JP2005267802A - ディスクドライブ装置及び記録パワー設定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】
簡易な構成で、低い記録パワーでも再生信号の振幅情報を取得して最適な記録パワーを設定することができるディスクドライブ装置を実現する。
【解決手段】
光ディスクに対してデータの記録及び再生を行うディスクドライブ装置において、光ディスクから再生した再生信号に対してビタビ復号を行ってデータを復号するとともに、ビタビ復号における状態遷移そのものを表現する状態データを生成するビタビ復号手段と、状態データから認識された状態遷移に対応する振幅基準値と再生信号をディジタル変換することで生成された再生信号値との差分値を演算し、当該差分値に基づいて再生信号の品質の優劣を表す品質指標値を生成する品質指標生成手段とを設け、品質指標生成手段は振幅基準値を所定値に固定して品質指標値を求めることにより、再生信号の振幅を表す振幅評価値を生成するようにした。
【選択図】 図１

Description

本発明はディスクドライブ装置及び記録パワー設定方法に関し、光ディスクに対して記録及び再生を行うディスクドライブ装置に適用して好適なものである。

データを記録可能な光ディスクにおいては、当該光ディスクのメーカー毎の特性差や光ディスク個々の特性のばらつき等の原因によって、記録時におけるレーザ光の最適な記録パワーがそれぞれ異なっている。このため光ディスクにデータを記録するディスクドライブ装置は、データ記録に先立って光ディスクに対する最適な記録パワーを求めるようになされている（例えば、特許文献１参照）。

この最適記録パワーの設定処理をＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ぶ。かかるＯＰＣにおいてディスクドライブ装置は、光ディスクに設定されたテスト用領域に対してある記録パワーでテストデータを記録した後、当該テストデータを読み出す。そして、このとき得られた再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値に基づいて、当該再生ＲＦ信号についての振幅評価値を得る。

ディスクドライブ装置は、上述したテストデータの記録及び読み出しを異なる記録パワーで複数回繰り返し、振幅評価値に基づいて最適記録パワーを決定する。
特開２００３−１６８２１６公報

上述したようにＯＰＣにおいては、光ディスクのテスト用領域に対して異なるパワーでテストデータを複数回記録する必要がある。しかしながら光ディスクの記録耐久性には限りがあり、これにより高い記録パワーでテストデータの書き込みを繰り返すと、記録層が劣化して反射率や最適な書き込みパワーが変化してしまう。

このためディスクドライブ装置では、最適と思われる記録パワーよりも低い記録パワーでＯＰＣを行い、このとき得られた振幅評価値に基づいて最適記録パワーを決定することがある。ところが、記録パワーが低いと読み出し時の再生ＲＦ信号の振幅も小さくなって当該再生ＲＦ信号に対するＰＬＬ（Phase Locked Loop）ロックを行い得なくなり、このため振幅評価値を得られなくなる場合があるという問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構成で、低い記録パワーでも再生信号の振幅情報を確実に取得して最適な記録パワーを設定することができるディスクドライブ装置及び記録パワー設定方法を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明においては、光ディスクに対してデータの記録及び再生を行うディスクドライブ装置において、光ディスクから再生した再生信号に対してビタビ復号を行ってデータを復号するとともに、ビタビ復号における状態遷移そのものを表現する状態データを生成するビタビ復号手段と、状態データから認識された状態遷移に対応する振幅基準値と再生信号をディジタル変換することで生成された再生信号値との差分値を演算し、当該差分値に基づいて再生信号の品質の優劣を表す品質指標値を生成する品質指標生成手段とを設け、品質指標生成手段は振幅基準値を所定値に固定して品質指標値を求めることにより、再生信号の振幅を表す振幅評価値を生成するようにした。

これにより、再生信号の振幅が小さく当該再生信号に対してＰＬＬロックを行い得ない場合でも、当該再生信号の振幅を確実に認識することができる。

また本発明においては、光ディスクに対してテストデータを記録し、当該テストデータを読み出した再生信号についての振幅評価値に基づいて当該光ディスクに対する最適記録パワーを設定する記録パワー設定手段を設けた。

これにより、再生信号の振幅が小さく当該再生信号に対してＰＬＬロックを行い得ない場合でも、再生信号の振幅を認識して、光ディスクに対する最適記録パワーを確実に設定することができる。

さらに本発明においては、光ディスクに対して最適記録パワーよりも十分に低い記録パワーでテストデータを記録するようにした。

これにより、テストデータの書き込みによる光ディスクの記録層の劣化を防止することができる。

本発明によれば、再生信号の振幅が小さく当該再生信号に対してＰＬＬロックを行い得ない場合でも、再生信号の振幅を認識して光ディスクに対する最適記録パワーを確実に設定することができ、これによりテストデータの記録パワーを低くしてテストデータの書き込みによる光ディスクの記録層の劣化を防止することができる。

以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）ディスクドライブ装置の全体構成
図１において、１は全体として本発明によるディスクドライブ装置を示し、ＣＰＵ２がディスクコントローラ３を介して当該ディスクドライブ装置１全体を統括制御するようになされている。そして、ディスクドライブ装置１はホスト機器２００から供給されるリード／ライトコマンドに応じて、光ディスク１００に対してデータの記録及び再生を行うようになされている。

光ディスク１００は図示しないターンテーブルに載置され、データのアクセス（記録及び再生）時において、駆動手段としてのスピンドルモータ４によって回転駆動される。そしてアクセス手段としての光ピックアップ５によって、光ディスク１００に記録されているデータやウォブリンググルーブによるＡＤＩＰ（Address In Pre Groove）情報の読み出しが行なわれる。

光ピックアップ５には、レーザ光源となるレーザダイオード１０や反射光を検出するためのフォトディテクタ１１、レーザ光の出力端となる対物レンズを保持する二軸アクチュエータ１２、レーザダイオード１０の出力制御を行うＡＰＣ（Auto Power Control）回路１３、さらには図示していないが、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタ１１に導く光学系等が搭載されている。

二軸アクチュエータ１２は対物レンズをトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持する。またスライド駆動部１４は、サーボ駆動回路１５の制御に応じて光ピックアップ５全体をディスク半径方向に往復駆動する。

フォトディテクタ１１は複数個のフォトダイオードを有しており、各フォトダイオードはそれぞれ光ディスク１００からの反射光を受光して光電変換し、その受光光量に応じた受光信号を生成してアナログシグナルプロセッサ１６に供給する。

アナログシグナルプロセッサ１６のリードチャンネルフロントエンド１７は、受光信号から再生ＲＦ信号を生成し、アナログディジタル変換器２０に入力する。一方マトリクスアンプ１８は、各フォトダイオードからの受光信号に対してマトリクス演算を行って、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥ、並びにウォブリンググルーブの情報であるプッシュプル信号ＰＰを生成し、これらをアナログディジタル変換器２０に入力する。またＰＬＬ部１９は、再生ＲＦ信号からリードクロックＲＣＫを生成する。

アナログディジタル変換器２０は、再生ＲＦ信号、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ及びプッシュプル信号ＰＰをそれぞれディジタル変換した後ディジタルシグナルプロセッサ２１に入力する。

ディジタルシグナルプロセッサ２１は、ライトパルスジェネレータ２２、サーボシグナルプロセッサ２３、ウォブルシグナルプロセッサ２４及びＲＦシグナルプロセッサ２５を有している。

ウォブルシグナルプロセッサ２４はプッシュプル信号ＰＰをデコードし、アドレスや物理フォーマット情報等からなるＡＤＩＰ情報を抽出してＣＰＵ２に供給する。

サーボシグナルプロセッサ２３は、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づいてフォーカス、トラッキング、スライド、スピンドルの各種サーボドライブ信号を生成し、ディジタルアナログ変換器２７を介してサーボ駆動回路１５に供給する。またサーボシグナルプロセッサ２３は、ＣＰＵ２からの命令に応じてフォーカスサーチ、トラックジャンプ、シーク等の動作を指示するサーボドライブ信号をサーボ駆動回路１５に供給する。そしてサーボ駆動回路１５は、サーボドライブ信号に基づいて二軸アクチュエータ１２、スライド駆動部１４及びスピンドルモータ４を駆動する。

ＲＦシグナルプロセッサ２５は、光ディスク１００から読み出した再生ＲＦ信号に対してビタビ復号処理を施して再生データを得る。すなわちＲＦシグナルプロセッサ２５のビタビ復号器２５Ａは、リードクロックＲＣＫに従って規定される各タイミングにおける再生ＲＦ信号の値（再生信号値）に基づき、状態遷移パターンから推定される最尤状態を逐次選択していく。そしてビタビ復号器２５Ａは、選択した一連の状態データに基づいて再生データＲＤを生成し、これをディスクコントローラ３に供給する。

このときＲＦシグナルプロセッサ２４の品質指標生成器２４Ｂは、ビタビ復号器２４Ａで選択した最尤状態に基づいて、振幅変動等が生じていない理想的な再生ＲＦ信号の理論値でなる振幅基準値ａｃｘｘｘを求める。さらに品質指標生成器２４Ｂは、各サンプル時刻における再生信号ＲＦの再生信号値ｃｘｘｘと振幅基準値ａｃｘｘｘとの差分値ｅ[t]の平均値を算出する。

この差分値ｅ[t]の平均値は、再生ＲＦ信号の理想波形と実際の波形との誤差に相当し、当該再生ＲＦ信号の品質の優劣を表すものである。品質指標生成器２４Ｂは、当該平均値を再生ＲＦ信号の品質を示す品質指標値ＣＱとして出力する。

例えば図２に示すように、時間ｔ−３、ｔ−２、ｔ−２、ｔ、ｔ＋１，ｔ＋２及びｔ＋３の各サンプル時刻における振幅基準値を破線で示すａｃ０００、ａｃ００１、ａｃ０１１、ａｃ１１１、ａｃ１１０、ａｃ１００及びａｃ０００とし、そのときの再生信号値をそれぞれｃ０００、ｃ００１、ｃ０１１、ｃ１１１、ｃ１１０、ｃ１００及びｃ０００とすると、各サンプル時刻における差分値は、太い実線で示すｅ[t-3]＝ａｃ０００−ｃ０００、ｅ[t-2]＝ａｃ００１−ｃ００１、ｅ[t-1]＝ａｃ０１１−ｃ０１１、ｅ[t]＝ａｃ１１１−ｃ１１１、ｅ[t+1]＝ａｃ１１０−ｃ１１０、ｅ[t+2]＝ａｃ１００−ｃ１００、ｅ[t+3]＝ａｃ０００−ｃ０００となる。品質指標生成器２４Ｂは、次式を用いて品質指標値ＣＱを算出する。

ＣＱ＝（ｅ[t-3]＋ｅ[t-2]＋ｅ[t-1]＋ｅ[t]＋ｅ[t+1]＋ｅ[t+2]＋ｅ[t+3]）／７
……（１）

ディスクコントローラ３は、エンコード／デコード部３１、ＥＣＣ（Error Correcting Code）処理部３２及びホストインターフェース３３を有している。

ディスクコントローラ３は再生時において、ＲＦシグナルプロセッサ２６から供給される再生データに対しエンコード／デコード部３１でデコード処理を行い、さらにＥＣＣ処理部３２でエラー訂正処理を施し、ホストインターフェース３３を介して外部のホスト機器２００（例えばパーソナルコンピュータ等）に転送する。

またディスクコントローラ３のエンコード／デコード部３１は、デコード処理により得られた情報の中からサブコード情報やアドレス情報、さらには管理情報や付加情報を抜き出し、これらの情報をＣＰＵ２に供給する。

またＣＰＵ２はホスト機器２００からのライトコマンドに応じて、光ディスク１００に対する記録動作を実行する。

すなわち記録時においてディスクコントローラ３は、ホスト機器２００から供給された記録データに対し、ＥＣＣ処理部３２でエラー訂正コードを付加し、さらにエンコード／デコード部３１で記録データに対してＲＬＬ（Run Length Limited）符号化を施してＲＬＬ（１，７）符号にエンコードした後、ディジタルシグナルプロセッサ２１のライトパルスジェネレータ２２に供給する。

ライトパルスジェネレータ２２は、記録データに対して波形整形等の処理を行ってレーザ変調データを生成し、これをＡＰＣ回路１３に供給する。ＡＰＣ回路１３は、レーザ変調データに応じてレーザダイオード１０を駆動して光ディスク１００にデータ書込を行う。

（２）ディスクドライブ装置におけるＯＰＣ処理
かかる構成に加えてディスクドライブ装置１は、光ディスク１００が装着された後の最初の書き込み動作を行う際、これに先だってＯＰＣを実行し、当該光ディスク１００に対する最適な記録パワーを設定する。このときディスクドライブ装置１は、κ−ＯＰＣと呼ばれる手法を用いて最適な記録パワーよりも十分に低い記録パワーでＯＰＣを行うことにより、光ディスク１００の記録層の劣化を防止するようになされている。

ここで、記録パワーが低いと再生ＲＦ信号の振幅も小さくなって当該再生ＲＦ信号に対するＰＬＬロックができなくなり、再生ＲＦ信号の振幅を認識し得なくなる場合がある。このため本発明によるディスクドライブ装置１は上述した品質指標生成器２５Ｂを用い、再生ＲＦ信号の振幅が小さくＰＬＬロックが不能な状態においてもその振幅を認識して、低い記録パワーで確実にＯＰＣを行うようになされている。

すなわちディスクドライブ装置１の品質指標生成器２５ＢはＯＰＣの実行時において、振幅基準値ａｃｘｘｘを一律「０」に固定して品質指標値ＣＱを算出する。この場合品質指標値ＣＱは、再生ＲＦ信号のＡＤ変換値の総和に相当する。そして、再生ＲＦ信号が一定の規則に基づく周期的な信号の場合は、当該品質指標値ＣＱは再生ＲＦ信号の振幅に比例する。このため、ＯＰＣ時において所定のパターンでテストデータを書き込むことにより、当該品質指標値ＣＱを用いて再生ＲＦ信号の振幅を評価することができる。

この、振幅基準値ａｃｘｘｘを「０」に固定したときの品質指標値ＣＱを振幅評価値ＡＭＰと呼ぶ。振幅評価値ＡＭＰは、ＰＬＬがロックしていない状態でも再生ＲＦ信号の振幅に比例した値を示すことから、低い記録パワーでＯＰＣを行う場合でも、当該振幅評価値ＡＭＰを用いて確実に再生ＲＦ信号の振幅を評価することができる。

次に、上述した振幅評価値ＡＭＰを用いたＯＰＣ処理手順を図３に示すフローチャートを用いて詳細に説明する。

記録パワー設定手段としてのＣＰＵ２は、ＯＰＣ処理手順ルーチンＲＴ１の開始ステップから入ってステップＳＰ１に移り、パラメータ（スタートパワーＰｉｎｄ、パワー係数ρ及びピーク／イレーズ比εｅ）の初期値をＡＰＣ回路１３にセットし、次のステップＳＰ２に移る。

ステップＳＰ２においてＣＰＵ２は、光ピックアップ５を光ディスク１００のＯＰＣ領域にシークした後次のステップＳＰ３に移り、テストデータの書き込みに先だってＯＰＣ領域における連続する６ＲＵＢ（Recording Unit Block）のデータを消去して次のステップＳＰ４に移る。

ステップＳＰ４においてＣＰＵ２は、消去した６ＲＵＢのうちの中央の２ＲＵＢに対し、正規化用記録パワー（ピークパワーＰＰ＝ρ×Ｐｉｎｄ、イレースパワーＥＰ＝ＰＰ×εｅ、クールパワーＣＰ＝０[mw]）でテストデータを記録する。

ここで、ＯＰＣ領域が設けられているディスク最内周部分ではトラック一周が２ＲＵＢ弱に相当し、これにより消去を行った６ＲＵＢはトラック３周強に相当する。このため、テストデータを記録するトラック（２ＲＵＢ）の両隣のトラックはデータが消去された状態となり、隣接トラックの影響を無くして正確にＯＰＣを行うことができる。

次のステップＳＰ５においてＣＰＵ２は、ＯＰＣ領域からテストデータを読み出し、このときの正規化用振幅評価値ＡＭＰｎｏｒを取得して次のステップＳＰ６に移り、先のステップＳＰ３において消去した６ＲＵＢを再消去し、次のステップＳＰ７に移る。

ステップＳＰ７においてＣＰＵ２は、消去した６ＲＵＢのうちの中央の２ＲＵＢに対し、異なる８種の記録パワーでテストデータを記録する。すなわち、パワー係数ａｎを０．８９５から０．０３ステップで８値設定し、ピークパワーＰＰ＝ａｎ×Ｐｉｎｄ、イレースパワーＥＰ＝ＰＰ×εｅ、及びクールパワーＣＰ＝０[mw]で記録を行う。

次のステップＳＰ８においてＣＰＵ２は、ＯＰＣ領域からテストデータを読み出し、このときの８種の振幅評価値ＡＭＰａｎを取得して次のステップＳＰ９に移る。ステップＳＰ９においてＣＰＵ２は、取得した８種の振幅評価値ＡＭＰａｎ及び正規化用振幅評価値ＡＭＰｎｏｒから、次式を用いて８種の正規化パワー値Ｐｍを算出し、次のステップＳＰ１０に移る。

Ｐｍ＝ａｎ×ＡＭＰａｎ／ＡＭＰｎｏｒ ……（２）

ステップＳＰ１０においてＣＰＵ２は、算出した８種の正規化パワー値Ｐｍから閾パワー値Ｐｔｈｒ１及びＰｔｈｒ２を算出する。図４に示すように、閾パワー値Ｐｔｈｒ１はパワー係数ａｎが低い側５条件の正規化パワー値Ｐｍの近似直線とパワー軸との交点の値であり、閾パワー値Ｐｔｈｒ２は、パワー係数ａｎが高い側５条件の正規化パワー値Ｐｍの近似直線とパワー軸との交点の値である。

ステップＳＰ１１においてＣＰＵ２は、閾パワー値Ｐｔｈｒ１及びＰｔｈｒ２から次式を用いて第１のターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔ１及び第２のターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔ２を算出し、次のステップＳＰ１２に移る。

Ｐｔａｒｇｅｔ１＝κ×Ｐｔｈｒ１
Ｐｔａｒｇｅｔ２＝κ×Ｐｔｈｒ２ ……（３）

ステップＳＰ１２においてＣＰＵ２は、第１のターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔ１及び第２のターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔ２から次式を用いてターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔを算出し、次のステップＳＰ１３に移る。

Ｐｔａｒｇｅｔ＝（Ｐｔａｒｇｅｔ２×Ｐｆｉｔ１−Ｐｔａｒｇｅｔ１×Ｐｆｉｔ２）／（（Ｐｔａｒｇｅｔ２−Ｐｔａｒｇｅｔ１）−（Ｐｆｉｔ２−Ｐｆｉｔ１））
Ｐｆｉｔ１＝１．０４５×Ｐｉｎｄ
Ｐｆｉｔ２＝０．９５５×Ｐｉｎｄ ……（４）

ステップＳＰ１３においてＣＰＵ２は、算出したターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔが目標範囲内（Ｐｆｉｔ１＜Ｐｔａｒｇｅｔ＜Ｐｆｉｔ２）にあるかを判定する。ステップＳＰ１３において、ターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔが目標範囲内にないと判定した場合、このことは適切なターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔを得られなかったことを表しており、このときＣＰＵ２はステップＳＰ１４に移り、再試行カウンタのカウンタ値Ｎ（初期値「０」）に基づいてＯＰＣの再試行回数が５回未満であるかを判定する。

ステップＳＰ１４において再試行回数が５回未満であると判定した場合、ＣＰＵ２はステップＳＰ５に移って再試行カウンタのカウンタ値Ｎを「１」加算した後、ステップＳＰ３に戻って再度ステップＳＰ３〜ＳＰ１３を実行する。これに対してステップＳＰ１５において再試行回数が５回以上であると判定した場合、ＣＰＵ２はステップＳＰ１６に移り、ＯＰＣに失敗（ＯＰＣタイムアウト）したものとし、ステップＳＰ１９に移ってＯＰＣ処理手順を終了する。

一方、ステップＳＰ１３においてターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔが目標範囲内にあると判定した場合、このことは適切なターゲットパワー値Ｐｔａｒｇｅｔを得られたことを表しており、このときＣＰＵ２はステップＳＰ１７に移り、ここまでの手順で使用していた６ＲＵＢを再消去して次のステップＳＰ１８に移る。

ステップＳＰ１８においてＣＰＵ２は、ライトパワーＰｗｏをＰｗｏ＝ρ×Ｐｔａｒｇｅｔに設定し、ステップＳＰ１９に移ってＯＰＣ処理手順を終了する。

（３）動作及び効果
以上の構成において、ディスクドライブ装置１の品質指標生成器２４Ｂは、通常のデータ再生の際、ビタビ復号器２４Ａで検出した最尤状態に基づく振幅基準値と再生ＲＦ信号の再生信号値の差分に基づいて、当該再生ＲＦ信号の品質を表す品質指標値ＣＱを生成する。

これに加えて品質指標生成器２４Ｂは、光ディスク１００に対するＯＰＣの際、振幅基準値を所定値「０」に固定することにより、品質指標値ＣＱに換えて再生ＲＦ信号の振幅を表す振幅評価値ＡＭＰを生成する。この振幅評価値ＡＭＰは、低い記録パワーでテストデータを記録したことにより再生ＲＦ信号の振幅が小さく当該再生ＲＦ信号に対してＰＬＬがロックしない状態においても、再生ＲＦ信号の振幅に比例した値を示す。

このためディスクドライブ装置１は、振幅評価値ＡＭＰに基づいて再生ＲＦ信号の振幅を確実に認識して、最適な記録パワーよりも十分に低い記録パワーでＯＰＣを行うことができる。

また、品質指標生成器２４Ｂの振幅基準値を所定値に固定することで振幅評価値ＡＭＰを生成するようにしたことにより、新たな信号処理回路等を設けることなく、簡易な構成で再生ＲＦ信号の振幅を確実に認識し、最適な記録パワーよりも十分に低い記録パワーでＯＰＣを行うことができる。

以上の構成によれば、品質指標値ＣＱを生成するための品質指標生成器２４Ｂを用いて再生ＲＦ信号の振幅を表す振幅評価値ＡＭＰを生成することにより、簡易な構成で、かつ低い記録パワーでＯＰＣを行うことができ、これにより光ディスク１００の記録層の劣化を防止することができる。

（４）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、光ディスクに対して記録再生を行うディスクドライブ装置１に本発明を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、再生ＲＦ信号に対してビタビ復号処理を施して再生データを得る種々のディスクドライブ装置に本発明を適用することができる。

また上述の実施の形態においては、異なる記録パワーでテストデータを８回記録してＯＰＣを行うようにしたが、本発明はこれに限らず、これ以外の回数でテストデータを記録してＯＰＣを行うようにしてもよい。

本発明は、光ディスクに対して記録再生を行うディスクドライブ装置に適用できる。

ディスクドライブ装置の全体構成を示すブロック図である。 振幅基準値と再生信号値の説明に供する特性曲線図である。 ＯＰＣ処理手順を表すフローチャートである。 ターゲットパワーの算出の説明に供する図である。

符号の説明

１……ディスクドライブ装置、２……ＣＰＵ、３……ディスクコントローラ、４……スピンドルモータ、５……光ピックアップ、１６……アナログシグナルプロセッサ、１９……ＰＬＬ部、２１……ディジタルシグナルプロセッサ、２５……ＲＦシグナルプロセッサ、２５Ａ……ビタビ復号器、２５Ｂ……品質指標生成器、１００……光ディスク。

Claims (6)

1. 光ディスクに対してデータの記録及び再生を行うディスクドライブ装置において、
   上記光ディスクから再生した再生信号に対してビタビ復号を行って上記データを復号するとともに、ビタビ復号における状態遷移そのものを表現する状態データを生成するビタビ復号手段と、
   上記状態データから認識された状態遷移に対応する振幅基準値と、上記再生信号をディジタル変換することで生成された再生信号値との差分値を演算し、当該差分値に基づいて上記再生信号の品質の優劣を表す品質指標値を生成する品質指標生成手段と
   を具え、
   上記品質指標生成手段は、上記振幅基準値を所定値に固定して上記品質指標値を求めることにより、上記再生信号の振幅を表す振幅評価値を生成する
   ことを特徴とするディスクドライブ装置。
2. 上記光ディスクに対してテストデータを記録し、当該テストデータを読み出した上記再生信号についての上記振幅評価値に基づいて当該光ディスクに対する最適記録パワーを設定する記録パワー設定手段
   を具えることを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブ装置。
3. 上記記録パワー設定手段は、上記光ディスクに対して上記最適記録パワーよりも十分に低い記録パワーで上記テストデータを記録する
   ことを特徴とする請求項２に記載のディスクドライブ装置。
4. 光ディスクから再生した再生信号に対してビタビ復号を行い、当該ビタビ復号における状態遷移そのものを表現する状態データを生成するビタビ復号ステップと、
   上記状態データから認識された状態遷移に対応する振幅基準値と、上記再生信号をディジタル変換することで生成された再生信号値との差分値を演算し、当該差分値に基づいて上記再生信号の品質の優劣を表す品質指標値を生成する品質指標生成ステップと
   を具え、
   上記振幅基準値を所定値に固定して上記品質指標値を求めることにより、上記再生信号の振幅を表す振幅評価値を生成し、当該振幅評価値に基づいて当該光ディスクに対する最適記録パワーを設定する
   ことを特徴とする記録パワー設定方法。
5. 上記光ディスクに対してテストデータを記録するテストデータ記録ステップ
   を具え、
   上記テストデータを読み出した上記再生信号についての上記振幅評価値に基づいて上記最適記録パワーを設定する
   ことを特徴とする請求項４に記載の記録パワー設定方法。
6. 上記光ディスクに対して上記テストデータを上記最適記録パワーよりも十分に低い記録パワーで記録する
   ことを特徴とする請求項５に記載の記録パワー設定方法。
   

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