JP3155364B2 - 最適記録パワー決定方法及び光ディスク装置 - Google Patents

最適記録パワー決定方法及び光ディスク装置

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JP3155364B2 JP21101392A JP21101392A JP3155364B2 JP 3155364 B2 JP3155364 B2 JP 3155364B2 JP 21101392 A JP21101392 A JP 21101392A JP 21101392 A JP21101392 A JP 21101392A JP 3155364 B2 JP3155364 B2 JP 3155364B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は、光ディスク装置における最適記
録パワー決定方法及び光ディスク装置に関する。例え
ば、光カードに適用されるものである。
【0002】
【従来技術】本発明に係る従来技術を記載した公知文献
としては、例えば、特開平3−46131号公報があ
る。この公報に提案されている「光ディスク制御装置」
は、光ディスクの情報を記録するに当り、あらかじめ正
しく記録できるように記録パワーを求めておくものであ
る。すなわち、記録パワー変更手段と、基準データ記憶
手段と、基準データと再生データを比較する比較手段と
を有し、記録パワーを変更しながら基準データの記録を
行い、これを再生し、基準データとの不一致状況を検出
して最適な記録パワーを求めるものである。
【0003】一般に、光ティスク装置における記録時の
最適記録パワーは、外部環境(温度,湿度)や記録媒体
の諸条件が変化することにより異なってくる。このた
め、一定の記録パワーでは最適な記録ができなくなるた
め、前述の特開平3−46131号公報のような方法が
提案されている。
【0004】しかしながら、上記方法には次のような欠
点がある。例えば、ある所定のデータ数(仮に8Kビッ
ト)を上記方法で記録し、再生時のエラー数と記録パワ
ーをグラフにすると、図5のようになる。このようにな
った場合には、記録パワーが6mWから9mWまででほぼエ
ラーがなく記録できてしまうため、真の最適パワーが求
められない。このため、記録エリアの差などによる記録
の諸条件の変化に対して、余裕のない記録を行う恐れが
あり、信頼性に欠ける。また、使用している光ディスク
装置の最大パワーは、その中の光ピックアップに使用さ
れている半導体レーザの最大定格により制限されるの
で、場合によっては9mWの記録パワーまでしか得られな
い場合も生じる。この場合には、ほぼエラーのない記録
パワーの範囲を求め、その中程のパワーで記録するとい
うことすらできなくなる。
【0005】
【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、真の最適記録パワーを求め、そのパワーで記録
する最適記録パワー決定方法及び信頼性の高い光ディス
ク装置を提供することを目的としてなされたものであ
る。
【0006】
【構成】本発明は、上記目的を達成するために、(1)
半導体レーザからの光を光ディスク上に集光し、情報の
記録,再生あるいは消去を行う光ディスク装置における
最適記録パワー決定方法において、最適記録パワーを求
めるために用いるテストデータ生成手段と、記録パワー
可変手段と、記録されたデータの記録状態を確認する再
生信号確認手段とを有し、テストデータを記録パワーを
かえながら記録し、かつデフォーカス又は光ディスクを
傾けて再生条件を悪化させて再生し、前記再生信号確認
手段により記録状態を確認し、最適な記録パワーを決定
すること、更には、(2)前記再生条件を段階的に悪化
させること、或いは、(3)半導体レーザからの光を光
ディスク上に集光し、情報の記録,再生あるいは消去を
行う光ディスク装置において、最適記録パワーを求める
ために用いるテストデータ生成手段と記録パワー可変手
段と、記録されたデータの記録状態を確認する再生信号
確認手段と、フォーカスオフセット付加手段とから成
り、再生条件の悪化にフォーカスオフセットを持たせた
こと、或いは、(4)半導体レーザからの光を光ディス
ク上に集光し、情報の記録,再生あるいは消去を行う光
ディスク装置において、最適記録パワーを求めるために
用いるテストデータ生成手段と記録パワー可変手段と、
記録されたデータの記録状態を確認する再生信号確認手
段と、光ディスクを付ける傾斜手段とから成り、再生条
件の悪化には光ディスクを傾けるようにしたことを特徴
としたものである。以下、本発明の実施例に基づいて説
明する。
【0007】図1は、本発明による光ディスク装置の一
実施例を説明するための構成図で、図中、1は固定光学
系、2は半導体レーザ(LD)、3はカップリングレン
ズ、4はビームスプリッタ(BS)、5は発光モニタ受
光素子、6は移動光学系、7はミラー、8は対物レン
ズ、9は光ディスク、10は信号検出光学系、11はフ
ォーカス・トラック制御回路、12はフォーカスアクチ
ュエータ、13はトラックアクチュエータ、14は初段
アンプ、15は再生パワー制御回路、16は記録パワー
制御回路、17はLD駆動回路、18はスピンドルモー
タ制御回路、19はスピンドルモータ、20はシークモ
ータ制御回路、21はシークモータ、22はCPU(中
央処理装置)、23は基準データ生成回路、24はアナ
ログ信号処理回路、25は2値化回路、26は比較器で
ある。
【0008】固定光学系1内にある半導体レーザ(以
下、LDと記す)2から出射された光は、カップリング
レンズ3により平行光にされ、ビームスプリッタ(以
下、BSと記す)4により、発光モニタ受光素子5と移
動光学系6に行く光に分割される。移動光学系6に入射
された光は、ミラー7によりおり返され、対物レンズ8
により光ディスク9に集光される。光ディスク9で反射
された光は、対物レンズ8,ミラー7,BS4と逆に進
み、信号検出光学系10によりサーボ信号と再生信号が
検出される。なお、サーボ信号はフォーカス・トラック
制御回路11に入力され、フォーカスアクチュエータ1
2を動かすことにより、フォーカスサーボかトラックア
クチュエータ13を動かすことにより、トラックサーボ
が実現される。
【0009】また、BS4で発光モニタ受光素子5側へ
分けられた光は、発光モニタ受光素子5により光電変換
され、初段アンプ14を経て再生パワー制御回路15及
び記録パワー制御回路16に入力され、それぞれ制御さ
れ、LD駆動回路17を介してLD2を再生パワーまた
は記録パワーで発光させるのに用いられる。なお、光デ
ィスク9は、スピンドルモータ制御回路18により制御
されたスピンドルモータ19により回転させられ、移動
光学系6は、シークモータ制御回路20により制御され
たシークモータ21により、光ディスク9の半径方向に
移動させられる。また、各制御回路11,15,16,
17,18は、CPU22にコントロールされ、光ディ
スク9への情報の記録や再生ができるようになってい
る。
【0010】次に、最適な記録パワーを求める手順につ
いて説明する。まず、最適記録パワーを求めるための領
域(テストエリアとする)を消去し、基準データ生成回
路23より出力される基準データをある記録パワーPwn
でテストエリアに記録する。フォーカス・トラック制御
回路11をCPU22でコントロールして、記録パワー
Pwnで記録されたデータを、例えば、フォーカスオフセ
ットを持った状態に変更してからデータの再生を行う。
データの再生時は、信号検出光学系により検出された信
号をアナログ信号処理回路24を通し、2値化回路25
により2値化し、基準データ生成回路23により生成さ
れた基準データを比較器26により比較し、エラー数
(不一致数)を数える。これをPwnを変化させて実行す
ることにより、記録パワーとエラー数の相関が求められ
る。
【0011】ここで、フォーカスオフセットを持たせて
信号を再生することについて説明する。仮に、基準デー
タを 0011,1000,0101,0100 のくり返し信号とし、ま
た、真の最適パワーで記録され、かつフォーカスオフセ
ットなしで再生したときのアナログ信号処理回路24の
出力信号が図2の信号aであったとする。また、最適パ
ワーより弱いパワーで記録してフォーカスオフセットな
しで再生したときの信号をbとする。これを2値化する
と、図2の信号c,信号dのようになり、信号の品質と
しては明らかに信号cの方がよい。しかしながら、この
読み出し信号に同期させたクロックの立上りで検出する
と、それぞれ信号c,信号dはそれぞれ信号e,信号fと
なり、信号の差はなくなる。このため、図5に示したよ
うに、かなりの広い範囲での記録パワーで、エラーのほ
とんどない再生となるわけである。なお、これは信号n
のように最適パワーにより強いパワーで書かれは場合も
同様である。
【0012】次に、この最適記録パワーと最適記録パワ
ーより弱いパワーで書かれたものを考えると、図3の信
号g,信号hのようになる。すなわち、図2の信号a,信
号bと比較すると、光ディスク9上のスポットがぼけて
いる分、信号の立上り/立下りがなまり、ショートパタ
ーン(0101 …のくり返し部)では、振幅が小さくなっ
ている。特に、最適パワーより弱めで書かれたものは、
もともと0レベル側に信号が寄っており、波形が歪んで
いるため著しい振幅低下となる。このため、信号jのよ
うに正しく2値化されなくなり、エラー数が増大する。
なお、この場合、再生信号に同期すべきクロックの同期
もとれない可能性があるが、エラー数の増大になるの
で、ここでは問題にならない。また、この例では、固定
のしきい値を持った2値化の方法を前提としているが、
デフォーカスすることにより、信号振幅が小さくなるこ
とは同様なので、2値化の方法によらず、他の2値化回
路にも応用できる。
【0013】以上のように、最適記録パワーを求めると
きの再生時にデフォーカスすることで、デフォーカスし
ないときは、図5のような記録パワーとエラー数の関係
が求められるものでも、例えば図4のようになり、真の
最適パワーが求められる。
【0014】図6は、中央処理装置の動作を説明するた
めのフローチャートである。まず、最適記録パワーを求
めるための領域であるテストエリアへシークし(step
1)、次に、テストエリアを消去する(step2)。再びテ
ストエリアへシークし(step3)、記録パワーPwnを設定
する(step4)。次に、テストエリアへデータを記録し(s
tep5)、再びテストエリアへシークする(step6)。次
に、デフォーカスし(step7)、テストエリア再生とデー
タ比較を行い(step8)、デフォーカスをOFFとする(s
tep9)。次に、終了したかどうかを判断し(step10)、
終了していなければ、前記step1へ戻り、終了していれ
ば、記録パワーPwnとエラー数から最適記録パワー算出
を行う(step11)。
【0015】なお、上記実施例はフォーカスずれにより
説明したが、光ディスク9の傾きによっても同様な効果
が得られる。さらに、ある一定のデフォーカス量(また
は、光ディスクの傾き)でも、図5のようにエラーの少
ない記録パワー範囲が広くでる場合は、デフォーカス量
(または、光ディスクの傾き)をかえながら、上記動作
を行うことにより、真の最適記録パワーが得られる。
【0016】
【効果】以上の説明から明らかなように、本発明による
と、以下のような効果がある。 (1)請求項1においては、記録状態の確認に再生条件
を悪化させているので、記録可能と判定される記録パワ
ー範囲が狭くなるので、より正確な最適記録パワーが求
められ、信頼性の高い光ディスク装置が得られる。 (2)請求項2においては、段階的に再生条件を悪化さ
せているので、確認な最適記録パワーの検出ができると
ともに、急激なオフセット付加や光ディスクの傾きによ
りフォーカスはずれ等を起すことなく、上記検出が可能
となる。 (3)請求項3においては、フォーカス検出のための受
光素子の組付時の誤差や回路のオフセットによるフォー
カスオフセットを除去するための回路と回路を共有化
し、記録状態の確認のときは、オフセットを加えること
も可能なので、回路規模を大きくすることなく、信頼性
の高い光ディスクが得られる。 (4)請求項4においては、光ディスクの傾きを変える
ことにより、再生条件の悪化をしているので、フォーカ
スはずれのおそれがなく、最適記録条件の検出が可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による光ディスク装置の一実施例を説
明するための構成図である。
【図2】 本発明によるフォーカスオフセットを持たせ
て信号を再生するための信号処理を示す図である。
【図3】 本発明による最適記録パワーとそれより弱い
パワーで書かれた場合の信号処理を示す図である。
【図4】 本発明による真の最適パワーを示す図であ
る。
【図5】 本発明によるエラーのほとんどない記録パワ
ーを示す図である。
【図6】 本発明の中央処理装置の動作を説明するため
のフローチャートである。
【符号の説明】
1…固定光学系、2…半導体レーザ(LD)、3…カッ
プリングレンズ、4…ビームスプリッタ(BS)、5…
発光モニタ受光素子、6…発光モニタ受光素子、7…ミ
ラー、8…対物レンズ、9…光ディスク、10…信号検
出光学系、11…フォーカス・トラック制御回路、12
…フォーカスアクチュエータ、13…トラックアクチュ
エータ、14…初段アンプ、15…再生パワー制御回
路、16…記録パワー制御回路、17…LD駆動回路、
18…スピンドルモータ制御回路、19…スピンドルモ
ータ、20…シークモータ制御回路、21…シークモー
タ、22…CPU(中央処理装置)、23…基準データ
生成回路、24…アナログ信号処理回路、25…2値化
回路、26…比較器。

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザからの光を光ディスク上に
    集光し、情報の記録,再生あるいは消去を行う光ディス
    ク装置における最適記録パワー決定方法において、最適
    記録パワーを求めるために用いるテストデータ生成手段
    と、記録パワー可変手段と、記録されたデータの記録状
    態を確認する再生信号確認手段とを有し、テストデータ
    を記録パワーをかえながら記録し、かつ、デフォーカス
    又は光ディスクを傾けて再生条件を悪化させて再生し、
    前記再生信号確認手段により記録状態を確認し、最適な
    記録パワーを決定することを特徴とする最適記録パワー
    決定方法。
  2. 【請求項2】 前記再生条件を段階的に悪化させること
    を特徴とする請求項1記載の最適記録パワー決定方法。
  3. 【請求項3】 半導体レーザからの光を光ディスク上に
    集光し、情報の記録,再生あるいは消去を行う光ディス
    ク装置において、最適記録パワーを求めるために用いる
    テストデータ生成手段と記録パワー可変手段と、記録さ
    れたデータの記録状態を確認する再生信号確認手段と、
    フォーカスオフセット付加手段とから成り、再生条件の
    悪化にフォーカスオフセットを持たせたことを特徴とす
    る光ディスク装置。
  4. 【請求項4】 半導体レーザからの光を光ディスク上に
    集光し、情報の記録,再生あるいは消去を行う光ディス
    ク装置において、最適記録パワーを求めるために用いる
    テストデータ生成手段と記録パワー可変手段と、記録さ
    れたデータの記録状態を確認する再生信号確認手段と、
    光ディスクを付ける傾斜手段とから成り、再生条件の悪
    化には光ディスクを傾けるようにしたことを特徴とする
    光ディスク装置。
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