JP2010517314A - 基板のエッチング方法及び装置 - Google Patents
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- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 251
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 242
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 17
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 9
- 150000004673 fluoride salts Chemical class 0.000 claims description 7
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 3
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 85
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 12
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/30604—Chemical etching
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
- H01L21/0201—Specific process step
- H01L21/02019—Chemical etching
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67063—Apparatus for fluid treatment for etching
- H01L21/67075—Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching
- H01L21/67086—Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
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- Computer Hardware Design (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
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Abstract
【課題】 基板のエッチング方法と装置を提供すること。
【解決手段】 まず、エッチング液の収容されたバスに基板をディッピングして前記基板をエッチングする。その後、前記エッチング液に渦流を形成して前記基板に前記渦流を有するエッチング液を提供し、前記基板のエッチング状態を調節する。ここで、前記エッチング液を一定方向に攪拌して前記エッチング液に渦流を形成して前記基板に渦流を有するエッチング液を提供して前記基板のエッチング状態を調節する。これによって、渦流を有するエッチング液を用いてエッチング工程を行うと、反応副産物による影響を十分減少させかつ均一なエッチングが可能である。
【選択図】図1
【解決手段】 まず、エッチング液の収容されたバスに基板をディッピングして前記基板をエッチングする。その後、前記エッチング液に渦流を形成して前記基板に前記渦流を有するエッチング液を提供し、前記基板のエッチング状態を調節する。ここで、前記エッチング液を一定方向に攪拌して前記エッチング液に渦流を形成して前記基板に渦流を有するエッチング液を提供して前記基板のエッチング状態を調節する。これによって、渦流を有するエッチング液を用いてエッチング工程を行うと、反応副産物による影響を十分減少させかつ均一なエッチングが可能である。
【選択図】図1
Description
本発明は、基板のエッチング方法及び装置に係り、より詳細には半導体基板、ガラス基板などのような基板をエッチングする方法及び装置に関する。
一般的に、半導体メモリ素子、平板ディスプレイ素子などのような集積回路素子の製造においては、薄板化、パターン化などのためのエッチング工程を行っている。即ち、集積回路素子の製造においては、半導体メモリ素子に製造するための半導体基板、平板ディスプレイ素子に製造するためのガラス基板などの厚さを薄くする薄板化、設定されたパターン構造を形成するパターン化などのようなエッチング工程を行う。
具体的には、薄板化のためのエッチング工程は主に化学機械的研磨、湿式エッチングなどを行って達成し、パターン化のためのエッチング工程は主に湿式エッチングなどを行って達成する。
しかし、化学機械的研磨を行って薄板化する場合には、修得する基板の表面状態が良好でないため、望ましくない。
そして、化学機械的研磨を行って薄板化する場合には、一枚ずつ工程が行われ、薄板化の遂行による工程速度が顕著に遅いため、生産性が良好でない結果をもたらす。また、湿式エッチングを行って薄板板する場合には、基板全面に対する均一なエッチングが行われないため、望ましくない。なお、湿式エッチングを行ってパターン化する場合には、反応副産物などがパターン化の行われる基板の表面に吸着される状況が頻繁に発生するため、望ましくない。
このため、薄板化またはパターン化のための湿式エッチングにおいては、バブル方式、スプレイ方式などを併せて行っている。
まず、バブル方式の湿式エッチングは、窒素、空気などを用いてエッチング液をバブリングさせることであって、バブリングさせたエッチング液を提供することによって基板の全面に対する均一なエッチングを達成している。ここで、バブリングさせたエッチング液を基板の全面に提供することは、小さい直径または面積を有する基板である場合には可能であるかもしれないが、多少大きい直径または面積を有する基板である場合には無理である。そのため、バブル方式の湿式エッチングを行っても基板の全面に対する均一なエッチングを達成できない問題点がある。また、バブル方式の湿式エッチングにおいては、バブルそのものによってエッチングが行われる基板表面に波跡が頻繁に生成される状況が発生することもある。
まず、バブル方式の湿式エッチングは、窒素、空気などを用いてエッチング液をバブリングさせることであって、バブリングさせたエッチング液を提供することによって基板の全面に対する均一なエッチングを達成している。ここで、バブリングさせたエッチング液を基板の全面に提供することは、小さい直径または面積を有する基板である場合には可能であるかもしれないが、多少大きい直径または面積を有する基板である場合には無理である。そのため、バブル方式の湿式エッチングを行っても基板の全面に対する均一なエッチングを達成できない問題点がある。また、バブル方式の湿式エッチングにおいては、バブルそのものによってエッチングが行われる基板表面に波跡が頻繁に生成される状況が発生することもある。
そして、スプレイ方式の湿式エッチングとは、ノズル、ナイフなどを用いてエッチング液を基板そのものに直接噴射することであって、エッチング液を噴射することによって基板の表面に反応副産物が吸着されることを防止する。しかし、循環するエッチング液をノズル、ナイフなどを通じて噴射する場合には、反応副産物そのものがノズル、ナイフなどの噴射ホールをふさぐ状況が頻繁に発生するため、望ましくない。なお、副産物そのものがノズル、ナイフなどの噴射ホールをふさぐ状況を解決するための一環として噴射圧力を高くする場合には、基板そのものに損傷を加えるため、望ましくない。そのため、スプレイ方式の湿式エッチングを行っても基板の全面に対する均一なエッチングまたは設定されたパターン化を容易に達成できないという問題点がある。
また、スプレイ方式の湿式エッチングにおいては、噴射されるエッチング液の跡、即ち、放射線状の跡が基板の表面に転写される状況が頻繁に発生する。なお、装置的側面からもノズル、ナイフなどのような部材を含むため、エッチングの行われる十分な空間を必要とし、その結果、複数枚の基板を対象に工程を行うには現実的に無理である。
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の第1目的とするところは、反応副産物による影響を十分に減少させ、かつ均一なエッチングの可能な基板のエッチング方法を提供することにある。
本発明の第2目的は、前述した基板のエッチング方法を容易に行うことのできる基板エッチング装置を提供することにある。
本発明の第2目的は、前述した基板のエッチング方法を容易に行うことのできる基板エッチング装置を提供することにある。
前記第1目的を達成するための本発明の望ましい実施例による基板のエッチング方法は、エッチング液の収納されたバスに基板をディッピングして前記基板をエッチングする。そして、前記エッチング液に渦流を形成し、前記基板に前記渦流を有するエッチング液を提供して前記基板のエッチング状態を調節する。
ここで、前記渦流は、前記バスの内部にディッピングされた基板を固定させた状態で、前記バスの内部で前記エッチング液を一定方向に攪拌して形成することが望ましく、前記固定させた状態における基板のエッチング面に向う部位で前記エッチング液を一定方向に攪拌して形成することがより望ましく、前記固定させた状態における基板のエッチング面に向う部位で前記基板のエッチング面を基準にして上下または左右に前記エッチング液を攪拌して形成することが更に望ましい。
また、前記渦流は、前記基板の全面を対象にして形成することが望ましい。
また、前記基板は、ガラス基板を含み、前記エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩、またはこれらの混合物を含むことが望ましく、硫酸、界面活性剤、またはこれらの混合物を更に含むことがより望ましい。
また、前記基板は、ガラス基板を含み、前記エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩、またはこれらの混合物を含むことが望ましく、硫酸、界面活性剤、またはこれらの混合物を更に含むことがより望ましい。
そして、前記渦流は、前記エッチング液の中で、棒構造を有する 物体を一定方向に攪拌して、前記棒構造を有する物体の後端に相互反対方向の渦が交互に現れ、規則的に2列に並ぶカルマン渦であることが望ましい。
前記第2目的を達成するための本発明の望ましい実施例による基板のエッチング装置は、エッチング液を収容するバスと、前記エッチング液を一定方向に攪拌して前記エッチング液に渦流を形成し、前記基板に渦流を有するエッチング液を提供して前記基板のエッチング状態を調節する渦流形成部と、を含む。
ここで、前記渦流形成部は、前記基板と接触しないよう基板のエッチング面に向う部位に設置され、前記基板のエッチング面を基準にして上下または左右に動きうる棒を含むことが望ましく、前記棒と連結され、前記棒に前記基板のエッチング面を基準にして上下または左右に動きうる駆動力を提供する駆動部を更に含むことがより望ましい。
また、前記バスは、前記エッチング液を収容する内部バスと前記内部バスからオーバーフローされるエッチング液を収容する外部バスを含むことが望ましい。特に、前記バスが前記内部バスと外部バスを含む場合、前記外部バスから前記内部バスに前記エッチング液を循環させる循環ラインを含むことが望ましい。この際、前記循環ラインには、前記循環の行われるエッチング液に含まれた反応副産物をフィルタリングするフィルタ、前記エッチング液を臨時保存するバッファタンク、及び前記エッチング液を強制的に循環させるためのポンピングを行うポンプが設置されることが望ましい。
なお、前記バスに複数枚の基板がディッピングされる場合、前記渦流形成部は、複数枚の基板の間ごとに位置することが望ましい。そして、前記渦流形成部が複数枚の基板の間ごとに位置するとき、前記渦流形成部は、それぞれが相互連結された構造を有し、前記基板のエッチング面を基準にして、同時に上下または左右に動いて前記複数枚の基板それぞれに渦流を有するエッチング液を提供することが望ましい。
また、前記基板はガラス基板を含み、前記エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩、またはこれらの混合物を含むことが望ましく、 前記エッチング液は、硫酸、界面活性剤、またはこれらの混合物を更に含むことが望ましい。
このように、本発明の基板のエッチング方法及び装置によると、バスに収容されたエッチング液に渦流を有するように形成してこれを基板のエッチング面に提供する。これによって、本発明の基板のエッチング方法及び装置を集積回路素子などのエッチング工程に適用すると、反応副産物による影響を十分減少させかつ均一なエッチングが可能である。
以下に添付図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。本発明は多様に変更することができ、多様な形態を有することができるが、特定の実施形態のみを図面に例示して本文に詳細に説明する。しかし、これは、本発明を特定の開示形態に限定するのではなく、本発明の思想及び技術範囲に含まれる全ての変更、均等物、乃至代替物を含むことを理解すべきである。各図面を説明しながら類似の参照符号を類似の構成要素に対して付与した。図面において、構造物の寸法は本発明の明確性のために実際より拡大して示した。
第1、第2等の用語は、多様な構成要素を説明するために使用することができるが、構成要素は用語によって限定されない。用語は一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的でのみ使用される。例えば、本発明の権利範囲から逸脱することなしに、第1構成要素は第2構成要素と称されてもよく、同様に第2構成要素も第1構成要素と称されてもよい。
ある構成要素が他の構成要素に「連結」されているか「接続」されていると言及されたときには、他の構成要素に直接的に連結されているか或いは接続されていることもあるが、それらの中間に更に他の構成要素が存在することもある。反面、ある構成要素が他の構成要素に「直接連結」されているか「直接接続」されていると言及しているときには、中間に更に他の構成要素が存在しないものと理解すべきである。構成要素との関係を説明する他の表現、即ち、「〜の間に」と「〜の間にすぐ」、「〜に隣接する」と「〜にすぐ隣接する」なども同様に理解すべきである。そして、図面において、基板、バス、渦形成部などは、それらの明確性を期するために多少誇張されたものである。
第1、第2等の用語は、多様な構成要素を説明するために使用することができるが、構成要素は用語によって限定されない。用語は一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的でのみ使用される。例えば、本発明の権利範囲から逸脱することなしに、第1構成要素は第2構成要素と称されてもよく、同様に第2構成要素も第1構成要素と称されてもよい。
ある構成要素が他の構成要素に「連結」されているか「接続」されていると言及されたときには、他の構成要素に直接的に連結されているか或いは接続されていることもあるが、それらの中間に更に他の構成要素が存在することもある。反面、ある構成要素が他の構成要素に「直接連結」されているか「直接接続」されていると言及しているときには、中間に更に他の構成要素が存在しないものと理解すべきである。構成要素との関係を説明する他の表現、即ち、「〜の間に」と「〜の間にすぐ」、「〜に隣接する」と「〜にすぐ隣接する」なども同様に理解すべきである。そして、図面において、基板、バス、渦形成部などは、それらの明確性を期するために多少誇張されたものである。
図1は、本発明の一実施例による基板エッチング装置を示す概略的な構成図である。
図1を参照すると、本発明の一実施例による基板エッチング装置100であって、主に湿式エッチングを行う装置を示す。
図1を参照すると、本発明の一実施例による基板エッチング装置100であって、主に湿式エッチングを行う装置を示す。
具体的に、基板エッチング装置100は、基板12をエッチングするためのエッチング液を収容するバス10を含む。そして、基板12は、メモリ素子として製造するための半導体基板、平板ディスプレイ素子として製造するためのガラス基板などを含む。しかし、本発明の一実施例では、基板12の例として平板ディスプレイ素子として製造するためのガラス基板を挙げる。なお、基板エッチング装置100を用いて基板12を対象として行われるエッチング工程は、薄板化のためのエッチング工程と、パターン化のためのエッチング工程との両方を含むことができる。
よって、本発明の一実施例におけるエッチング液の例としては、フッ酸、フッ化物塩などを挙げることができる。また、エッチング液は、硫酸、界面活性剤などを更に含むことができる。また、これらを単独に用いるか或いは混合して用いることができる。即ち、本発明の一実施例では、フッ酸、フッ化物塩、これらの混合物などを主エッチング液として用い、硫酸、界面活性剤、これらの混合物などを補助エッチング液として用いる。
そして、基板エッチング装置100を用いた基板12のエッチングにおいては、バス10内に収容されたエッチング液をオーバーフローさせる方式に選択する。これは、基板をエッチングするとき、バス10内に収容されたエッチング液の円滑な循環を図るためである。そのため、バス10は、エッチング液を収容する内部バス10aと、内部バス10aの上側を囲むように形成され、内部バス10aからオーバーフローされるエッチング液を収容する外部バス10bを含む。
なお、本発明の一実施例による基板エッチング装置100は、バス10内に収容されたエッチング液を一定方向に攪拌して渦流を形成するための渦流形成部15を含む。
具体的に、渦流形成部15は、エッチング液にディッピングされた基板12のエッチング面に向う部位に設置される。そして、渦流形成部15は、基板12のエッチング面を基準にして上下または左右に動きうるように形成される。即ち、渦流形成部15は、基板12のエッチング面を基準にして上下方向または左右方向にエッチング液を攪拌してエッチング液に渦流を形成することである。
特に、本発明の一実施例では、基板12のエッチング面を基準に上下に動きうるように渦流形成部15を設置する。そして、基板12のエッチング面を基準に左右に動きうる渦流形成部については後述する。しかし、渦流形成部15が一定方向にエッチング液を攪拌するとき、基板12と接触する場合には、基板12そのものを損傷させるおそれがある。そのため、渦流形成部15は、基板12と接触しないよう設置されることが望ましい。この際、渦流形成部15は、基板12と約1mm未満の距離を有するよう設置される場合には、渦流形成部15の動きによって基板12と接触しうる確率が高いため望ましくなく、基板12と約20mmを超過する距離を有するように設置される場合にはエッチング液が有する渦流の特性が低下するため、望ましくない。よって、本発明の一実施例では、渦流形成部15が基板12と約1〜20mmの距離を有するよう設置することが望ましく、約3〜10mmの距離を有するように設置することがより望ましい。
また、渦流形成部15は、基板12を固定させた状態で、上下に動くように設置する。即ち、基板12そのものが動くことにしたがってエッチング液を攪拌して渦流を形成するのではなく、基板12を固定させた状態で、渦流形成部15そのものがエッチング液を一定方向、即ち、基板12のエッチング面を基準に上下方向に攪拌して渦流を形成するのである。これは、基板12そのものが動く場合、基板12そのものに損傷を与えるためであり、特に相対的に大きい直径または大きい面積を有する基板12そのものを動いて渦流を有するエッチング液を形成する場合にはより深刻な損傷を与えるためである。
なお、渦流形成部15は、基板12のエッチング面を基準に上下または左右に動くとき、基板12の全面を対象とする。即ち、基板12の一端部から基板12の他端部まで動くのである。これは、基板12の全面に対して渦流を有するエッチング液を提供するためである。
渦流形成部15は、基板12のエッチング面を基準に上下に動いてエッチング液を攪拌しうる棒13aを含むことが望ましい。しかし、渦流形成部15を棒13a単独に具備し、これを人為的に動かせる場合には、持続的かつ一定な速度を有する動きが提供不可能であるため、望ましくない。そのため、渦流形成部15は、棒13aと連結され、棒13aに基板12のエッチング面を基準に上下に動きうる駆動力を提供する駆動部14aを更に含む。ここで、駆動部14aは、ギア、プーリーなどが連結されたエアシリンダ、モータなどを含んでもよい。
また、渦流形成部15で、棒13aは、エッチング液を攪拌するとき、その動きが制限的でないなら、円形、楕円形、四角形、六角形などの多様な断面形態を有することができる。
なお、渦流形成部15は、基板12のエッチング面に向うように設置されるものの、バス10に複数枚の基板12がディッピングされる場合には、複数枚の基板12間ごとに位置するよう設置することが望ましい。即ち、図1に示すように、複数枚の基板12の間ごとに位置するように設置される。しかし、本発明の一実施例による基板エッチング装置100の場合には、バス10にディッピングされる基板12の枚数に制限はない。即ち、バス10の容量によってディッピングされる基板12の枚数を決定し、これに基づいて渦流形成部15の個数を決定すると特別な無理はない。
そして、前述したように、渦流形成部15が複数枚の基板12の間ごとに位置するように設置されることは、即ち、渦流形成部15としての棒13aが基板の間ごとに位置するように設置されることを意味する。なお、棒13aのそれぞれが基板12の間ごとに位置するように設置されても、駆動部14aは単一構造で構成されるのが望ましい。即ち、渦流形成部15で棒13aは基板12の間ごとに位置するように設置されても単一構造を有する駆動部14aと連結されるのである。そのため、棒13aが基板12の間ごとに位置するように設置されても棒13aは全体的に同一に動く。しかし、渦流形成部15では、棒13aそれぞれが、それぞれ具備される駆動部14aと連結されてもエッチング液を一定方向に攪拌して渦流を形成することが十分可能である。ただし、棒13aそれぞれが、それぞれ具備される駆動部14aと連結される場合には、装置の構成が多少複雑となるため望ましくない。
なお、図示していないが、バス10に収容されたエッチング液に基板12をディッピングさせる時には、主に基板を垂直に位置させる。この際、バス10に収容されたエッチング液にディッピングされる基板12は複数枚で構成される。即ち、基板12のディッピングは、一枚ずつの単位ではない複数枚の基板12を積載したカセット単位で構成される。そのため、基板12のディッピングは主に25枚または50枚がともに行われるのである。なお、一枚ずつ基板12のディッピングが行われる場合には、バス10の底面に基板12の収容が可能なスリットを備えてもよい。
このように、本発明の一実施例による基板エッチング装置100は、棒13a及び駆動部14aを含む渦流形成部15を備える。そのため、本発明の一実施例による基板エッチング装置100は、持続的かつ一定の速度を有する動きをエッチング液に提供し、エッチング液を一定方向に攪拌して渦流を有するエッチング液をバス10の内部、即ちエッチング液にディッピングされた基板12に提供することができる。
そして、本発明の一実施例による基板エッチング装置は、エッチング液を外部バス10bから内部バス10aに循環させる循環ライン16を更に含むことが望ましい。これは、エッチング液の再使用を図るためであり、これによって基板エッチング装置100を用いた基板12のエッチングにおける価格競争力を確保するためである。前述したように、基板エッチング装置100が循環ライン16を更に含む場合、循環ライン16には循環の行われるエッチング液をフィルタリングするフィルタ18、循環の行われるエッチング液を臨時保存するバッファタンク20、及びエッチング液を強制に循環させるためのポンピングを行うポンプ22を設置することが望ましい。フィルタ18は、循環が行われるエッチング液に残留する反応副産物を除去するために設置され、バッファタンク20は、循環の行われるエッチング液の円滑な循環を図るために設置される。特に、フィルタ18、バッファタンク20、及びポンプ22それぞれはエッチング液の循環を基準に連続的に設置されることが望ましい。しかし、フィルタ18、バッファタンク20、及びポンプ22それぞれの設置順序は制限されない。
このように本発明の一実施例による基板エッチング装置100は、エッチング液を一定方向に攪拌して渦流を有するエッチング液を形成し、これをバス10にディッピングされた基板12に提供して基板12をエッチングする。特に、エッチング液全体を対象に渦流を形成するため、基板12の全面に均一に渦流を有するエッチング液を提供することができる。そのため、本発明の一実施例による基板エッチング装置100を用いる場合には基板12全面に対してより均一なエッチングが可能であり、更に基板12の表面に反応副産物が吸着されることを十分減少させることができる。
前述した本発明の一実施例による基板エッチング装置100は、渦流形成部15が基板12のエッチング面を基準に上下に動く構造を有する。しかし、本発明の他の実施例による基板エッチング装置200は、図2に示すように基板12のエッチング面を基準に左右に動く構造を有する渦流形成部15を含むこともできる。即ち、図2での基板エッチング装置200に含まれる渦流形成部15は、基板12のエッチング面を基準に左右(図2の正面を基準にする場合には、前後方向)に動く構造を有する。そして、本発明の他の実施例による基板エッチング装置200の渦流形成部15も棒13b及び駆動部14bを含む。なお、本発明の他の実施例による基板エッチング装置200は、渦流形成部15が動く方向を除いて前述した本発明の一実施例による基板エッチング装置100と同一の構造を有するため、重複する説明は省略する。
また、前述した本発明の一実施例による基板エッチング装置100は、バス10に基板12を垂直方向にディッピングさせる構造を有する。しかし、図示していないが、更に他の実施例による基板エッチング装置はバスに基板を水平方向にディッピングさせる構造を有することができる。但し、この場合には渦流形成部が上下に動くことはバスにディッピングされる基板と重複するため望ましくない。そのため、更に他の実施例による基板エッチング装置のように水平方向に基板がバスにディッピングされる場合には渦流形成部が左右に動くことが望ましい。
このように、前述した本発明の実施例によると、基板エッチング装置(100、200)は、基板12を対象にするエッチングを行うとき、渦流を有するエッチング液を形成し、これを基板12のエッチング面に提供する。特に、渦流形成部15を用いて基板12全面に渦流を有するエッチング液を提供する。そのため、言及した本発明の実施例による基板エッチング装置(100、200)を用いて基板12を対象とするエッチングを行うと全体的に均一なエッチングが可能であり、更に、渦流の提供によって基板12の表面にエッチングによる反応副産物が吸着されることを十分減少させることができる。
以下、前述した本発明の一実施例による基板エッチング装置100を用いて基板12をエッチングする方法について説明する。
まず、エッチング液の収容されたバス10を用意する。ここで、エッチング液は、バス10にディッピングされる対象物である基板12の種類によって相違する。しかし、前述したように、本発明の一実施例によると、バス10にディッピングされる対象物である基板12をガラス基板に限定する場合、エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩などを挙げることができる。これらは単独に用いるか或いは混合して用いてもよい。なお、エッチング液は、硫酸、界面活性剤などを更に含むことができる。これらもまた、単独または混合して用いることができる。
まず、エッチング液の収容されたバス10を用意する。ここで、エッチング液は、バス10にディッピングされる対象物である基板12の種類によって相違する。しかし、前述したように、本発明の一実施例によると、バス10にディッピングされる対象物である基板12をガラス基板に限定する場合、エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩などを挙げることができる。これらは単独に用いるか或いは混合して用いてもよい。なお、エッチング液は、硫酸、界面活性剤などを更に含むことができる。これらもまた、単独または混合して用いることができる。
この際、バス10に収容されるエッチング液は、その温度が約20℃未満であると、エッチングによる効率性が低下するため望ましくなく、約50℃を超過すると、エッチング速度などのような工程制御が容易でないため望ましくない。そのため、バス10に収容されるエッチング液は約20℃〜50℃の温度を有するように調整する。
このように、エッチング液の収容されたバス10を用意した後、基板12をディッピングさせる。そうすると、基板12を対象とするエッチングが行われる。そして、バス10にディッピングされる基板12の枚数は制限されない。即ち、バス10の容量、工程条件などによってバス10にディッピングされる基板12の枚数を決定すればよい。しかし、前述したように、バス10にディッピングされる基板12の枚数は主にカセット単位で決定されることが望ましい。
しかし、前述したように、エッチング液の収容されたバス10に基板12をディッピングさせる方法によって基板12をエッチングする場合には、エッチングによる均一性を十分に確保できないだけでなく、エッチングの行われる基板12の表面に反応副産物が吸着されることを十分防止できない状況が頻繁に発生する。
そこで、本発明の一実施例では、渦流形成部15を用いてエッチング液に渦流を形成する。
具体的には、渦流形成部15の駆動部14aを用いて駆動部14aと連結された渦流形成部15の棒13aを動かす。この際、棒13aは、前述したように一定方向にエッチング液を攪拌するように動かす。特に、渦流形成部15は、バス10にディッピングされた基板12のエッチング面に向かう部位でエッチング液を一定方向に攪拌できるよう動かす。そして、渦流を形成するための渦流形成部15が動く一定方向は、基板12のエッチング面を基準に上下方向または左右方向を含み、本発明の一実施例では、上下方向を一例にしている。しかし、本発明の他の実施例としては左右方向を例に挙げることもできる。また、渦流を形成するための渦流形成部15の動きは基板12の一端側から基板12の他端側までである基板12の全面を対象とする。
具体的には、渦流形成部15の駆動部14aを用いて駆動部14aと連結された渦流形成部15の棒13aを動かす。この際、棒13aは、前述したように一定方向にエッチング液を攪拌するように動かす。特に、渦流形成部15は、バス10にディッピングされた基板12のエッチング面に向かう部位でエッチング液を一定方向に攪拌できるよう動かす。そして、渦流を形成するための渦流形成部15が動く一定方向は、基板12のエッチング面を基準に上下方向または左右方向を含み、本発明の一実施例では、上下方向を一例にしている。しかし、本発明の他の実施例としては左右方向を例に挙げることもできる。また、渦流を形成するための渦流形成部15の動きは基板12の一端側から基板12の他端側までである基板12の全面を対象とする。
ここで、渦流形成部15を用いて形成する渦流は、図3に示したように、エッチング液の中で渦流形成部15を一定方向に攪拌して渦流形成部16の後端に互いに反対方向の渦が交互に発生して規則的に2列に並ぶカルマン渦を含む。
なお、エッチング液を攪拌するとき、渦流形成部15が動く速度が約10mm/sec未満であると、エッチング液に十分な渦流が形成できないため望ましくなく、約1000mm/secを超過すると、渦流形成部15そのものに無理が加えられ、渦流を有するエッチング液の速い流れによってエッチングの行われる基板に損傷を与える恐れがあり、更に波跡などを残すおそれがあるため、望ましくない。したがって、本発明の一実施例によるエッチングにおいて渦流形成部15の動く速度は約10〜1000mm/secであることが望ましく、約10〜200mm/secであることがより望ましく、約50〜150mm/secであることが更に望ましい。
このように、渦流形成部15を用いてエッチング液を一定方向に攪拌してエッチング液に渦流を形成し、これを基板12のエッチング面に提供する。そうすると、バス10にディッピングされてエッチングの行われる基板12のエッチング状態が十分に調節される。即ち、エッチング液の収容されたバス10に基板12をディッピングさせて基板12を対象とするエッチングを行うとき、渦流形成部15を用いてエッチング液に渦流を有するようにすることで、均一なエッチングのみならずエッチングによって生成される反応副産物が基板12の表面に吸着される状況を十分減少させることができるのである。即ち、エッチング液に渦流を形成し、これを基板12に提供することによって、バス10にディッピングされてエッチングの行われる基板12のエッチング均一度、反応副産物の吸着防止などのようなエッチング状態を十分に調節するのである。
なお、前述した基板12のエッチングでは、エッチング液が継続オーバーフローされ、循環する構造を有する。即ち、エッチング液は、内部バス10aから外部バス10bにオーバーフローされ、外部バス10bと連結された循環ライン16を通じて再び内部バス10bに循環が行われる。特に、エッチング液の循環過程では、フィルタ18によってエッチング液に含まれる反応副産物などがフィルタリングされ、バッファタンク20でエッチング液の流量が適切に調整される。なお、ポンプ22を用いるためエッチング液の循環が容易に行われる。
前述したように、本発明の一実施例による基板12のエッチングでは、基板12をエッチング液の収容されたバス10に単純にディッピングさせるのではなく、渦流形成部15を用いてエッチング液に渦流を形成し、これを基板12のエッチングに用いることで基板12のエッチングによるエッチング状態を十分調節することができる。
特に、本発明の一実施例による基板12のエッチングは、図4に示した薄板化のための基板12の全面エッチング、図5に示したパターン化のための基板12の部分エッチングの両方に適用することができる。
本発明の基板のエッチング方法及び装置によると、バスに収容されたエッチング液に渦流を有するように形成され、これを基板のエッチングに用いる。よって、本発明の基板のエッチング方法及び装置をエッチング工程に適用すると、反応副産物による影響を十分減少させかつ均一なエッチングが可能である。
そのため、本発明の方法及び装置はエッチング工程による生産性の向上と信頼性の向上の両方を期待することができる。
そのため、本発明の方法及び装置はエッチング工程による生産性の向上と信頼性の向上の両方を期待することができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範囲内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
10 バス
12 基板
15 渦流形成部
16 循環ライン
18 フィルタ
20 バッファタンク
22 ポンプ
12 基板
15 渦流形成部
16 循環ライン
18 フィルタ
20 バッファタンク
22 ポンプ
Claims (17)
- エッチング液の収容されたバスに基板をディッピングして前記基板をエッチングする段階と、
前記エッチング液に渦流を形成して前記基板に前記渦流を有するエッチング液を提供して前記基板のエッチング状態を調節する段階と、を含むことを特徴とする基板のエッチング方法。 - 前記渦流は、前記バスの内部にディッピングされた基板を固定させた状態で、前記バスの内部で前記エッチング液を一定方向に攪拌して形成することを特徴とする請求項1に記載の基板のエッチング方法。
- 前記渦流は、前記固定させた状態における基板のエッチング面に向う部位で前記エッチング液を一定方向に攪拌して形成することを特徴とする請求項2に記載の基板のエッチング方法。
- 前記渦流は、前記固定させた状態における基板のエッチング面に向う部位で前記基板のエッチング面を基準にして上下または左右に前記エッチング液を攪拌して形成することを特徴とする請求項3に記載の基板のエッチング方法。
- 前記渦流は、前記基板の全面を対象にして形成することを特徴とする請求項1に記載の基板のエッチング方法。
- 前記基板は、ガラス基板を含み、前記エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩、またはこれらの混合物を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板のエッチング方法。
- 前記エッチング液は、硫酸、界面活性剤、またはこれらの混合物を更に含むことを特徴とする請求項6に記載の基板のエッチング方法。
- 前記渦流は、前記エッチング液の中で、棒構造を有する物体を一定方向に攪拌して、前記棒構造を有する物体の後端に相互反対方向の渦が交互に発生し、規則的に2列に並ぶカルマン渦であることを特徴とする請求項1に記載のエッチング方法。
- エッチング液を収容するバスと、
前記エッチング液を一定方向に攪拌して前記エッチング液に渦流を形成して、前記基板に渦流を有するエッチング液を提供して前記基板のエッチング状態を調節する渦流形成部と、を含むことを特徴とする基板のエッチング装置。 - 前記渦流形成部は、前記基板と接触しないよう基板のエッチング面に向う部位に設置され、前記基板のエッチング面を基準にして上下または左右に動きうる棒を含むことを特徴とする請求項9に記載の基板のエッチング装置。
- 前記渦流形成部は、前記棒と連結され、前記棒に前記基板のエッチング面を基準にして上下または左右に動きうる駆動力を提供する駆動部を更に含むことを特徴とする請求項10に記載の基板のエッチング装置。
- 前記渦流は、前記基板の全面を対象にして形成することを特徴とする請求項9に記載の基板のエッチング装置。
- 前記バスは、前記エッチング液を収容する内部バスと前記内部バスからオーバーフローされるエッチング液を収容する外部バスを含み、
前記バスが前記内部バスと外部バスを含む場合、
前記外部バスから前記内部バスに前記エッチング液を循環させる循環ラインを含み、
前記循環ラインには、前記循環の行われるエッチング液に含まれた反応副産物をフィルタリングするフィルタ、前記エッチング液を臨時保存するバッファタンク、及び前記エッチング液を強制に循環させるためのポンピングを行うポンプが設置されることを特徴とする請求項9に記載の基板のエッチング装置。 - 前記バスに複数枚の基板がディッピングされる場合、
前記渦流形成部は、複数枚の基板の間ごとに位置することを特徴とする請求項9に記載の基板のエッチング装置。 - 前記渦流形成部が複数枚の基板の間ごとに位置するとき、
前記渦流形成部は、それぞれが相互連結された構造を有し、前記基板のエッチング面を基準にして、同時に上下または左右に動いて前記複数枚の基板それぞれに渦流を有するエッチング液を提供することを特徴とする請求項14に記載の基板のエッチング装置。 - 前記基板はガラス基板を含み、前記エッチング液は、フッ酸、フッ化物塩、またはこれらの混合物を含むことを特徴とする請求項9に記載の基板のエッチング装置。
- 前記エッチング液は、硫酸、界面活性剤、またはこれらの混合物を更に含むことを特徴とする請求項16に記載のエッチング装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20070009933A KR100855541B1 (ko) | 2007-01-31 | 2007-01-31 | 기판의 식각 방법 및 장치 |
PCT/KR2008/000496 WO2008093969A1 (en) | 2007-01-31 | 2008-01-28 | Method and apparatus for etching a substrate |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010517314A true JP2010517314A (ja) | 2010-05-20 |
Family
ID=39674233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009548148A Pending JP2010517314A (ja) | 2007-01-31 | 2008-01-28 | 基板のエッチング方法及び装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010517314A (ja) |
KR (1) | KR100855541B1 (ja) |
TW (1) | TW200832539A (ja) |
WO (1) | WO2008093969A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012046770A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 基板の処理装置および基板の処理方法 |
KR101576286B1 (ko) * | 2014-05-30 | 2015-12-10 | 서울시립대학교 산학협력단 | 실리콘 웨이퍼의 이방성 식각 방법 및 그 장치 |
JPWO2014020687A1 (ja) * | 2012-07-31 | 2016-07-11 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池の製造方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101047465B1 (ko) * | 2009-10-09 | 2011-07-07 | 한국표준과학연구원 | 경량화가공부를 포함하는 대형광학계의 균일에칭장치 및 그 대형광학계의 균일에칭방법 |
KR20220039004A (ko) * | 2020-09-21 | 2022-03-29 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 그 제조 방법 |
CN112885712B (zh) * | 2021-01-21 | 2022-04-26 | 长鑫存储技术有限公司 | 晶圆边缘的清洗方法以及清洗装置 |
WO2023068395A1 (ko) * | 2021-10-19 | 2023-04-27 | 이상로 | 습식식각용액조성물, 및 글래스의 습식식각방법, 및 그 습식식각방법으로 패터닝된 글래스 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59155937A (ja) * | 1983-02-25 | 1984-09-05 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH05144798A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-06-11 | Kawasaki Steel Corp | ウエーハのエツチング方法及びエツチング装置 |
JPH09139373A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Canon Inc | エッチング装置 |
KR20000010825U (ko) * | 1998-11-26 | 2000-06-26 | 윤종용 | 웨이퍼 세정 장치 |
KR100712472B1 (ko) * | 2000-12-16 | 2007-04-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 식각장치 및 식각방법 |
KR100516345B1 (ko) * | 2003-09-18 | 2005-09-22 | (주)울텍 | 습식 식각 장치 |
KR20060054783A (ko) * | 2004-11-16 | 2006-05-23 | 삼성전자주식회사 | 반도체 소자 제조용 습식 식각 장치 |
-
2007
- 2007-01-31 KR KR20070009933A patent/KR100855541B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-01-28 JP JP2009548148A patent/JP2010517314A/ja active Pending
- 2008-01-28 WO PCT/KR2008/000496 patent/WO2008093969A1/en active Application Filing
- 2008-01-31 TW TW97103685A patent/TW200832539A/zh unknown
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012046770A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 基板の処理装置および基板の処理方法 |
JPWO2014020687A1 (ja) * | 2012-07-31 | 2016-07-11 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池の製造方法 |
KR101576286B1 (ko) * | 2014-05-30 | 2015-12-10 | 서울시립대학교 산학협력단 | 실리콘 웨이퍼의 이방성 식각 방법 및 그 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100855541B1 (ko) | 2008-09-01 |
KR20080071708A (ko) | 2008-08-05 |
WO2008093969A1 (en) | 2008-08-07 |
TW200832539A (en) | 2008-08-01 |
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