近年、ウォーキングＯＰＣと呼ばれる方式が提案されている。

ウォーキングＯＰＣ方式は、一定間隔ごと又は一定時間ごとに記録を停止して記録終端部を再生すると共に、その記録終端部におけるデータの記録品質を評価し、評価結果に基づいて記録パワーを補正する方式である。このようなウォーキングＯＰＣ方式による記録パワー制御は、再生互換を保証する高い記録品質を確保できるため、近年では広く用いられている。

かかるウォーキングＯＰＣ方式では、記録品質の指標として、振幅の非対称性を示すβ値と呼ばれるパラメータが用いられる。そして、ウォーキングＯＰＣ方式では、予め設定された目標とすべきβ値（以下、適宜、これを目標β値と呼ぶ）と、一定間隔ごと又は一定時間ごとに記録終端部を再生することにより得られたβ値（以下、適宜、これを測定β値と呼ぶ）とに基づいて記録パワーの補正率を算出し、この補正率に基づいて記録パワーの補正を行なう。

なお、下記特許文献１〜４には、ＯＰＣに関する技術が開示されている。
特許第３７２０６２４号公報 国際公開第２００５/１７１８号パンフレット 特開２００７−１６４９５４号公報 特開２００５−２５９２５７号公報

ところで、近年では、光ディスクの大容量化に伴い、光ピックアップからパルス状に発射されるレーザ光のパルス幅が非常に細くなってきている。このため、このような光ディスクに情報を記録するに際しては、ジッタの発生を抑えるために、シフト試書きと呼ばれる最適な記録パルスの検出処理が必要となる。

かかるシフト試書き処理では、かかる試書き領域に所定長（例えば２Ｔや４Ｔ）の記録マークを、記録パルスの立上り端や立下り端をパルス幅を減らす方向又は増やす方向に少しずつシフトさせながら複数試書きし、最もジッタが少ない再生信号が得られた記録パルスの立上り端や立下り端のシフト方向及びシフト量（以下、これを最適パルス状態と呼ぶ）を検出することにより行われる。

この場合において、シフト試書きは、上述のように複数の記録マークを試書きして再生信号のジッタを計測するため、例えば１層当たり１秒程度で行なえるＯＰＣと比べてより多くの時間（例えば１０秒程度）を要する。また光ディスクが多層光ディスクである場合、ＯＰＣ及びシフト試書きを各記録層においてそれぞれ行なう必要があるため、記録層が１層の光ディスクに比べてさらに多くの時間を要することとなる。

加えて、近年では、光ディスクの最内周及び最外周に設けられた双方の試書き領域においてＯＰＣ及びシフト試書きを行なうように構成された光ディスク装置も登場している。このような光ディスク装置では、装填された光ディスクが多層光ディスクである場合、最内周の試書き領域から最外周の試書き領域へ又は最外周の試書き領域から最内周の試書き領域へのシーク時間を含めると、ＯＰＣ及びシフト試書きに通常の多層光ディスクに対して必要となる時間の倍以上の時間を要することとなる。

この結果、かかる光ディスク装置がホストコンピュータからライト要求を受けてからライト準備完了のレスポンスを返すまでにホストコンピュータ側においてタイムアウトが発生するおそれがあるという問題があった。また、このようにライト準備に多くの時間を要する場合、ユーザに相当の不快感を抱かせる問題もある。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、ライト準備を格段的に短縮化させ得る記録方法及び光ディスク装置を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明においては、複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する記録方法において、前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行する第１のステップと、前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測する第２のステップと、前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録する第３のステップとを備えることを特徴とする。

また本発明においては、複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に情報を記録し又は当該記録層に記録された情報を再生する記録再生部と、前記記録再生部を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記記録再生部を制御することにより、前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録することを特徴とする。

本発明によれば、シフト試書き処理を一部の記録層においてのみ行なうため、ライト準備を格段的に短縮化させることができる。かくするにつき、ホストコンピュータがライト要求を発行してから光ディスク装置からのライト準備完了の応答を受けるまでに当該ホストコンピュータにおいてタイムアウトが発生したり、ユーザに不快感を抱かせることを未然にかつ有効に防止し得る記録方法及び光ディスク装置を実現できる。

以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）本実施の形態による光ディスク装置の構成
図１において、１は全体として本実施の形態による光ディスク装置を示す。この光ディスク装置１は、多層光ディスクに対応しており、ホストコンピュータ２からの要求に応じて、多層光ディスク３にデータを記録し又は多層光ディスク３に記録されたデータを再生し得るようになされている。

実際上、光ディスク装置１の場合、ホストコンピュータ２から送信される各種コマンドをマイクロコンピュータ部１０に入力する。マイクロコンピュータ部１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）及び各種制御プログラムが格納されたメモリ１０Ａを備えて構成され、ホストコンピュータ２から与えられるコマンドや光ディスク装置１内のディジタル・シグナル・プロセッサ（ＤＳＰ：Digital Signal Processor）１１から与えられる各種情報に基づいて必要な制御処理や演算処理を実行する。

例えば、マイクロコンピュータ部１０は、ホストコンピュータ２から記録コマンドが与えられた場合、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１内のモータ制御部１２及びモータ駆動回路１３を介してスピンドルモータ１４を駆動することにより、所定状態に装填された多層光ディスク３をその記録方式（例えばＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）など）に応じた回転状態で回転させる。

またマイクロコンピュータ部１０は、必要時、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１内のモータ制御部１２及びモータ駆動回路１３を介して移動・案内機構部１５のスライドモータ１６を駆動することにより、光ピックアップ１７を多層光ディスク３の径方向に移動させる。

一方、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１は、ホストコンピュータ２からマイクロコンピュータ部１０を介して与えられる記録対象のデータに対して記録信号生成部１８において変調処理等の所定の信号処理を施し、かくして得られた記録信号を光ピックアップ１７内のレーザダイオード駆動回路１９に送信する。

そしてレーザダイオード駆動回路１９は、供給される記録信号に基づいてストラテジ制御したパルス状の駆動信号をレーザダイオード２０に印加することにより、当該レーザダイオードを点滅駆動する。またこのとき対物レンズ２１を保持する図示しない２軸アクチュエータは、マイクロコンピュータ部１０の制御のもとに、対物レンズ２１を多層光ディスク３に対して所定位置に位置させる。

この結果、記録対象のデータに応じたパターンで点滅するレーザ光がレーザダイオード２０から発射され、これが対物レンズ２１を介して多層光ディスク３のそのとき対象とする記録層上に集光される。これにより、かかる記録対象のデータが多層光ディスク３に記録される。

このレーザ光の多層光ディスク３の記録層における反射光は、対物レンズ２１を介して光ピックアップ１７内の受光部２２に集光される。受光部２２は、例えば４分割フォトディテクタ等から構成され、入射する反射光を光電変換することにより得られたアナログ波形のＲＦ（Radio Frequency）信号をアナログ・フロント・エンド（ＡＦＥ：Analog Front End）２３に送出する。

アナログ・フロント・エンド２３は、供給されるＲＦ信号に対して増幅や波形整形処理等の所定のアナログ処理を施し、かくして得られたディジタル波形のＲＦ信号をディジタル・シグナル・プロセッサ１１の再生信号処理部２４に送出する。

再生信号処理部２４は、供給されるＲＦ信号に対して復調処理等の所定の信号処理を施し、かくして得られた再生信号に基づいて、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号などの各種サーボ信号を生成する。かくして、これらフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて光ピックアップ１７内の２軸アクチュエータが制御され、これによりフォーカス制御やトラッキング制御が行なわれる。

さらに光ピックアップ１６内のレーザダイオード２０から発射されたレーザ光の一部は、光ピックアップ１６内の図示しないＡＰＣ（Auto Power Control）制御用の受光部により光電変換される。そして、この光電変換により得られた記録パワーモニタ信号が、アナログ・フロント・エンド２３においてディジタル変換されてディジタル記録パワーモニタ信号としてディジタル・シグナル・プロセッサ１１の記録信号生成部１８に与えられる。

かくして記録信号生成部１８は、このディジタル記録パワーモニタ信号に基づいて、記録パワーが予め設定された目標とする記録パワー（以下、これを目標記録パワーと呼ぶ）となるように、レーザダイオード駆動回路１９に送出する記録信号の信号レベルを制御する（ＡＰＣ制御）。

一方、マイクロコンピュータ部１０は、ホストコンピュータ２から再生コマンドが与えられた場合、上述の記録コマンドが与えられた場合と同様にして、多層光ディスク３をその記録方式に応じた回転状態に回転させる。またマイクロコンピュータ部１０は、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１の記録信号生成部１８を制御することにより、所定の駆動信号を光ピックアップ１７内のレーザ駆動回路１９に送出させる。

レーザ駆動回路１９は、供給される駆動信号に基づいて、レーザダイオード２０を所定電圧で点灯駆動する。この結果、このレーザダイオード２０から所定パワーのレーザ光が発射され、このレーザ光が対物レンズ２１を介して多層光ディスク３のそのとき対象としている記録層上に集光される。

このレーザ光の多層光ディスク３における反射光は、光ピックアップ１７内の受光部２２により光電変換され、かくして得られたアナログ波形のＲＦ信号が上述と同様にしてアナログ・フロント・エンド２３においてディジタル波形のＲＦ信号に変換されて、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１の再生信号処理部２４に与えられる。

再生信号処理部２４は、供給されるＲＦ信号に対して復調処理等の処理の再生信号処理を施し、かくして得られた再生信号をホストコンピュータ２に送出する。また、再生信号処理部２４は、記録コマンドが与えら得た場合と同様にして、かかる再生信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号などのサーボ信号を生成する。かくして、これらフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて、データ記録時と同様にして、フォーカス制御及びトラッキング制御などが行なわれる。

なお、本実施の形態による光ディスク装置１の場合、多層光ディスク３にデータを記録する際にウォーキングＯＰＣを実行する。

実際上、マイクロコンピュータ部１０は、多層光ディスク３にデータを記録する際、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１や、当該ディジタル・シグナル・プロセッサ１１を介して移動・案内機構部１５のスライドモータ１６及び光ピックアップ１７のレーザダイオード駆動回路１９を制御することにより、一定間隔ごと又は一定時間ごとに記録を停止させて記録終端部を再生させる。そして、このとき得られた再生信号がディジタル・シグナル・プロセッサ１１の再生信号処理部２４からβ取得部２５及びジッタ取得部２６に与えられる。

β取得部２５は、供給される再生信号の最大レベルａ１及び最小レベルａ２を測定し、これら最大レベルａ１及び最小レベルａ２に基づいて次式
［数１］

β＝（ａ１＋ａ２）／（ａ１−ａ２） ……（１）

で与えられる演算を実行する。そしてβ取得部２５は、かかる演算により得られた測定β値をマイクロコンピュータ部１０に送出する。

マイクロコンピュータ部１０は、供給される測定β値を、予め設定された目標β値と比較し、比較結果に応じた制御信号をディジタル・シグナル・プロセッサ１１の記録パワー補正演算部２７に送出する。そして記録パワー補正演算部２７は、供給される比較結果に基づいて光ピックアップ１７のレーザダイオード駆動回路１９を制御することにより、測定β値が目標β値に近づくように、記録パワーを補正する。

またジッタ取得部２６は、例えばＴＩＡ（Time Interval Analyzer）機能により、供給される再生信号のジッタの値（以下、これを単にジッタ値と呼ぶ）を測定し、測定結果をマイクロコンピュータ部１０に送出する。そしてこの測定結果は、後述する本実施の形態による記録パルス状態制御処理に利用される。

（２）本実施の形態による記録パルス状態制御処理
次に、本実施の形態による記録パルス状態制御処理について説明する。

通常、レーザダイオードに図２（Ａ）に示すようなパルス状の駆動電圧を印加した場合、図２（Ｂ）に示すように、レーザダイオードの発光パワーが駆動電圧の電圧値に応じたパワーに達するまでにある程度の時間（以下、これを立上り時間と呼ぶ）Ｔｒを要し、この後、駆動電圧が立ち下がってから当該発光パワーが元のパワーに戻るまでにある程度の時間（以下、これを立下り時間と呼ぶ）Ｔｆを要する。

この場合において、図３に示すように、レーザダイオードの発光パワーが低いときには、立上り時間Ｔｒが小さく、かつ立下り時間Ｔｆが大きくなるのに対して、かかる発光パワーが高いときには、立上り時間Ｔｒが大きく、かつ立下り時間Ｔｆが小さくなることを、本願特許出願人は見出した。

従って、このようなレーザダイオードの発光パワーの立上り及び立下り特性を利用することによって、例えば多層光ディスク３における各記録層の最適記録パワーと、そのうちの１つの記録層におけるジッタ抑制のための最適パルス状態とが分かれれば、他の記録層における記録パルスの最適パルス状態を予測できるものと考えられる。

具体的には、記録パルスのジッタ抑制のための最適パルス状態が既知の記録層（以下、これを特定記録層と呼ぶ）よりも最適記録パワーが小さい記録層において使用される記録パルスは、特定記録層について使用される記録パルスよりも立上り時間Ｔｒが小さく、かつ立下り時間Ｔｆが大きくなるものと予想される。従って、このような記録層については、図４（Ａ）に示すように、特定記録層の最適パルス状態に対して、記録パルスの立上り端をパルス幅を減らす方向にさらにシフトさせ、かつ立下り端を記録パルスのパルス幅を増やす方向にさらにシフトさせることによって、再生信号にジッタが少ない最適な記録パルスが得られるものと考えられる。

また特定記録層よりもＯＰＣにより得られた最適記録パワーが小さい記録層において使用される記録パルスは、特定記録層について使用される記録パルスよりも立上り時間Ｔｒが大きく、かつ立下り時間Ｔｆが小さくなるものと予想される。従って、このような記録層については、図４（Ｂ）に示すように、特定記録層の当該最適パルス状態に対して、記録パルスの立上り端をパルス幅を増やす方向にさらにシフトさせ、かつ立下り端をパルス幅を減らす方向にさらにシフトさせることによって、再生信号にジッタが少ない最適な記録パルスが得られるものと考えられる。

例えば図５に示すように、４つの記録層Ｌ０〜Ｌ３を有する多層光ディスクにおいて、各記録層Ｌ０〜Ｌ３について行なったＯＰＣにより得られた最適記録パワーの値がそれぞれ１２〔mW〕、１１〔mW〕、１０〔mW〕及び９〔mW〕であり、シフト試書きにより記録層Ｌ１の最適パルス状態を得たものとする。

この場合、記録層Ｌ０については、最適記録パワーが記録層Ｌ１の最適記録パワーよりも大きいため、記録層Ｌ１の最適パルス状態は、記録層Ｌ０の最適パルス状態よりも記録パルスの立上り端がパルス幅を増加させる方向にシフトし、かつ記録パルスの立下り端がパルス幅を減少させる方向にシフトするものと予測される（図４（Ｂ）参照）。また、このときの立上り端及び立下り端のシフト量は、記録層Ｌ０の最適記録パワー及び記録層Ｌ１の最適記録パワーに基づいて予測することができる。

同様に、記録層Ｌ２及び記録層Ｌ３については、最適記録パワーが記録層Ｌ１の最適記録パワーよりも小さいため、記録層Ｌ２及び記録層Ｌ３の最適パルス状態は、記録層Ｌ０の最適パルス状態よりも記録パルスの立上り端がパルス幅を減らす方向にシフトし、かつ記録パルスの立下り端がパルス幅を増やす方向にシフトするものと予測される（図４（Ａ）参照）。そして、このときの立上り端及び立下り端のシフト量は、記録層Ｌ０の最適記録パワーと、記録層Ｌ２や記録層Ｌ３の最適記録パワーに基づいて予測することができる。

以上の原理に基づき、本実施の形態による光ディスク装置１では、ＯＰＣについては多層光ディスク３の各記録層に対して行う一方、シフト試書きについては記録を開始する記録層に対してのみ行なう。そして光ディスク装置１においては、かかるＯＰＣにより得られた各記録層の最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態とに基づいて、他の記録層ごとのシフト試書きの処理結果をそれぞれ予測（つまり記録パルスの最適パルス状態をそれぞれ予測）する。

具体的には、図６に示すように、シフト試書きを行なった特定記録層よりも最適記録パワーが低い記録層については、特定記録層の最適パルス状態に対して、記録パルスの立上り端を定数Ｘだけパルス幅を減らす方向にシフトさせると共に、記録パルスの立下り端を定数Ｘだけパルス幅を増やす方向にシフトさせるようにして、最適パルス状態を予測するようにする。

また、特定記録層よりも最適記録パワーが高い記録層については、特定記録層の最適パルス状態に対して、最適シフト量だけ立上り端や立下り端をシフトさせた特定記録層の記録パルスに対して、立上り端を定数Ｘだけパルス幅を減らす方向にシフトさせると共に、立下り端を定数Ｘだけパルス幅を増やす方向にシフトさせるようにして、最適パルス状態を予測するようにする。

なお、本実施の形態の場合、かかる定数Ｘとしては、ＯＰＣにより得られた特定記録層の最適記録パワーをＷ１、ＯＰＣにより得られたそのとき対象としている記録層の最適記録パワーをＷ２として、次式
［数２］

Ｘ＝｜Ｗ１−Ｗ２｜／２ 〔mW〕 ……（２）

により算出される値を用いる。

そして、光ディスク装置１では、上述のようにして各記録層に対する最適パルス状態を予測した後、各記録層において、予測した最適パルス状態となるように記録パルスの立上り端及び立下り端を基準幅からシフトさせてデータ記録を行なう。

ただし、かかる予測が常に当たるとは限らないため、光ディスク装置１においては、ウォーキングＯＰＣを行うごとに再生信号のジッタを計測し、ジッタの値が予め定められた閾値を超えた場合には、その記録層においてシフト試書きを行ない、記録パルスのパルス状態（立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量）を再設定する。

このような記録パルス状態制御処理を行なうための手段として、マイクロコンピュータ部１０の内部メモリ１０Ａには、図７に示すような最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル３０が設けられている。

この最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル３０は、ＯＰＣにより得られた記録層ごとの最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態に基づいて予測した記録層ごとの記録パルスの最適パルス状態とを管理するためのテーブルである。

この最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル３０は、図７に示すように、そのとき装填されている多層光ディスク３の各記録層にそれぞれ対応させて、「最適記録パワー」欄３０Ａ、「立上り端シフト量」欄３０Ｂ及び「立下り端シフト量」欄３０Ｃが設けられている。

そして各「最適記録パワー」欄３０Ａには、それぞれＯＰＣにより測定された対応する記録層に最適な記録パワーが格納され、「立上り端シフト量」欄３０Ｂには、実際のシフト試書きにより決定された又は当該シフト試書きの結果に基づいて予測された、対応する記録層に最適な記録パルスの立上り端のシフト方向（「＋」又は「−」）及びシフト量が格納される。また「立下り端シフト量」欄３０Ｃには、実際のシフト試書きにより決定された又は当該シフト試書きの結果に基づいて予測された、対応する記録層に最適な記録パルスの立下り端のシフト方向及びシフト量が格納される。

図８は、このような本実施の形態による光ディスク装置１において行なわれるＯＰＣ及びシフト試書きに関するマイクロコンピュータ部１０の具体的な処理内容を示している。かかるマイクロコンピュータ部１０は、メモリ１０Ａに格納された制御プログラムに基づいて、この図８に示すＯＰＣ及びシフト試書き処理を実行する。

すなわちマイクロコンピュータ部１０は、多層光ディスク３が装填されてローディング処理を完了した後、ホストコンピュータ２からライト要求が与えられるとこのＯＰＣ及びシフト試書き処理を開始し、まず、ｎを０にリセットした後、ｎ番目の記録層に対するＯＰＣを実行する（ＳＰ１）。

続いてマイクロコンピュータ部１０は、かかるＯＰＣにより得られたそのｎ番目の記録層に対する最適記録パワーを最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル３０の対応する「最適記録パワー」欄３０Ａに格納する（ＳＰ２）。

次いでマイクロコンピュータ部１０は、そのとき受信したライト要求に基づいて、そのｎ番目の記録層がデータ記録を開始する記録層であるか否かを判断する（ＳＰ３）。そしてマイクロコンピュータ部１０は、この判断において否定結果を得るとステップＳＰ５に進む。

これに対してマイクロコンピュータ部１０は、かかる判断において肯定結果を得ると、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１や、当該ディジタル・シグナル・プロセッサ１１を介してモータ駆動回路１３及び光ピックアップ１７を制御することにより、そのｎ番目の記録層の最内周又は最外周に設けられた試書き領域にシフト試書きを実行させ、このとき得られた記録パルスの立上り端及び立下り端の最適なシフト方向及びシフト量を、最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル３０内の対応する「立上り端シフト量」欄３０Ｂ及び「立下り端シフト量」欄３０Ｃにそれぞれ格納する（ＳＰ４）。

続いてマイクロコンピュータ部１０は、そのｎ番目の記録層が最終層であるか否かを判断し（ＳＰ５）、否定結果を得ると、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１を介して光ピックアップ１７内の２軸アクチュエータを制御して対物レンズ２１の焦点位置を移動させることにより、ＯＰＣの対象とする記録層を次のｎ＋１番目の記録層に移動させる（ＳＰ６）。またマイクロコンピュータ部１０は、この後ステップＳＰ１に戻り、ステップＳＰ１以降を上述と同様に処理する。

そしてマイクロコンピュータ部１０は、装填された多層光ディスク３のすべての記録層に対するＯＰＣを完了することによりステップＳＰ５において肯定結果を得ると、このＯＰＣ及びシフト試書き処理を終了し、ホストコンピュータ２に対してライト準備完了の応答を送信する。

一方、マイクロコンピュータ部１０は、この後、かかるライト準備完了の応答を受けてホストコンピュータ２から記録対象のデータが与えられると、メモリ１０Ａ（図１）に格納された制御プログラムに従って、図９に示すライト処理を実行する。

すなわちマイクロコンピュータ部１０は、ホストコンピュータ２から記録対象のデータが与えられると、このライト処理を開始し、まず、そのときデータ記録を開始しようとする記録層の最適記録パワーと、記録パルスの立上り端及び立下り端の最適なシフト方向及びシフト量とを最適パルス状態管理テーブル３０から読み出す。そしてマイクロコンピュータ部１０は、読み出した最適記録パワーをＡＰＣ制御の目標記録パワーとしてディジタル・シグナル・プロセッサ１１内の記録信号生成部１８に設定すると共に、読み出した記録パルスの立上り端及び立下り端の最適なシフト方向及びシフト量を当該記録信号生成部１８に設定する（ＳＰ１０）。

続いてマイクロコンピュータ部１０は、ディジタル・シグナル・プロセッサ１１の記録信号生成部１８や、当該ディジタル・シグナル・プロセッサ１１を介して移動・案内機構部１５（図１）のスライドモータ１６（図１）等を制御することにより、ホストコンピュータ２から与えられる記録対象のデータを所定量だけ多層光ディスク３に記録させる（ＳＰ１１）。

そしてマイクロコンピュータ部１０は、この後、ウォーキングＯＰＣを実行するタイミングとなったか否かを判断し（ＳＰ１２）、否定結果を得ると、記録層を次ぎの記録層に移動させる必要があるか否かを判断する（ＳＰ１８）。またマイクロコンピュータ部１０は、この判断において否定結果を得ると、ホストコンピュータ２から与えられたすべてのデータを多層光ディスク３に記録し終えたか否かを判断する（ＳＰ２０）。

マイクロコンピュータ部１０は、この判断において否定結果を得るとステップＳＰ１１に戻り、この後、ステップＳＰ１２、ステップＳＰ１８又はステップＳＰ２０において肯定結果を得るまでステップＳＰ１１−ステップＳＰ１２−ステップＳＰ１８−ステップＳＰ２０−ステップＳＰ１１のループを繰り返す。

そしてマイクロコンピュータ部１０は、やがてステップＳＰ１２において肯定結果を得ると、ウォーキングＯＰＣを実行する（ＳＰ１３）。そしてマイクロコンピュータ部１０は、この後、かかるウォーキングＯＰＣの際に取得したジッタ値が予め設定された閾値よりも大きいか否かを判断する（ＳＰ１４）。

マイクロコンピュータ部１０は、この判断において否定結果を得るとステップＳＰ１８に進み、これに対して肯定結果を得ると、そのときデータの記録を行なっている記録層に対してシフト試書きを行なう（ＳＰ１５）。

次いでマイクロコンピュータ部１０は、かかるシフト試書きによって得られたその記録層に対する最適パルス状態（記録パルスの立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量）をディジタル・シグナル・プロセッサ１１の記録信号生成部１８に再設定する（ＳＰ１６）。またマイクロコンピュータ部１０は、かかるシフト試書きにより得られたその記録層に対する最適パルス状態に基づいて、他の記録層に対する最適パルス状態を再予測し、かかる再設定した最適パルス状態及び再予測した最適パルス状態を最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル３０に再登録する（ＳＰ１７）。そしてマイクロコンピュータ部１０は、この後ステップＳＰ１８に進む。

これに対してマイクロコンピュータ部１０は、ステップＳＰ１８において肯定結果を得ると、例えばディジタル・シグナル・プロセッサ１１を介して光ピックアップ１７内の２軸アクチュエータを駆動して対物レンズ２１の焦点位置をかかる次の記録層に移動させた後（ＳＰ１９）、ステップＳＰ１０に戻る。そしてマイクロコンピュータ部１０は、この後上述と同様にしてステップＳＰ１０以降の処理を実行する。

そしてマイクロコンピュータ部１０は、やがてホストコンピュータ２から与えられたすべてのデータを多層光ディスク３に記録し終えることによりステップＳＰ２０において肯定結果を得ると、このライト処理を終了する。

（３）本実施の形態の効果
以上のように本光ディスク装置１では、ＯＰＣについては多層光ディスク３の各記録層に対して行う一方、シフト試書きについては記録を開始する記録層に対してのみ行ない、かかるＯＰＣにより得られた各記録層の最適記録パワーと、記録を開始する記録層に対して行なったシフト試書きにより得られた記録パルスの最適パルス状態とに基づいて、他の記録層ごとの記録パルスの最適パルス状態をそれぞれ予測し、予測結果に応じて当該他の記録層に対する記録パルスのパルス状態を調整するため、すべての記録層に対してシフト試書きを行なう場合に比べて格段的にライト準備時間を短縮化させることができる。かくするにつき、ホストコンピュータ２がライト要求を発行してから光ディスク装置１からのライト準備完了の応答を受けるまでに当該ホストコンピュータ２においてタイムアウトが発生したり、ユーザに不快感を抱かせることを未然にかつ有効に防止し得る光ディスク装置を実現できる。

また本光ディスク装置１では、上述のように多層光ディスク３のシフト試書きを行なっていない各記録層についてのレーザ光の記録パルスの最適パルス状態を予測し、当該予測に基づいてレーザ光の記録パルスを制御した後も常に再生信号のジッタを監視し、ジッタが多いときにはその記録層においてシフト試書きを行なうため、ライト準備時間を短縮化させながら、常に高品質の再生信号を得ることができる。

（４）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、光ディスク装置を図１のように構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の構成の光ディスク装置に広く適用することができる。

また上述の実施の形態においては、多層光ディスク３の各記録層のＯＰＣ結果に基づいて（２）式により与えられるＸを用いて各記録層における記録パルスの最適パルス状態を予測するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、各記録層における記録パルスの最適パルス状態の予測方法としてはこの他種々の方法を広く適用することができる。

さらに上述の実施の形態においては、記録パルスの立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量をそれぞれ別個に予測するようにして記録パルスの最適パルス状態を求めるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば記録パルスの立上り端及び立下り端のいずれか一方のシフト方向及びシフト量と、記録パルスのパルス幅を予測するようにして最適パルス状態を求めるようにしても良い。

さらに上述の実施の形態においては、多層光ディスク３の記録を開始する記録層についてのみシフト試書きを行なうようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、かかるシフト試書きを行なう記録層は記録を開始する記録層に限らず、またシフト試書きを行なう記録は１層のみに限らず、要は、多層光ディスク３の一部の記録層についてのみシフト試書きを行なうようにすれば良く、このようにすることによってライト準備時間を短縮化することができる。

さらに上述の実施の形態においては、多層光ディスク３の対応する記録層に情報を記録すると共に当該記録層に記録された情報を再生する記録再生部を、図１のように形成されたディジタル・シグナル・プロセッサ１１及び光ピックアップ１７などにより構成し、かかる記録再生部を制御する制御部をマイクロコンピュータ１０により構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、これら記録再生部及び制御部の構成としては種々の構成を広く適用することができる。

本実施の形態による光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。 （Ａ）及び（Ｂ）は、記録パルスの立上り時間及び立下り時間の説明に供する波形図である。 レーザダイオードの発光パワーと記録パルスの立上り時間及び立下り時間の関係を示す図表である。 （Ａ）及び（Ｂ）は、特定記録層の最適パルス状態から他の記録層の最適パルス状態を予測する方法の説明に供する概念図である。 特定記録層の最適パルス状態から他の記録層の最適パルス状態を予測する方法の説明に供する図表である。 特定記録層の最適パルス状態から他の記録層の最適パルス状態を予測する方法の説明に供する図表である。 最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブルを示す概念図である。 本実施の形態によるＯＰＣ及びシフト試書き処理の説明に供するフローチャートである。 本実施の形態によるライト処理の説明に供するフローチャートである。

符号の説明

１……光ディスク装置、２……ホストコンピュータ、３……多層光ディスク、１０……マイクロコンピュータ、１１……ディジタル・シグナル・プロセッサ、１７……光ピックアップ、１８……記録信号生成部、１９……レーザダイオード駆動回路、２０……レーザダイオード、２１……対物レンズ、２４……再生信号処理部、２６……ジッタ取得部、３０……最適記録パワー及び最適パルス状態管理テーブル。

Claims (7)

1. 複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する記録方法において、
   前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行する第１のステップと、
   前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測する第２のステップと、
   前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録する第３のステップと
   を備えることを特徴とする記録方法。
2. 前記第２のステップでは、
   前記記録パルスの立上り端及び立下り端のシフト方向及びシフト量をそれぞれ別個に予測する
   ことを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
3. 前記第２のステップでは、
   前記シフト試書き処理を実行した前記記録層よりも前記記録パワー調整処理により得られた記録パワーの調整値が小さい前記記録層については、前記記録パルスの立上り端を当該記録パルスのパルス幅を減らす方向にシフトさせると共に、前記記録パルスの立下り端を前記記録パルスのパルス幅を増やす方向にシフトさせ、前記シフト試書き処理を実行した前記記録層よりも前記記録パワー調整処理により得られた記録パワーの調整値が大きい前記記録層については、前記記録パルスの立上り端を当該記録パルスのパルス幅を増やす方向にシフトさせると共に、前記記録パルスの立下り端を前記記録パルスのパルス幅を減らす方向にシフトさせるように、各前記記録層における前記記録パルスのパルス状態を予測する
   ことを特徴とする請求項２に記載の記録方法。
4. 前記第１のステップでは、
   各前記記録層のうちの記録を開始する前記記録層についてのみ前記シフト試書き処理を実行する
   ことを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
5. 前記第３のステップでは、
   前記多層光ディスクに対する前記情報の記録時に、当該多層光ディスクに記録された前記情報を定期的に再生し、再生信号のジッタの値が所定の閾値よりも悪くなったときに、当該記録層に対して前記シフト試書き処理を行い、当該シフト試書き処理の処理結果に基づいて当該記録層に対する前記記録パルスのパルス状態を再設定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
6. 前記第３のステップでは、
   前記記録パルスのパルス状態を再設定した前記記録層に対する前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、他の前記記録層に対する前記シフト試書き処理の処理結果を再予測する
   ことを特徴とする請求項５に記載の記録方法。
7. 複数の記録層を有する多層光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、
   前記多層光ディスクの対応する前記記録層に情報を記録すると共に、当該記録層に記録された情報を再生する記録再生部と、
   前記記録再生部を制御する制御部と
   を備え、
   前記制御部は、
   前記記録再生部を制御することにより、前記多層光ディスクの各前記記録層において記録パワーの調整を行なう記録パワー調整処理を実行すると共に、各前記記録層のうちの一部の前記記録層についてのみ記録パルスのパルス状態を調整するシフト試書き処理を実行し、
   前記記録パワー調整処理の処理結果及び前記シフト試書き処理の処理結果に基づいて、前記シフト試書き処理を実行していない各前記記録層におけるシフト試書き処理の処理結果を予測し、
   前記シフト試書き処理の処理結果又は予測結果に基づいて前記記録パルスのパルス状態を調整しながら、前記多層光ディスクの対応する前記記録層に前記情報を記録する
   ことを特徴とする光ディスク装置。

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